均值并且然后能夠?qū)⑺鲇嬎憬y(tǒng)計平均值用于相同類型的所有測力裝置I。
[0066]測力裝置I現(xiàn)在能夠被提供給使用者并且投入操作。對于適用于具體操作情況(諸如，例如永久存在預(yù)負(fù)載)的特定測力裝置1，系統(tǒng)參考條件的確定能夠推遲到在使用者位置處的裝配時間。根據(jù)本領(lǐng)域現(xiàn)有技術(shù)的測力裝置必須以某個時間間隔由制造商檢驗，以驗證測力裝置的功能并且滿足國家規(guī)范、校準(zhǔn)要求和/或工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)確性要求。這能夠由維修技術(shù)員現(xiàn)場完成或在測力裝置I的制造商的設(shè)施處完成。
[0067]如果在由制造商進(jìn)行的功能性檢驗中檢測到損壞并且如果維修成本并不顯得有價值，則使測力裝置I脫離操作。如果功能性檢驗給出積極結(jié)果，則測力裝置I能夠繼續(xù)保留使用下一時間間隔。如果測力裝置連接到通訊網(wǎng)絡(luò)，則報告能夠自動發(fā)送到制造商。這保持制造商獲知測力裝置的功能性狀態(tài)，以使得如果需要的話能夠采用適當(dāng)步驟。
[0068]作為在已經(jīng)識別到損壞情況的情形下的第三可能性，已經(jīng)變得有缺陷的或其功能性有不足的構(gòu)件能夠被更換。這需要由通過制造商對測力裝置I的構(gòu)件和部件新調(diào)整來跟進(jìn)。在該過程中，新的系統(tǒng)參考條件30被確定并且在處理器單元26中存儲在持久記憶文件中，其中先前的系統(tǒng)參考條件30被覆寫。附加地，其他調(diào)整設(shè)定能夠同時存儲在處理器單元26中。隨后，測力裝置I被釋放以再次由使用者投入操作。
[0069]在圖5中由虛線示出的、根據(jù)本發(fā)明的方法在周期性維護(hù)服務(wù)由制造商進(jìn)行之前被插入這個壽命周期中，以便在兩次維護(hù)服務(wù)之間的時間間隔期間驗證測力裝置I運作正常。因此，能夠在實際維護(hù)服務(wù)之前已經(jīng)確認(rèn)裝置運作是否正?；蚱涔δ苄允欠袷軗p。這防止在潛在缺陷的情況下使用測力裝置1，在潛在缺陷情況下，測力裝置I對于使用者呈現(xiàn)為未損壞，以使得測力裝置似乎以無錯誤的方式運作。另一方面，只要功能性測試示出積極結(jié)果，兩次維護(hù)服務(wù)之間的時間間隔也可以延長，由此使用者節(jié)省與為了維護(hù)而使測力裝置I脫離操作有關(guān)的停工成本。
[0070]在根據(jù)本發(fā)明的方法的每個周期中，所述至少一個系統(tǒng)參考條件30與至少一個系統(tǒng)表征條件29相比較，并且基于所述比較確定測力裝置I的功能性。系統(tǒng)表征條件29以及系統(tǒng)參考條件30都建立電流24的大小和線圈25、125從其平衡位置偏轉(zhuǎn)的大小之間的關(guān)系并且能夠以數(shù)值的形式存在于具有至少一個參數(shù)的系統(tǒng)表格或系統(tǒng)函數(shù)中。存儲在處理器單元26的持久記憶文件中的系統(tǒng)參考條件30代表測力裝置I的無錯誤的狀態(tài)，而系統(tǒng)表征條件29代表當(dāng)前時間的測力裝置I的實際的功能性情況。
[0071]在將系統(tǒng)表征條件29與系統(tǒng)參考條件30比較之前，必須在具有至少一個參數(shù)的系統(tǒng)表格或系統(tǒng)函數(shù)中以數(shù)值的形式建立系統(tǒng)表征條件29。具有至少一個參數(shù)的系統(tǒng)表格或系統(tǒng)函數(shù)的值的確定作為在將系統(tǒng)表征條件29與系統(tǒng)參考條件30比較之前的步驟，以及在調(diào)整時發(fā)生的、針對系統(tǒng)參考條件而對具有至少一個參數(shù)的系統(tǒng)表格或系統(tǒng)函數(shù)的值的確定能夠以不同方式實施。
