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      一種基于多波譜分析的珠寶品質(zhì)鑒定方法及系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:9430128閱讀:444來源:國知局
      一種基于多波譜分析的珠寶品質(zhì)鑒定方法及系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于珠寶鑒定技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于多波譜分析的珠寶品質(zhì)鑒定方法及系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著人們生活水平的不但改善,珠寶市場交易踴躍、發(fā)展迅速。據(jù)統(tǒng)計(jì),從2005年到2013年,珠寶市場銷售額增長約3.5倍,2013年中國珠寶產(chǎn)品零售總額已超過4700億元。在珠寶的生產(chǎn)與流動(dòng)過程中,品質(zhì)鑒定無疑是非常重要的環(huán)節(jié)。
      [0003]現(xiàn)行的珠寶鑒定一般分為人工經(jīng)驗(yàn)鑒定和儀器鑒定。人工經(jīng)驗(yàn)鑒定取決于鑒定者的經(jīng)驗(yàn),也有一定的主觀性;儀器鑒定從簡單的放大鏡、聚光電筒之類的工具到現(xiàn)代化的高度精密儀器。目前,珠寶儀器檢測主要基于以下測試技術(shù):X射線衍射、電子探針、紅外吸收光譜、拉曼光譜、掃描電鏡等分析技術(shù)。1、X射線衍射分析是無損鑒定寶石的方法之一,對確定寶玉石的種類,區(qū)分晶質(zhì)和非晶質(zhì)寶石材料是一種有效手段;2、電子探針能夠?qū)悠愤M(jìn)行微區(qū)成分的定性與定量分析,成為鑒別真假寶石及人造寶石的有力工具;3、由于紅外光譜圖能反映寶玉石中的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)特征,根據(jù)寶玉石特有的紅外光譜圖可區(qū)分天然寶石與人造寶石,但由于要求被檢測樣品必須有拋光平面,使紅外光譜的測試受到限制;4、拉曼光譜學(xué)技術(shù)是一種非破壞性的測試手段,能很方便地區(qū)別天然寶石、人造寶石、改性寶石和仿制品;5、掃描電鏡能夠?qū)毷M(jìn)行表面微形貌和化學(xué)成分分析,而且樣品不受到損傷,已成為寶石研究的理想檢測工具。
      [0004]上述檢測技術(shù),雖然被廣泛應(yīng)用在珠寶的品質(zhì)鑒定之中,但在獲取珠寶材料的內(nèi)部成分與準(zhǔn)確位置以及再現(xiàn)方面尚無系統(tǒng)的解決方案。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種基于多波譜分析的珠寶品質(zhì)鑒定方法及系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)對不同種類珠寶原材料及商品的簡便、高效、實(shí)用的品質(zhì)鑒定。
      [0006]本發(fā)明提供了一種基于多波譜分析的珠寶品質(zhì)鑒定方法,所述方法包括下述步驟:
      [0007]步驟a,通過多波譜掃描系統(tǒng)對被測物進(jìn)行全方位掃描獲得被測物的波譜信息;
      [0008]步驟b,根據(jù)所述波譜信息分析被測物的材料組成成分、各成分比例及大小、各成分材料在被測物中的位置,并根據(jù)得到的被測物的信息進(jìn)行品質(zhì)鑒定。
      [0009]進(jìn)一步地,所述方法還包括步驟C,根據(jù)步驟b中得到的被測物的信息,利用數(shù)字圖像技術(shù)生成三維實(shí)體透視圖像。
      [0010]進(jìn)一步地,所述三維實(shí)體透視圖像利用虛擬現(xiàn)實(shí)建模語言還原在電腦屏幕上進(jìn)行再現(xiàn)。
      [0011]進(jìn)一步地,所述多波譜掃描系統(tǒng)包括2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)透射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)多波譜感應(yīng)器、圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架、被測物托盤、托盤水平軌道及屏蔽暗室;
      [0012]所述2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)透射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)多波譜感應(yīng)器安裝在所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架上,其中,2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器分別安裝在所述多波譜感應(yīng)器兩側(cè)并對稱分布,所述透射用多波譜發(fā)生器與所述多波譜感應(yīng)器位置相差180度;所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架豎直放置,其垂直軸為經(jīng)過所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架的圓心并垂直圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架所在平面的直線;所述托盤水平軌道包含兩條軌道,所述兩條軌道沿所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架的垂直軸方向設(shè)置并呈水平分布;所述被測物托盤放在所述托盤水平軌道上,被測物放在被測物托盤上并處在所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架的中心;上述各器件皆放置于所述屏蔽暗室內(nèi);
