采集電路PCB板12上十個老化供電端子組相連。
[0024]機箱I的后面板設有一個指令傳輸口 4，一個采集數(shù)據(jù)傳輸口 5，一個電源輸入耦合器6，一個裝置開關按鍵7。
[0025]指令傳輸口 4通過USB線與PC機相連，內(nèi)部與開關測試采集電路PCB板12相連，達到指令由PC機向裝置傳輸。
[0026]采集數(shù)據(jù)傳輸口 5通過USB線與PC機相連，內(nèi)部與MP424采集模塊11相連，達到采集數(shù)據(jù)由裝置向PC機傳輸。
[0027]電源輸入耦合器6內(nèi)置電源濾波，在機箱I內(nèi)部通過輸入耦合器接線端子8與50V直流電源9、15V直流電源10連接，用以開關測試采集電路PCB板12上不同模塊的供電。
[0028]PC機通過指令傳輸模塊向FPGA控制模塊15發(fā)出指令，F(xiàn)PGA控制模塊15的五個管腳連接到開關模塊13的五個輸入端，控制被測晶體管老化電路斷開，同時，F(xiàn)PGA控制模塊15的另五個管腳連接采集模塊16，選通一路測試電流的導通，此時測試電流從測試模塊14流出，流進外部老化電路中的晶體管的基極，電流通過BE結(jié)流回測試模塊14的回路，同時，PC機發(fā)出指令，通過FPGA控制模塊15發(fā)出指令，該指令向MP424采集模塊11發(fā)出指令。MP424采集模塊11進行數(shù)據(jù)采集。
[0029]設備的準備工作和運轉(zhuǎn)操作如下:
[0030]檢查設備外觀是否完好，電源線連接是否牢固，各按鍵、選擇開關和操作是否正常；將具有合適的五個待老化的晶體管連接到測量端子組a2。
[0031]運轉(zhuǎn)操作:
[0032]a.接入被測晶體管:將五個被測晶體管的集電極、基極、發(fā)射極分別接入該裝置的測量端子。
[0033]b.接入老化供電電源:老化供電電源的電壓、電流輸出端連接到裝置的老化供電端子。
[0034]c.接通電源:將該裝置的插頭接入供電電源，將老化供電電源開啟，此時被測晶體管電源接通，按照被測設備標準要求設置工作狀態(tài)。
[0035]d.數(shù)據(jù)采集:在PC機上點擊采集按鈕，裝置將進入預定動作狀態(tài)，進行數(shù)據(jù)采集。
[0036]e.采集結(jié)束:將該裝置的裝置開關按鍵關閉，插頭從供電電源拔出，外部老化供電電源斷電，然后將被測晶體管從該裝置測量端子組a2處斷開，將被測晶體管取下。
[0037]最后應說明的是:以上實施例僅用以說明本發(fā)明而并非限制本發(fā)明所描述的技術(shù)方案；因此，盡管本說明書參照上述的各個實施例對本發(fā)明已進行了詳細的說明，但是，本領域的普通技術(shù)人員應當理解，仍然可以對本發(fā)明進行修改或等同替換；而一切不脫離發(fā)明的精神和范圍的技術(shù)方案及其改進，其均應涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當中。
【主權(quán)項】
1.多路晶體管BE結(jié)結(jié)溫測量裝置，其特征在于:該裝置包括機箱(I)、測量端子組a (2)、老化供電端子組a (3)、指令傳輸口(4)、采集數(shù)據(jù)傳輸口(5)、裝置供電輸入耦合器(6)、裝置開關按鍵(7)以及內(nèi)部控制電路；所述內(nèi)部控制電路設置在機箱⑴內(nèi)的襯板上，內(nèi)部控制電路包括輸入耦合器接線端子(8)、50V直流電源(9)、15V直流電源(10)、MP424采集模塊(11)、開關測試采集電路PCB板(12);開關測試采集電路PCB板包括開關模塊(13)、測試模塊(14)、FPGA控制模塊(15)、采集模塊(16)； 機箱(I)的前面板上為測量端子組a(2)、老化供電端子組a(3)兩個區(qū)； 測量端子組a(2)包括第一測量端子C(2.1.1)、第一測量端子B(2.1.2)、第一測量端子E(2.1.3)、第二測量端子C(2.2.1)、第二測量端子B(2.2.2)、第二測量端子E(2.2.3)、第三測量端子C (2.3.1)、第三測量端子B (2.3.2)、第三測量端子E (2.3.3)、第四測量端子C (2.4.1)、第四測量端子B (2.4.2)、第四測量端子E (2.4.3)、第五測量端子C (2.5.1)、第五測量端子B (2.5.2)、第五測量端子E (2.5.3)，其分別對應連接老化電路中五個晶體管集電極、基極、發(fā)射極，測量端子組a(2)在機箱(I)內(nèi)部與PCB板上的十五個測量端子組相連；老化供電端子組a(3)包括第一老化供電端子U(3.1.1)、第一老化供電端子I (3.1.2)、第二老化供電端子U (3.2.1)、第二老化供電端子I (3.2.2)、第三老化供電端子U (3.3.1)、第三老化供電端子I (3.3.2)、第四老化供電端子U(3.4.1)、第四老化供電端子I (3.4.2)、第五老化供電端子U (3.5.1)、第五老化供電端子I (3.5.2)，分別對應連接老化電路中五個晶體管的基極和集電極，老化供電端子a(3)在機箱(I)內(nèi)部與開關測試采集電路PCB板(12)上十個老化供電端子組相連； 機箱(I)的后面板設有一個指令傳輸口(4)，一個采集數(shù)據(jù)傳輸口(5)，一個電源輸入耦合器出)，一個裝置開關按鍵(7); 指令傳輸口⑷通過USB線與PC機相連，內(nèi)部與開關測試采集電路PCB板(12)上指令傳輸模塊相連，達到指令由PC機向裝置傳輸； 采集數(shù)據(jù)傳輸口(5)通過USB線與PC機相連，內(nèi)部與MP424采集模塊(11)相連，達到采集數(shù)據(jù)由裝置向PC機傳輸； 電源輸入耦合器出)內(nèi)置電源濾波，在機箱(I)內(nèi)部通過輸入耦合器接線端子(8)與50V直流電源(9)、15V直流電源(10)連接，用以開關測試采集電路PCB板(12)上不同模塊的供電； 所述裝置開關按鍵(7)用以控制裝置電路的開斷；PC機通過指令傳輸模塊(27)向FPGA控制模塊(15)發(fā)出指令，F(xiàn)PGA控制模塊(15)的五個管腳連接到開關模塊(13)的五個輸入端，控制被測晶體管老化電路斷開，同時，F(xiàn)PGA控制模塊(15)的另五個管腳連接采集模塊(16)，選通一路測試電流的導通，此時測試電流從測試模塊(14)流出，流進外部老化電路中的晶體管的基極，電流通過BE結(jié)流回測試模塊(14)的回路，同時，PC機發(fā)出指令，通過FPGA控制模塊(15)發(fā)出指令，該指令向MP424采集模塊(11)發(fā)出指令。MP424采集模塊(11)進行數(shù)據(jù)采集。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多路晶體管BE結(jié)結(jié)溫測量裝置，其特征在于:設備的準備工作和運轉(zhuǎn)操作如下， 檢查設備外觀是否完好，電源線連接是否牢固，各按鍵、選擇開關和操作是否正常；將具有合適的五個待老化的晶體管連接到測量端子組a(2); 運轉(zhuǎn)操作: a.接入被測晶體管:將五個被測晶體管的集電極、基極、發(fā)射極分別接入該裝置的測量端子; b.接入老化供電電源:老化供電電源的電壓、電流輸出端連接到裝置的老化供電端子; c.接通電源:將該裝置的插頭接入供電電源，將老化供電電源開啟，此時被測晶體管電源接通，按照被測設備標準要求設置工作狀態(tài)； d.數(shù)據(jù)采集:在PC機上點擊采集按鈕，裝置將進入預定動作狀態(tài)，進行數(shù)據(jù)采集； e.采集結(jié)束:將該裝置的裝置開關按鍵關閉，插頭從供電電源拔出，外部老化供電電源斷電，然后將被測晶體管從該裝置測量端子組a(2)處斷開，將被測晶體管取下。
【專利摘要】多路晶體管BE結(jié)結(jié)溫測量裝置，裝置開關按鍵用以控制裝置電路的開斷。PC機通過指令傳輸模塊向FPGA控制模塊發(fā)出指令，F(xiàn)PGA控制模塊的五個管腳連接到開關模塊的五個switch輸入端，控制MOS組的溝道關斷，同時，F(xiàn)PGA控制模塊的另五個管腳連接的采集模塊的ULN2003控制芯片的五個管腳，經(jīng)過繼電器組，流進外部老化電路中的晶體管的基極，電流通過BE結(jié)流回測試模塊的回路，通過FPGA控制模塊發(fā)出指令，通過采集觸發(fā)端子向MP424采集模塊發(fā)出指令。MP424采集模塊通過采集端子進行數(shù)據(jù)采集。本發(fā)明能夠?qū)崟r監(jiān)控晶體管在老化過程中BE結(jié)結(jié)溫，采用電子控制方式斷電，能夠精確地保證被測器具在斷電瞬間完成測試，確保試驗符合標準要求。
【IPC分類】G01R31-26
【公開號】CN104808130
【申請?zhí)枴緾N201510182241
【發(fā)明人】廖之恒, 郭春生, 呂賢亮, 高立, 李世偉, 馮士維, 朱慧
【申請人】北京工業(yè)大學
【公開日】2015年7月29日
【申請日】2015年4月16日