薄膜開關(guān)電路的測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種測試系統(tǒng)，尤其是關(guān)于薄膜開關(guān)電路的測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展，電子設(shè)備已普及化至個(gè)人使用者，常見的電子設(shè)備包括電腦主機(jī)、筆記型電腦、手機(jī)等可攜式電子設(shè)備，且其外圍輸入裝置可配合電子設(shè)備使用，以提升操作電子設(shè)備的便利性。其中，外圍輸入裝置包括有鼠標(biāo)裝置、鍵盤裝置以及軌跡球裝置坐寸ο
[0003]鍵盤裝置內(nèi)部必須設(shè)置有薄膜開關(guān)電路，其功能為被鍵盤裝置的按鍵觸壓而輸出相對(duì)應(yīng)的按鍵信號(hào)，以便于使用者輸入字母、數(shù)字或符號(hào)。鍵盤裝置的制造過程中，必須進(jìn)行測試，以確保鍵盤裝置的功能正常。其測試包含有于鍵盤裝置組裝完成前的電路板測試、薄膜開關(guān)電路測試，以及其組裝完成后的功能性測試。其中，對(duì)電路板以及薄膜開關(guān)電路的測試是為了避免于鍵盤裝置組裝完成之后才發(fā)現(xiàn)電路板或薄膜開關(guān)電路有缺陷存在時(shí)，必須拆卸鍵盤裝置來除錯(cuò)，其將造成的工時(shí)浪費(fèi)。
[0004]本發(fā)明的主題為鍵盤裝置中的薄膜開關(guān)電路的測試。首先簡單說明薄膜開關(guān)電路的結(jié)構(gòu)。請(qǐng)參閱圖1，其為現(xiàn)有薄膜開關(guān)電路的結(jié)構(gòu)分解示意圖?，F(xiàn)有薄膜開關(guān)電路I包括一上線路板11、一隔離層12以及一下線路板13，上線路板11具有對(duì)應(yīng)于鍵盤裝置(未顯示于圖中)的多個(gè)按鍵(未顯示于圖中)的多個(gè)第一接點(diǎn)111。隔離層12位于上線路板11的下方，且具有對(duì)應(yīng)于多個(gè)第一接點(diǎn)111的多個(gè)開孔121，而下線路板13位于隔離層12的下方，且具有對(duì)應(yīng)于多個(gè)第一接點(diǎn)111的多個(gè)第二接點(diǎn)131。上線路板11、隔離層12以及下線路板13互相結(jié)合之后，每一第一接點(diǎn)111位于多個(gè)開孔121的上方，而第二接點(diǎn)131則位于多個(gè)開孔121的下方。其中，第一接點(diǎn)111、多個(gè)開孔12以及第二接點(diǎn)131共同形成一按鍵接點(diǎn)，且按鍵接點(diǎn)具有一接點(diǎn)電阻值。
[0005]當(dāng)一個(gè)按鍵被使用者觸壓時(shí)，上線路板11中位于該按鍵下方的第一接點(diǎn)111被推抵而伸入相對(duì)應(yīng)的開孔121中，且第一接點(diǎn)111與相對(duì)應(yīng)的第二接點(diǎn)131接觸，此時(shí)，薄膜開關(guān)電路I輸出對(duì)應(yīng)于該按鍵的按鍵信號(hào)。而當(dāng)使用者不再觸壓按鍵時(shí)，第一接點(diǎn)111與相對(duì)應(yīng)的第二接點(diǎn)131分尚，且第一接點(diǎn)111與第二接點(diǎn)131被隔尚層12所分隔，以避免發(fā)生誤觸。當(dāng)?shù)谝唤狱c(diǎn)111與相對(duì)應(yīng)的第二接點(diǎn)131接觸時(shí)，按鍵接點(diǎn)的接點(diǎn)電阻值太大時(shí)，薄膜開關(guān)電路I會(huì)無法輸出相對(duì)應(yīng)的按鍵信號(hào)。因此，于鍵盤裝置組裝完成之前，必須針對(duì)薄膜開關(guān)電路I的按鍵接點(diǎn)進(jìn)行測試。
[0006]一般而言，薄膜開關(guān)電路的測試采用薄膜開關(guān)電路專用的測試治具以及電腦系統(tǒng)而進(jìn)行，其中測試治具包含有電阻測量器。接下來，可藉由測試人員或打擊工具來依序觸壓薄膜開關(guān)電路上的每一按鍵接點(diǎn)，且依序取得多個(gè)按鍵接點(diǎn)的多個(gè)接點(diǎn)電阻值。藉由現(xiàn)有方式進(jìn)行測試時(shí)，電阻測量器會(huì)傳輸多個(gè)接點(diǎn)電阻值至電腦系統(tǒng)，但測試人員無法得知哪一接點(diǎn)電阻值是對(duì)應(yīng)于哪一按鍵接點(diǎn)，因此，測試人員必須記錄或預(yù)先安排觸壓按鍵接點(diǎn)的順序，再自行將觸壓按鍵接點(diǎn)的順序依序?qū)?yīng)于多個(gè)接點(diǎn)電阻值，才得以得知哪一按鍵接點(diǎn)的接點(diǎn)電阻值太大，而可進(jìn)行調(diào)整。
