一種ct成像控制系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于輻射成像領域，尤其涉及一種CT成像控制系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]目前，傳統(tǒng)單能、雙能X射線成像通常利用閃爍體型探測器，所采集得到的信號反應了多色X射線的整體能量沉積量。由于能量沉積是對X射線能譜的能量加權積分，成像結果無法反映物質(zhì)在某個能量下的衰減信息。雙能成像包括多能CT利用不同的X射線能譜進行成像，具有一定的物質(zhì)區(qū)分能力，但由于其物理模型所限，成像結果具有一定系統(tǒng)誤差，且X射線能譜之間總有一定重疊區(qū)域，影響了物質(zhì)區(qū)分能力，且成像效果不好，存在著一些成像模糊的地方。
[0003]因此，發(fā)明一種CT成像控制系統(tǒng)顯得非常必要。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種CT成像控制系統(tǒng)，旨在解決目前的CT成像效果不好，存在著一些成像模糊地方的問題。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取的技術方案為:一種CT成像控制系統(tǒng)，該CT成像控制系統(tǒng)包括檢測發(fā)生器、初步探測模塊、細分探測模塊、數(shù)據(jù)收集模塊、數(shù)據(jù)處理模塊、中心處理模塊、顯示屏；
[0006]檢測發(fā)生器，用于對成像物體進行檢測執(zhí)行；
[0007]初步探測模塊，與檢測發(fā)生器連接，用于對檢測物體初步檢測的；
[0008]細分探測模塊，與檢測發(fā)生器連接，用于對檢測物體細化檢測；
[0009]數(shù)據(jù)收集模塊，與初步探測模塊和細分探測模塊連接，用于對檢測數(shù)據(jù)收集；
[0010]數(shù)據(jù)處理模塊，與數(shù)據(jù)收集模塊連接，用于對數(shù)據(jù)收集模塊收集的檢測數(shù)據(jù)進行分析；
[0011]中心處理模塊，與數(shù)據(jù)處理模塊連接，用于對檢測數(shù)據(jù)進行處理分類；
[0012]顯示屏，與中心處理模塊連接，用于對CT成像顯示。
[0013]進一步，初步探測模塊包括X光機，光子計數(shù)探測器和低能探測器；細分探測模塊包括高能探測器和平板探測器；數(shù)據(jù)收集模塊包括數(shù)據(jù)采集卡和存儲器，數(shù)據(jù)處理模塊包括依次連接的數(shù)據(jù)降噪去干擾模塊、數(shù)據(jù)濾波模塊、數(shù)據(jù)校正模塊；中心處理模塊包括處理器，X線發(fā)生器和收發(fā)器；處理器具體采用B85-PRO GAMER主板。
[0014]進一步，X光機采用數(shù)字X光機，數(shù)字X光機的床身通過轉軸安裝在底座上，床身繞轉軸旋轉至床面處于豎直位置，床面一端安裝有與床面垂直的踏板。
[0015]進一步，平板探測器的內(nèi)殼與外殼之間僅通過多個連接件相連接；內(nèi)殼的邊緣部與外殼相連接；內(nèi)殼通過連接件懸吊在外殼內(nèi)部、或通過連接件懸空支撐在外殼內(nèi)部；連接件為中部是柔性材料的螺栓，螺栓的一端部連接在外殼上、另一端部連接在內(nèi)殼框架上；內(nèi)殼包括相互固定的第一殼體和第二殼體，第一殼體上開設有用于擱置平板的收納槽，收納槽的槽口對著探測器窗口，收納槽的槽壁與平板之間設置有緩沖層，第二殼體位于第一殼體的上方并且覆蓋在收納槽的槽口周圍，第二殼體與第一殼體的上表面之間設置有緩沖材料。
[0016]進一步，數(shù)據(jù)濾波模塊采用慣性算法對獲取的去除雜波后的數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)變化趨勢的判斷計算，依據(jù)判斷結果取得當前信號的變化趨勢；
[0017]慣性算法具體步驟如下:
[0018]步驟一，判斷相鄰2個數(shù)據(jù)的差值的絕對值是否小于系統(tǒng)的允許波動閾值&;當是時進入步驟二，否則進入步驟三；
[0019]步驟二，相鄰2個數(shù)據(jù)的差值的絕對值小于等于系統(tǒng)的允許波動閾值&;則設置數(shù)據(jù)保持不變的索引變量和個數(shù)變量；然后轉入步驟一對下組數(shù)據(jù)進行處理；
