一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置及系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電容器制造領(lǐng)域，尤其涉及一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]電容器出現(xiàn)內(nèi)爆和閃火都是不定時(shí)的，由于電容器在生產(chǎn)過(guò)程中存在一些生產(chǎn)工藝問(wèn)題，例如正或負(fù)箔在切邊時(shí)產(chǎn)生毛刺、電解液或電解紙中含有雜質(zhì)等缺陷。存在這些缺陷的產(chǎn)品在充電過(guò)程中隨著電壓不斷上升，當(dāng)達(dá)到擊穿電壓時(shí)，電容器存儲(chǔ)的電量通過(guò)毛刺與箔之間尖端放電而瞬間消耗，繼而可能發(fā)生內(nèi)部爆炸現(xiàn)象。如果內(nèi)爆時(shí)的能量很大外殼會(huì)被炸開(kāi)，直接威脅到人身安全；若內(nèi)爆時(shí)能量較小則不會(huì)引起外觀變形，甚至不會(huì)出現(xiàn)箔短路的現(xiàn)象，這類不良品測(cè)試其容量、損耗、漏電時(shí)均有可能因其為正常值而無(wú)法檢出，但是繼續(xù)充放電則隨時(shí)會(huì)出現(xiàn)再次爆炸。如果是電解紙中含有雜質(zhì)的產(chǎn)品，在電壓上升到擊穿點(diǎn)時(shí)會(huì)突然閃火，閃火點(diǎn)的電解液也會(huì)因此被高溫蒸發(fā)，隨后正常部位的電解液被干涸的電解紙吸收而發(fā)生重復(fù)閃火，電容器內(nèi)部壓力會(huì)隨之增大，多次閃火后電容器隨時(shí)都會(huì)爆炸。
[0003]成品電容器在出廠前均要經(jīng)過(guò)老化、分選，而傳統(tǒng)的電容器老化箱以及全自動(dòng)老化機(jī)在老化過(guò)程中只對(duì)電容器進(jìn)行電阻限流充電，并沒(méi)有發(fā)現(xiàn)和檢測(cè)電容器內(nèi)爆、閃火的功能。電容器出現(xiàn)內(nèi)爆和閃火絕大部分都在老化過(guò)程中，主要是因?yàn)槔匣ば蛑械碾娙萜魇堑谝淮纬潆姴⑶依匣枰臅r(shí)間較長(zhǎng)，即在高溫環(huán)境下從一個(gè)多小時(shí)到幾十個(gè)小時(shí)不等，故所有內(nèi)爆和閃火的產(chǎn)品都會(huì)在這段工序中出現(xiàn)，鑒于內(nèi)爆的危險(xiǎn)性以及閃火的隱患，在傳統(tǒng)生產(chǎn)工藝中增加內(nèi)爆和閃火檢測(cè)非常有必要。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的旨在于提供一種具有能檢測(cè)電容器內(nèi)部爆炸或閃火功能的電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
[0006]一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置，包括電壓檢測(cè)單元、AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元、數(shù)據(jù)傳輸單元、上位機(jī)以及供電模組單元；所述電壓檢測(cè)單元通過(guò)AD轉(zhuǎn)換單元與單片機(jī)相連，所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元與單片機(jī)相連，所述電壓檢測(cè)單元用于檢測(cè)電容器兩端的電壓值，所述單片機(jī)用于處理AD轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換后的電容器兩端的電壓值，并將處理結(jié)果傳輸給數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元進(jìn)行存儲(chǔ)；所述單片機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸單元與上位機(jī)相連，所述上位機(jī)用于通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸單元發(fā)送控制信息給單片機(jī)，并通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸單元接收單片機(jī)輸出的信號(hào)；所述AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元、數(shù)據(jù)傳輸單元均與供電模組單元相連，并由所述供電模組供電。
[0007]優(yōu)選的，電壓檢測(cè)單元包括第一電壓檢測(cè)單元以及第二電壓檢測(cè)單元，所述第一電壓檢測(cè)單元的檢測(cè)端用于檢測(cè)電容器正極的電壓值，所述第一電壓檢測(cè)單元的輸出端與AD轉(zhuǎn)換單元的第一輸入端相連，所述第二電壓檢測(cè)單元的檢測(cè)端用于檢測(cè)電容器負(fù)極的電壓值，所述第二電壓檢測(cè)單元的輸出端與AD轉(zhuǎn)換單元的第二輸入端相連，所述AD轉(zhuǎn)換單元的輸出端與單片機(jī)相連。
[0008]優(yōu)選的，所述第一電壓檢測(cè)單元包括電阻R0、電阻R(V以及電容CO，所述電阻RO的一端與第一電壓檢測(cè)單元的檢測(cè)端相連，所述電阻RO的另一端、電阻RO'的一端以及電容CO的一端均與第一電壓檢測(cè)單元的輸出端相連，所述電阻RO'的另一端以及電容CO的另一端均接地。
[0009]優(yōu)選的，所述第二電壓檢測(cè)單元包括電阻R1、電阻R2以及電容Cl，所述電阻Rl的一端與第二電壓檢測(cè)單元的檢測(cè)端相連，所述電阻Rl的另一端、電阻R2的一端以及電容Cl的一端均與第二電壓檢測(cè)單元的輸出端相連，所述電阻R2的另一端以及電容Cl的另一端均接地。
[0010]優(yōu)選的，所述AD轉(zhuǎn)換單元中的第一輸入端的數(shù)量為一個(gè)，所述AD轉(zhuǎn)換單元中的第二輸入端的數(shù)量為一個(gè)或者一個(gè)以上，其中每個(gè)第二輸入端均連接有一第二電壓檢測(cè)單
J L.ο
[0011]優(yōu)選的，所述供電模組單元包括無(wú)線供電單元以及無(wú)線受電單元，所述無(wú)線供電單元用于發(fā)射電磁輻射能量，所述無(wú)線受電單元用于接收無(wú)線供電單元發(fā)射的電磁輻射能量，并將電磁輻射能量轉(zhuǎn)化為供AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元以及數(shù)據(jù)傳輸單元工作的電能。