[0007]然而，測試人員經(jīng)過長時(shí)間的測試工作之后，很容易因失誤而發(fā)生按鍵接點(diǎn)與接點(diǎn)電阻值對(duì)應(yīng)錯(cuò)誤的情形，而造成測試準(zhǔn)確率下降。因此，需要一種不需人力測試的薄膜開關(guān)電路的測試系統(tǒng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足，提供一種不需以人力測量且符合成本效應(yīng)的薄膜開關(guān)電路的測試系統(tǒng)。
[0009]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是提供一種薄膜開關(guān)電路的測試系統(tǒng)，用以測試一薄膜開關(guān)電路，該薄膜開關(guān)電路包括多條掃描輸入線、多條掃描輸出線以及由該多條掃描輸入線與該多條掃描輸出線所共同形成的多個(gè)按鍵接點(diǎn)，且該多個(gè)按鍵接點(diǎn)中的至少一該按鍵接點(diǎn)被導(dǎo)通時(shí)產(chǎn)生一接點(diǎn)電阻值，該薄膜開關(guān)電路的測試系統(tǒng)包括連接元件以及測試模塊。該連接元件用以連接于該薄膜開關(guān)電路；而該測試模塊連接于該連接元件，用以測試該薄膜開關(guān)電路中對(duì)應(yīng)于該多個(gè)按鍵接點(diǎn)的多個(gè)該接點(diǎn)電阻值，該測試模塊包括控制單元以及多個(gè)固定電阻，該控制單元具有一預(yù)設(shè)電阻值，用以辨識(shí)該至少一按鍵接點(diǎn)，或根據(jù)該接點(diǎn)電阻值與該預(yù)設(shè)電阻值而判斷相應(yīng)該按鍵接點(diǎn)是否通過測試。該控制單元包括多個(gè)第一連接接腳以及多個(gè)第二連接接腳，每一該第一連接接腳對(duì)應(yīng)于一該掃描輸入線，且分別連接于相對(duì)應(yīng)的該掃描輸入線；而每一該第二連接接腳對(duì)應(yīng)于一該掃描輸出線，且分別連接于相對(duì)應(yīng)的該掃描輸出線。該多個(gè)固定電阻對(duì)應(yīng)于該多條掃描輸入線且連接于該多個(gè)第一連接接腳；其中當(dāng)該按鍵接點(diǎn)被觸壓時(shí)，該按鍵接點(diǎn)與相對(duì)應(yīng)的該固定電阻形成一等效電路，且該控制單元由該等效電路中獲得該接點(diǎn)電阻值，而判斷該按鍵接點(diǎn)是否通過測試。
[0010]較佳地，當(dāng)該按鍵接點(diǎn)被觸壓時(shí)，該按鍵接點(diǎn)與相對(duì)應(yīng)的該固定電阻并聯(lián)而形成該等效電路，使該控制單元藉由相對(duì)應(yīng)的該第一連接接腳而獲得該接點(diǎn)電阻值，且該控制單元比較該接點(diǎn)電阻值與該預(yù)設(shè)電阻值而判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)是否通過測試；其中該接點(diǎn)電阻值小于或等于該預(yù)設(shè)電阻值時(shí)，該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)通過測試；而當(dāng)該接點(diǎn)電阻值大于該預(yù)設(shè)電阻值時(shí)，該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)測試失敗。
[0011]較佳地，該測試模塊還包括警示元件，該警示元件連接于該控制單元，用以于該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)通過測試時(shí)，產(chǎn)生一第一警示聲響，或于該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)測試失敗時(shí)，產(chǎn)生一第二警示聲響。
[0012]較佳地,該測試模塊還包括顯示元件,該顯示元件連接于該控制單元，用以于該控制單元判斷該按鍵接點(diǎn)通過測試時(shí)，顯示對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的一通過測試信息，或于該控制單元判斷該按鍵接點(diǎn)測試失敗時(shí)，顯示對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的一測試失敗信息。
