基于擴(kuò)展彈性阻抗的地質(zhì)儲(chǔ)層檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明總體來說涉及油氣田勘探技術(shù)領(lǐng)域，屬于地震資料解釋范疇，更具體地講， 涉及一種基于擴(kuò)展彈性阻抗的地質(zhì)儲(chǔ)層檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 地球物理勘探利用常規(guī)的縱波疊后偏移地震資料處理中損失的信息來解決構(gòu)造 油氣藏問題不大，但是要解決巖性復(fù)雜的油氣藏就顯得力不從心。隨著疊前偏移技術(shù)的發(fā) 展，疊前道集中蘊(yùn)藏的不同方位角、入射角地震信息可用來解決裂縫、巖性和流體識(shí)別技術(shù) 問題。
[0003] 彈性阻抗是聲阻抗的概念延伸和推廣，它建立在非零偏移距的基礎(chǔ)上，是縱波速 度、橫波速度、密度以及入射角的函數(shù)。彈性波阻抗反演屬于疊前反演技術(shù)，它包含了豐富 的巖性以及流體信息，但是由于AVO效應(yīng)的影響，常規(guī)彈性阻抗值隨入射角發(fā)生劇烈變化 (即，彈性阻抗值隨入射角的增大而急劇減小），可能會(huì)掩蓋遠(yuǎn)、近角彈性阻抗值分析的某 些信息（例如，包含流體或巖性變化差異的信息）。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明的目的是提出一種基于擴(kuò)展彈性阻抗的地質(zhì)儲(chǔ)層檢測(cè)方法，以解決彈性阻 抗值隨入射角的增大而急劇減小，無法有效識(shí)別地下地質(zhì)儲(chǔ)層的巖性和流體性質(zhì)的技術(shù)問 題。
[0005] 本發(fā)明的一方面提供一種基于擴(kuò)展彈性阻抗的地質(zhì)儲(chǔ)層檢測(cè)方法，所述方法包 括：(a)獲取目的層段的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，在所述目的層段中選取多個(gè)采樣點(diǎn)，并從所述測(cè)井?dāng)?shù)據(jù) 中提取與所述多個(gè)采樣點(diǎn)中的每個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的縱波速度、橫波速度和密度；(b)選取多 個(gè)實(shí)際入射角，并根據(jù)提取的縱波速度、橫波速度和密度，來計(jì)算所述多個(gè)實(shí)際入射角中的 每個(gè)實(shí)際入射角在所述每個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)；（c)選取多個(gè)理論入射角，并根據(jù)提取 的縱波速度、橫波速度和密度，來計(jì)算所述多個(gè)理論入射角中的每個(gè)理論入射角在所述每 個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)；（d)根據(jù)所述多個(gè)理論入射角的反射系數(shù)和所述多個(gè)實(shí)際入射角 的反射系數(shù)，分別確定與所述多個(gè)實(shí)際入射角中的每個(gè)實(shí)際入射角對(duì)應(yīng)的等效理論入射 角；（e)利用基于所述等效理論入射角的擴(kuò)展彈性阻抗來進(jìn)行巖性和流體檢測(cè)，以識(shí)別地 下地質(zhì)儲(chǔ)層的狀態(tài)。
[0006] 可選地，在步驟（b)中，選取多個(gè)實(shí)際入射角的步驟可包括：獲取實(shí)際入射角的初 始值，并將獲取的實(shí)際入射角的初始值作為最大實(shí)際入射角，在零度至最大實(shí)際入射角的 范圍之內(nèi)以第一增量步長(zhǎng)為間隔，選取所述多個(gè)實(shí)際入射角。
[0007] 可選地，在步驟（C)中，選取所述多個(gè)理論入射角的步驟可包括：在預(yù)定角度范圍 內(nèi)以第二增量步長(zhǎng)為間隔，選取所述多個(gè)理論入射角。
[0008] 可選地，第二增量步長(zhǎng)的數(shù)值可小于第一增量步長(zhǎng)的數(shù)值。
