上的兩個頂點的坐標E和F。相反，可以從坐標E和F計算坐標D和G。替代地，可以將坐標D和E在先存儲在ROM 24中，然后，在步驟S20中，可以從測量值LI和等式
(6)和(7)計算坐標Fl和D1，并且在步驟S50中，可以從測量值L2和等式(6)和(7)計算坐標F2和D2。另外，棒43可以具有除了矩形之外的形狀(例如，平行四邊形)。
[0122](實施例8)
[0123]現(xiàn)在，將描述實施例8。在以下描述中，可以省略與實施例7的特征共同的特征。在根據(jù)實施例7的模擬指示計40中，在刻度‘0’的兩側(cè)均排列刻度‘10’、‘20’等并且棒43可以延伸到刻度‘0’的兩側(cè)，而在根據(jù)實施例8的模擬指示計中，僅在刻度‘0’的一側(cè)排列刻度‘10’、‘20’等并且棒43可以僅延伸到刻度‘0’的一側(cè)。
[0124]參考圖14，根據(jù)實施例8的模擬指示計50具有刻度盤51和棒53。在刻度盤51上，與X軸平行地排列多個刻度和多個數(shù)值。棒53響應(yīng)于測量值的改變與X軸平行地伸縮。在刻度‘0’之上排列刻度‘10’?‘ 100’，不在刻度‘0’之下排列刻度‘10’?‘100’。棒53可以在刻度‘0’之上延伸，但是不能在刻度‘0’之下延伸。
[0125]同時，本發(fā)明不限于前述實施例，因此可以進行對其的適當修改，而不違背其精神和范圍。例如，實施例可以自由地彼此組合。代替顯示設(shè)備20上提供的操作開關(guān)組22，可以使用遙控器類型的操作部分。
[0126]而且，應(yīng)用本發(fā)明的測量儀不限于指示計(千分表)。本發(fā)明可以應(yīng)用于具有與工件接觸的接觸部件、用于檢測接觸部件的位移的位移傳感器、以及用于模擬顯示基于位移傳感器的輸出計算的測量值的圖形顯示模塊的測量儀。例如，測量儀包括千分尺、游標卡尺、高度計、深度計、以及測試指示計(握柄式千分表)。而且，本發(fā)明還可以應(yīng)用于顯示表面粗糙度測量儀中的波形。在此情況下，由處理單元23在顯示屏21上繪出的圖是表示波形的曲線。
[0127]本發(fā)明可以實現(xiàn)為用于在計算機上執(zhí)行根據(jù)每個實施例的模擬顯示測量值的方法的程序。
[0128]在前述示例中，可以使用各種類型的非暫時性計算機可讀介質(zhì)存儲該程序，并且將該程序提供至計算機。非暫時性計算機可讀介質(zhì)包括各種類型的有形存儲介質(zhì)。非暫時性計算機可讀介質(zhì)的示例包括磁記錄介質(zhì)(例如，柔性盤、磁帶和硬盤驅(qū)動)、磁光記錄介質(zhì)(例如，磁光盤)、CD-ROM (只讀存儲器)、CD-R、CD-R/W、半導(dǎo)體存儲器(例如，掩模R0M、PROM(可編程ROM)、EPR0M(可擦除ROM)、快閃R0M、RAM(隨機存取存儲器))。而且，可以通過各種類型的暫時性計算機可讀介質(zhì)將該程序提供至計算機。暫時性計算機可讀介質(zhì)的示例包括電信號、光信號和電磁波。暫時性計算機可讀介質(zhì)可以經(jīng)由諸如電線和光纖的有線通信信道、或者無線通信信道將該程序提供至計算機。
【主權(quán)項】
1.一種用于測量儀的顯示設(shè)備，包括: 圖形顯示模塊的顯示屏；以及 處理單元，在所述顯示屏上繪出響應(yīng)于測量值的改變而在位置或形狀上改變的圖，所述處理單元:基于所述測量值的改變前的值計算所述顯示屏上的第一坐標；基于所述第一坐標在所述顯示屏上繪出所述圖的至少一部分；基于所述測量值的改變后的值計算所述顯示屏上的第二坐標；基于所述第一坐標和所述第二坐標獲取所述顯示屏上的區(qū)域作為重繪區(qū)域；以及基于用于僅重繪所述顯示屏上的指定區(qū)域的重繪函數(shù)重繪所述重繪區(qū)域。2.如權(quán)利要求1所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，其中: 所述圖是響應(yīng)于測量值的改變而旋轉(zhuǎn)的三角形指針、或者響應(yīng)于測量值的改變而在長度上改變的矩形棒。3.如權(quán)利要求2所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，其中: 所述圖是所述三角形指針； 所述顯示屏包括沿著彼此垂直的縱向和橫向以柵格形狀排列的多個像素； 作為所述重繪區(qū)域而獲取的所述顯示屏上的區(qū)域是包含所述第一坐標和所述第二坐標的矩形區(qū)域，所述第一坐標是對應(yīng)于所述測量值的改變前的值的三角形的頂點的坐標，所述第二坐標是對應(yīng)于所述測量值的改變后的值的三角形的頂點的坐標；以及所述矩形區(qū)域的縱邊和橫邊分別平行于縱向和橫向。4.如權(quán)利要求3所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，還包括由用戶操作的操作部分；其中: 基于所述用戶對所述操作部分的操作將所述三角形指針的旋轉(zhuǎn)位置復(fù)位到零位置；以及 所述三角形指針在所述零位置所指的方向平行于縱向或橫向。