技術特征：

1.基于紅外氣體傳感器的氣體濃度測試裝置，其特征在于：包括：紅外探測氣室、mcu控制單元；

2.根據(jù)權利要求1所述的基于紅外氣體傳感器的氣體濃度測試裝置，其特征在于：還包括運放外圍電路；所述運放外圍電路的輸入端分別與參考通道的輸出端、測量通道的輸出端連接，運放外圍電路的輸出端與mcu控制單元的輸入端連接。

3.根據(jù)權利要求2所述的基于紅外氣體傳感器的氣體濃度測試裝置，其特征在于：還包括參考電路，所述參考電路與運放外圍電路的輸入端連接，用于向運放外圍電路提供參考電壓。

4.根據(jù)權利要求3所述的基于紅外氣體傳感器的氣體濃度測試裝置，其特征在于：還包括測溫外圍電路，所述測溫外圍電路包括連接于參考電路和mcu控制單元的adc3口之間的線路，以及連接于紅外探測氣室的接收端和mcu控制單元的adc0口之間的線路。

5.根據(jù)權利要求3所述的基于紅外氣體傳感器的氣體濃度測試裝置，其特征在于：所述mcu控制單元還用于在測試待測氣體之前，根據(jù)傳感器分別放入空氣、與待測氣體同類型的氣體中獲得的出射光強度，對傳感器進行校零校準，得到校零校準后的入射光強度、吸收系數(shù)、光程長度、空氣中的環(huán)境溫度。

6.根據(jù)權利要求1所述的基于紅外氣體傳感器的氣體濃度測試裝置，其特征在于：還包括紅外燈驅動單元，mcu控制單元通過紅外燈驅動單元向紅外探測氣室的發(fā)送端發(fā)送高電平。

技術總結
本技術涉及物理測試技術領域，公開基于紅外氣體傳感器的氣體濃度測試裝置，包括紅外探測氣室、MCU控制單元；所述紅外探測氣室包括發(fā)送端、氣室、接收端，氣室內(nèi)存在待測氣體時，發(fā)送端的輸入端與MCU控制單元的輸出端連接，接收端包括參考通道、測量通道，參考通道與MCU控制單元的輸入端連接，參考通道向MCU控制單元發(fā)送參考電壓，測量通道與MCU控制單元的輸入端連接，測量通道向MCU控制單元發(fā)送測量電壓；MCU控制單元根據(jù)參考電壓、測量電壓的比值計算出紅外探測氣室的出射光強度，再根據(jù)朗伯比爾定律計算出待測氣體的濃度。本技術提出的傳感器可靠性高、靈敏度高且低成本、測試準確度高。

技術研發(fā)人員：龔林君,柯淋,周強,王玉波,王濤,唐茂嘉,向華明,李陽川
受保護的技術使用者：成都千嘉科技股份有限公司
技術研發(fā)日：20231227
技術公布日：2024/9/26