[0020]步驟三，判斷相鄰2個數(shù)據(jù)的差值是否小于負的系統(tǒng)的允許波動閾值&，是，則進入步驟四，否則進入步驟五；
[0021]步驟四，相鄰2個數(shù)據(jù)的差值的結果小于負的系統(tǒng)的允許波動閾值&，則說明該相鄰的量數(shù)據(jù)保持變小的慣性，設置數(shù)據(jù)變小的索引變量和個數(shù)變量，然后轉入步驟一對下組數(shù)據(jù)進行處理；
[0022]步驟五，判斷相鄰2個數(shù)據(jù)的差值是否大于正的系統(tǒng)的允許波動閾值&，是，則進入步驟六，否則進入步驟七；
[0023]步驟六，相鄰2個數(shù)據(jù)的差值的結果大于正的系統(tǒng)的允許波動閾值&，則說明該相鄰的兩個數(shù)據(jù)保持變大的慣性，設置數(shù)據(jù)變大的索引變量和變大的數(shù)據(jù)個數(shù)，然后轉入步驟一對下組相鄰的數(shù)據(jù)進行處理；否則轉入步驟七；
[0024]步驟七，設置相鄰的前一組數(shù)據(jù)的慣性索引變量和數(shù)據(jù)個數(shù)，轉入步驟八；
[0025]步驟八，判斷所有的數(shù)據(jù)處理是否完成，當是時進入步驟C551，退出；否則轉入步驟一。
[0026]進一步，數(shù)據(jù)采集卡包括接口單元、緩存單元、數(shù)據(jù)發(fā)送單元和控制單元；
[0027]接口單元，將信號轉換為TTL電平信號；
[0028]緩存單元包括輸入端緩存器、高速緩存模塊、輸出端緩存器；輸入端緩存器的輸入端與接口單元連接，輸出端與高速緩存模塊連接；輸出端緩存器的輸入端與高速緩存模塊連接；高速緩存模塊分為多個緩存塊；
[0029]數(shù)據(jù)發(fā)送單元包括PCI接口、PCI/PC1-E橋接器；輸出端緩存器的輸出端通過PCI接口與PCI/PC1-E橋接器連接；PCI/PC1-E橋接器用于實現(xiàn)PCI接口與PC1-E接口的轉換；
[0030]控制單元用于實現(xiàn)采集卡數(shù)據(jù)緩存控制。
[0031]進一步，顯示屏的顯示單元板前端設有與殼體連接的濾光板，濾光板通過磁鐵與殼體連接，濾光板以及殼體側壁上鑲嵌有相互吸合的磁鐵，濾光板由PC板和覆于PC板上的濾光薄膜層，濾光板另一面印有寬度為不小于側壁寬度的有色層。
[0032]進一步，該CT成像控制系統(tǒng)的成像方法包括以下步驟:檢測發(fā)生器對物體執(zhí)行檢測功能；由初步探測模塊對其進行初步檢測處理；由細分探測模塊對需要重要點處理的部分進行檢測優(yōu)化；數(shù)據(jù)收集模塊實時對檢測過程中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)進行收集存儲；由數(shù)據(jù)處理模塊對成像數(shù)據(jù)進行比對分析；中心處理模塊對收集到的數(shù)據(jù)進行處理成像，并優(yōu)化成像內(nèi)容，由顯示屏顯示成像效果。
[0033]進一步，所述的數(shù)據(jù)處理模塊對成像數(shù)據(jù)進行的分析為將初步探測模塊和細分探測模塊所成像的數(shù)據(jù)進行對比重建。
[0034]與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明具有如下有益效果:本發(fā)明通過X光機、平板探測器、數(shù)據(jù)采集卡和處理器設置，使成像效果高分辨率率，高頻收集信息數(shù)據(jù)，做到了成像細分化，使其更能滿足針對用戶的需要。
【附圖說明】
[0035]圖1示出了如本發(fā)明實施例的一種CT成像控制系統(tǒng)的結構示意圖。
[0036]結合附圖在圖上標記以下附圖標記:1-檢測發(fā)生器，2-初步探測模塊，21-X光機，22-光子計數(shù)探測器，23-低能探測器，3-細分探測模塊，31-高能探測器，32-平板探測器，4-數(shù)據(jù)收集模塊，41-數(shù)據(jù)采集卡，42-存儲器，5-中心處理模塊，51-處理器，52-X線發(fā)生器，53-收發(fā)器，6-顯示屏，7-數(shù)據(jù)處理模塊，71-數(shù)據(jù)降噪去干擾模塊，72-數(shù)據(jù)濾波模塊，73-數(shù)據(jù)校正模塊。
