9中的圖像區(qū)域100內(nèi)存在由亮度相對低的區(qū)域構(gòu)成的背景區(qū)域102和由亮度相對高的區(qū)域構(gòu)成的明區(qū)域104。該明區(qū)域104相當(dāng)于來自投光部46(圖2)的投光像。此外，為了便于圖示，在圖像區(qū)域100內(nèi)僅記載劃分背景區(qū)域102以及明區(qū)域104的輪廓線。
[0064]在步驟S4中，偏移量計算部94基于在步驟S3得到的拍攝圖像89，計算測定面54上的反射點R的偏移量。以下，對于偏移量的定義，再次參照圖5以及圖6進行說明。
[0065]返回圖5，V字狀的實線表示組裝到校正對象裝置1c的測定光學(xué)系統(tǒng)40的實際的光路(實際光路Lr:參照圖2)。從本圖理解那樣，實際光路Lr相對于基準(zhǔn)光路Ls，向X軸的正方向且Y軸的負(fù)方向偏移。在此，將實際光路Lr相對于基準(zhǔn)光路Ls的偏差量作為試紙26的測定面54上的反射點R的偏移量(ΛΧ，ΛΥ)進行定量化。該反射點R相當(dāng)于V字狀的實際光路Lr中的頂點。
[0066]在本圖例中，示出基準(zhǔn)光路Ls以及實際光路Lr中的發(fā)光點E —致，僅投光部46的組裝姿勢存在偏差的情況。也存在投光部46的組裝位置與其一并或者與其分別地存在偏差的情況。此時，實際光路Lr的發(fā)光點與基準(zhǔn)光路Ls的發(fā)光點E不同。
[0067]返回圖6，偏移量計算部94通過使用公知的圖像識別處理對拍攝圖像89進行分析，從而確定X軸一 Y軸的平面坐標(biāo)(包含基準(zhǔn)反射點O的位置)，以及分別計算反射點R的坐標(biāo)。例如，也可以通過對映入拍攝圖像89(特別是，背景區(qū)域102)的各構(gòu)件的形狀或者樣式的位置、姿勢進行識別，而確定X軸一 Y軸的平面坐標(biāo)。另外，也可以通過將明區(qū)域104的重心位置(ΛΧ，ΔΥ)作為反射點R進行計算，使用與拍攝裝置72相關(guān)的各種信息(包含圖像分辨率、光學(xué)倍率)而轉(zhuǎn)換為實際空間上的長度，來計算反射點R的坐標(biāo)(ΛΧ，ΛΥ)。
[0068]以下，有時將沿著X軸的反射點R的偏差Δ X稱為“X軸偏移量”，將沿著Y軸的反射點R的偏差ΔΥ稱為“Y軸偏移量”。在該實施方式中，在向量(ΛΧ，ΔΥ)中僅使用X軸偏移量ΛΧ。對于其理由后述。
[0069]在步驟S5中，校正曲線決定部96基于在步驟S4獲取的偏移量，決定適于校正對象裝置1c的校正系數(shù)64。在對具體的決定方法進行說明之前，對與測定光學(xué)系統(tǒng)40的組裝精度相關(guān)的光學(xué)的現(xiàn)象進行說明。
[0070]圖7Α以及圖7Β是表示在試紙26的測定面54上產(chǎn)生的表面反射光110、116的角度分布的概略說明圖。
[0071]如圖7Α所示，假設(shè)所輻射的光沿以發(fā)光點E作為起點并以受光點D作為終點的基準(zhǔn)光路Ls(入射角為零)行進，并被檢測。該檢測的光不僅包含經(jīng)由在試紙26的內(nèi)部(發(fā)色試劑的浸漬層108)的散射向外部放出的散射光，還包含直接被試紙26的測定面54側(cè)反射的表面反射光110。
[0072]表面反射光110的各箭頭的長度表示光強度的大小。是指箭頭越長光強度越大，同時箭頭越短光強度越小的意思。即，該表面反射光110具有在正反射角(反射角為零)中光強度最大的角度分布。其結(jié)果為，在本圖例中，光強度第二大的反射成分112被受光、檢測。
[0073]另一方面，如圖7Β那樣，假設(shè)所輻射的光沿著以發(fā)光點E作為起點并以受光點D作為終點的實際光路Lr (入射角為Θ)行進，并被檢測。與圖7Α的情況相同，所檢測的光中包含直接被試紙26的測定面54側(cè)反射的表面反射光116。不過，由于該表面反射光116具有在正反射角(反射角為Θ)中光強度最大的角度分布，所以光強度最大的反射成分118被受光、檢測。
[0074]這樣，通過測定光學(xué)系統(tǒng)40的光路、即反射角度發(fā)生變化，從而起因于表面反射光110、116的檢測光量不同。而且，由于該現(xiàn)象主要起因于表面反射，所以無論體液中的成分量(發(fā)色部114的顏色)如何認(rèn)為是大體相同的趨勢。于是，在該實施方式所涉及的校正方法中，決定抵消上述的檢測光量的變化的校正系數(shù)64。