[0009] 可選地，在步驟（C)中，根據(jù)提取的縱波速度、橫波速度和密度，來計(jì)算所述多個(gè) 理論入射角中的每個(gè)理論入射角在所述每個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)的步驟可包括：（Cl)根 據(jù)提取的縱波速度、橫波速度和密度，計(jì)算所述多個(gè)理論入射角中的所述每個(gè)理論入射角 在所述每個(gè)采樣點(diǎn)處的擴(kuò)展彈性阻抗；(C2)根據(jù)所述每個(gè)理論入射角在所述每個(gè)采樣點(diǎn) 處的擴(kuò)展彈性阻抗，來計(jì)算所述每個(gè)理論入射角在所述每個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)。
[0010] 可選地，在步驟（Cl)中，可利用下面的公式的來計(jì)算所述每個(gè)理論入射角在所述 每個(gè)采樣點(diǎn)處的擴(kuò)展彈性阻抗，
[0012] 其中，
[0013] Pj= cos X j+sin X j
[0014] qj= _8Ksin x j
[0015] rj= cos x j-4Ksin x s
[0016] 其中，EEIk ( x ,)為所述多個(gè)理論入射角中的第j個(gè)理論入射角x ,在所述多個(gè)采 樣點(diǎn)中的第k個(gè)采樣點(diǎn)處的擴(kuò)展彈性阻抗，I < j <M，M為選取的理論入射角的總個(gè)數(shù)， I < k < N，N為選取的采樣點(diǎn)的總個(gè)數(shù)，a k為與第k個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的縱波速度，β k為與第 k個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的橫波速度，Pk為與第k個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的密度，α。為所述目的層段中的縱 波速度的初始值，為所述目的層段中的橫波速度的初始值，P ^為所述目的層段中的密 度的初始值，K為縱橫波速度比的平均值，K= [(0k+1/ak+1)2+(0k/a k)2]/2，ak+1為與第 k+1個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的縱波速度，β k+1為與第k+1個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的橫波速度。
[0017] 可選地，在步驟（c2)中，可利用下面的公式的來計(jì)算所述每個(gè)理論入射角在所述 每個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)，
[0019] 其中，Rk ( X ,)為所述多個(gè)理論入射角中的第j個(gè)理論入射角X ,在所述多個(gè)采樣 點(diǎn)中的第k個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)，I < j <M，M為選取的理論入射角的總個(gè)數(shù)，I < N， N為選取的采樣點(diǎn)的總個(gè)數(shù)，EEIk+1( X ,)為所述多個(gè)理論入射角中的第j個(gè)理論入射角X , 在第k+Ι個(gè)采樣點(diǎn)處的擴(kuò)展彈性阻抗，EEIk ( X ,)為所述多個(gè)理論入射角中的第j個(gè)理論入 射角 '在第k個(gè)采樣點(diǎn)處的擴(kuò)展彈性阻抗。
[0020] 可選地，在步驟（b)中，根據(jù)提取的縱波速度、橫波速度和密度，來計(jì)算所述多個(gè) 實(shí)際入射角中的每個(gè)實(shí)際入射角在所述每個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)的步驟可包括：(bl)根 據(jù)提取的縱波速度、橫波速度和密度，計(jì)算所述多個(gè)實(shí)際入射角中的每個(gè)實(shí)際入射角在所 述每個(gè)采樣點(diǎn)處的彈性阻抗；(b2)根據(jù)所述每個(gè)實(shí)際入射角在所述每個(gè)采樣點(diǎn)處的彈性 阻抗，來計(jì)算所述每個(gè)實(shí)際入射角在所述每個(gè)采樣點(diǎn)處的反射系數(shù)。
[0021] 可選地，在步驟（d)中，根據(jù)所述多個(gè)理論入射角的反射系數(shù)和所述多個(gè)實(shí)際入 射角的反射系數(shù)，分別確定與所述多個(gè)實(shí)際入射角中的每個(gè)實(shí)際入射角對(duì)應(yīng)的等效理論入 射角的步驟可包括：（dl)針對(duì)所述多個(gè)實(shí)際入射角中的任一實(shí)際入射角，分別計(jì)算所述任 一實(shí)際入射角的反射系數(shù)與所述多個(gè)理論入射角中的每個(gè)理論入射角的反射系數(shù)的相關(guān) 系數(shù)；(d2)確定所述相關(guān)系數(shù)中的最大值，并將所述相關(guān)系數(shù)中的最大值所對(duì)應(yīng)的理論入 射角作為所述任一實(shí)際入射角對(duì)應(yīng)的等效理論入射角。
