1.一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，包括kpfm測(cè)試儀本體（1）；所述kpfm測(cè)試儀本體（1）包括激光檢測(cè)器（11）、反光鏡（12）、分光鏡（13）、激光器（14）以及樣品臺(tái)（15）；由所述激光器（14）發(fā)出的激光依次經(jīng)過分光鏡（13）、樣品臺(tái)（15）以及反光鏡（12），進(jìn)入激光檢測(cè)器（11）；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，所述外加光源（2）為xe燈、白光led燈、紫外燈或紅光燈。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，當(dāng)所述外加光源（2）為xe燈時(shí)，所述xe燈的出光口設(shè)置有光纖，所述光纖的出光口與樣品臺(tái)（15）之間的距離為3~5cm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，所述濾光組件（3）包括擋板或?yàn)V光片；所述擋板上設(shè)有通孔（4）。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，所述擋板上通孔（4）的直徑為1~2mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，所述濾光片包括吸收濾光片、反射濾光片、復(fù)合濾光片以及帶通濾波片中的任意一種。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，當(dāng)所述濾光片為帶通濾波片時(shí)，濾光片的通帶中心波長與所述激光器（14）發(fā)出的激光波長一致，所述濾光片的通帶半高寬為50nm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，所述激光檢測(cè)器入口處設(shè)有夾持固定組件，所述濾光組件（3）通過所述夾持固定組件設(shè)置在所述kpfm測(cè)試儀本體（1）的激光檢測(cè)器入口處。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種原位光照kpfm測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括散熱組件，所述散熱組件用于消散所述外加光源（2）所產(chǎn)生的熱量。
10.一種原位光照kpfm測(cè)試方法，其特征在于，采用權(quán)利要求1~9中任意一項(xiàng)所述的原位光照kpfm測(cè)試裝置，并包括以下步驟：