5.如權(quán)利要求1至3中任一項所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，還包括: 由用戶操作的操作部分，其中: 所述顯示屏將所述圖與通過所述用戶對所述操作部分的操作而選擇的刻度盤重疊顯示；以及 所述處理單元:基于所述測量值的改變前的值和對應(yīng)于所述刻度盤的參數(shù)計算所述第一坐標；以及基于所述測量值的改變后的值和所述參數(shù)計算所述第二坐標。6.如權(quán)利要求1至3中任一項所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，還包括: 由用戶操作的操作部分，其中: 所述顯示屏顯示包括所述圖和刻度盤的模擬指示計；以及 所述顯示屏基于所述用戶對所述操作部分的操作而放大顯示所述模擬指示計的一部分。7.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，還包括: 姿勢傳感器，檢測所述顯示屏的姿勢，其中 所述顯示屏基于所述姿勢傳感器的輸出顯示包括所述圖和刻度盤的模擬指示計。8.如權(quán)利要求1至3中任一項所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，還包括: 由用戶操作的操作部分，其中: 所述顯示屏將所述圖與刻度盤重疊顯示； 所述刻度盤包括:沿著刻度排列方向排列的多個刻度；以及沿著所述刻度排列方向形成且具有與所述刻度盤的背景顏色不同的顏色的有色區(qū)域；以及 所述有色區(qū)域的端部在所述刻度排列方向上的位置基于所述用戶對所述操作部分的操作而在所述刻度排列方向上改變。9.如權(quán)利要求1所述的用于測量儀的顯示設(shè)備，其中 當所述測量值改變以超過閾值時，所述圖的顏色改變。10.一種測量儀，包括: 用于測量儀的顯示設(shè)備，包括: 圖形顯示模塊的顯示屏；以及 處理單元，在所述顯示屏上繪出響應(yīng)于測量值的改變而在位置或形狀上改變的圖，所述處理單元:基于所述測量值的改變前的值計算所述顯示屏上的第一坐標；基于所述第一坐標在所述顯示屏上繪出所述圖的至少一部分；基于所述測量值的改變后的值計算所述顯示屏上的第二坐標；基于所述第一坐標和所述第二坐標獲取所述顯示屏上的區(qū)域作為重繪區(qū)域；以及基于用于僅重繪所述顯示屏上的指定區(qū)域的重繪函數(shù)重繪所述重繪區(qū)域； 接觸部件，與工件接觸；以及 位移傳感器，檢測所述接觸部件的位移，其中 基于所述位移傳感器的輸出計算所述測量值。11.一種模擬顯示測量值的方法，用于在圖形顯示模塊的顯示屏上繪出響應(yīng)于測量值的改變而在位置或形狀上改變的圖，所述方法包括: 基于所述測量值的改變前的值計算所述顯示屏上的第一坐標； 基于所述第一坐標在所述顯示屏上繪出所述圖的至少一部分； 基于所述測量值的改變后的值計算所述顯示屏上的第二坐標； 基于所述第一坐標和所述第二坐標獲取所述顯示屏上的區(qū)域作為重繪區(qū)域；以及 基于用于僅重繪所述顯示屏上的指定區(qū)域的重繪函數(shù)重繪所述重繪區(qū)域。12.一種用于存儲模擬顯示測量值的程序的記錄介質(zhì)，所述程序用于在圖形顯示模塊的顯示屏上繪出響應(yīng)于測量值的改變而在位置或形狀上改變的圖，所述程序使得計算機執(zhí)行以下步驟: 基于所述測量值的改變前的值計算所述顯示屏上的第一坐標； 基于所述第一坐標在所述顯示屏上繪出所述圖的至少一部分； 基于所述測量值的改變后的值計算所述顯示屏上的第二坐標； 基于所述第一坐標和所述第二坐標獲取所述顯示屏上的區(qū)域作為重繪區(qū)域；以及 基于用于僅重繪所述顯示屏上的指定區(qū)域的重繪函數(shù)重繪所述重繪區(qū)域。
【專利摘要】一種用于測量儀的顯示設(shè)備，包括：圖形顯示模塊的顯示屏；以及處理單元，用于在所述顯示屏上繪出響應(yīng)于測量值的改變而在位置或形狀上改變的圖，所述處理單元：基于所述測量值的改變前的值計算所述顯示屏上的第一坐標；基于所述第一坐標在所述顯示屏上繪出所述圖的至少一部分；基于所述測量值的改變后的值計算所述顯示屏上的第二坐標；基于所述第一坐標和所述第二坐標獲取所述顯示屏上的區(qū)域作為重繪區(qū)域；以及基于用于僅重繪所述顯示屏上的指定區(qū)域的重繪函數(shù)重繪所述重繪區(qū)域。
【IPC分類】G01B21/02, G01B3/22
【公開號】CN105043184
【申請?zhí)枴緾N201510181076
【發(fā)明人】日高宏幸
【申請人】株式會社三豐
【公開日】2015年11月11日
【申請日】2015年4月16日
【公告號】DE102015206857A1, US20150302833