施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對照【附圖說明】本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖，并獲得其他的實(shí)施方式。
[0043]為使圖面簡潔，各圖中只示意性地表示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分，它們并不代表其作為產(chǎn)品的實(shí)際結(jié)構(gòu)。
[0044]圖1為本發(fā)明一種特性阻抗校準(zhǔn)系統(tǒng)主要組成框圖，作為本發(fā)明的一個(gè)具體實(shí)施例，如圖1所示，一種匹配阻抗校準(zhǔn)系統(tǒng)，包括測試夾具1、射頻信號源2以及分析處理單元3，所述測試夾具I包括用于固定待測主板的承載結(jié)構(gòu)以及用于與所述待測主板電性連接的射頻頭11，所述射頻頭11與射頻信號源2相連；所述測試夾具I包括一匹配調(diào)試電路12 ;所述匹配調(diào)試電路12包括一與所述射頻頭11連接的輸入端口 Port-A121和一與所述分析處理單元3連接的輸出端口 Port-B122 ;所述輸入端口 Port_A121與所述輸出端口Port-B122之間形成第一 π型電路，用于對所述射頻頭11的負(fù)載端的阻抗進(jìn)行調(diào)諧以使得所述射頻頭11的負(fù)載端的阻抗與設(shè)定阻抗值相匹配；
[0045]所述匹配調(diào)試電路12還包括輸入端口 Port_C123，所述輸入端口 Port_C123通過待測射頻線4與所述射頻信號源2相連；所述輸出端口 Port-B122與所述輸入端口Port-C123之間形成第二型電路，用于對所述待測射頻線4的阻抗進(jìn)行調(diào)諧以使得所述射頻線的阻抗與設(shè)定阻抗值相匹配。
[0046]具體的，本實(shí)施例中的測試夾具I是用于作為待測芯片的裝載設(shè)備，其具體可以為具有規(guī)則形狀(可以根據(jù)待測芯片的形狀而對應(yīng)的為矩形、正方形、圓形或其他類似形狀)的平臺(tái)或車床，而在測試夾具I的中央或接近中央處開設(shè)有與待測芯片對應(yīng)的、例如為凹槽或凸臺(tái)的承載結(jié)構(gòu)(通常稱為DUT Socket)，這樣，待測主板就可通過承載結(jié)構(gòu)而穩(wěn)固地裝配至測試夾具I上。測試夾具I上還設(shè)有與待測主板電性相連的射頻頭11，射頻頭11插入待測主板上的射頻座。
[0047]本發(fā)明通過在測試夾具I上預(yù)留匹配調(diào)試電路12，調(diào)校匹配調(diào)試電路12從而調(diào)諧射頻頭11或射頻線的阻抗，使得其在校準(zhǔn)頻率范圍內(nèi)等于或者接近設(shè)定阻抗值。
[0048]具體的，本發(fā)明中設(shè)定阻抗值為50歐姆。
[0049]不同的參數(shù)都對應(yīng)一個(gè)最佳的阻抗值。內(nèi)外導(dǎo)體直徑比為1.65時(shí)導(dǎo)線有最大功率傳輸能力，對應(yīng)阻抗為30歐姆(注:lgl.65*138 = 30歐姆，要使用空氣為絕緣介質(zhì)，因?yàn)檫@個(gè)時(shí)候介電常數(shù)最小，如果使用介電常數(shù)為2.3的固體聚乙烯，則阻抗只有不到20歐姆。最合適電壓滲透的直徑比為2.7，對應(yīng)阻抗大約是60歐姆，此為是很多歐洲國家使用的標(biāo)準(zhǔn)阻抗。當(dāng)發(fā)生擊穿時(shí)，對功率傳輸能力的考量是忽略了滲透電流的，而在阻抗很低，30歐姆時(shí)，滲透電流會(huì)很高。衰減只源自導(dǎo)體的損失，此時(shí)的衰減大約比最小衰減阻抗(直徑比3.5911)77歐姆的時(shí)候上升了 50%，而在這個(gè)比率下(D/d = 3.5911)，最大功率的上限為30歐姆電纜最大功率的一半。
[0050]以前，很少使用微波功率，電纜也無法應(yīng)付大容量傳輸。因此減少衰減是最重要的因素，導(dǎo)致了選擇77 (75歐姆)為標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)也確立了硬件的規(guī)格。當(dāng)?shù)秃牡慕^緣材料在實(shí)際中應(yīng)用到柔性電纜上，電纜的尺寸規(guī)格必須保持不變，才能和現(xiàn)存的設(shè)備接口吻合。
[0051]聚乙烯的介電常數(shù)為2.3，以空氣(介電常數(shù)為I)為絕緣層的導(dǎo)線的阻抗為77歐姆，如果以聚乙烯來填充絕緣空間的話，阻抗將減少為51歐姆。雖然精確的標(biāo)準(zhǔn)是50歐姆，51歐姆的電纜在今天仍然在使用。
[0052]在77歐姆點(diǎn)的衰減最小，60歐姆點(diǎn)的擊穿電壓為最大，而30歐姆點(diǎn)的功率輸送量是最大的，以上三種均是以空氣為介質(zhì)，由公式計(jì)算得出的。實(shí)際應(yīng)用中50歐姆的匹配兼顧了耐壓，功率傳輸和損耗等優(yōu)勢，因此設(shè)定阻抗值為50歐姆。
[0053]對上述實(shí)施例進(jìn)一步改進(jìn)，本實(shí)施例中，所述第一型電路由第一可調(diào)元件構(gòu)成，所述第一可調(diào)元件包括可調(diào)電阻、可調(diào)電容或可調(diào)電感中的一種或多種；所述第二 π型電路由第二可調(diào)元件構(gòu)成，所述第二可調(diào)元件包括可調(diào)電阻、可調(diào)電容或可調(diào)電感的一種或多種。
