比色裝置、掩模構(gòu)件以及比色系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種比色裝置、其掩模構(gòu)件以及在比色裝置上安裝有掩模構(gòu)件的比色系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)于各種工業(yè)產(chǎn)品等，為了確保固定的品質(zhì)，例如表面的色彩在產(chǎn)品之間保持為相同。因此，在從制造到出廠的某一個(gè)階段，需要通過利用比色計(jì)等測定表面的色彩來管理表面的色彩。在這種比色計(jì)中，例如設(shè)置有照明受光系統(tǒng)，該照明受光系統(tǒng)具有對(duì)產(chǎn)品等這樣的作為比色的對(duì)象的物體(還稱為比色對(duì)象物)的表面進(jìn)行照明的光源以及接收從該表面發(fā)出的反射光等光的傳感器。
[0003]另外，比色對(duì)象物的表面中的作為色彩的管理的對(duì)象的部位、即作為比色的對(duì)象的部位(還稱為比色對(duì)象部位)的尺寸和形狀有可能根據(jù)比色對(duì)象物的形狀和尺寸、顧客的要求以及制造方法等各種條件而不同。但是，按每個(gè)條件準(zhǔn)備不同的比色計(jì)對(duì)于制造者來說在經(jīng)濟(jì)上成為大的負(fù)擔(dān)。
[0004]因此，提出了如下的便攜用色彩測定裝置:通過配置能夠根據(jù)條件而在比色對(duì)象物與比色計(jì)的主體部之間更換的頭錐體(nose cone)，使得能夠變更作為比色的對(duì)象的區(qū)域(還稱為比色對(duì)象區(qū)域)的尺寸等(例如專利文獻(xiàn)I等)。該頭錐體具有規(guī)定比色對(duì)象區(qū)域的尺寸等的窗部，以覆蓋照明受光部的方式安裝于比色計(jì)，在進(jìn)行比色對(duì)象物的比色時(shí)能夠作為與比色對(duì)象物接觸的構(gòu)件(還稱為掩模構(gòu)件)發(fā)揮功能。
[0005]在這種結(jié)構(gòu)中，在更換掩模構(gòu)件時(shí)，有時(shí)必須根據(jù)掩模構(gòu)件的種類來變更在光學(xué)系統(tǒng)的變更以及比色的運(yùn)算中使用的校正系數(shù)等。因此，在上述專利文獻(xiàn)I的裝置中，在主體部的下半部分設(shè)置I個(gè)以上的磁開關(guān)，利用磁開關(guān)來監(jiān)視從配置于掩模構(gòu)件的磁鐵發(fā)出的磁場，由此自動(dòng)地識(shí)別并顯示掩模構(gòu)件的種類。
[0006]專利文獻(xiàn)1:日本特表2000-505887號(hào)公報(bào)

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]發(fā)明要解決的問題
[0008]另外，在上述專利文獻(xiàn)I的裝置中設(shè)想如下情況:在設(shè)置于掩模構(gòu)件的多個(gè)爪狀的止動(dòng)部分別被插入到在主體部側(cè)以弧狀設(shè)置的凹部的狀態(tài)下掩模構(gòu)件被旋轉(zhuǎn)，從而掩模構(gòu)件安裝于主體部。這種安裝機(jī)構(gòu)的方式還被稱為卡口式，通過該卡口式的機(jī)構(gòu)，掩模構(gòu)件能夠更容易且可靠地安裝于主體部。
[0009]然而，在采用卡口式的機(jī)構(gòu)的情況下，如果通過掩模構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)而止動(dòng)部未到達(dá)至凹部的最里側(cè)的部分，則掩模構(gòu)件的磁鐵配置于設(shè)想外的位置，由磁開關(guān)監(jiān)視磁場的結(jié)果，有可能誤認(rèn)掩模構(gòu)件的種類。
[0010]例如在為了實(shí)現(xiàn)主體部的小型化而在主體部的同心圓上排列多個(gè)磁開關(guān)的情況下，有可能由于在向主體部安裝掩模構(gòu)件時(shí)掩模構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)不足而由與應(yīng)該檢測磁場的磁開關(guān)不同的其它磁開關(guān)來檢測出磁場。也就是說，無法實(shí)現(xiàn)與掩模構(gòu)件的種類相應(yīng)的適當(dāng)?shù)拇判詸z測狀態(tài)。而且，由此有可能誤認(rèn)為與實(shí)際安裝的掩模構(gòu)件不同的種類的掩模構(gòu)件安裝于主體部。
[0011]這種問題在通過旋轉(zhuǎn)而掩模構(gòu)件安裝于主體部的結(jié)構(gòu)以及通過直線或曲線的滑動(dòng)而掩模構(gòu)件安裝于主體部的結(jié)構(gòu)中均有可能產(chǎn)生。而且，上述問題是安裝掩模構(gòu)件的比色裝置中一般所共有的。
