加熱管中絕緣介質(zhì)的絕緣電阻測量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及平板顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種加熱管中絕緣介質(zhì)的絕緣電阻測量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]加熱管因其結(jié)構(gòu)簡單、產(chǎn)品型號(hào)豐富、熱效率高、機(jī)械強(qiáng)度好，使用壽命長等優(yōu)點(diǎn)，在工業(yè)加熱設(shè)備的使用當(dāng)中被廣泛的應(yīng)用在各個(gè)領(lǐng)域。
[0003]加熱管是在無縫金屬管內(nèi)(包括碳鋼管、鈦管、不銹鋼管、銅管等)裝入電熱絲，空隙部分填滿有良好導(dǎo)熱性和絕緣性的絕緣介質(zhì)(例如氧化鎂粉)后經(jīng)管口兩端密封并壓實(shí)所述金屬管而成，再加工成用戶所需要的各種形狀，其用于加熱空氣、各種液體和金屬模具等。其中的絕緣介質(zhì)起到固定電熱絲、傳熱和絕緣的效果。
[0004]然而，隨著加熱管使用時(shí)間的增長，其在工作過程中容易產(chǎn)生漏電現(xiàn)象。其原因之一在于加熱管管口處的氧化鎂粉易受潮，并與空氣中的水分發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成能導(dǎo)電的氫氧化鎂(MgCHH2O — Mg (OH) 2)，從而使氧化鎂粉的絕緣性變差，導(dǎo)致金屬管外殼導(dǎo)電，以致產(chǎn)生漏電現(xiàn)象；原因之二是由于氧化鎂中的純度不夠高，因含有其他導(dǎo)電雜質(zhì)而產(chǎn)生的漏電；原因之三在于經(jīng)過長時(shí)間的高溫使用后，氧化鎂粉的比表面積下降，導(dǎo)致其重結(jié)晶速度加快，最終成熔融狀態(tài)而導(dǎo)電。
[0005]為了避免加熱管中的氧化鎂粉因絕緣性變差而導(dǎo)致產(chǎn)生漏電的危險(xiǎn)，在使用之前，一般會(huì)對(duì)氧化鎂粉的絕緣電阻R進(jìn)行測量，R為在常溫下的測量值，通過測量值R無法準(zhǔn)確判斷氧化鎂粉是否真正絕緣，即存在這樣一種情況，所測得的R值很大，且在正常的使用范圍內(nèi)，以致用戶誤認(rèn)為所述加熱管可以安全使用，從而最終導(dǎo)致誤使用后漏電現(xiàn)象的產(chǎn)生。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本發(fā)明提供一種提高加熱管阻值測量準(zhǔn)確性的絕緣電阻測量方法。
[0007]一種加熱管中絕緣介質(zhì)的絕緣電阻的測量方法，所述加熱管至少包括一金屬外殼、絕緣介質(zhì)及加熱模塊，所述金屬外殼至少具有一收容空間，所述絕緣介質(zhì)及加熱模塊收容于所述收容空間內(nèi)，且所述電阻絲與所述金屬外殼通過所述絕緣介質(zhì)絕緣開，所述加熱管中絕緣介質(zhì)的絕緣電阻測量方法至少包括以下步驟:為所述加熱模塊提供一工作電流，使所述加熱模塊發(fā)熱；待所述金屬外殼發(fā)生顏色變化時(shí)，切斷所述工作電流；用一電阻測量儀測量所述絕緣介質(zhì)的絕緣電阻。
[0008]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，所述顏色變化具體為，由金屬外殼的原色變?yōu)榧t色。
[0009]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，其特征在于:所述加熱模塊與一連接至外接電源的電源線電性連接，所述外接電源為所述加熱模塊提供工作電流。
[0010]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，用一電阻測量儀測量所述絕緣介質(zhì)的絕緣電阻步驟具體為:將所述電阻測量儀的第一端連接所述金屬外殼，其第二端連接所述加熱模塊。
[0011]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，所述加熱模塊為一電阻絲，所述金屬外殼的形狀呈圓筒形，所述金屬外殼具有兩相對(duì)的管口，兩所述管口分別通過一絕緣蓋密封，所述加熱模塊還包括一導(dǎo)線，所述導(dǎo)線一端連接所述電阻絲，另一端穿過所述絕緣蓋并伸向所述金屬外殼外。
