1.一種dft向量的多功能soc芯片老化系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括機(jī)架、上位機(jī)、交換機(jī)、多個(gè)激勵(lì)板、多個(gè)老化板、多個(gè)待老化soc芯片、開(kāi)關(guān)電源和智能控制器；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種dft向量的多功能soc芯片老化系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)老化板還設(shè)置有電壓檢測(cè)單元、加熱棒和溫度傳感器，機(jī)架的側(cè)板還設(shè)置有多個(gè)風(fēng)機(jī)盒；其中，溫度傳感器用于進(jìn)行溫度監(jiān)控，加熱棒用于上電老化時(shí)進(jìn)行加熱，風(fēng)機(jī)盒用于在溫度監(jiān)控發(fā)現(xiàn)過(guò)熱時(shí)進(jìn)行風(fēng)力降溫；電壓檢測(cè)單元用于進(jìn)行電壓監(jiān)控并在發(fā)現(xiàn)電壓異常時(shí)將電壓異常發(fā)送給上位機(jī)進(jìn)行警告。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種dft向量的多功能soc芯片老化系統(tǒng)，其特征在于，任意一個(gè)激勵(lì)板向?qū)?yīng)的待老化soc芯片進(jìn)行校驗(yàn)判斷的方法為：先利用激勵(lì)板中的fpga對(duì)待老化soc芯片發(fā)送掃描向量，利用掃描向量對(duì)待老化soc芯片進(jìn)行jtag掃描并將掃描的結(jié)果作為輸出信號(hào)從待老化soc芯片的輸出管腳進(jìn)行輸出，再利用控制芯片對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行校驗(yàn)判斷。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種dft向量的多功能soc芯片老化系統(tǒng)，其特征在于，在老化測(cè)試結(jié)束后，還需要對(duì)經(jīng)過(guò)老化測(cè)試的每個(gè)soc芯片進(jìn)行芯片檢出和電參測(cè)量；
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種dft向量的多功能soc芯片老化系統(tǒng)，其特征在于，在每個(gè)激勵(lì)板和每個(gè)老化板上均設(shè)置有相同的連接器進(jìn)行對(duì)應(yīng)連接；對(duì)任意一個(gè)激勵(lì)板和對(duì)應(yīng)的老化板，控制芯片通過(guò)uart接口與激勵(lì)板的連接器進(jìn)行連接，mcu通過(guò)uart接口分別與老化板的連接器和串口進(jìn)行連接，mcu還通過(guò)gpio接口連接指示燈。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種dft向量的多功能soc芯片老化系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)萬(wàn)向輪均為高度可調(diào)節(jié)的萬(wàn)向輪，每個(gè)萬(wàn)向輪的高度均保持一致并且多個(gè)萬(wàn)向輪呈三角形面或矩形面。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種dft向量的多功能soc芯片老化系統(tǒng)，其特征在于，在利用任意一個(gè)老化板對(duì)任意一個(gè)待老化soc芯片進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)，所述老化系統(tǒng)的使用方法包括如下步驟：