場(chǎng)的電能。通過這種方式進(jìn) 一步降低磁感應(yīng)流量測(cè)量?jī)x的電功耗。
[0021] 在按照本發(fā)明的方法的另一優(yōu)選的擴(kuò)展結(jié)構(gòu)中規(guī)定，在第一步驟中，分別由相互 銜接的介質(zhì)流速確定在時(shí)間上的流速變化。在第二步驟中，將在時(shí)間上的流速變化與在時(shí) 間上的典型干擾電壓變化進(jìn)行比較。典型的干擾電壓的變化過程也可以是實(shí)驗(yàn)已知的干擾 電壓的變化過程。在第三步驟中，如果時(shí)間上的流速變化大于在時(shí)間上的典型干擾電壓變 化，則開始新的測(cè)量循環(huán)。通過按照本發(fā)明方法的這個(gè)改型能夠，使在兩個(gè)相互銜接的補(bǔ)償 測(cè)量過程之間在時(shí)間上的距離最大并因此進(jìn)一步降低磁感應(yīng)流量測(cè)量?jī)x的功耗。
[0022] 最后，按照本發(fā)明的方法也可以由此構(gòu)成，推測(cè)在各個(gè)補(bǔ)償測(cè)量過程之間的干擾 電壓的變化過程，并且對(duì)于計(jì)算流速引用推測(cè)的未來的干擾電壓的變化過程。上述的推測(cè) 可以利用插值實(shí)現(xiàn)。此外也可以有利地附加地使用預(yù)測(cè)地推測(cè)，并且對(duì)于計(jì)算流速引用推 測(cè)的未來的干擾電壓的變化過程。由此也給出可能性，附加地驗(yàn)證預(yù)測(cè)地推測(cè)的在銜接的 補(bǔ)償測(cè)量期間的干擾電壓的變化過程，并且在超過最大允許偏差時(shí)事后修正位于過去時(shí)間 中的測(cè)量值。
【附圖說明】
[0023] 對(duì)于在上面段落中描述的內(nèi)容參閱包含在附圖中的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024] 所有三個(gè)示意圖圖示出實(shí)際上的干擾電壓的變化過程Vs (t)和推測(cè)的干擾電壓 的變化過程V' s (t)。
[0025] 第一示意圖適用于優(yōu)選的理論，據(jù)此推測(cè)在各個(gè)補(bǔ)償測(cè)量過程之間的干擾電壓的 變化過程，并且對(duì)于計(jì)算流速引用推測(cè)的未來的干擾電壓的變化過程。
[0026] 附加地使用預(yù)測(cè)地推測(cè)并且對(duì)于計(jì)算流速引用推測(cè)的未來的干擾電壓的變化過 程，適用于第二不意圖。
[0027] 附加地驗(yàn)證預(yù)測(cè)地推測(cè)的在銜接的補(bǔ)償測(cè)量期間的干擾電壓的變化過程，并且在 超過最大允許偏差時(shí)事后修正位于過去時(shí)間中的測(cè)量值，適用于第三示意圖。
[0028] 與第一示意圖從屬的理論相結(jié)合要指出，例如利用插值只能對(duì)于過去時(shí)間推測(cè)干 擾電壓，即，只能夠?qū)τ跁r(shí)刻tn計(jì)算測(cè)量值，這些測(cè)量值直到時(shí)刻tnB經(jīng)接收。直到下一次 檢測(cè)干擾電壓盡管可以接收測(cè)量值，但是不補(bǔ)償它們。這一點(diǎn)事后進(jìn)行，一旦下一檢測(cè)值出 現(xiàn)干擾電壓。
[0029] 適用于第二示意圖的本發(fā)明的優(yōu)選理論，通過外插也可以推測(cè)干擾電壓的未來 值。第二示意圖與第一示意圖的唯一區(qū)別是，推測(cè)也超過時(shí)刻tn+2出現(xiàn)，盡管還沒有接收對(duì) 于時(shí)刻tn+3的值。由此能夠立刻補(bǔ)償并輸出那個(gè)測(cè)量。
[0030] 結(jié)合第三示意圖要指出，在這里也推測(cè)干擾電壓，其中對(duì)于時(shí)刻t > tn+1的推測(cè)偏 離實(shí)際上的干擾電壓。由此在下一次測(cè)量干擾電壓時(shí)給出誤差。如果這個(gè)誤差位于對(duì)于各 自的執(zhí)行定義的閾值以外，則對(duì)于過去時(shí)間修正干擾電壓的推測(cè)。按照本發(fā)明的方法的這 個(gè)擴(kuò)展結(jié)構(gòu)只考慮，能夠?qū)崿F(xiàn)事后修正測(cè)量值。這種情況是，盡管顯示補(bǔ)償?shù)臏y(cè)量值，但是 不給到其它系統(tǒng)。一個(gè)示例是體積測(cè)量，即尤其具體地是水表。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于運(yùn)行磁感應(yīng)的流量測(cè)量?jī)x的方法，用于測(cè)量流動(dòng)介質(zhì)的流速，具有一個(gè)具 有電磁裝置和永久磁鐵裝置的磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置，用于在流動(dòng)的介質(zhì)中產(chǎn)生具有不同大小的磁 通密度的磁場(chǎng)，并且還具有包括測(cè)量電極裝置的測(cè)量裝置，用于測(cè)量由磁場(chǎng)在流動(dòng)的介質(zhì) 中感應(yīng)的和由干擾電壓疊加的測(cè)量電壓，其特征在于，執(zhí)行由補(bǔ)償測(cè)量過程和工作測(cè)量過 程組成的測(cè)量循環(huán)，在補(bǔ)償測(cè)量過程期間執(zhí)行至少一第一測(cè)量過程、至少一第二測(cè)量過程 和至少一第三測(cè)量過程，在第一測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第一磁通密度并且確定第一測(cè) 量電壓，在第二測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第二磁通密度并且確定第二測(cè)量電壓，在第三 測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第三磁通密度并且確定第三測(cè)量電壓，由第一磁通密度、第二 磁通密度、第一測(cè)量電壓和第二測(cè)量電壓確定流速，由第三磁通密度、第三測(cè)量電壓和確定 的流速確定干擾電壓，在補(bǔ)償測(cè)量過程以后執(zhí)行工作測(cè)量過程并且該工作測(cè)量過程由至少 一第四測(cè)量過程組成，在第四測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第三磁通密度并且確定第四測(cè)量 電壓，并且由第三磁通密度、第四測(cè)量電壓和確定的干擾電壓重新確定流速。