一種基于單模-多模-單模光纖錐頭(smst)的小型光纖折射率傳感器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及光纖傳感器的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的小型光纖折射率傳感器,對光纖折射率傳感器在小型空間的應用、提高光纖折射率傳感器的靈敏度及測量精度有著重要的意義和價值,將服務(wù)于未來各個的折射率領(lǐng)域,特別是化學和生物傳感領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展,光纖傳感技術(shù)已經(jīng)廣泛應用于多個領(lǐng)域。目前大多數(shù)的物理量都可以通過光纖來感知,如光強度位移、溫度、壓力、轉(zhuǎn)動、聲音、拉力、磁場、電場、輻射、流體、液位、化學分析和振動等。相比于傳統(tǒng)的傳感器,光纖傳感器具有很多優(yōu)點,如抗電磁干擾、抗腐蝕、小尺寸、高靈敏度并且可實現(xiàn)遠程傳感。全光纖干涉儀由于具有易加工、高靈敏度和結(jié)構(gòu)緊湊等特點,近期得到了深入研究,包括基于雙花生型結(jié)構(gòu)、錐形光纖和纖芯直徑失配等方案的模式干涉儀。2006年,研究人員提出一種基于單模-多模-單模(SMS)光纖的傳感器,該傳感器通過多模光纖纖芯區(qū)域的多模干涉實現(xiàn)。同時,由于錐形光纖具有大消逝場、強約束、快速響應等優(yōu)點,基于錐形光纖的器件得到廣泛研究,并在提升器件性能和減小器件尺寸方面表現(xiàn)出潛在優(yōu)勢。之后便有人提出了一種單模-錐形多模-單模(STMS)光纖傳感器,STMS光纖傳感器由一個輸入單模光纖、一個錐形多模光纖和一個輸出單模光纖組成。在錐形多模光纖中,纖芯中部分LPOm模與包層中的高階模會在錐形區(qū)開始的位置發(fā)生耦合,從而增加多模光纖包層中消逝波的能量。但是,為了獲得較大的折射率變化,需要將較長一段多模光纖置于周圍介質(zhì)中。因此,器件尺寸通常長達幾厘米。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:提出一種基于單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的小型光纖折射率傳感器,具有小型化、加工方便、線性響應、高靈敏度、易于與其他光纖組件連接以及低成本等特性。本發(fā)明還提供了所述基于單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的小型光纖折射率傳感器的基本原理和工作方式。
[0004]本發(fā)明解決上述技術(shù)問題采用的技術(shù)方案為:
[0005]—種基于單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的小型光纖折射率傳感器,包括超連續(xù)寬帶(SC)光源、環(huán)形器、單模-多模-單模光纖錐頭以及光譜分析儀;所述的單模-多模-單模光纖錐頭包括輸入/輸出單模光纖、帶有周期性光柵結(jié)構(gòu)的多模光纖錐頭和鍍在錐頭端面作為反射鏡的金膜以及光纖包層;
[0006]所述的超連續(xù)寬帶(SC)光源、環(huán)形器、單模-多模-單模光纖錐頭和光譜分析儀構(gòu)成一個小型光纖折射率傳感器,輸入/輸出單模光纖、帶有周期性光柵結(jié)構(gòu)的多模光纖錐頭、鍍在錐頭端面作為反射鏡的金膜和光纖包層集成于一體,構(gòu)成單模-多模-單模光纖錐頭;超連續(xù)寬帶(SC)光源發(fā)出的波長在450nm — 1800nm的光通過光纖進入環(huán)形器后,經(jīng)光纖到達帶有周期性光柵結(jié)構(gòu)的單模-多模-單模光纖錐頭;在多模光纖錐頭的纖芯中,部分LPOm模會與光纖包層中的高階模在錐形區(qū)開始的位置發(fā)生耦合并在周期性光柵結(jié)構(gòu)和金膜處發(fā)生反射;反射回來的光通過光纖傳輸?shù)江h(huán)形器中,并從光纖中傳輸?shù)焦庾V分析儀中,從而通過光譜分析儀中測得外部介質(zhì)折射率。
[0007]其中,所述的SMS樣品是由一段42mm長,數(shù)值孔徑為0.22,纖芯半徑為105μπι的階躍型折射率多模光纖制成。
[0008]其中,所述的單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的直徑約為3 μ m0
[0009]其中,所述的多模光纖錐頭的尖端被聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)切平。
[0010]其中,所述的多模光纖錐頭被聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)刻蝕成周期性光柵結(jié)構(gòu)。
