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      用于監(jiān)控礦石的品質(zhì)的方法和裝置的制造方法_2

      文檔序號:9221481閱讀:來源:國知局
      (例如黃原酸鹽和/或酯)一起形成絡合物,并阻 礙硫化物礦物的有效浮選。特別是在從7. 5至9. 0的pH范圍內(nèi)可發(fā)現(xiàn)這種形式的[Fe (0H) X2r絡合物。這樣的pH值在加工多金屬礦物時為最常見的。在圖5中說明了溶解形式的 鐵(II)的濃度和漿料pH之間的關系。
      [0069] 源漿料中鐵(II)陽離子的存在使旨在例如通過使用碳酸鈉(Na2C0 3)、硫酸銅 (CuS04)、漿料曝氣或用于鐵陽離子的絡合物形成化合物例如Na2SiF#P Na2S來消除這種因 素的工具的應用成為必要。
      [0070] 基于所實施的試驗的神經(jīng)網(wǎng)絡模型揭示了輝銀礦電極和鉬電極的電勢之間的關 系,這種關系在圖6中示出。Mo電極對漿料中的S 2-陰離子的濃度僅具有弱敏感性,而Ag2S 電極和Pt電極的電勢之間的關系為更加顯著的。這使得可以通過測量輝銀礦和鉬電極之 間的電勢差A (Ag-Mo)以及鉑和鉬電極之間的電勢差A (Pt-Mo)而認識到所加工的礦石的 其它技術性質(zhì)。
      [0071] 圖7說明了當相對于參比電極來測量每個電極電勢時,鉑電極(在x軸上)、輝銀 礦電極(在y軸上)和鉬電極(等值線)的電勢之間的關系。該圖還示出根據(jù)方程式(9) 的分界線D,其上方為A PS〈0,并且其下方為APS>0。隨著Pt電極的電勢變得越負,Mo電 極電勢的數(shù)值變得越負,但是該關系不是線性的。作為一個例子,在該圖解中公開了相對于 參比電極測量的Mo電極電勢的三個值。
      [0072] 圖8在坐標系中示出相同的三個電極的電極電勢差,所述坐標系由x軸上的ApS、 y軸上的△ (Ag-Mo)以及等值線形式的△ (Pt-Mo)構成。該圖解說明了在沒有參比電極的 情況下進行測量的情形。該圖解還示出某些測量點的位置和根據(jù)經(jīng)驗確定的優(yōu)化的浮選區(qū) 域(圓C)。
      [0073] 實施例1
      [0074] 在實驗室條件下使用來自商業(yè)開采的礦床的銅-鉬斑巖礦石對比了測量礦石漿 料的電化學性質(zhì)的不同方法。所述礦石的主要硫化物礦物為黃銅礦(CuFeS 2 - 1. 16重量%) 和黃鐵礦(FeS2 - 0. 82重量% )。將源礦石研磨成65%的尺寸一 0. 074mm。使用丁基黃原 酸鹽和/或酯作為捕集劑,并施加甲基異丁基甲醇(MIBC)作為起沫劑。
      [0075] 關于源礦石的不同種類的處理進行測量。在圖9中示出相對于參比電極測量的電 極電勢。參考A1、A2和A3表示在第一次試驗過程中的測量結果軌跡。參考A1表示在研磨 過程中未使用試劑調(diào)節(jié)礦石試樣的區(qū)域。參考A2表示其中將Na 2S供給至該方法或者在漿 料中存在硫離子的區(qū)域。參考A3表示由漿料的曝氣所致的變化方向。參考C表示浮選的 優(yōu)化區(qū)域,在添加浮選化學成分后應到達該區(qū)域。
      [0076] 出于對比,采用相同的礦石進行另外的測試,但是為了消除Fe2+陽離子對該方法 的不利影響,在研磨期間添加碳酸鈉(Na 2C03) *K2SiF6。參考B表示將Na2S供給至該方法 或者在漿料中存在硫離子的區(qū)域。在添加浮選化學成分后,最終在優(yōu)化的浮選區(qū)域C中實 施浮選。