[0012]優(yōu)選的，所述數(shù)據(jù)傳輸單元為無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸單元，該無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸單元采用紅外通訊模組與上位機(jī)通訊，并直接與單片機(jī)相連，以實(shí)現(xiàn)單片機(jī)與上位機(jī)之間的信號(hào)傳遞。
[0013]優(yōu)選的，所述紅外通訊模組采用的紅外芯片的型號(hào)為TFDU4100。
[0014]本發(fā)明還包括一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)系統(tǒng)，其包括一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置以及老化電路單元，所述電壓檢測(cè)模塊的第一連接端與老化電路單元的充電觸電正極相連，所述電壓檢測(cè)模塊的第二連接端與老化電路單元的充電觸電負(fù)極相連，所述電壓檢測(cè)模塊的檢測(cè)端與老化電路單元中的電容器的負(fù)極相連。
[0015]優(yōu)選的，所述老化電路單元包括二極管D1、電容器Cl'、熱敏電阻RP以及二極管D2，所述二極管Dl的正極與老化電路單元的充電觸電正極相連，所述二極管Dl的負(fù)極與電容器Cl'的正極相連，所述電容器Cl'的負(fù)極還通過(guò)熱敏電阻RP與二極管D2的正極相連，所述二極管D2的負(fù)極與老化電路單元的充電觸電負(fù)極相連。
[0016]本發(fā)明的有益效果如下:該裝置能夠有效的檢測(cè)電容器是否發(fā)生內(nèi)爆或者閃火，其性能穩(wěn)定，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。本發(fā)明還涉及檢測(cè)老化過(guò)程中的電容器的內(nèi)爆或閃火的一個(gè)系統(tǒng)，能夠在不改變?cè)欣匣瘷C(jī)結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，直接檢測(cè)出電容器內(nèi)爆或閃火的現(xiàn)象。
[0017]而且本發(fā)明中的裝置能夠有效地同時(shí)測(cè)取多個(gè)電容器的內(nèi)爆或閃火的結(jié)果，并將檢測(cè)結(jié)果通過(guò)AD轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換后傳送給單片機(jī)進(jìn)行處理，單片機(jī)能將處理后的結(jié)果傳輸給數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元進(jìn)行存儲(chǔ)，以方便上位機(jī)的讀取。而數(shù)據(jù)傳輸單元可以通過(guò)無(wú)線傳輸?shù)姆绞脚c上位機(jī)進(jìn)行通訊，可以有效解決數(shù)據(jù)傳輸單元與上位機(jī)之間連接需要連接線的問(wèn)題，更解決了數(shù)據(jù)傳輸單元的電路板與上位機(jī)之間的隔離的問(wèn)題，以方便用戶進(jìn)行使用。
[0018]同時(shí)供電模組單元為無(wú)線供電單元，可以解決整個(gè)檢測(cè)裝置的供電問(wèn)題，更能夠解決供電中用電部分與供電部分的需要隔離的問(wèn)題，使得使用更為方便安全。
【附圖說(shuō)明】
[0019]圖1為本發(fā)明一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置的較佳實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)圖。
[0020]圖2為本發(fā)明一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置中AD轉(zhuǎn)換單元的電路圖。
[0021]圖3為本發(fā)明一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置中單片機(jī)以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元的電路圖。
[0022]圖4為本發(fā)明一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置中無(wú)線供電單元的電路圖。
[0023]圖5為本發(fā)明一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置中無(wú)線受電單元的電路圖。
[0024]圖6為本發(fā)明一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置中數(shù)據(jù)傳輸單元的電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]下面將結(jié)合附圖以及【具體實(shí)施方式】，對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步描述:
[0026]請(qǐng)參見(jiàn)圖1，本發(fā)明涉及一種電容器內(nèi)爆與閃火的檢測(cè)裝置，包括電壓檢測(cè)單元、AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元、數(shù)據(jù)傳輸單元、上位機(jī)以及供電模組單元；電壓檢測(cè)單元通過(guò)AD轉(zhuǎn)換單元與單片機(jī)相連，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元與單片機(jī)相連，電壓檢測(cè)單元用于檢測(cè)電容器兩端的電壓值，單片機(jī)用于處理AD轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換后的電容器兩端的電壓值，并將處理結(jié)果傳輸給數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元進(jìn)行存儲(chǔ)；單片機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸單元與上位機(jī)相連，上位機(jī)用于通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸單元發(fā)送控制信息給單片機(jī)，并通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸單元接收單片機(jī)輸出的信號(hào)；AD轉(zhuǎn)換單元、單片機(jī)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元、數(shù)據(jù)傳輸單元均與供電模組單元相連，并由供電模組供電。
[0027]其中，電壓檢測(cè)單元包括第一電壓檢測(cè)單元以及第二電壓檢測(cè)單元，第一電壓檢測(cè)單元的檢測(cè)端A用于檢測(cè)