[0012]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，所述電阻絲呈矩形框狀，所述電阻絲具有相對(duì)且平行設(shè)置的兩第一邊緣和第二邊緣，所述第一邊緣和第二邊緣相互垂直，并首尾相連形成所述矩形框，所述第一邊緣平行于所述金屬外殼的中心軸，所述中心軸位于所述電阻絲的第一邊緣和第二邊緣所構(gòu)成的平面上，且所述第一邊緣上任一點(diǎn)至所述中心軸的距離相等。
[0013]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，所述加熱管中絕緣介質(zhì)的絕緣電阻測量方法還包括以下步驟，為所述電阻絲提供一工作電流之前，至少對(duì)加熱模塊和金屬外殼進(jìn)行清潔處理。
[0014]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，所述電阻測量儀為兆歐級(jí)電阻表。
[0015]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，其測試環(huán)境遠(yuǎn)離外電流導(dǎo)體或外電磁場。
[0016]本發(fā)明提供的所述的絕緣電阻的測量方法中，當(dāng)測得的所述絕緣電阻大于2-4兆歐時(shí)，可判斷所述加熱管可正常使用。
[0017]本發(fā)明提供的所述絕緣介質(zhì)的絕緣電阻的測量方法中，由于在所述金屬外殼顏色發(fā)生變化后再對(duì)所述絕緣電阻進(jìn)行測量，因此，相比于傳統(tǒng)的在常溫下測量所述絕緣介質(zhì)的絕緣電阻，所述絕緣電阻的測量值更加準(zhǔn)確，從而可以準(zhǔn)確判斷所述加熱管可否正常使用，避免漏電現(xiàn)象的產(chǎn)生。
【附圖說明】
[0018]下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明，附圖中:
[0019]圖1為本發(fā)明提供的一較佳實(shí)施方式的加熱管的結(jié)構(gòu)簡圖；
[0020]圖2為圖1所示加熱管中絕緣介質(zhì)的絕緣電阻的測量方法的流程示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021]為說明本發(fā)明提供的加熱管中絕緣介質(zhì)的的絕緣電阻測量方法，以下結(jié)合說明書附圖及文字說明進(jìn)行詳細(xì)闡述。
[0022]請(qǐng)參考圖1，為本發(fā)明提供的一較佳實(shí)施方式的加熱管100的結(jié)構(gòu)簡圖，所述加熱管100至少包括一金屬外殼101、電阻絲102、絕緣介質(zhì)103和絕緣蓋104，所述金屬外殼101至少具有一收容空間，所述絕緣介質(zhì)103和電阻絲102收容于所述收容空間內(nèi)，且所述電阻絲102與所述金屬外殼101通過所述絕緣介質(zhì)103絕緣開。
[0023]本實(shí)施方式中，所述金屬外殼101的形狀呈圓筒形，所述金屬外殼101具有兩相對(duì)的管口，兩所述管口分別通過一絕緣蓋104密封，在其他實(shí)施方式中，所述金屬外殼還可以具有其他的形狀。
[0024]所述加熱模塊還包括一導(dǎo)線105，所述導(dǎo)線105 —端連接所述電阻絲，另一端穿過所述絕緣蓋104并伸向所述金屬外殼101外，本實(shí)施方式中，所述導(dǎo)線105為硬質(zhì)金屬材料制成，其一端與絕緣蓋固定連接，另一端與所述電阻絲固定連接，所述導(dǎo)線105和絕緣介質(zhì)103起到固定住所述電阻絲102的作用。在其他實(shí)施方式中，所述導(dǎo)線和電阻絲也可以為一體化的連接結(jié)構(gòu)。
[0025]本實(shí)施方式中，所述電阻絲102呈矩形框狀，且具有相對(duì)且平行設(shè)置的兩第一邊緣102a和第二邊緣102b，所述第一邊緣102a和第二邊緣102b相互垂直，并首尾相連形成所述矩形框，所述第一邊緣102a平行于所述金屬外殼的中心軸11，所述中心軸位于所述電阻絲的第一邊緣102a和第二邊緣102b所構(gòu)成的平面上，且所述第一邊緣102a上任一點(diǎn)至所述中心軸的距離相等。在其他實(shí)施方式中，所述電阻絲還可以為線形、U形或其他形狀。
[0026]請(qǐng)參考圖2，為圖1所示加熱管中絕緣介質(zhì)的絕緣電阻測量方法的流程示意圖，其用以準(zhǔn)確判斷所述加熱管是否可正