[0054]圖2為本實(shí)施例中第一型電路和第二型電路原理示意圖。
[0055]如圖2所示，本實(shí)施例中b、d、e、f和g處串聯(lián)可調(diào)元件，其中b、d和e構(gòu)成第一型電路，e、f和g構(gòu)成第二型電路。第一型電路和第二型電路共用e處的可調(diào)元件。
[0056]對上述實(shí)施例進(jìn)一步改進(jìn)，其中，所述第一 η型電路還包括當(dāng)調(diào)校所述待測射頻線4的阻抗時(shí)斷開所述第一型電路；所述第二型電路還包括當(dāng)調(diào)校所述射頻頭11的負(fù)載端的阻抗時(shí)斷開所述第二 π型電路。
[0057]具體的，在進(jìn)行調(diào)校待測射頻線4的阻抗時(shí)，通過去掉第一型電路中d處串聯(lián)的第一可調(diào)元件，即斷開第一型電路。
[0058]同樣的，在進(jìn)行調(diào)校所述射頻頭11的負(fù)載端的阻抗時(shí)，通過去掉第二型電路中f處串聯(lián)的第二可調(diào)元件，即斷開第二型電路。
[0059]對上述實(shí)施例進(jìn)一步改進(jìn)，其中，所述射頻信號源2與所述分析處理單元3采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種對射頻器件或射頻系統(tǒng)進(jìn)行測試的理想儀器，具有速度快和精度高的特點(diǎn)，它能測量射頻器件或射頻系統(tǒng)的傳輸特性、反射特性和相位特性，例如測量射頻器件的插損、增益、衰減、隔離、回波損耗、駐波比(SWR)、相位、阻抗、群延遲、史密斯圓圖等。由于所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的使用原理及操作方式已為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知，故不在此贅述。
[0060]下面以本發(fā)明用于手機(jī)產(chǎn)線校準(zhǔn)中為例，結(jié)合圖1和圖2詳細(xì)闡述本實(shí)施例的工作過程:
[0061]測試夾具I具體包括上壓板，其中上壓板上設(shè)有卡扣，卡扣一端焊接一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的50歐姆負(fù)載，并連接至矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端口(Port-2);測試夾具I上的射頻頭11扣入上壓板的卡扣中，接收矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀輸出的射頻信號；
[0062]連接測試夾具I上的匹配調(diào)試電路12，具體為:在b、d和e處串聯(lián)O歐姆電阻，輸入端口 Port-A和輸出端口 Port-B之間形成第一型電路；同時(shí)將輸出端口 Port-B連接至矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻接收端口 Port-1 ；
[0063]測量矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻接收端口 Port-1的Sll參數(shù)，根據(jù)Sll參數(shù)計(jì)算出測量的阻抗值，若測量結(jié)果滿足要求則無需調(diào)試。若測量結(jié)果偏離設(shè)定阻抗值50歐姆較遠(yuǎn)，則需要調(diào)試輸入端口 Port-A和輸出端口 Port-B之間的第一型電路。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上通過史密斯圓圖顯示測量阻抗的位置，根據(jù)史密斯圓圖上的位置對第一型電路中第一可調(diào)元件進(jìn)行選擇與調(diào)整，直到將測量的阻抗值調(diào)整到50歐姆附近，完成射頻頭11的阻抗匹配。
[0064]然后去掉d處串聯(lián)的O歐姆電阻，即斷開第一型電路；在f和h處串聯(lián)O歐姆電阻，輸入端口 Port-C和輸出端口 Port-B之間形成第二型電路；同時(shí)將輸入端口 Port-C通過待測射頻線4連接至矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端口 Port-1。
[0065]測量矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻接收端口 Port-1的Sll參數(shù)，根據(jù)Sll參數(shù)計(jì)算出測量的阻抗值，若測量結(jié)果滿足要求則無需調(diào)試。若測量結(jié)果偏離設(shè)定阻抗值50歐姆較遠(yuǎn)，則需要調(diào)試輸入端口 Port-C和輸出端口 Port-B之間的第二型電路。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上通過史密斯圓圖顯示測量阻抗的位置，根據(jù)史密斯圓圖上的位置對第二型電路中第二可調(diào)元件進(jìn)行選擇與調(diào)整，直到將測量的阻抗值調(diào)整到50歐姆附近，完成待測射頻線4的阻抗匹配。
[0066]本發(fā)明還提供了一種應(yīng)用上述的匹配阻抗校