019]如圖所示，一種SHPB束桿試驗裝置的支架，包括分別設(shè)置在入射束桿I與透射束桿2上且可沿軸向移動的束桿支架，入射束桿I由多根方形的入射單桿組成，透射束桿2由多根方形的透射單桿組成，入射單桿的數(shù)量與透射單桿的數(shù)量相等，束桿支架包括第一導軌10、多組沿軸向間隔排列的第一滾輪組件11和兩個沿軸向間隔排列的支撐架12，支撐架12豎直設(shè)置，支撐架12內(nèi)設(shè)置有多個與入射單桿或透射單桿的數(shù)量、形狀、排列均相同的方孔13，相鄰的方孔13之間通過金屬條14隔開，金屬條14的厚度為1_，金屬條14上設(shè)置有方便導線通過的缺口(圖中未顯示)，支撐架12的下端一體設(shè)置有水平的底盤15，底盤15的下端面設(shè)置有軸向延伸且與第一導軌10相匹配的第一弧形凹槽151，底盤15擱置在第一導軌10上，第一導軌10嵌入第一弧形凹槽151中，底盤15螺接有定位螺釘16，定位螺釘16穿過第一弧形凹槽151頂在第一導軌10上，第一滾輪組件11包括滾輪軸111和固定座112，滾輪軸111固定設(shè)置在固定座112上，滾輪軸111的兩端軸接有懸空的滾輪113，第一導軌10擱置在滾輪113上且與滾輪113滑動配合，使得第一導軌10可沿軸向移動，底盤15的兩端分別設(shè)置有第一擋條17，第一擋條17套設(shè)在第一導軌10上且緊貼底盤15，第一擋條17上螺接有豎直的定位螺釘16，定位螺釘16頂接在第一導軌10上；
入射束桿I與透射束桿2之間設(shè)置有用于放置待測的大尺寸混凝土試樣100的試樣支架，試樣支架的移動方向與束桿支架的移動方向相垂直，即橫向移動，試樣支架包括第二導軌20、多組間隔排列的第二滾輪組件21和用于放置大尺寸混凝土試樣100的平臺22，第二滾輪組件21的結(jié)構(gòu)與第一滾輪組件11的結(jié)構(gòu)相同，第二導軌20擱置在第二滾輪組件21的滾輪上且與滾輪滑動配合，第二導軌20的移動方向與第一導軌10的移動方向相垂直，平臺22的下端面設(shè)置有與第二導軌20相匹配的第二弧形凹槽221，平臺22擱置在第二導軌20上，第二導軌20嵌入第二弧形凹槽221中，平臺22上螺接有定位螺釘16，定位螺釘16穿過第二弧形凹槽221頂在第二導軌20上，平臺22上設(shè)置有用于平整束桿端面的擋板23，平臺22的兩端分別設(shè)置有第二擋條24，第二擋條24套設(shè)在第二導軌20上，第二擋條24上螺接有豎直的定位螺釘16，定位螺釘16頂接在第二導軌20上；
第一滾輪組件11的固定座112和第二滾輪組件21的固定座上均設(shè)置有位置調(diào)節(jié)機構(gòu)，位置調(diào)節(jié)機構(gòu)包括固定螺釘31、調(diào)節(jié)螺釘32和設(shè)置在固定座112上的腰形孔33，腰形孔33的長度方向與其所對應的束桿支架或試樣支架的移動方向相垂直，固定螺釘31向下穿過腰形孔33與試驗平臺35螺接固定，固定螺釘31上套設(shè)有調(diào)節(jié)墊片34，調(diào)節(jié)墊片34位于固定座112的下方，調(diào)節(jié)螺釘32與固定座112豎直螺接，調(diào)節(jié)螺釘32的下端頂在試驗平臺35的上端面上；
束桿支架之間設(shè)置有用于檢測入射束桿I和透射束桿2是否同軸的同軸度檢測機構(gòu)，同軸度檢測機構(gòu)包括設(shè)置在每個支撐架12上端中間的對準孔121，所有的對準孔121位于同一直線上，即表明入射束桿I和透射束桿2同軸。
【主權(quán)項】
1.一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于包括分別設(shè)置在入射束桿與透射束桿上且可沿軸向移動的束桿支架，所述的入射束桿由多根方形的入射單桿組成，所述的透射束桿由多根方形的透射單桿組成，所述的入射單桿的數(shù)量與所述的透射單桿的數(shù)量相等，所述的入射束桿與所述的透射束桿之間設(shè)置有用于放置待測的大尺寸混凝土試樣的試樣支架，所述的試樣支架的移動方向與所述的束桿支架的移動方向相垂直。2.如權(quán)利要求1所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的束桿支架包括第一導軌、多組沿軸向間隔排列的第一滾輪組件和至少兩個沿軸向間隔排列的支撐架，所述的支撐架豎直設(shè)置，所述的支撐架內(nèi)設(shè)置有多個與所述的入射單桿或所述的透射單桿的數(shù)量、形狀、排列均相同的方孔，相鄰的方孔之間通過金屬條隔開，所述的金屬條上設(shè)置有方便導線通過的缺口，所述的支撐架的下端一體設(shè)置有水平的底盤，所述的底盤的下端面設(shè)置有軸向延伸且與所述的第一導軌相匹配的第一弧形凹槽，所述的底盤擱置在所述的第一導軌上，所述的第一導軌嵌入所述的第一弧形凹槽中，所述的第一滾輪組件包括滾輪軸和固定座，所述的滾輪軸固定設(shè)置在所述的固定座上，所述的滾輪軸的兩端軸接有懸空的滾輪，所述的第一導軌擱置在所述的滾輪上且與所述的滾輪滑動配合，使得所述的第一導軌可沿軸向移動，所述的固定座固定在試驗平臺上。