一種工件與治具之間的電測(cè)對(duì)位方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種印制線路板電性測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地說涉及一種工件與治具之間的電測(cè)對(duì)位方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前普通PCB線路板在測(cè)試時(shí)為了降低測(cè)試成本并提高測(cè)試效率，通常會(huì)使用專用型測(cè)試機(jī)來進(jìn)行電測(cè)。此測(cè)試機(jī)的測(cè)試原理是先根據(jù)PCB線路板的設(shè)計(jì)資料制作出測(cè)試治具，根據(jù)PCB線路板的焊盤位置在治具上分布多個(gè)測(cè)試探針，此探針是與PCB線路板的焊盤一一對(duì)應(yīng)的，即測(cè)試時(shí)將工件(被測(cè)PCB線路板)固定在治具上，治具的每根測(cè)試探針接觸PCB線路板上對(duì)應(yīng)的那個(gè)焊盤，測(cè)試機(jī)通過施加定電流或定電壓或高頻和信號(hào)來對(duì)工件的電氣性能進(jìn)行測(cè)試。
[0003]現(xiàn)有的工件在治具上的定位方式是在PCB線路板上鉆出一些的定位孔，并在制作治具時(shí)根據(jù)這些孔的位置也增加對(duì)應(yīng)的定位孔，利用機(jī)械PIN、光學(xué)定位再輔以透明材料(藍(lán)膠)結(jié)合人工目視等手段，從而實(shí)現(xiàn)工件與治具的定位。但是，在PCB線路板上鉆制定位孔時(shí)，由于受限于目前鉆孔的制作能力，精度無法做得很高，因此光學(xué)定位時(shí)會(huì)存在偏移。還有，若被測(cè)PCB線路板存在變形等問題時(shí)，僅利用工件與治具上的定位孔進(jìn)行光學(xué)定位時(shí)也會(huì)存在偏移。人工目視藍(lán)膠的方式對(duì)操作人員技能要求很高，調(diào)試時(shí)間較長(zhǎng)。所以，現(xiàn)有技術(shù)中經(jīng)常會(huì)因?yàn)楣ぜc治具對(duì)位偏移造成測(cè)試機(jī)測(cè)試不到焊盤與調(diào)試時(shí)間過長(zhǎng)的情況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為此，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于克服現(xiàn)有技術(shù)中工件與治具對(duì)位不準(zhǔn)確、精度低、對(duì)操作人員技術(shù)要求高、調(diào)試時(shí)間過長(zhǎng)的問題，從而提出一種高精度的工件與治具之間的電測(cè)對(duì)位方法及系統(tǒng)。
[0005]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測(cè)對(duì)位方法，包括以下步驟:
[0006]對(duì)電測(cè)合格工件與所述治具進(jìn)行初始對(duì)準(zhǔn)；
[0007]獲取所述治具的初始位置；
[0008]移動(dòng)所述治具；
[0009]對(duì)所述電測(cè)合格工件進(jìn)行電測(cè)；
[0010]獲取電測(cè)合格的位置；
[0011]計(jì)算所述電測(cè)合格的位置與所述初始位置之間的偏移量；
[0012]當(dāng)對(duì)被測(cè)工件進(jìn)行電測(cè)時(shí)，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處。
[0013]優(yōu)選地，所述獲取電測(cè)合格的位置的步驟包括:
[0014]當(dāng)電測(cè)合格時(shí)，將當(dāng)前位置作為電測(cè)合格位置；當(dāng)電測(cè)不合格時(shí)，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進(jìn)行電測(cè)，直至電測(cè)合格；或者
[0015]對(duì)所有位置進(jìn)行電測(cè)以獲得所有電測(cè)合格位置，選取與所述初始位置之間的偏移量最小的電測(cè)合格位置。
[0016]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測(cè)對(duì)位方法，包括以下步驟:
[0017]對(duì)電測(cè)合格工件與所述治具進(jìn)行初始對(duì)準(zhǔn)；
[0018]獲取所述治具的初始位置；
[0019]移動(dòng)所述治具；
[0020]對(duì)所述電測(cè)合格工件進(jìn)行電測(cè)；
[0021]獲取電測(cè)的多個(gè)連續(xù)合格位置，在多個(gè)連續(xù)合格位置中選出電測(cè)合格位置，所述多個(gè)連續(xù)合格位置指的是按照移動(dòng)順序連續(xù)多個(gè)移動(dòng)位置處進(jìn)行電測(cè)均合格的位置；
[0022]計(jì)算所述電測(cè)合格位置與所述初始位置之間的偏移量；
[0023]當(dāng)對(duì)被測(cè)工件進(jìn)行電測(cè)時(shí)，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處。
[0024]優(yōu)選地，所述獲取電測(cè)的多個(gè)連續(xù)合格位置，在多個(gè)連續(xù)合格位置中選出電測(cè)合格位置的步驟包括:
[0025]當(dāng)電測(cè)合格時(shí)，記錄當(dāng)前合格位置；當(dāng)電測(cè)不合格時(shí)，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進(jìn)行電測(cè)，直至電測(cè)合格，記錄當(dāng)前合格位置；繼續(xù)將所述治具移至下一位置，并每移至一處進(jìn)行電測(cè)，直至記錄到多個(gè)連續(xù)合格位置；選取多個(gè)連續(xù)合格位置的中間位置作為電測(cè)合格位置；或者