【具體實施方式】
[0037]下面將參考附圖并結合實施例，來詳細說明本發(fā)明。
[0038]如圖1所示，本發(fā)明提供了一種CT成像控制系統(tǒng)，包括檢測發(fā)生器1，初步探測模塊2，細分探測模塊3，數(shù)據(jù)收集模塊4，中心處理模塊5，顯示屏6和數(shù)據(jù)處理模塊7，所述的檢測發(fā)生器I設置在一種CT成像控制系統(tǒng)的頂部，起到對成像物體進行檢測執(zhí)行的功能；所述的初步探測模塊2設置在檢測發(fā)生器I的左側下方，起到對檢測物體初步檢測的功能；所述的細分探測模塊3設置在初步探測模塊2的右側，起到對檢測物體細化檢測的功能；所述的數(shù)據(jù)收集模塊4設置在細分探測模塊3的下方，起到對檢測數(shù)據(jù)收集分析的功能；所述的中心處理模塊5設置在數(shù)據(jù)收集模塊4的下方，起到對檢測數(shù)據(jù)進行處理分類的功能；所述的顯示屏6設置在中心處理模塊5的下方，起到對CT成像顯示的功能。
[0039]進一步，所述的初步探測模塊2包括X光機21，光子計數(shù)探測器22和低能探測器23，所述的X光機21設置在初步探測模塊2的左側；所述的光子計數(shù)探測器22設置在X光機21的右側；所述的低能探測器23設置在光子探測器22的右側。
[0040]進一步，所述的X光機21，有利于滿足條件時發(fā)出聲音和報警燈信號，可以連接局域網(wǎng)，多個終端同時檢查，射線發(fā)射自動控制，避免誤發(fā)射。
[0041]進一步，所述的細分探測模塊3包括高能探測器31和平板探測器32，所述的高能探測器31設置在細分探測器3的左側；所述的平板探測器32設置在高能探測器31的右側。
[0042]進一步，所述的平板探測器32具體采用高分辨率平板探測器，有利于更好的細分探測成像，更高分辨率的檢測成像效果。
[0043]進一步，所述的數(shù)據(jù)收集模塊4包括數(shù)據(jù)采集卡41和存儲器42，所述的數(shù)據(jù)采集卡41設置在數(shù)據(jù)收集模塊4的左側；所述的存儲器42設置在數(shù)據(jù)采集卡41的右側。
[0044]進一步，所述的數(shù)據(jù)采集卡41具體采用高頻數(shù)據(jù)采集卡，有利于更好的收集數(shù)據(jù)，有利于收集高頻狀態(tài)下發(fā)射的數(shù)據(jù)。
[0045]進一步，所述的數(shù)據(jù)處理模塊7包括依次連接的數(shù)據(jù)降噪去干擾模塊71、數(shù)據(jù)濾波模塊72、數(shù)據(jù)校正模塊73。
[0046]進一步，所述的中心處理模塊5包括處理器51，X線發(fā)生器52和收發(fā)器53，所述的處理器51設置在中心處理模塊5的左側；所述的X線發(fā)生器52設置在處理器51的右側；所述的收發(fā)器53設置在X先收發(fā)器52的右側。
[0047]所述的處理器51具體采用B85-PRO GAMER主板，有利于更好的處理成像信息，便于處理器運行流暢。
[0048]本發(fā)明采取的技術方案為:一種CT成像控制系統(tǒng)，該CT成像控制系統(tǒng)包括檢測發(fā)生器、初步探測模塊、細分探測模塊、數(shù)據(jù)收集模塊、數(shù)據(jù)處理模塊、中心處理模塊、顯示屏；
[0049]檢測發(fā)生器，用于對成像物體進行檢測執(zhí)行；
[0050]初步探測模塊，與檢測發(fā)生器連接，用于對檢測物體初步檢測的；
[0051]細分探測模塊，與檢測發(fā)生器連接，用于對檢測物體細化檢測；
[0052]數(shù)據(jù)收集模塊，與初步探測模塊和細分探測模塊連接，用于對檢測數(shù)據(jù)收集；
[0053]數(shù)據(jù)處理模塊，與數(shù)據(jù)收集模塊連接，用于對數(shù)據(jù)收集模塊收集的檢測數(shù)據(jù)進行分析；
[0054]中心處理模塊，與數(shù)據(jù)處理模塊連接，用于對檢測數(shù)據(jù)進行處理分類；
[0055]顯示屏，與中心處理模塊連接，用于對CT成像顯示。
[0056]進一步，初步探測模塊包括X光機，光子計數(shù)探測器和低能探測器；細分探測模塊包括高能探測器和平板探測器；數(shù)據(jù)收集模塊包括數(shù)據(jù)采集卡和存儲器，數(shù)據(jù)處理模塊包括