輪胎的均勻性波形的校正方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及對從輪胎均勻性試驗機得到的均勻性波形進行校正的技術(shù)。
【背景技術(shù)】
[0002]—直以來，對制成產(chǎn)品的輪胎進行測量均勾性(uniformity)等來判定優(yōu)劣的輪胎試驗(輪胎均勻性試驗)。在該輪胎試驗中，將輪胎推壓至輪胎均勻性試驗機所具備的負荷轉(zhuǎn)鼓的外周面。在此基礎(chǔ)上，通過設(shè)置于負荷轉(zhuǎn)鼓的測壓元件(load cell)等，測量使該輪胎旋轉(zhuǎn)時在輪胎的半徑方向、橫向方向上施加的載荷來作為均勻性波形，并基于測量到的均勻性波形進行輪胎均勻性的評價。
[0003]但是，雖然設(shè)置于輪胎均勻性試驗機的負荷轉(zhuǎn)鼓例如被加工成截面為正圓的圓筒形狀，但是由于加工精度等的制約，嚴格來說，該截面并不是完全的正圓。即，在負荷轉(zhuǎn)鼓的外周面會不可避免地產(chǎn)生一些凹凸。這樣，如果在使輪胎與并非完全的正圓的負荷轉(zhuǎn)鼓的外周面相接觸的基礎(chǔ)上使輪胎旋轉(zhuǎn)，則在輪胎通過少量存在于負荷轉(zhuǎn)鼓的外周面的凹凸時，負荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)軸會產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)振動。產(chǎn)生的旋轉(zhuǎn)振動會作為誤差而包含在由測壓元件測量的均勻性波形中。其結(jié)果是，存在基于包含這樣的誤差的均勻性波形而計算出的輪胎均勻性的精度也發(fā)生降低的可能性。
[0004]因此，為了從由測壓元件等測量到的均勻性波形中去除起因于這樣的負荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動的誤差，換言之，為了校正測量到的均勻性波形，已經(jīng)想出幾個校正方法(專利文獻1、專利文獻2等)。
[0005]例如，在專利文獻I的校正方法中，在負荷轉(zhuǎn)鼓的直徑外側(cè)設(shè)置有能夠檢測負荷轉(zhuǎn)鼓的外周面的位移(沿著輪胎的半徑方向的位移，或者沿著輪胎的橫向方向的位移)的檢測器(傳感器)。并且，由該檢測器檢測出的負荷轉(zhuǎn)鼓的位移被作為旋轉(zhuǎn)振動來測量。并且，在測量到的負荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動上乘以輪胎的彈簧常數(shù)而得到的值被作為由于旋轉(zhuǎn)振動而作用到負荷轉(zhuǎn)鼓的力變動的波形來計算。如果將這樣計算出的力變動的波形作為用于校正起因于旋轉(zhuǎn)振動的誤差的校正波形，從實際測量到的均勻性波形中減去，就能夠?qū)鶆蛐圆ㄐ芜M行校正。
[0006]此外，在專利文獻2的校正方法中，由測壓元件測量到的均勻性波形被劃分成輪胎的每I次旋轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)區(qū)間，劃分后的均勻性波形彼此相互疊加。如果這樣按輪胎的每I次旋轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)區(qū)間進行均勻性波形的疊加，則誤差會通過疊加而被抵消，能夠得到平均的均勻性波形。如果從由測壓元件實際測量到的均勻性波形中減去這樣的平均的均勻性波形，就得到包含因負荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動導(dǎo)致的誤差量的波形。接著，如果將所得到的含有誤差量的波形劃分成負荷轉(zhuǎn)鼓的每I次旋轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)區(qū)間，并使劃分后的波形彼此相互疊加，則含有誤差量的波形就被平均化。由此，能夠與專利文獻I同樣地求取出用于對因旋轉(zhuǎn)振動導(dǎo)致的誤差進行校正的校正波形。
[0007]在先技術(shù)文獻
[0008]專利文獻
[0009]專利文獻1:日本國特開昭57-141532號公報
[0010]專利文獻2:日本國特開平2-259445號公報

【發(fā)明內(nèi)容】

[0011]發(fā)明要解決的課題
[0012]但是，在專利文獻I的校正方法中，有時由于輪胎的類別(種類、尺寸)的不同，很難精度良好地計算出上述的校正波形。
[0013]例如，在實際的輪胎均勻性試驗機中，將輪胎推壓至負荷轉(zhuǎn)鼓的位置大多根據(jù)標準的種類、尺寸的輪胎而設(shè)定。但是，由輪胎均勻性試驗機測量的輪胎中有寬度比標準的輪胎寬的輪胎和寬度比標準的輪胎窄的輪胎。在對這樣的輪胎進行試驗時，用來檢測外周面的位移的檢測器的高度會從最佳的位置偏離。即，在專利文獻I的校正方法中，根據(jù)要測量輪胎均勻性的輪胎的類別的不同，檢測器的設(shè)置位置會從最佳的位置偏離，而因為檢測器的設(shè)置位置的偏離會使計算出的校正波形與適當?shù)男Ｕㄐ蜗嗥x。由此，可能會很難求取出精度良好的校正波形。
