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      一種頻譜儀及其多參數(shù)并行掃頻的頻譜測量方法

      文檔序號:9199415閱讀:695來源:國知局
      一種頻譜儀及其多參數(shù)并行掃頻的頻譜測量方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及頻譜測量領(lǐng)域,具體涉及一種頻譜儀及其多參數(shù)并行掃頻的頻譜測量方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]頻譜測量技術(shù)已經(jīng)成為越來越廣泛的測量方法,但是利用現(xiàn)有技術(shù)的頻譜測量方法對目標(biāo)信號進(jìn)行測試時,頻譜儀只有一個顯示窗口和一套掃描參數(shù),在對一個信號的不同頻點(diǎn)或者多個信號進(jìn)行測量時,往往需要設(shè)置多種不同參數(shù),現(xiàn)有技術(shù)的方法就需要通過儀器的輸入鍵盤或屏幕菜單設(shè)置不同的參數(shù)分別進(jìn)行測試,參數(shù)之間切換繁瑣,測試效率較低。
      [0003]例如,欲測量多個頻率相距較遠(yuǎn)的信號頻點(diǎn),需要使用較寬的掃寬同時涵蓋這些點(diǎn)。若使用較大的頻率分辨率(RBW,Resolut1n Band With),測量時間雖然能夠縮短,但測試結(jié)果分辨率不精細(xì),細(xì)節(jié)無法觀察到;若使用較小的頻率分辨率,雖然可以觀察到各個頻點(diǎn)處很精細(xì)的測量細(xì)節(jié),但會導(dǎo)致非常長的掃描時間,因?yàn)檩^小RBW的測量時間長(掃描分辨率小或掃寬大,掃描時間就長;掃描分辨率大或掃寬小,掃描時間就短)。所以通常只能在這些需要細(xì)致觀察的頻點(diǎn)上,使用較小的頻段進(jìn)行多次獨(dú)立的測試,以增加測量細(xì)節(jié)同時減小掃描時間,但這樣就導(dǎo)致了參數(shù)之間切換繁瑣,測試效率較低的問題。
      [0004]又例如,欲測量多個電平幅度不同的信號,需要使用不同的測量參考電平才能觀察得到這些信號的區(qū)別。若使用較大的參考電平(Reference Level)測量幅度較高的信號,就需要增大衰減,則底噪升高,無法同時觀察到幅度較低的信號;若使用較小的參考電平測量幅度較低的信號,就需要打開前置放大器,則增加了失真,無法同時觀察到幅度較高的信號。所以通常只能在這些需要細(xì)致觀察的電平上,使用不同的參考電平頻段進(jìn)行多次獨(dú)立的測試過程,以增加測量細(xì)節(jié)和減小測量失真。
      [0005]現(xiàn)有的頻譜儀技術(shù)方案中,掃寬/分辨率/參考電平/掃描時間等參數(shù)只能設(shè)置在人機(jī)界面上設(shè)置唯一可執(zhí)行的掃描參數(shù),一次掃描從頭掃到尾,并且在一個顯示屏幕上將掃描結(jié)果顯示出來。若在測量多個不同頻率和幅度狀態(tài)差異比較大的信號的時候,需要使用較寬的掃寬或較大的參考電平同時涵蓋這些點(diǎn),儀器狀態(tài)不能兼顧多個信號的特點(diǎn),那么一套掃描參數(shù)就不能很好地適配每一個需要測量信號的頻率精度和幅度精度,只能進(jìn)行多次獨(dú)立的測試過程,切換復(fù)雜,也不方便進(jìn)行對比。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006]根據(jù)本發(fā)明的第一方面,提供一種多參數(shù)并行掃頻的頻譜測量方法,包括:
      [0007]分割窗口:啟動分割測試窗口功能;根據(jù)預(yù)設(shè)的測試窗口數(shù)量或者用戶設(shè)置的測試窗口數(shù)量,在屏幕上分割出多個測試窗口 ;
      [0008]參數(shù)設(shè)置:依次選中多個測試窗口的一個并對其進(jìn)行參數(shù)設(shè)置;
      [0009]對被選中的測試窗口進(jìn)行測試頻點(diǎn)或者頻段的設(shè)置;
      [0010]信號測量:在每一個測試窗口上對其對應(yīng)的頻點(diǎn)或者頻段進(jìn)行頻譜測量;
      [0011]結(jié)果顯示:在屏幕上顯示每一個測試窗口所對應(yīng)的測量結(jié)果。
      [0012]分割窗口步驟還包括:自動生成多個測試窗口的序號。
      [0013]或者,在參數(shù)設(shè)置步驟設(shè)置測試窗口的序號,可以是對選中的測試窗口進(jìn)行序號設(shè)置;或者,測試窗口的序號編排依照該測試窗口被選中的順序被生成。
      [0014]對選中的測試窗口進(jìn)行參數(shù)設(shè)置為:對掃寬和/或分辨率和/或參考電平和/或掃描時間進(jìn)行設(shè)置。
      [0015]信號測量步驟為:按次序利用每一個測試窗口對其對應(yīng)的頻點(diǎn)或者頻段進(jìn)行頻譜測量。
      [0016]頻譜測量方法可以還包括:增加或減少測試窗口的數(shù)量。增加的測試窗口的參數(shù)與原有測試窗口中最后一個被進(jìn)行參數(shù)設(shè)置的測試窗口的參數(shù)相同。
      [0017]頻譜測量方法可以還包括設(shè)置測量模式,設(shè)置測量模式為:設(shè)置頻譜儀的測量模式為單次測量或者循環(huán)測量;單次測量為,頻譜儀完成多個測試窗口的一次頻譜測量后,結(jié)束測量過程;循環(huán)測量為,頻譜儀完成多個測試窗口的一次頻譜測量后,循環(huán)執(zhí)行頻譜測量過程,直至達(dá)到預(yù)設(shè)的循環(huán)次數(shù)或者設(shè)置的循環(huán)次數(shù)。