      [0077] 在測試系列A和B兩者中,測量結果最終導致相同的目標區(qū)域C,其被認為是最佳 的浮選區(qū)域。在測試系列A中,可以通過添加200g/t Na2C03和漿料的曝氣(其確保了 Mo 電極電勢向約_300mV的區(qū)域偏移)來實現(xiàn)最佳結果。
      [0078] 分界線D下方的區(qū)域為漿料的負的氧化-還原電勢區(qū)域(還原性環(huán)境),其導致硫 化物礦物的下降。分界線D上方的區(qū)域為漿料的正的氧化-還原電勢區(qū)域(氧化性環(huán)境), 其對于硫化物礦物的浮選是不利的。位于分界線D附近的浮選區(qū)域C表示漿料的氧化-還 原電勢的優(yōu)化值,其導致硫化物礦物的最佳浮選。
      [0079] 圖10示出在沒有參比電極的情況下測量電勢差時相同的測試系列A和B的結果。 如在圖8中所示的,當遠離原始點(_400,400)移動時,A (Pt-Mo)的值從等值線降到等值 線。當A (Pt-Mo)的值為正值時,漿料具有氧化性質(zhì)。當A (Pt-Mo)的值為負值時,漿料具 有還原性質(zhì)。
      [0080] 在圖9和圖10中示出的對比圖確認了當例如確定鐵陽離子、硫陰離子的存在以及 輸送至浮選的礦石的氧化程度時施加該新方法用于監(jiān)控漿料的電化學參數(shù)的效率。
      [0081] 實施例2
      [0082] 使用含金的硫化物礦石的試樣來進行研宄。試樣的金含量為lg/t。黃鐵礦(FeS2) 為主要的硫化物礦物,其在礦石中的含量為2重量%。在礦石中還發(fā)現(xiàn)了其它的硫化物礦 物:磁黃鐵礦、砷黃鐵礦、黃銅礦和斑銅礦。然而,這種礦石的主要特質(zhì)在于其中存在有硫酸 鐵(FeS0 4),其與氫氧化鐵的總含量估計為0.8重量%。礦石中存在硫酸鐵直接地影響源漿 料在浮選之前的電化學性質(zhì)。
      [0083] 將源礦石試樣研磨至70%的礦石顆粒小于0. 074mm。在測試中,使用丁基黃原酸 鹽和/或酯作為捕集劑。施加甲基異丁基甲醇(MIBC)作為起沫劑。
      [0084] 源漿料的電化學測量給出在圖9和圖10的區(qū)域A2中的位置。當測試這種礦石試 樣時,在圖9和圖10中均完全地確認漿料中Fe 2+陽離子的存在。圖9表示使用參比電極來 測量電化學參數(shù)的常規(guī)方法的使用。圖10表示在沒有參比電極的情況下測量所加工的礦 石的電化學參數(shù)的新方法。
      [0085] 以500g/t的量引入Na2C03和漿料的曝氣使得可以改變漿料的電化學性質(zhì),并使它 們偏移至區(qū)域C,從而確保最佳的浮選法結果。
      [0086] 實施例3
      [0087] 硫化銅礦石的試樣是實驗室試驗的主題。所述礦石包含40重量%的黃鐵礦和5 重量%的黃銅礦。所述礦石的磁黃鐵礦含量為19重量%。將源礦石試樣研磨至80%的礦 石顆粒小于〇. 〇74mm。在研磨之后,在Na2S<VfP用作捕集劑的浮選促集劑的存在下使源衆(zhòng) 料經(jīng)受曝氣。
      [0088] 源漿料的電化學測量的結果落在圖9和圖10中的區(qū)域E上。
      [0089]由于在所加工的礦石中磁黃鐵礦的存在,在漿料中存在硫離子時作出結論幾乎是 不可能的。在圖9中清楚地看到這一點,圖9示出:基于采用參比電極的常規(guī)測量方法,在 區(qū)域E中ApS的值接近零。根據(jù)在沒有參比電極的情況下實施的該新測量方法,可以通過 在系統(tǒng)中的Mo電極電勢測量來確保這樣的鑒定。輝銀礦和鉬電極之間的電勢差A (Ag-Mo) 確保這樣的控制(圖10)。通過漿料在Na2S03環(huán)境中的曝氣(試劑消耗為2. Okg/t)來實 施電勢差A (Ag-Mo)從由磁黃鐵礦在礦石中的存在所導致的還原性區(qū)域E(硫化物礦物下 降的區(qū)域)至優(yōu)化的浮選區(qū)域C的偏移。