2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述永久磁鐵裝置的剩磁通過由電磁裝置 產(chǎn)生的磁場(chǎng)不改變。3. 如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，為了確定測(cè)量電壓執(zhí)行至少兩次測(cè)量電 壓的測(cè)量。4. 如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述補(bǔ)償測(cè)量過程的第一測(cè)量 過程和第二測(cè)量過程交替地執(zhí)行。5. 如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述電磁裝置在第一測(cè)量過程 期間通過第一電流通電并且在第二測(cè)量過程期間通過第二電流通電，并且第一電流的數(shù)值 等于第二電流的數(shù)值，并且第一電流與第二電流的符號(hào)相反。6. 如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第三磁通密度僅僅由永久 磁鐵裝置產(chǎn)生。7. 如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，分別由兩個(gè)相互銜接的介質(zhì)流 速確定在時(shí)間上的流速變化，將在時(shí)間上的流速變化與在時(shí)間上的典型干擾電壓變化進(jìn)行 比較，如果時(shí)間上的流速變化大于在時(shí)間上的典型干擾電壓變化，則開始新的測(cè)量循環(huán)。8. 如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，例如利用插值，推測(cè)在各個(gè)補(bǔ) 償測(cè)量過程之間的干擾電壓的變化過程，并且對(duì)于計(jì)算流速引用推測(cè)的未來的干擾電壓的 變化過程。9. 如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，附加地使用預(yù)測(cè)地推測(cè)并且對(duì) 于計(jì)算流速引用推測(cè)的未來的干擾電壓的變化過程。10. 如權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，附加地驗(yàn)證預(yù)測(cè)地推測(cè)的在 銜接的補(bǔ)償測(cè)量期間的干擾電壓的變化過程，并且在超過最大允許偏差時(shí)事后修正位于過 去時(shí)間中的測(cè)量值。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種用于運(yùn)行磁感應(yīng)的流量測(cè)量?jī)x的方法，用于測(cè)量流動(dòng)介質(zhì)的流速，具有一個(gè)具有電磁裝置和永久磁鐵裝置的磁場(chǎng)產(chǎn)生裝置，用于在流動(dòng)的介質(zhì)中產(chǎn)生具有不同大小的磁通密度的磁場(chǎng)，并且還具有包括測(cè)量電極裝置的測(cè)量裝置，用于測(cè)量由磁場(chǎng)在流動(dòng)的介質(zhì)中感應(yīng)的和由干擾電壓疊加的測(cè)量電壓，按照本發(fā)明給出前述類型的方法，其特征在于，執(zhí)行由補(bǔ)償測(cè)量過程和工作測(cè)量過程組成的測(cè)量循環(huán)，在補(bǔ)償測(cè)量過程期間執(zhí)行至少一第一測(cè)量過程、至少一第二測(cè)量過程和至少一第三測(cè)量過程，在第一測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第一磁通密度并且確定第一測(cè)量電壓，在第二測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第二磁通密度并且確定第二測(cè)量電壓，在第三測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第三磁通密度并且確定第三測(cè)量電壓，由第一磁通密度、第二磁通密度、第一測(cè)量電壓和第二測(cè)量電壓確定流速，由第三磁通密度、第三測(cè)量電壓和確定的流速確定干擾電壓，在補(bǔ)償測(cè)量過程以后執(zhí)行工作測(cè)量過程并且該工作測(cè)量過程由至少一第四測(cè)量過程組成，在第四測(cè)量過程期間在介質(zhì)中產(chǎn)生第三磁通密度并且確定第四測(cè)量電壓，并且由第三磁通密度、第四測(cè)量電壓和確定的干擾電壓重新確定流速。
【IPC分類】G01F1/58
【公開號(hào)】CN104995489
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201480003260
【發(fā)明人】A.比爾吉克, H.布羅克豪斯, J.內(nèi)文, C.施皮格爾
【申請(qǐng)人】克洛納測(cè)量技術(shù)公司
【公開日】2015年10月21日
【申請(qǐng)日】2014年9月25日
【公告號(hào)】DE102014014003A1, EP2923182A1, US20150323358, WO2015043746A1