3.如權(quán)利要求2所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的金屬條的厚度為Imm04.如權(quán)利要求2所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的試樣支架包括第二導軌、多組間隔排列的第二滾輪組件和用于放置大尺寸混凝土試樣的平臺，所述的第二滾輪組件的結(jié)構(gòu)與所述的第一滾輪組件的結(jié)構(gòu)相同，所述的第二導軌擱置在所述的第二滾輪組件的滾輪上且與所述的滾輪滑動配合，所述的第二導軌的移動方向與所述的第一導軌的移動方向相垂直，所述的平臺的下端面設(shè)置有與所述的第二導軌相匹配的第二弧形凹槽，所述的平臺擱置在所述的第二導軌上，所述的第二導軌嵌入所述的第二弧形凹槽中，所述的平臺上設(shè)置有用于平整束桿端面的擋板。5.如權(quán)利要求2或4所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的第一滾輪組件的固定座和所述的第二滾輪組件的固定座上均設(shè)置有位置調(diào)節(jié)機構(gòu)。6.如權(quán)利要求5所述的一種臥式SHPB束桿試驗裝置，其特征在于所述的位置調(diào)節(jié)機構(gòu)包括固定螺釘、調(diào)節(jié)螺釘和設(shè)置在所述的固定座上的腰形孔，所述的腰形孔的長度方向與其所對應的束桿支架或試樣支架的移動方向相垂直，所述的固定螺釘向下穿過所述的腰形孔與所述的試驗平臺螺接固定，所述的固定螺釘上套設(shè)有調(diào)節(jié)墊片，所述的調(diào)節(jié)墊片位于所述的固定座的下方，所述的調(diào)節(jié)螺釘與所述的固定座豎直螺接，所述的調(diào)節(jié)螺釘?shù)南露隧斣谒龅脑囼炂脚_的上端面上。7.如權(quán)利要求2或4所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的底盤或所述的平臺上分別螺接有定位螺釘，所述的定位螺釘穿過所述的第一弧形凹槽頂在所述的第一導軌上，或所述的定位螺釘穿過所述的第二弧形凹槽頂在所述的第二導軌上。8.如權(quán)利要求2或4所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的底盤的兩端分別設(shè)置有第一擋條，所述的第一擋條套設(shè)在所述的第一導軌上且緊貼所述的底盤，所述的第一擋條上螺接有豎直的定位螺釘，所述的定位螺釘頂接在所述的第一導軌上，所述的平臺的兩端分別設(shè)置有第二擋條，所述的第二擋條套設(shè)在所述的第二導軌上，所述的第二擋條上螺接有豎直的定位螺釘，所述的定位螺釘頂接在所述的第二導軌上。9.如權(quán)利要求2所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的束桿支架之間設(shè)置有用于檢測所述的入射束桿和所述的透射束桿是否同軸的同軸度檢測機構(gòu)。10.如權(quán)利要求9所述的一種SHPB束桿試驗裝置的支架，其特征在于所述的同軸度檢測機構(gòu)包括設(shè)置在每個支撐架上端中間的對準孔，所有的對準孔位于同一直線上，即表明所述的入射束桿和所述的透射束桿同軸。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種SHPB束桿試驗裝置的支架，特點是包括分別設(shè)置在入射束桿與透射束桿上且可沿軸向移動的束桿支架，入射束桿與透射束桿之間設(shè)置有用于放置待測的大尺寸混凝土試樣的試樣支架，試樣支架的移動方向與束桿支架的移動方向相垂直；優(yōu)點是使得整個裝置可完美嫁接傳統(tǒng)SHPB壓桿的試驗平臺，占用空間相對較小，且安裝維修方便，耗時短，且導軌移動的摩擦力很小，使得入射束桿和透射束桿的位置移動、調(diào)節(jié)都非常方便。
【IPC分類】G01B21/24, G01N3/30, G01N3/02
【公開號】CN104964870
【申請?zhí)枴緾N201510367212
【發(fā)明人】陳博斐, 陳江瑛, 邱欣, 姜錫權(quán)
【申請人】寧波大學
【公開日】2015年10月7日
【申請日】2015年6月26日