所述待測地層的測井縱波速度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為所述待測地層的 井密度數(shù)據(jù)。具體地，若所述巖性特征為砂泥巖類、碳酸鹽巖類或石膏層類時，可以按照下 述公式將所述待測地層的測井縱波速度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為所述待測地層的井密度數(shù)據(jù)：
[0037] ：0-- 0, 31Ff's
[0038] 若所述巖性特征為鹽巖類、含鹽巖砂泥類或者含膏砂泥巖類時，按照下述公式將 所述待測地層的測井縱波速度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為所述待測地層的井密度數(shù)據(jù)：
[0039] σ= 1. 43+0. 29(Vp-3300)018
[0040] 其中，σ表示所述待測地層的井密度數(shù)據(jù)，Vp表示所述待測地層的測井縱波速度 數(shù)據(jù)。
[0041] 這樣，本申請實施例便可以根據(jù)待測地層中各個地層所屬的巖性特征而采用不同 的規(guī)則進行井密度數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換，從而能夠更加準確地反映地層的密度分布，為后續(xù)處理流 程保證了精度。
[0042] S3:對所述待測地層的大地電磁數(shù)據(jù)進行反演，得到所述待測地層對應的電阻率 斷面數(shù)據(jù)。
[0043] 所述對待測地層的大地電磁數(shù)據(jù)進行反演，是指在地面上觀測具有區(qū)域性乃至全 球性分布特征的天然交變電磁場來研究待測地層的電學性質(zhì)及其分布特征。所述大地電磁 數(shù)據(jù)可以分為天電數(shù)據(jù)（雷電干擾數(shù)據(jù)）、磁暴數(shù)據(jù)以及地磁脈動數(shù)據(jù)。其中，所述天電數(shù) 據(jù)可以表征大氣圈中的放電現(xiàn)象所引起的電磁干擾；所述磁暴數(shù)據(jù)可以表征磁場強度的變 化，其水平分量變化很大，往往呈現(xiàn)出極不規(guī)則的形狀；所述地磁脈動數(shù)據(jù)可以表征一種具 有似周期振動的特殊的短周期振動，其往往作為大地電磁測探中最重要的場源。對待測地 層的大地電磁數(shù)據(jù)進行反演后，可以得到所述待測地層對應的電阻率斷面數(shù)據(jù)。所述電阻 率斷面數(shù)據(jù)中記載了所述待測地層中不同地層位置處的電阻率值，所述電阻率斷面數(shù)據(jù)即 可以反映待測地層的電學性質(zhì)及其分布特征。
[0044] 在本申請實施例中，可以按照二維連續(xù)介質(zhì)反演法或者三維電阻率反演法對待測 地層的大地電磁數(shù)據(jù)進行處理，得到所述待測地層對應的電阻率斷面數(shù)據(jù)。具體地，所述二 維連續(xù)介質(zhì)反演法可以將待測地層視為連續(xù)導電介質(zhì)進行分析。首先可以將待測地層沿鉛 垂方向離散成Μ層，最后一層為半空間，各層的厚度固定并假定其沿鉛垂方向電阻率不變。 對于每一層而言，其水平方向的電阻率分布可以視為有限連續(xù)函數(shù)。通過對該有限連續(xù)函 數(shù)進行求解，便可以得到每一層電阻率分布，從而可以獲取所述待測地層的電阻率斷面數(shù) 據(jù)。
[0045] 所述三維電阻率反演法可以包括Born近似反演法、電阻率層析成像法、 Tarantola反演法或者共輒梯度法中的至少一種。所述三維電阻率反演法可以借助于 E-SCAN的觀測數(shù)據(jù)，建立與電阻率相關(guān)的線性或者非線性方程，然后通過傅里葉變換或者 矩陣迭代的方法進行求解，從而可以得到待測地層對應的電阻率斷面數(shù)據(jù)。
[0046] 上述的二維連續(xù)介質(zhì)反演法以及三位電阻率反演法在本領(lǐng)域中均為成熟的技術(shù)， 這里便不再贅述。
[0047] S4 :根據(jù)所述電阻率斷面數(shù)據(jù)確定所述待測地層的地質(zhì)構(gòu)造；
[0048] S5 :根據(jù)確定的所述地質(zhì)構(gòu)造對所述待測地層進行剖面重力異常反演，得到所述 待測地層的仿真井密度數(shù)據(jù)。
[0049] 考慮到構(gòu)造復雜的區(qū)域中地層界面也往往十分復雜，若不對其進行分析，則無法 保證后續(xù)處理步驟的精度。因此，在本申請實施例中可以對所述電阻率斷面數(shù)據(jù)進行分析， 確定所述待測地層的地質(zhì)構(gòu)造。所述地質(zhì)構(gòu)造可以包括巖性特征和地層界面，其中巖性特 征具體可以包括砂泥巖類、碳酸鹽巖類、石膏層類、鹽巖類、含鹽巖砂泥類或者含膏砂泥巖 類中的至少一種。需要說明的是，這里只是有限的列舉，在實際應用場景中的巖性特征可能 會包括更多，例如還可能包括礫石類，因此本申請實施例的巖性特征并不限定于上述列舉 的巖性特征。