[0013]較佳地，該控制單元指派多個(gè)第一序號(hào)至該多個(gè)第一連接接腳，且指派多個(gè)第二序號(hào)至該多個(gè)第二連接接腳，而指派該多個(gè)第一序號(hào)以及該多個(gè)第二序號(hào)為該多個(gè)按鍵接點(diǎn)的多個(gè)識(shí)別信息，以辨識(shí)該多個(gè)按鍵接點(diǎn)。
[0014]較佳地，當(dāng)該多個(gè)按鍵接點(diǎn)皆未被觸壓時(shí)，該多條掃描輸入線藉由該多個(gè)第一連接接腳分別傳輸一第一邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該控制單元，且該多條掃描輸出線藉由該多個(gè)第二連接接腳分別傳輸該第一邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該控制單元；而當(dāng)該多個(gè)按鍵接點(diǎn)中的一該按鍵接點(diǎn)被觸壓時(shí)，對(duì)應(yīng)于該按鍵接點(diǎn)的該掃描輸入線藉由對(duì)應(yīng)的該第一連接接腳傳輸一第二邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該控制單元，且對(duì)應(yīng)于該按鍵接點(diǎn)的該掃描輸出線藉由對(duì)應(yīng)的該第二連接接腳傳輸該第二邏輯準(zhǔn)位信號(hào)至該控制單元，該控制單元根據(jù)對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的該掃描輸入線的該第一連接接腳的該第一序號(hào)以及對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的該掃描輸出線的該第二連接接腳的該第二序號(hào)而獲得該按鍵接點(diǎn)的該識(shí)別信息。
[0015]較佳地,該測試模塊還包括顯示元件,該顯示元件連接于該控制單元，用以于該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)通過測試時(shí)，顯示對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的該識(shí)別信息、該接點(diǎn)電阻值以及一通過測試信息，或于該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)測試失敗時(shí)，顯示對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的該識(shí)別信息、該接點(diǎn)電阻值以及一測試失敗信息。
[0016]較佳地，該測試模塊還包括連接電路，該連接電路連接于該控制單元以及一電腦系統(tǒng)，用以建立該測試模塊與該電腦系統(tǒng)的連接；其中當(dāng)該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)通過測試時(shí)，該連接電路將對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的該識(shí)別信息、該接點(diǎn)電阻值以及一通過測試信息傳輸至該電腦系統(tǒng)，由該電腦系統(tǒng)的一顯示屏幕顯示；而當(dāng)該控制單元判斷被觸壓的該按鍵接點(diǎn)測試失敗時(shí)，該連接電路將對(duì)應(yīng)于被觸壓的該按鍵接點(diǎn)的該識(shí)別信息、該接點(diǎn)電阻值以及一測試失敗信息傳輸至該電腦系統(tǒng)，由該顯示屏幕顯示。
[0017]較佳地，該測試模塊還包括多個(gè)電容，每一該電容對(duì)應(yīng)于一該固定電阻且連接于相對(duì)應(yīng)的該第一連接接腳，用以濾除噪聲。
[0018]較佳地，該測試模塊還包括開關(guān)電路以及穩(wěn)壓電路，該開關(guān)電路連接于一供電源，用以提供來自于該供電源的一電力；該穩(wěn)壓電路連接于該供電源以及一該第一連接接腳，用以穩(wěn)定該電力。
[0019]因此，本發(fā)明薄膜開關(guān)電路的測試系統(tǒng)可藉由控制單元指派第一序號(hào)以及第二序號(hào)至不同的第一連接接腳以及第二連接接腳，以指派多個(gè)識(shí)別信息至多個(gè)按鍵接點(diǎn)。當(dāng)按鍵接點(diǎn)被觸壓以進(jìn)行測試時(shí)，控制單元可根據(jù)對(duì)應(yīng)于被觸壓的按鍵