[0072]在下文中，說明了確定具有至少一個參數(shù)的系統(tǒng)表格以及系統(tǒng)函數(shù)的值的可能方式。有利地，在測力裝置I的生產(chǎn)過程期間、尤其在調(diào)整階段期間進(jìn)行所述確定。作為第一可能性，通過改變線圈25、125的偏轉(zhuǎn)并且基本同時測量與線圈25的偏轉(zhuǎn)有關(guān)的電流24的量來進(jìn)行所述確定。替代地，作為第二可能性，通過改變電流24的量并且基本同時測量與電流24的大小相對應(yīng)的、線圈25、125的偏轉(zhuǎn)來進(jìn)行所述確定。為了能夠改變線圈25、125的偏轉(zhuǎn)或電流24的大小，處理器單元能夠借助于兩個到位置控制器單元23的接口連接來設(shè)定目標(biāo)位置或目標(biāo)電流。
[0073]以上已經(jīng)描述的、用于具有至少一個參數(shù)的系統(tǒng)表格和/或系統(tǒng)函數(shù)的值的確定的兩個過程也能夠被補充，其方式是，具有將校準(zhǔn)重量放置在負(fù)載接收器上的附加步驟地再次實施所述過程?；诰哂行?zhǔn)重量的測量和不具有校準(zhǔn)重量的測量，分開的、相應(yīng)的系統(tǒng)參考條件30和/或系統(tǒng)表征條件29能夠被建立用于磁體系統(tǒng)27、127、用于平行的導(dǎo)向件14、114及其柔性的樞轉(zhuǎn)件16或彈性連結(jié)件、位置傳感器21和/或杠桿傳動比。
[0074]基于系統(tǒng)表征條件29和先前確定的系統(tǒng)表征條件29’，可以建立功能性的趨勢歷史，這允許預(yù)測直到測力裝置的下一維護(hù)服務(wù)的剩余操作時間。
[0075]如果測力裝置I配備有能夠耦合到可移動的平行支腿12、112并且當(dāng)要求校準(zhǔn)時被啟動的內(nèi)部校準(zhǔn)重量，則測力裝置I能夠依據(jù)應(yīng)用在菜單的控制下或自主實施用于確定具有至少一個參數(shù)的系統(tǒng)表格和/或系統(tǒng)函數(shù)的值的、前述可能過程中的一個或多個。
[0076]在功能性被驗證之后，處理器單元26能夠釋放測力裝置I用于操作、鎖止測力裝置1、或向使用者發(fā)出警告、或總體觸發(fā)測力裝置I的一個動作。警告能夠包括維護(hù)服務(wù)即將發(fā)生或功能性受損的信息。
[0077]圖6至10以位置/電流曲線圖的形式示出測力裝置I的不同系統(tǒng)函數(shù)。系統(tǒng)函數(shù)建立電流24的大小和線圈25、125從其平衡位置偏轉(zhuǎn)的大小之間的關(guān)系。這是代表系統(tǒng)表征條件29或系統(tǒng)參考條件30的可能形式。在水平軸線上的正100%和負(fù)100%的標(biāo)記限定磁體系統(tǒng)27、127中的線圈25、125失去平衡的偏轉(zhuǎn)。
[0078]圖6示出理想化的測力裝置I的系統(tǒng)函數(shù)A，其中柔性的樞轉(zhuǎn)件16或彈性連結(jié)件和磁體系統(tǒng)27、127的理想表現(xiàn)被繪制為直線，這意味著線圈25、125從其平衡位置的偏轉(zhuǎn)引起電流24的線性改變。與系統(tǒng)函數(shù)A相對，系統(tǒng)函數(shù)SE1、Se3和S E3i應(yīng)出磁體系統(tǒng)27、127的真實表現(xiàn)并且也代表系統(tǒng)參考條件30。
[0079]如果測力裝置I受到例如由撞擊稱重盤15或裝置落在地上而引起的過度壓力負(fù)載，則系統(tǒng)函數(shù)將改變。圖7代表具有測力裝置I的系統(tǒng)函數(shù)SK1、SK2、Sk3的系統(tǒng)表征條件29，在所述測力裝置中，至少一個柔性的樞轉(zhuǎn)件16或彈性連結(jié)件或膜片彈簧已經(jīng)被過度壓力負(fù)載損壞。明顯的證據(jù)是系統(tǒng)函數(shù)曲線的不規(guī)則形狀，尤其系統(tǒng)函數(shù)在偏轉(zhuǎn)位置P處的偏差。被損壞的柔性的樞轉(zhuǎn)件16或彈性連結(jié)件、或被損壞的膜片彈簧的這種征兆能夠采用非常不同的形式。例如，如在系統(tǒng)函數(shù)Sk2中，在偏轉(zhuǎn)變量的窄范圍內(nèi)能夠有線圈電流24的強偏差，或如在系統(tǒng)函數(shù)Sk3中，在偏轉(zhuǎn)變量的寬范圍上能夠發(fā)生線圈電流24的小偏差。