      [0018]根據(jù)本發(fā)明的第二方面,提供一種頻譜儀,包括信號輸入模塊、控制處理模塊、信號測量模塊和顯示模塊。信號輸入模塊連接至控制處理模塊,用于獲取輸入信號;控制處理模塊用于根據(jù)預(yù)設(shè)的測試窗口數(shù)量或者用戶設(shè)置的測試窗口數(shù)量,在顯示模塊上分割出多個測試窗口,并根據(jù)用戶的設(shè)置,保存用戶對每一個測試窗口進(jìn)行的參數(shù)設(shè)置以及測試頻點(diǎn)或者頻段的設(shè)置;信號測量模塊連接至控制處理模塊,用于對每一個測試窗口所對應(yīng)的頻點(diǎn)或者頻段進(jìn)行頻譜測量;顯示模塊連接至控制處理模塊和信號測量模塊,用于顯示每一個測試窗口所對應(yīng)的測量結(jié)果。
      [0019]參數(shù)設(shè)置包括掃寬和/或分辨率和/或參考電平和/或掃描時間的設(shè)置。
      [0020]控制處理模塊還用于增加或減少測試窗口的數(shù)量,增加的測試窗口的參數(shù)與原有測試窗口中最后一個被進(jìn)行參數(shù)設(shè)置的測試窗口的參數(shù)相同。
      [0021]信號測量模塊按次序利用每一個測試窗口對其對應(yīng)的頻點(diǎn)或者頻段進(jìn)行頻譜測量。
      [0022]控制處理模塊還用于設(shè)置測量模式,即設(shè)置頻譜儀的測量模式為單次測量或者循環(huán)測量;單次測量為,頻譜儀完成多個測試窗口的一次頻譜測量后,結(jié)束測量過程;循環(huán)測量為,頻譜儀完成多個測試窗口的一次頻譜測量后,循環(huán)執(zhí)行頻譜測量過程,直至達(dá)到預(yù)設(shè)的循環(huán)次數(shù)或者設(shè)置的循環(huán)次數(shù)。
      [0023]本發(fā)明的有益效果是,用戶可以針對同一信號中不同頻點(diǎn)或者不同信號的狀況,分割出多個測試窗口并對多個測試窗口設(shè)置不同的參數(shù),對于精確度要求高的頻點(diǎn),設(shè)置較高的分辨率,對于精確度要求交低的頻點(diǎn),不用設(shè)置較高的分辨率,這樣既節(jié)省了頻譜測量的時間,也避免了現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行參數(shù)切換的繁瑣操作。
      【附圖說明】
      [0024]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一的頻譜儀的機(jī)構(gòu)示意圖;
      [0025]圖2為本發(fā)明實(shí)施例一的被測信號示意圖;
      [0026]圖3為本發(fā)明實(shí)施例一的頻譜儀的窗口分割效果圖;
      [0027]圖4為本發(fā)明實(shí)施例一的頻譜測量結(jié)果顯示效果圖;
      [0028]圖5為本發(fā)明實(shí)施例二的被測信號示意圖;
      [0029]圖6為本發(fā)明實(shí)施例二的頻譜測量結(jié)果顯示效果圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0030]下面通過【具體實(shí)施方式】結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
      [0031]實(shí)施例一:
      [0032]如圖1所示為本實(shí)施例頻譜儀的結(jié)構(gòu)示意圖,包括輸入模塊001、控制處理模塊002、信號測量模塊003和顯示模塊004。輸入模塊001連接至控制處理模塊002,用于獲取輸入信號;控制處理模塊002用于根據(jù)預(yù)設(shè)的測試窗口數(shù)量或者用戶設(shè)置的測試窗口數(shù)量,在顯示模塊上分割出多個測試窗口,并根據(jù)用戶的設(shè)置,保存用戶對每一個測試窗口進(jìn)行的參數(shù)設(shè)置以及測試頻點(diǎn)或者頻段的設(shè)置;信號測量模塊003連接至控制處理模塊002,用于對每一個測試窗口所對應(yīng)的頻點(diǎn)或者頻段進(jìn)行頻譜測量;顯示模塊004連接至控制處理模塊002和信號測量模塊003,用于顯示每一個測試窗口所對應(yīng)的測量結(jié)果,顯示模塊004即屏幕。
      [0033]本實(shí)施例的多參數(shù)并行掃頻的頻譜測量方法包括如下步驟:
      [0034]S1、輸入模塊001獲取信號,用戶啟動分割測試窗口功能,控制處理模塊002根據(jù)預(yù)設(shè)的測試窗口數(shù)量或者用戶設(shè)置的測試窗口數(shù)量,在屏幕上分割出多個測試窗口。具體地,如圖2所示,用戶需要對頻譜儀屏幕上的A1、A2、A3、A4四個頻點(diǎn)進(jìn)行掃描,經(jīng)過分析可知,四個頻點(diǎn)需要利用不同的掃描分辨率進(jìn)行掃描,因此,本實(shí)施例的測試窗口由用戶在頻譜儀的輸入面板或者屏幕菜單或者對應(yīng)的遠(yuǎn)程菜單上進(jìn)行設(shè)置,測試窗口的數(shù)量為四個,則屏幕上分割出四個測試窗口,四個測試窗口的分割效果
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