1.一種地層電阻率檢測(cè)方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目標(biāo)電壓曲線，生成目標(biāo)包絡(luò)面積，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述目標(biāo)電壓曲線進(jìn)行歸一化處理，得到歸一電壓曲線，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于預(yù)設(shè)的電阻率計(jì)算模型和所述目標(biāo)包絡(luò)面積，生成所述目標(biāo)地層的電阻率，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，確定所述電阻率計(jì)算模型的計(jì)算參數(shù)的步驟，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述基于目標(biāo)地層與對(duì)比地層之間的電壓信號(hào)，生成基于時(shí)間電壓坐標(biāo)系的目標(biāo)電壓曲線，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述信號(hào)截取時(shí)間區(qū)間的獲取步驟，包括：
8.一種地層電阻率檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括：
9.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并且可以在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述方法的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述方法的步驟。