[0050] 所述的根據(jù)確定的所述地質(zhì)構(gòu)造對所述待測地層進行剖面重力異常反演，指的是 求解第一類Fredholm非線性積分的問題。目前本領(lǐng)域?qū)τ谥苯忧蠼庠搯栴}往往采用擬合 法或者逐步線性化的方法來實現(xiàn)反演計算。在本申請實施例中，可以對所述待測地層進行 剖面重力異常反演，得到所述待測地層的初始密度數(shù)據(jù)。具體地，可以根據(jù)所述待測地層的 觀測面上重力異常的分布，在給定所述待測地層的邊界位置函數(shù)的條件下，確定出所述待 測地層的初始密度數(shù)據(jù)。在實際應用中，可以采用本領(lǐng)域熟知的解析反演方法或者積分反 演方法對實測的重力異常進行反演，從而可以得到所述待測地層的初始密度數(shù)據(jù)。
[0051] 通過本領(lǐng)域上述的解析反演方法或者積分反演方法得到的初始密度數(shù)據(jù)在簡單 構(gòu)造的地層往往比較適用，精度也往往較高，但是對于復雜構(gòu)造的地層而言則不太適用，精 度也往往較低。鑒于此，本申請實施例在得到所述待測地層的初始密度數(shù)據(jù)后，需要對其進 行校正，從而可以得到校正后的所述待測地層的密度數(shù)據(jù)。具體地，在本申請實施例中校正 的過程可以通過下述子步驟來實現(xiàn)：
[0052] S51 :當所述待測地層的第一預設(shè)位置處的巖性特征為礫石類，并且所述第一預設(shè) 位置處的電阻率滿足第一預設(shè)條件，則將所述第一預設(shè)位置處的初始密度數(shù)據(jù)提高至第一 預設(shè)密度值。
[0053] 在本申請實施例中，可以根據(jù)確定的所述巖性特征以及所述電阻率斷面數(shù)據(jù)，在 所述待測地層的各個位置處對所述初始密度數(shù)據(jù)進行校正。具體地，所述的第一預設(shè)位置 處可以指所述待測地層中的某一劃定的地層界面，根據(jù)確定的所述巖性特征可以判斷出該 劃定的地層界面屬于礫石層沉積的層位。另外，根據(jù)所述電阻率斷面數(shù)據(jù)，可以判斷該劃定 的地層界面處的電阻率是否滿足第一預設(shè)條件。所述第一預設(shè)條件可以為該劃定的地層界 面處的電阻率高于該劃定的地層界面周圍地層的電阻率。當滿足所述第一預設(shè)條件時，便 可以認為該劃定的地層界面屬于高電阻率礫石類區(qū)域。
[0054] 具體地，在實際應用場景中，可以以所述第一預設(shè)位置為中心，選定其周圍預設(shè)范 圍內(nèi)的地層，并計算該預設(shè)范圍內(nèi)地層的電阻率的平均值。當所述第一預設(shè)位置處的電阻 率大于所述電阻率的平均值時，便可以判定所述第一預設(shè)位置屬于高電阻率區(qū)域。結(jié)合根 據(jù)所述巖性特征的判斷結(jié)果，從而可以判定所述第一預設(shè)位置屬于高電阻率礫石類區(qū)域。
[0055] 對于高電阻率礫石類區(qū)域，確定出的初始密度數(shù)據(jù)往往會低于實際的密度值，因 此需要對高電阻率礫石類區(qū)域的初始密度數(shù)據(jù)進行校正。具體地，可以將所述第一預設(shè)位 置處的初始密度數(shù)據(jù)提高至第一預設(shè)密度值。在實際應用場景中，將所述第一預設(shè)位置處 的初始密度數(shù)據(jù)提高至第一預設(shè)密度值可以通過逐步疊加的方法來實現(xiàn)。具體地，首先可 以確定一個密度步長，該密度步長可以是每次疊加的密度增值。然后可以在所述初始密度 數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上依次疊加該密度步長，每次疊加后，可以對疊加后的密度數(shù)據(jù)進行重力異常 正演，得到與疊加后的密度數(shù)據(jù)相對應的重力異常值。接著可以將該重力異常值與所述第 一預設(shè)位置處的實測重力異常值進行比對，若該重力異常值與實測的重力異常值之間的差 距不滿足預設(shè)的精度，則繼續(xù)在初始密度數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上疊加所述密度步長，直至滿足預設(shè) 的精度為止。當滿足預設(shè)的精度后，相對應的所述第一預設(shè)位置處的密度數(shù)據(jù)即可以為所 述第一預設(shè)密度值。然后便可以將所述第一預設(shè)密度值確定為所述第一預設(shè)位置處的仿真 井密度數(shù)據(jù)。
[0056] 另外，本申請實施例中校正的過程還可以包括下述子步驟：
[0057] S52:當所述待測地層的第二預設(shè)位置處的巖性特征為鹽巖類或者含鹽泥巖類，并 且所述第二預設(shè)位置處的電阻率滿足第二預設(shè)條件，則將所述第二