[0026]對(duì)所有位置進(jìn)行電測(cè)以獲得所有位置處的電測(cè)結(jié)果，選取出多個(gè)電測(cè)結(jié)果中不良數(shù)并列最少的位置中的中間位置作為電測(cè)合格位置。
[0027]優(yōu)選地，所述治具的位置用治具上任意一個(gè)探針針尖在平面直角坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(x，Y)來表示，所述平面直角坐標(biāo)系定義為以治具上任意一個(gè)探針針尖為坐標(biāo)原點(diǎn)、面向治具時(shí)水平向右方向?yàn)閄軸正向和與X軸垂直向上方向?yàn)棣摧S正向；并且
[0028]所述治具的每?jī)蓚€(gè)連續(xù)的移動(dòng)位置之間的間隔用1和θ I來表示，其中乂工表不沿X軸的間隔量，乂工的符號(hào)為正表不正向間隔量，X工的符號(hào)為負(fù)表不負(fù)向間隔量；Υ工表不沿Υ軸的間隔量，符號(hào)為正表不正向間隔量，Υ工的符號(hào)為負(fù)表不負(fù)向間隔量；θ工表不圍繞所述治具的位置旋轉(zhuǎn)的角度，符號(hào)為正表示逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，Θ工的符號(hào)為負(fù)表示順時(shí)針旋轉(zhuǎn)。
[0029]優(yōu)選地，所述治具的每次移動(dòng)中Χρ Υ#Ρ θ I的取值均不變；和/或
[0030]所述治具的每次移動(dòng)中\(zhòng)、1和θ I的取值只有一個(gè)不為零，其他兩個(gè)均為零。
[0031]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測(cè)對(duì)位系統(tǒng)，包括治具和控制器；
[0032]所述控制器用于對(duì)電測(cè)合格工件與所述治具進(jìn)行初始對(duì)準(zhǔn)；獲取所述治具的初始位置；移動(dòng)所述治具；對(duì)所述電測(cè)合格工件進(jìn)行電測(cè)；獲取電測(cè)合格的位置；計(jì)算所述電測(cè)合格的位置與所述初始位置之間的偏移量；當(dāng)對(duì)被測(cè)工件進(jìn)行電測(cè)時(shí)，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處；
[0033]所述治具用于在所述控制器的控制下進(jìn)行移動(dòng)。
[0034]優(yōu)選地，所述獲取電測(cè)合格的位置的步驟包括:
[0035]當(dāng)電測(cè)合格時(shí)，將當(dāng)前位置作為電測(cè)合格位置；當(dāng)電測(cè)不合格時(shí)，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進(jìn)行電測(cè)，直至電測(cè)合格；或者
[0036]對(duì)所有位置進(jìn)行電測(cè)以獲得所有電測(cè)合格位置，選取與所述初始位置之間的偏移量最小的電測(cè)合格位置。
[0037]本發(fā)明的一種工件與治具之間的電測(cè)對(duì)位系統(tǒng)，包括治具和控制器；
[0038]所述控制器用于對(duì)電測(cè)合格工件與所述治具進(jìn)行初始對(duì)準(zhǔn)；獲取所述治具的初始位置；移動(dòng)所述治具；對(duì)所述電測(cè)合格工件進(jìn)行電測(cè)；獲取電測(cè)的多個(gè)連續(xù)合格位置，在多個(gè)連續(xù)合格位置中選出電測(cè)合格位置，所述多個(gè)連續(xù)合格位置指的是按照移動(dòng)順序連續(xù)多個(gè)移動(dòng)位置處進(jìn)行電測(cè)均合格的位置；計(jì)算所述電測(cè)合格位置與所述初始位置之間的偏移量；當(dāng)對(duì)被測(cè)工件進(jìn)行電測(cè)時(shí)，控制所述治具移至與所述初始位置相距所述偏移量的位置處；
[0039]所述治具用于在所述控制器的控制下進(jìn)行移動(dòng)。
[0040]優(yōu)選地，所述獲取電測(cè)的多個(gè)連續(xù)合格位置，在多個(gè)連續(xù)合格位置中選出電測(cè)合格位置的步驟包括:
[0041]當(dāng)電測(cè)合格時(shí)，記錄當(dāng)前合格位置；當(dāng)電測(cè)不合格時(shí)，將所述治具移至下一位置，并每移至一處進(jìn)行電測(cè)，直至電測(cè)合格，記錄當(dāng)前合格位置；繼續(xù)將所述治具移至下一位置，并每移至一處進(jìn)行電測(cè)，直至記錄到多個(gè)連續(xù)合格位置；選取多個(gè)連續(xù)合格位置的中間位置作為電測(cè)合格位置；或者
[0042]對(duì)所有位置進(jìn)行電測(cè)以獲得所有位置處的電測(cè)結(jié)果，選取出多個(gè)電測(cè)結(jié)果中不良數(shù)并列最少的位置中的中間位置作為電測(cè)合格位置。
[0043]本發(fā)明的上述技術(shù)方案相比現(xiàn)有技術(shù)具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0044]本發(fā)明中通過對(duì)電測(cè)合格工件與治具進(jìn)行初始對(duì)準(zhǔn)后，控制治具進(jìn)行移動(dòng)，并通過獲取電測(cè)合格的位置，并計(jì)算電測(cè)合格的位置與初始位置之間的偏移量，即為被測(cè)工件在初始對(duì)準(zhǔn)后還需移動(dòng)的偏移量，通過控制被測(cè)工件在初始對(duì)準(zhǔn)后再移動(dòng)該偏移量，可實(shí)現(xiàn)被測(cè)工件與治具之間的精確對(duì)準(zhǔn)，修正偏移，提高工件與治具之間的對(duì)準(zhǔn)精度，從而可以解決因工件變形等一些原因造成的光學(xué)對(duì)位不精確而使得對(duì)工件的電測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
[0045]本發(fā)明中通過在每移至一處時(shí)進(jìn)