[0080]圖8是圖7的以虛線框住的矩形部分的放大代表圖。系統(tǒng)參考條件30和系統(tǒng)表征條件29之間的比較賦予偏差的定量表征以及基于閾值的定性表征。閾值能夠例如被限定為邊界不可以被越過的公差帶，或如對于系統(tǒng)函數(shù)Sk3示出的，極限值能夠被設(shè)定用于包封在系統(tǒng)參考條件30和系統(tǒng)表征條件29之間的區(qū)域，或兩種可能性能夠被結(jié)合。公差帶無需在整個偏轉(zhuǎn)范圍上具有相同寬度。寬度也能夠依據(jù)偏轉(zhuǎn)變量，從而較窄的公差能夠被限定用于在平衡位置附近的系統(tǒng)表征條件29的系統(tǒng)函數(shù)的偏差。這使得能夠確保系統(tǒng)函數(shù)中的最不同征兆能夠被量化并且征兆的重要性能夠被量化。
[0081]圖9示出位置傳感器21的變位對系統(tǒng)表征條件29的系統(tǒng)函數(shù)&的影響。如果位置傳感器21不再位于調(diào)整被實施的位置，則位置/電流曲線圖中的系統(tǒng)表征條件29的系統(tǒng)函數(shù)SJ#相對于系統(tǒng)參考條件30的系統(tǒng)函數(shù)S E水平偏移。因此，偏差能夠被容易并且快速地檢測到。
[0082]圖10示出線圈25、125從其在磁體系統(tǒng)27、127中的居中位置變位如何影響系統(tǒng)表征條件29。與圖9的示例相似的，線圈的變位產(chǎn)生相對于系統(tǒng)參考條件30的系統(tǒng)函數(shù)Se沿曲線圖的豎直方向偏移的系統(tǒng)函數(shù)&，這意味著，在線圈25、125的所有偏轉(zhuǎn)位置中，與已調(diào)整的狀態(tài)相比，較強的電流24將流過線圈25、125。在兩種情況下，S卩，在線圈25、125從其在磁體系統(tǒng)27、127中的居中位置變位的情況下和在位置傳感器21變位的情況下，都需要限定適當(dāng)?shù)墓罨蜷撝担瑑?yōu)選在平衡位置附近的較窄公差。
[0083]已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，系統(tǒng)參考條件30和系統(tǒng)表征條件29依據(jù)稱重負(fù)載的質(zhì)量。換言之，系統(tǒng)參考條件30或系統(tǒng)表征條件29的系統(tǒng)表格的值和/或系統(tǒng)函數(shù)的參數(shù)對于所施加的負(fù)載的特定大小是有效的。這在圖6、7和8中通過不同系統(tǒng)函數(shù)SE1、SE2、SE3和S K1、SK2、SK3示出。作用在可移動的平行支腿12、112上的力越大，位置/電流曲線圖中的系統(tǒng)函數(shù)的彎曲越強。系統(tǒng)函數(shù)Se3和Sk3的曲線圖向上彎曲。這個彎曲由測量轉(zhuǎn)換器20、120中的力的方向改變所引起，這例如在推拉系統(tǒng)中發(fā)生。系統(tǒng)參考條件30和系統(tǒng)表征條件29因此包括具有對應(yīng)參數(shù)的至少一個系統(tǒng)表格和/或系統(tǒng)函數(shù)，系統(tǒng)表格和/或系統(tǒng)函數(shù)被用于驗證功能性，如果功能性所基于的所施加的力非常接近地符合實際被施加的負(fù)載的話，否則，在系統(tǒng)表格的兩個值之間或兩個系統(tǒng)函數(shù)之間進(jìn)行內(nèi)插。
[0084]雖然已經(jīng)通過呈現(xiàn)特定實施方式的數(shù)個示例描述本發(fā)明，但是考慮到明顯的是，基于本發(fā)明的教導(dǎo)、例如通過將各個實施方式的