[0012]本發(fā)明是鑒于上述問題而完成的，其目的在于提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)與安裝于比色裝置的掩模構(gòu)件的種類相應(yīng)的適當(dāng)?shù)臋z測狀態(tài)的技術(shù)。
[0013]用于解決問題的方案
[0014]為了解決上述問題，第I方式所涉及的比色裝置具備:照明受光部，具有光源部和傳感器部；被安裝部，用于以覆蓋所述照明受光部的方式安裝具有窗部的掩模構(gòu)件；多個(gè)檢測部，沿著所述掩模構(gòu)件在被安裝到所述被安裝部的中途的階段中相對(duì)于所述被安裝部移動(dòng)的安裝方向排列，能夠分別檢測配置于所述掩模構(gòu)件的被檢測部；以及識(shí)別部，識(shí)別與所述多個(gè)檢測部中的檢測出所述被檢測部的2個(gè)以上的檢測部的組合對(duì)應(yīng)的檢測模式。
[0015]第2方式所涉及的比色裝置在第I方式所涉及的比色裝置中，在正在進(jìn)行所述掩模構(gòu)件向所述被安裝部中的為了執(zhí)行比色而預(yù)先設(shè)定的安裝位置的安裝的中途的安裝中途狀態(tài)下，所述識(shí)別部識(shí)別與所述多個(gè)檢測部中的檢測出所述被檢測部的I個(gè)以上的檢測部對(duì)應(yīng)的檢測模式，在所述掩模構(gòu)件向所述安裝位置的安裝完成的安裝完成狀態(tài)下由所述識(shí)別部識(shí)別的檢測模式與在所述安裝中途狀態(tài)下由所述識(shí)別部識(shí)別的檢測模式不同。
[0016]第3方式所涉及的比色裝置在第I方式所涉及的比色裝置中，所述多個(gè)檢測部中的位于所述安裝方向上的最里側(cè)的檢測部在所述掩模構(gòu)件向所述安裝位置的安裝完成的安裝完成狀態(tài)下檢測所述被檢測部。
[0017]第4方式所涉及的比色裝置在第I?第3方式中的任一個(gè)方式所涉及的比色裝置中，所述多個(gè)檢測部包括3個(gè)以上的檢測部，關(guān)于所述3個(gè)以上的檢測部中的兩個(gè)檢測部的所有組合各自的檢測部間的距離不同。
[0018]第5方式所涉及的比色裝置在第I?第4方式中的任一個(gè)方式所涉及的比色裝置中，還具備:存儲(chǔ)部，按每個(gè)檢測模式存儲(chǔ)在根據(jù)由所述傳感器部得到的數(shù)據(jù)計(jì)算比色結(jié)果數(shù)據(jù)的比色運(yùn)算中使用的校正數(shù)據(jù)；以及運(yùn)算部，使用所述存儲(chǔ)部中存儲(chǔ)的多個(gè)所述校正數(shù)據(jù)中的與由所述識(shí)別部識(shí)別的檢測模式對(duì)應(yīng)的所述校正數(shù)據(jù)進(jìn)行所述比色運(yùn)算。
[0019]第6方式所涉及的比色裝置在第I?第5方式中的任一個(gè)方式所涉及的比色裝置中，還具備判別部，該判別部判別與由所述識(shí)別部識(shí)別的檢測模式對(duì)應(yīng)的所述掩模構(gòu)件的種類。
[0020]第7方式所涉及的比色裝置在第I?第6方式中的任一個(gè)方式所涉及的比色裝置中，所述被檢測部是磁鐵。
[0021]第8方式所涉及的掩模構(gòu)件具備:窗部；安裝部，用于安裝到比色裝置的被安裝部；以及2個(gè)以上的被檢測部，沿著在被安裝到所述被安裝部的中途的階段中相對(duì)于所述被安裝部移動(dòng)的安裝方向排列，且能夠由所述比色裝置的檢測部分別檢測。
[0022]第9方式所涉及的掩模構(gòu)件在第8方式所涉及的掩模構(gòu)件中，具備多個(gè)被裝配部，該多個(gè)被裝配部能夠配置所述2個(gè)以上的被檢測部，且該多個(gè)被裝配部沿著所述安裝方向排列，在所述多個(gè)被裝配部中的、位于所述安裝方向上的最前頭的被裝配部中裝配有所述被檢測部。
[0023]第10方式所涉及的掩模構(gòu)件在第8方式所涉及的掩模構(gòu)件中，具備多個(gè)被裝配部，該多個(gè)被裝配部能夠配置所述2個(gè)以上的被檢測部，且該多個(gè)被裝配部沿著所述安裝方向排列，所述多個(gè)被裝配部包括3個(gè)以上的被裝配部，關(guān)于所述3個(gè)以上的被裝配部中的兩個(gè)被裝配部的所有組合各自的被裝配部間的距離不同，所述2個(gè)以上的被檢測部配置于所述3個(gè)以上的被裝配部中的至少兩個(gè)被裝配部。
[0024]第11方式所涉及的掩模構(gòu)件在第8?第10方式中的任一個(gè)方式所涉及的掩模構(gòu)件中，所述被檢測部是磁鐵。
[0025]第12方式所涉及的比色系統(tǒng)具備:第I?第7方式中的任一個(gè)方式所涉及的比色裝置；以及安裝于所述比色裝置的所述被安裝部的第8?第11方式中的任一個(gè)方式所涉及的掩模構(gòu)件。