[0022] 可選地，在步驟（dl)中，可利用下面的公式的來計(jì)算所述任一實(shí)際入射角的反射 系數(shù)與所述多個(gè)理論入射角中的每個(gè)理論入射角的反射系數(shù)的相關(guān)系數(shù)，
[0024] 其中，Corr[R( Θ丄R( X )]為所述多個(gè)實(shí)際入射角中的第i個(gè)實(shí)際入射角Θ ^勺 反射系數(shù)R(S1)與所述多個(gè)理論入射角中的第j個(gè)理論入射角X,的反射系數(shù)R(x ,)的 相關(guān)系數(shù)，I < i < η，η為選取的實(shí)際入射角的總個(gè)數(shù)，I < j < M，M為選取的理論入射角 的總個(gè)數(shù)，I < k < N，N為選取的采樣點(diǎn)的總個(gè)數(shù)。
[0025] 采用本發(fā)明示例性實(shí)施例的上述基于擴(kuò)展彈性阻抗的地質(zhì)儲(chǔ)層檢測(cè)方法，可準(zhǔn)確 地預(yù)測(cè)地下地質(zhì)儲(chǔ)層的巖性和流體性質(zhì)，以真實(shí)反映地下地質(zhì)儲(chǔ)層的真實(shí)狀態(tài)，有效降低 地質(zhì)勘探風(fēng)險(xiǎn)，提尚鉆探成功率。
【附圖說明】
[0026] 通過下面結(jié)合附圖進(jìn)行的詳細(xì)描述，本發(fā)明的上述和其它目的、特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)將會(huì) 變得更加清楚，其中：
[0027] 圖1示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的基于擴(kuò)展彈性阻抗的地質(zhì)儲(chǔ)層檢測(cè)方法的 流程圖；
[0028] 圖2示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的計(jì)算每個(gè)實(shí)際入射角在每個(gè)采樣點(diǎn)處的反 射系數(shù)的步驟的流程圖；
[0029] 圖3示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的計(jì)算每個(gè)理論入射角在每個(gè)采樣點(diǎn)處的反 射系數(shù)的步驟的流程圖；
[0030] 圖4示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的確定與每個(gè)實(shí)際入射角對(duì)應(yīng)的等效理論入 射角的步驟的流程圖；
[0031] 圖5示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的彈性阻抗與擴(kuò)展彈性阻抗分別隨入射角變 化的關(guān)系圖；
[0032] 圖6示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的實(shí)際入射角與理論入射角的等效換算圖。
【具體實(shí)施方式】
[0033] 下面，將參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的示例性實(shí)施例。
[0034] 提供參照附圖的以下描述以幫助對(duì)由權(quán)利要求及其等同物限定的本發(fā)明的示例 性實(shí)施例的全面理解。包括各種特定細(xì)節(jié)以幫助理解，但這些細(xì)節(jié)僅被視為是示例性的。因 此，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到在不脫離本發(fā)明的范圍和精神的情況下，可對(duì)描述于 此的示例性實(shí)施例進(jìn)行各種改變和修改。此外，為了清楚和簡(jiǎn)潔，省略對(duì)公知的功能和結(jié)構(gòu) 的描述。
[0035] 圖1示出根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的基于擴(kuò)展彈性阻抗的地質(zhì)儲(chǔ)層檢測(cè)方法的 流程圖。
[0036] 在步驟Sl