[0011]其中,所述的單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的錐頭端面鍍有40_金膜,以提高反射率。
[0012]其中,所述的超連續(xù)寬帶(SC)光源輸出端采用斜切的方式以防止光纖組件的背向反射對光源產(chǎn)生影響。
[0013]另外,本發(fā)明提供一種基于單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的小型光纖折射率傳感器,按照以下工作方法實現(xiàn)外部介質(zhì)折射率的測量:
[0014]利用單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)中的錐形過渡區(qū)和錐頭區(qū)導模(即多模干涉)的有效折射率均受外部介質(zhì)折射率影響的特性,來實現(xiàn)對外部介質(zhì)折射率的測量,通過檢測輸出信號光,得到輸出信號光的有效折射率,從而計算得到外部介質(zhì)折射率;
[0015]超連續(xù)寬帶(SC)光源發(fā)出的波長在450nm — 1800nm的光通過光纖進入環(huán)形器后,經(jīng)光纖到達單模-多模-單模光纖錐頭;在多模光纖錐頭的纖芯中,部分LPOm模會與光纖包層中的高階模在錐形區(qū)開始的位置發(fā)生耦合,產(chǎn)生多模干涉并在金膜處發(fā)生反射;反射回來的光通過光纖傳輸?shù)江h(huán)形器中,并從光纖中傳輸?shù)焦庾V分析儀中;由于從光纖輸出到光譜分析儀中的光的有效折射率會隨著外部介質(zhì)的折射率變化,而有效折射率與光的波長有關(guān),從而可以從光譜儀中得到相應的波長信息中得到外部介質(zhì)的折射率。
[0016]本發(fā)明的原理:本發(fā)明通過利用單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)中的錐形過渡區(qū)和錐頭區(qū)導模(即多模干涉)的有效折射率均受外部介質(zhì)折射率影響的特性,來實現(xiàn)對外部介質(zhì)折射率的測量。超連續(xù)寬帶(SC)光源發(fā)出的波長在450nm — 1800nm的光通過光纖進入環(huán)形器后,經(jīng)光纖到達單模-多模-單模光纖錐頭;在帶有周期性光柵結(jié)構(gòu)的多模光纖錐頭的纖芯中,部分LPOm模會與光纖包層中的高階模在錐形區(qū)開始的位置發(fā)生耦合,產(chǎn)生多模干涉并在周期性光柵結(jié)構(gòu)和金膜處發(fā)生反射;反射回來的光通過光纖傳輸?shù)江h(huán)形器中,并從光纖中傳輸?shù)焦庾V分析儀中;由于從光纖輸出到光譜分析儀中的光的有效折射率會隨著外部介質(zhì)的折射率變化,而有效折射率與光的波長有關(guān),從而可以從光譜儀中得到相應的波長信息里得到外部介質(zhì)的折射率。
[0017]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點在于:
[0018](1)、本發(fā)明利用在多模光纖錐頭的端面鍍上金膜,可以使得整個光纖折射率傳感器的尺寸縮小,具有較高空間分辨率且可插入窄孔;
[0019](2)、本發(fā)明利用聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)把多模光纖錐頭的尖端切平,可以提高器件的反射率;
[0020](3)、本發(fā)明利用聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)把多模光纖錐頭刻蝕成周期性光柵結(jié)構(gòu),可以提尚器件的反射率;
[0021](4)、本發(fā)明利用錐頭多模光纖的芯中LPOm模與光纖包層中的高階模在錐形區(qū)開始的位置發(fā)生耦合產(chǎn)生多模干涉,測量靈敏度較高。
【附圖說明】
[0022]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)圖;
[0023]圖2為本發(fā)明的單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的結(jié)構(gòu)圖。
[0024]附圖標記列示如下:1-超連續(xù)寬帶光源,2-環(huán)形器,3-單模-多模-單模光纖錐頭,4-光譜分析儀,5-單模光纖,6-多模光纖錐頭,7-金膜,8-包層,9-光纖,10-光纖,
11-光纖,12-周期性光柵結(jié)構(gòu)。
【具體實施方式】
[0025]下面結(jié)合附圖以及【具體實施方式】進一步說明本發(fā)明。
[0026]如圖1所示,一種基于單模-多模-單模光纖錐頭(SMST)的小型光纖折射率傳感器,包括超連續(xù)寬帶光源1,環(huán)形器2,單模-多模-單模光纖錐頭3,光譜分析儀4。
[0027]所述的SMS樣品是由一段42mm長,數(shù)值孔徑為0.22,纖芯半徑為105 μ m的階躍型折射率多模光纖制成。
[0028]所述的單模-多模-單模光纖