一種靜電測(cè)試的方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種靜電測(cè)試的方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。實(shí)驗(yàn)結(jié)果包括故 障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性試驗(yàn)所采 用的方法和目的，可靠性試驗(yàn)可W分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)。可靠性測(cè)定試 驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn)，通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)?？煽啃则?yàn)證試驗(yàn) 是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn)，一般將可靠性鑒定 和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。其中，電磁兼容試驗(yàn)中的靜電測(cè)試屬于可靠性試驗(yàn)的 一種。
[0003] 現(xiàn)有的技術(shù)方法在進(jìn)行可靠性試驗(yàn)中的靜電測(cè)試時(shí)，除傳統(tǒng)試驗(yàn)方法外，還有一 種方法就是仿真軟件進(jìn)行仿真測(cè)試，例如可W利用電磁仿真技術(shù)進(jìn)行仿真測(cè)試。電磁仿真 技術(shù)中運(yùn)用的主要計(jì)算電磁學(xué)方法大致可分為2類；精確算法和高頻近似方法。精確計(jì)算 方法包括差分法（抑TD，抑抑）、有限元（陽(yáng)M)、矩量法（MoM) W及基于矩量法的快速算法巧口 快速多極子FMM和多層快速多極子MLFM)等。其中，在解決電大目標(biāo)電磁問(wèn)題中最有效的 方法為多層快速多極子方法。高頻方法一般可歸作2類；一類基于射線光學(xué)，包括幾何光學(xué) (GO)、幾何繞射理論（GTD) W及在GTD基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一致性繞射理論（UTD)等；另一類 基于波前光學(xué)，包括物理光學(xué)（P0)、物理繞射理論（PTD)、等效電磁流方法（MEC) W及增量 長(zhǎng)度繞射系數(shù)法（ILDC)等。
[0004] 電磁兼容仿真預(yù)測(cè)的研究?jī)?nèi)容主要是建立電磁兼容H要素：電磁干擾源、禪合路 徑和敏感設(shè)備的數(shù)學(xué)模型，并采用適當(dāng)?shù)臄?shù)值計(jì)算方法求解該些模型，W評(píng)估系統(tǒng)各敏感 設(shè)備是否滿足預(yù)定的電磁干擾裕度要求。完整的電磁仿真流程如圖1所示，首先系統(tǒng)建模， 然后進(jìn)行數(shù)值計(jì)算工具選擇，之后利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行仿真模擬，得到仿真結(jié)果后可W確定所 建模型的不足之處，然后對(duì)模型進(jìn)行修改，再利用數(shù)值計(jì)算工具進(jìn)行計(jì)算機(jī)仿真。其中，利 用數(shù)值計(jì)算工具進(jìn)行計(jì)算機(jī)仿真還可W用于新計(jì)算工具和數(shù)值方法開發(fā)，當(dāng)開發(fā)出新的計(jì) 算工具后還可W應(yīng)用于上述建模仿真過(guò)程。
[0005] 由于仿真軟件價(jià)格非常貴，精確的仿真模型參數(shù)非常復(fù)雜，同時(shí)，電磁兼容理論高 深，算法復(fù)雜，也不可能增加大量的額外的建模計(jì)算，該些建模仿真雖說(shuō)有必要，但不是每 個(gè)研發(fā)試驗(yàn)人員都有能力有時(shí)間進(jìn)行計(jì)算。成本高、研發(fā)周期長(zhǎng)、問(wèn)題描述不直觀、真實(shí)性 不一定可W保證，而且不直接面對(duì)現(xiàn)實(shí)中的問(wèn)題，從而導(dǎo)致中小型企業(yè)很難實(shí)現(xiàn)。
[0006] 另外，對(duì)于測(cè)試有問(wèn)題的電路板通常采取W下幾種方法進(jìn)行改進(jìn)：
[0007] 1、板級(jí)防護(hù)；板級(jí)CPU周圍加屏蔽罩；
[000引 2、外殼防護(hù)；結(jié)構(gòu)外殼加密封圈；
[0009] 3、H防漆防護(hù)；某些關(guān)鍵電路部分涂H防漆。該些都做過(guò)后，還存在問(wèn)題的情況下 才考慮修改電路板。
[0010] 但是W上幾種防護(hù)方式不能從根本上直接解決電路的可靠性問(wèn)題，問(wèn)題實(shí)際上依 然存在，而且沒有直觀的面對(duì)問(wèn)題，主要是防護(hù)，甚至是繞過(guò)可靠性的要求。沒有找到發(fā)生 問(wèn)題的關(guān)鍵點(diǎn)，只是將其保護(hù)起來(lái)避免其受干擾，萬(wàn)一發(fā)生不可抗的情況時(shí)，其后果堪憂。 現(xiàn)有技術(shù)在解決電路靜電測(cè)試時(shí)，對(duì)于問(wèn)題網(wǎng)絡(luò)是進(jìn)行保護(hù)，防止其被干擾，采取屏蔽，密 封，防護(hù)方法避免發(fā)生干擾。該個(gè)缺點(diǎn)在于未從根本上解決問(wèn)題，問(wèn)題依然存在于設(shè)備中， 可靠性存在一定的風(fēng)險(xiǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0011] 本發(fā)明是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中在靜電測(cè)試時(shí)不能快速找到發(fā)生問(wèn)題的關(guān)鍵點(diǎn)的 缺陷，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提出一種靜電測(cè)試的方法。