[0026]發(fā)明的效果
[0027]通過第I?第7方式中的任一個(gè)方式所涉及的比色裝置，也能夠?qū)崿F(xiàn)與安裝于比色裝置的掩模構(gòu)件的種類相應(yīng)的適當(dāng)?shù)臋z測狀態(tài)。
[0028]根據(jù)第2方式所涉及的比色裝置，不易產(chǎn)生不與掩模構(gòu)件的種類對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤的檢測狀態(tài)。
[0029]根據(jù)第3方式所涉及的比色裝置，不易產(chǎn)生掩模構(gòu)件的安裝未完成的狀態(tài)下的不與掩模構(gòu)件的種類對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤的檢測狀態(tài)。
[0030]根據(jù)第4方式所涉及的比色裝置，能夠?qū)崿F(xiàn)與更多的種類的掩模構(gòu)件相應(yīng)的適當(dāng)?shù)臋z測狀態(tài)。
[0031]根據(jù)第5方式所涉及的比色裝置，能夠容易且適當(dāng)?shù)貙?shí)現(xiàn)與掩模構(gòu)件的種類相應(yīng)的校正數(shù)據(jù)的變更。
[0032]根據(jù)第6方式所涉及的比色裝置，能夠適當(dāng)?shù)嘏袆e安裝于比色裝置的掩模構(gòu)件的種類。
[0033]根據(jù)第7方式所涉及的比色裝置，即使在例如細(xì)小的粒子或液體等是比色對(duì)象物的情況下粒子或液體等雜質(zhì)進(jìn)入被安裝部與掩模構(gòu)件之間，也能夠通過比色裝置的檢測部來穩(wěn)定地檢測出被檢測部。
[0034]通過第8?第11方式中的任一個(gè)方式所涉及的掩模構(gòu)件，也能夠在比色裝置中實(shí)現(xiàn)與安裝于比色裝置的掩模構(gòu)件的種類相應(yīng)的適當(dāng)?shù)臋z測狀態(tài)。
[0035]根據(jù)第9方式所涉及的掩模構(gòu)件，在比色裝置中不易產(chǎn)生掩模構(gòu)件的安裝未完成的狀態(tài)下的不與掩模構(gòu)件的種類對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤的檢測狀態(tài)。
[0036]根據(jù)第10方式所涉及的掩模構(gòu)件，在比色裝置中能夠?qū)崿F(xiàn)與更多的種類的掩模構(gòu)件相應(yīng)的適當(dāng)?shù)臋z測狀態(tài)。
[0037]根據(jù)第11方式所涉及的掩模構(gòu)件，即使在例如細(xì)小的粒子或液體等是比色對(duì)象物的情況下粒子或液體等雜質(zhì)進(jìn)入被安裝部與掩模構(gòu)件之間，也能夠通過比色裝置的檢測部來穩(wěn)定地檢測出被檢測部。
[0038]根據(jù)第12方式所涉及的比色系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)與安裝于比色裝置的掩模構(gòu)件的種類相應(yīng)的適當(dāng)?shù)臋z測狀態(tài)。
【附圖說明】
[0039]圖1是例示一個(gè)實(shí)施方式所涉及的比色系統(tǒng)的外觀的立體圖。
[0040]圖2是用于說明比色系統(tǒng)的前端部附近的一個(gè)結(jié)構(gòu)例的圖。
[0041]圖3是用于說明比色系統(tǒng)的前端部附近的一個(gè)結(jié)構(gòu)例的圖。
[0042]圖4是用于說明比色系統(tǒng)的前端部附近的一個(gè)結(jié)構(gòu)例的圖。
[0043]圖5是表示相對(duì)于比色裝置能夠裝卸掩模構(gòu)件的情形的圖。
[0044]圖6是表示相對(duì)于比色裝置能夠裝卸掩模構(gòu)件的情形的圖。
[0045]圖7是表示相對(duì)于比色裝置能夠裝卸掩模構(gòu)件的情形的圖。
[0046]圖8是用于說明掩模檢測部的結(jié)構(gòu)的圖。
[0047]圖9是例示掩模構(gòu)件的結(jié)構(gòu)的圖。
[0048]圖10是例示比色系統(tǒng)的功能性結(jié)構(gòu)的框圖。
[0049]圖11是表示參考例所涉及的比色系統(tǒng)中的掩模構(gòu)件的檢測方式的圖。
[0050]圖12是表示參考例所涉及的比色系統(tǒng)中的掩模構(gòu)件的檢測方式的圖。
[0051]圖13是例示裝配模式與檢測模式的關(guān)系的圖。
[0052]圖14是例示檢測模式與判別結(jié)果的關(guān)系的圖。
[0053]圖15是用于說明檢測部的配置條件的一例的圖。
[0054]圖16是用于說