      [0013]所述多波譜掃描系統(tǒng)的掃描方法具體為:
      [0014]步驟A,2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器和I個(gè)透射用多波譜發(fā)生器分別發(fā)出波,所述多波譜感應(yīng)器接收反射波和透射波,并在多波譜感應(yīng)器上獲得相應(yīng)的波譜信息;
      [0015]步驟B,順時(shí)針或逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架一定的角度,重復(fù)步驟A,直至圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架完成360度的旋轉(zhuǎn),完成對被測物的完整掃描。
      [0016]進(jìn)一步地,所述多波譜掃描系統(tǒng)的掃描方法還包括步驟C,如果被測物沿所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架垂直軸方向的尺寸超過一次可掃描的寬度,則將被測物托盤沿所述托盤水平軌道移動(dòng)一次可掃描寬度的距離,重復(fù)步驟B,直至完成對被測物的全部掃描。
      [0017]進(jìn)一步地,所述屏蔽暗室由可隔離環(huán)境波、多波譜掃描系統(tǒng)產(chǎn)生的電磁波的金屬材料制成。
      [0018]進(jìn)一步地,所述多波譜發(fā)生器包括聲波發(fā)生器、電波發(fā)生器、光波發(fā)生器、X光發(fā)生器中的一種;所述多波譜感應(yīng)器包括聲波感應(yīng)器、電波感應(yīng)器、光波感應(yīng)器、X光感應(yīng)器中的一種;所述多波譜發(fā)生器選擇上述其中一種時(shí),所述多波譜感應(yīng)器選擇與所述多波譜發(fā)生器對應(yīng)的一種。
      [0019]進(jìn)一步地,所述多波譜感應(yīng)器包括鏡頭或探測器、CXD感應(yīng)器件或CMOS感應(yīng)器件,所述鏡頭或探測器用于對接收的反射波和透射波作狹縫衍射及光柵處理;所述CCD感應(yīng)器件或CMOS感應(yīng)器件用于獲得相應(yīng)的反射波譜信息和透射波譜信息。
      [0020]本發(fā)明還提供了一種基于多波譜分析的珠寶品質(zhì)鑒定系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:
      [0021]多波譜掃描系統(tǒng),用于對被測物進(jìn)行全方位多波譜掃描獲得被測物的波譜信息;
      [0022]波譜分析模塊,用于根據(jù)所述波譜信息分析被測物的材料組成成分、各成分比例及大小、各成分材料在被測物中的位置,并根據(jù)得到的被測物的信息進(jìn)行品質(zhì)鑒定。
      [0023]進(jìn)一步地,所述系統(tǒng)還包括三維實(shí)體透視成像模塊,用于根據(jù)所述波譜分析模塊得到的被測物的信息,利用數(shù)字圖像技術(shù)生成三維實(shí)體透視圖像。
      [0024]進(jìn)一步地,所述三維實(shí)體透視圖像利用虛擬現(xiàn)實(shí)建模語言還原在電腦屏幕上進(jìn)行再現(xiàn)。
      [0025]進(jìn)一步地,所述多波譜掃描系統(tǒng)包括2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)透射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)多波譜感應(yīng)器、圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架、被測物托盤、托盤水平軌道及屏蔽暗室;
      [0026]所述2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)透射用多波譜發(fā)生器、I個(gè)多波譜感應(yīng)器安裝在所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架上,其中,2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器分別安裝在所述多波譜感應(yīng)器兩側(cè)并對稱分布,所述透射用多波譜發(fā)生器與所述多波譜感應(yīng)器位置相差180度;所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架豎直放置,其垂直軸為經(jīng)過所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架的圓心并垂直圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架所在平面的直線;所述托盤水平軌道包含兩條軌道,所述兩條軌道沿所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架的垂直軸方向設(shè)置并呈水平分布;所述被測物托盤放在所述托盤水平軌道上,被測物放在被測物托盤上并處在所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架的中心;上述各器件皆放置于所述屏蔽暗室內(nèi);
      [0027]所述2個(gè)反射用多波譜發(fā)生器發(fā)出反射波,所述I個(gè)透射用多波譜發(fā)生器發(fā)出透射波,所述多波譜感應(yīng)器接收反射波和透射波,并在多波譜感應(yīng)器上獲得相應(yīng)的波譜信息;
      [0028]所述圓環(huán)旋轉(zhuǎn)支架可順時(shí)針或逆時(shí)針進(jìn)行360度的旋轉(zhuǎn);
      [0029]所述被測物托盤可沿所述托盤水平軌道移動(dòng)。
      [0030]進(jìn)一步地,所述屏蔽暗室由可隔離環(huán)境波、多波譜掃描系統(tǒng)產(chǎn)生的電磁波的金屬材料制成。<
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