[0012] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種靜電測(cè)試的方法，包括；依次選取受試設(shè)備的測(cè)試點(diǎn)，并 在測(cè)試點(diǎn)處進(jìn)行放電測(cè)試；確定故障測(cè)試點(diǎn)、第一故障發(fā)生率W及相對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)條件，故障 測(cè)試點(diǎn)為受試設(shè)備進(jìn)行放電測(cè)試時(shí)發(fā)生故障的測(cè)試點(diǎn)；根據(jù)故障測(cè)試點(diǎn)處發(fā)生的故障確定 產(chǎn)生故障的一條或多條網(wǎng)絡(luò)；依次從一條或多條網(wǎng)絡(luò)中選取一條試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)并為試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)外 接引出線，并在故障測(cè)試點(diǎn)處W與第一故障發(fā)生率相對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)條件進(jìn)行放電測(cè)試，確定 第二故障發(fā)生率；將第二故障發(fā)生率與第一故障發(fā)生率作對(duì)比，當(dāng)故障發(fā)生率的變化值達(dá) 到預(yù)設(shè)闊值時(shí)，確定選取的試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)存在缺陷。
[0013] 優(yōu)選的，引出線是長(zhǎng)度為8-15畑1的導(dǎo)線。
[0014] 優(yōu)選的，引出線是長(zhǎng)度為10cm的導(dǎo)線。
[0015] 優(yōu)選的，在測(cè)試點(diǎn)處進(jìn)行放電測(cè)試，包括：確定受試設(shè)備上的電荷已經(jīng)被消除；通 過(guò)靜電放電發(fā)生器在測(cè)試點(diǎn)處W單次放電的方式施加靜電放電脈沖；靜電放電脈沖的試驗(yàn) 電壓逐漸增高，放電重復(fù)率保持不變。
[001引優(yōu)選的，放電測(cè)試為空氣放電測(cè)試。
[0017] 本發(fā)明實(shí)施例提供的一種靜電測(cè)試的方法，首先根據(jù)放電測(cè)試的結(jié)果初步確定可 能存在問(wèn)題的網(wǎng)絡(luò)，之后依次為其中一條網(wǎng)絡(luò)外接引出線，W相同的試驗(yàn)條件再次進(jìn)行放 電測(cè)試。利用引出線可W增大信號(hào)的作用，通過(guò)對(duì)比兩次故障的發(fā)生頻率可W具體確定存 在問(wèn)題的網(wǎng)絡(luò)。該方法成本低、定位快，且可W盡快鎖定故障點(diǎn)，提高了測(cè)試效率，而且可W 從電路的角度制定優(yōu)化方案進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。
[0018] 本發(fā)明是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中在靜電測(cè)試時(shí)不能快速找到發(fā)生問(wèn)題的關(guān)鍵點(diǎn)的 缺陷，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提出一種靜電測(cè)試的裝置。
[0019] 根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種靜電測(cè)試的裝置，包括：
[0020] 放電測(cè)試模塊，用于依次選取受試設(shè)備的測(cè)試點(diǎn)，并在測(cè)試點(diǎn)處進(jìn)行放電測(cè)試；
[0021] 第一處理模塊，用于確定故障測(cè)試點(diǎn)、第一故障發(fā)生率W及相對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)條件，故 障測(cè)試點(diǎn)為受試設(shè)備進(jìn)行放電測(cè)試時(shí)發(fā)生故障的測(cè)試點(diǎn)；
[0022] 分析模塊，用于根據(jù)故障測(cè)試點(diǎn)處發(fā)生的故障確定產(chǎn)生故障的一條或多條網(wǎng)絡(luò)；
[0023] 第二處理模塊，用于依次從一條或多條網(wǎng)絡(luò)中選取一條試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)并為試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)外 接引出線，并在故障測(cè)試點(diǎn)處W與第一故障發(fā)生率相對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)條件進(jìn)行放電測(cè)試，確定 第二故障發(fā)生率；
[0024] 對(duì)比處理模塊，用于將第二故障發(fā)生率與第一故障發(fā)生率作對(duì)比，當(dāng)故障發(fā)生率 的變化值達(dá)到預(yù)設(shè)闊值時(shí)，確定選取的試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)存在缺陷。
[002引優(yōu)選的，引出線是長(zhǎng)度為8-15cm的導(dǎo)線。
[0026] 優(yōu)選的，引出線是長(zhǎng)度為10cm的導(dǎo)線。
[0027] 優(yōu)選的，放電測(cè)試模塊包括：
[0028] 分析單元，用于確定受試設(shè)備上的電荷已經(jīng)被消除；
[0029] 脈沖施加單元，用于通過(guò)靜電放電發(fā)生器在測(cè)試點(diǎn)處W單次放電的方式施加靜電 放電脈沖；靜電放電脈沖的試驗(yàn)電壓逐漸增高，放電重復(fù)率保持不變。
[0030] 優(yōu)選的，放電測(cè)試為空氣放電