[0075]進行該決定時，校正曲線決定部96從存儲部82讀出并獲取修正光量(△ I)相對于偏移量的關(guān)系的建立對應(yīng)信息90。
[0076]特別優(yōu)選，將沿著包容基準(zhǔn)光路Ls的面與測定面54的交線(X軸)的反射點R的偏差(△?，作為偏移量進行計測、使用。根據(jù)幾何學(xué)上的考慮，在光路(反射點R)沿X軸變化時反射光量的變化率最大，所以顯著地顯現(xiàn)該校正的效果。
[0077]圖8是表示光量相對于偏移量的變化量△ I的關(guān)系的一個例子的圖表。圖表的橫軸是X軸偏移量Δ X (單位:mm)，圖表的縱軸是光量的變化量Δ I (無單位)。在此，Δ I相當(dāng)于換算為在A/D轉(zhuǎn)換器49 (圖2)輸出的信號值的量。
[0078]圖中的各曲線是對測定光學(xué)系統(tǒng)40的組裝位置、姿勢進行各種變更而得的實驗數(shù)據(jù)。而且，圖中的實線是根據(jù)各曲線決定的回歸直線。當(dāng)使截矩為O時，該函數(shù)以Δ I ( Δ X) = Cl.AX(C1 為正數(shù))表現(xiàn)。
[0079]此外，該關(guān)系式不限于截矩為O的直線，能夠使用任意的線形函數(shù)或者非線形函數(shù)。作為適合于規(guī)定的曲線的最佳手法，能夠應(yīng)用各種包含函數(shù)近似運算、擬合運算，插補運算、多變量解析的公知的手法。
[0080]另外，建立對應(yīng)信息90不僅是用于確定函數(shù)形的系數(shù)，也可以是檢查表(LUT:Look Up Table)。另外，建立對應(yīng)信息90不僅是X軸偏移量Δ X，也可以與其一并或者與其不同地是與Y軸偏移量ΔΥ的關(guān)系。
[0081]而且，校正曲線決定部96通過參照該建立對應(yīng)信息90，得到與在步驟S4得到的ΛΧ對應(yīng)的Al。由此，能夠簡便地執(zhí)行修正光量(ΛΙ)的決定以及校正曲線(校正系數(shù)64)的計算，因此操作效率提高。此外，校正曲線決定部96將用于抵消該變化量的(一 Λ I)(不論附圖標(biāo)記的有無)決定為校正系數(shù)64。
[0082]在步驟S6中，校正操作者對校正對象裝置10c，設(shè)定、輸入在步驟S5決定的校正系數(shù)64 (圖2)。例如，也可以經(jīng)由操作按鈕34 (圖1)輸入校正系數(shù)64，還可以經(jīng)由未圖示的通信單元從校正操作終端74 (圖3)下載校正系數(shù)64。由此，適于各血糖儀10的校正系數(shù)64被分別儲存到存儲器44。
[0083]在步驟S7中，校正操作者確認(rèn)全部的校正對象裝置1c中的校正操作是否已結(jié)束。在還沒有結(jié)束的情況下，返回步驟S2，以下，依次重復(fù)步驟S2?S6。另一方面，在已結(jié)束的情況下，結(jié)束血糖儀10的校正操作。這樣一來，用戶能夠使用進行了校正的狀態(tài)的血糖儀10。
[0084][血糖儀10的血糖值的定量式]
[0085]接著，對進行了校正的血糖儀10的血糖值的定量方法、更加詳細(xì)來說成分定量部60(圖2)的運算動作進行說明。
[0086]成分定量部60在運算之前，讀出存儲器44所儲存的定量系數(shù)62以及校正系數(shù)64，并且獲取經(jīng)由測定光學(xué)系統(tǒng)40輸出的2個檢測光量。將發(fā)色前的試紙26中的檢測光量設(shè)為Iw，將發(fā)色后的試紙26中的檢測光量設(shè)為Ic。通常，將試紙26的整個發(fā)色前后的檢測光量之比(Ic/Iw)作為光反射率進行運算。但是，在本實施方式中，通過對抵消了起因于表面反射光110、116(圖7A以及圖7B)的檢測光量的變化的光反射率η進行計算，而執(zhí)行血糖儀10的校正。
[0087]所校正的光反射率η根據(jù)下面的(I)式所示的修正模型進行計算。
[0088]η = (Ic — Δ I) / (Iw — Λ I)....(I)
[0089]在此，Δ I是圖8的圖表所示的光量的變化量(修正光量)，相當(dāng)于按每個血糖儀10分別獨立地決定的校正系數(shù)64。S卩，在X軸偏移量ΔΧ為正值的情況下，與檢測光量Ic、Iw分別執(zhí)行相減。另一方面，在X軸偏移量ΛΧ為負(fù)值的情況下，與檢測光量Ic，Iw分別執(zhí)行相加。
[0090