[0014]此外，在專利文獻2記載的校正方法中，在重疊多個波形進行平均化時，如果存在微小的相位偏離等誤差，則這樣的誤差也會被疊加并被加到校正波形上。其結(jié)果是，因疊加反而會使誤差變大，與專利文獻I的校正方法同樣地，有時會很難求取到精度良好的校正波形。
[0015]本發(fā)明鑒于上述問題而完成，其目的在于，提供一種輪胎的均勻性波形的校正方法，該校正方法能夠?qū)⒁蜇摵赊D(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動造成的影響從測量到的均勻性波形中去除，提高輪胎均勻性的測定精度。
[0016]用于解決課題的手段
[0017]為了達成上述目的，本發(fā)明的輪胎的均勻性波形的校正方法采取以下技術(shù)手段。
[0018]S卩，本發(fā)明是一種在將負荷轉(zhuǎn)鼓推壓至直徑與該負荷轉(zhuǎn)鼓不同的輪胎的基礎(chǔ)上，在使輪胎旋轉(zhuǎn)的同時測定輪胎的均勻性時的輪胎的均勻性波形的校正方法，該輪胎的均勻性波形的校正方法的特征在于，具有:使用設(shè)置于所述負荷轉(zhuǎn)鼓的測壓元件以及旋轉(zhuǎn)相位計，測量所述輪胎的均勻性波形，并且測量所述負荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)相位的步驟；通過對測量到的均勻性波形進行頻率變換，從而變換成頻率區(qū)域的波形的步驟；在變換后的頻率區(qū)域的波形中，求取所述負荷轉(zhuǎn)鼓的轉(zhuǎn)速的整數(shù)倍數(shù)分量處的振幅以及相位的步驟；將求取到的所述負荷轉(zhuǎn)鼓的轉(zhuǎn)速的整數(shù)倍數(shù)分量處的振幅以及相位作為校正參數(shù)來存儲的步驟；測量所述輪胎的均勻性波形，并且基于存儲的校正參數(shù)來計算輪胎測量時的負荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)相位范圍中的校正波形的步驟；以及通過從測量到的均勻性波形中減去所述計算出的校正波形，從而計算出被校正后的輪胎的均勻性波形的步驟。
[0019]另外，優(yōu)選可以具有:按所述輪胎的每個類別預(yù)先求取校正參數(shù)的步驟；基于預(yù)先求取到的所述校正參數(shù)，按所述輪胎的每個類別計算所述校正波形的步驟；以及通過從測量到的均勻性波形中減去計算出的所述校正波形，從而計算出被校正后的輪胎的均勻性波形的步驟。
[0020]發(fā)明效果
[0021]根據(jù)本發(fā)明的輪胎的均勻性波形的校正方法，能夠從測量到的均勻性波形中去除因負荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動造成的影響，提高輪胎均勻性的測定精度。
【附圖說明】
[0022]圖1是本發(fā)明涉及的輪胎均勻性試驗機的簡要圖。
[0023]圖2(a)是表示由輪胎均勻性試驗機測量的均勻性波形的圖，(b)是(a)的局部放大圖。
[0024]圖3 (a)是表示對測量到的均勻性波形進行FFT變換后的結(jié)果的圖，(b)是FFT變換后的結(jié)果的放大圖。
[0025]圖4(a)是表示測量到的均勻性波形的圖，(b)是表示校正波形的圖，(C)是表示校正后的均勻性波形的圖。
【具體實施方式】
[0026][第I實施方式]
[0027]首先，基于附圖來說明執(zhí)行本發(fā)明涉及的輪胎T的均勻性波形的校正方法的輪胎均勻性試驗機I。
[0028]如圖1所示，輪胎均勻性試驗機I (輪胎均勻性試驗裝置)針對已完成的輪胎T來評價輪胎均勻性等特性，從而進行產(chǎn)品檢查。輪胎均勻性試驗機I構(gòu)成為:作為產(chǎn)品檢查對使輪胎T旋轉(zhuǎn)時產(chǎn)生的輪胎半徑方向的力的變動(Radial Force Variat1n:RFV)、輪胎橫向方向的力的變動(Lateral Force Variat1n:LFV)進行評價。
[0029]具體來說，輪胎均勻性試驗機I具有以圍繞朝向上下的軸心自由旋轉(zhuǎn)的方式配置的主軸2。在該主軸2的上端設(shè)置有固定輪胎T的上下一對輪圈3。主軸2能夠?qū)Ρ惠喨?固定的輪胎T以圍繞朝向上下的軸心自由旋轉(zhuǎn)的方式進行支撐。進一步地，在主軸2的側(cè)方具備在其外周面形成了模擬路面的大致圓筒狀的負荷轉(zhuǎn)鼓4。該負荷轉(zhuǎn)鼓4被設(shè)為圍繞上下軸心進行驅(qū)動旋轉(zhuǎn)，并且在水平方向上移動自由。負荷轉(zhuǎn)鼓4的外周面能夠與設(shè)置于主軸2的輪胎T靠近/遠離。
[0030]另外，在本說明書的說明中，將圖1的紙面的上下作為