      [0090] 通過測量電極電勢之間的差值來監(jiān)控源礦石的性質(zhì)給出了礦石品質(zhì)的信息,其隨 著時間可顯著變化。礦石品質(zhì)的較好認知允許化學成分的較精確的劑量和根據(jù)所使用的礦 石的浮選法的較佳優(yōu)化。
      [0091] 對于本領域技術人員來說顯而易見的是,隨著技術的進步,可以以各種不同的方 式來實施本發(fā)明的基本構思。本發(fā)明及其實施方案因此不限于如上所述的實施例;相反地, 它們可以在權利要求的范圍內(nèi)變化。
      【主權項】
      1. 用于監(jiān)控礦石的性質(zhì)和由所述礦石制備的漿料的狀態(tài)的方法,其特征在于使用以交 叉靈敏度為特征的兩個或更多個工作電極(6,7,8),并測量每對電極之間的電勢差,其中不 需要參比電極。2. 根據(jù)權利要求1的方法,其特征在于使用輝銀礦電極和鉑電極作為工作電極,并測 量所述電極之間的電勢差A(Ag-Pt)。3. 根據(jù)權利要求1的方法,其特征在于使用輝銀礦電極、鉑電極和鉬電極作為工作電 極,并測量每對電極之間的電勢差,即A(Ag-Pt)、A(Ag-Mo)和A(Pt-Mo)。4. 根據(jù)權利要求1的方法,其特征在于在礦石的浮選精選之前的位置處監(jiān)控礦石的性 質(zhì)和由所述礦石制備的漿料的狀態(tài)。5. 根據(jù)權利要求4的方法,其特征在于基于工作電極之間的所測量的電勢差來調(diào)節(jié)選 礦條件,以便在浮選過程中達到優(yōu)化條件。6. 用于監(jiān)控礦石的性質(zhì)和由所述礦石制備的漿料的狀態(tài)的裝置,其特征在于所述裝置 包含以交叉靈敏度為特征的兩個或更多個工作電極(6,7,8),以及用于在不使用參比電極 的情況下確定每對電極之間的電勢差的工具(9,10)。7. 根據(jù)權利要求6的裝置,其特征在于工作電極(6,7,8)包含輝銀礦電極和鉑電極。8. 根據(jù)權利要求6的裝置,其特征在于工作電極(6, 7,8)包含輝銀礦電極、鉑電極和鉬 電極。9. 根據(jù)權利要求6的裝置,其特征在于用于確定電勢差的工具包含計算單元(10),用 于基于從工作電極(6,7,8)接收到的測量數(shù)據(jù)來計算各對電極之間的電勢差。10. 根據(jù)權利要求9的裝置,其特征在于所述裝置還包含多傳感器單元(9),用于將測 量數(shù)據(jù)從工作電極出,7,8)傳輸至計算單元(10)。
      【專利摘要】本發(fā)明涉及用于監(jiān)控傳送至浮選精選的礦石的品質(zhì)和由所述礦石制備的漿料的狀態(tài)的方法和裝置。在所述方法中,將以交叉靈敏度為特征的兩個或更多個工作電極(6,7,8)浸漬于將被監(jiān)控的漿料中,并測量每對電極之間的電勢差,其中不需要參比電極。工作電極(6,7,8)可以包含輝銀礦電極、鉑電極和鉬電極,在這種情況下測量電極之間的如下電勢差:Δ(Ag-Pt)、Δ(Ag-Mo)和Δ(Pt-Mo)。
      【IPC分類】G01N27/416
      【公開號】CN104937407
      【申請?zhí)枴緾N201280077982
      【發(fā)明人】G·N·馬舍夫斯基, A·V·彼得羅夫, S·A·羅曼年科, M·克萊梅蒂, M·埃泰萊佩
      【申請人】奧圖泰(芬蘭)公司
      【公開日】2015年9月23日
      【申請日】2012年12月28日
      【公告號】CA2895763A1, EP2939013A1, US20150330934, WO2014104915A1
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