設(shè)備或 用戶接口。顯示器可以輸出視覺、音頻和/或觸覺數(shù)據(jù)。顯示器的范例包括但不限于：計(jì)算 機(jī)監(jiān)視器、電視屏幕、觸摸屏、觸覺電子顯示器、盲文屏幕、陰極射線管（CRT)、存儲(chǔ)管、雙穩(wěn) 態(tài)顯示器、電子紙、矢量顯示器、平板顯示器、真空熒光顯示器（VF)、發(fā)光二極管（LED)顯示 器、電致發(fā)光顯示器（ELD)、等離子體顯示板（PDP)、液晶顯示器（LCD)、有機(jī)發(fā)光二極管顯 示器（0LED)、投影儀和頭戴式顯示器。
[0020] 磁共振（MR)數(shù)據(jù)在本文中被定義為在磁共振成像掃描期間由磁共振裝置的天線 所記錄的由原子自旋發(fā)射的射頻信號(hào)的測(cè)量結(jié)果。磁共振數(shù)據(jù)是醫(yī)學(xué)圖像數(shù)據(jù)的范例。磁 共振成像（MRI)圖像在本文中被定義為被包含磁共振成像數(shù)據(jù)內(nèi)的解剖數(shù)據(jù)的經(jīng)重建的 二維或三維可視化。能夠使用計(jì)算機(jī)來執(zhí)行該可視化。
[0021] 在一個(gè)方面中，本發(fā)明提供了一種用于生成包括像素的經(jīng)校正的磁共振圖像的醫(yī) 學(xué)裝置。所述像素也可以備選地被稱為體素。所述醫(yī)學(xué)裝置包括用于存儲(chǔ)機(jī)器可執(zhí)行指令 的存儲(chǔ)器。所述醫(yī)學(xué)裝置還包括用于運(yùn)行所述機(jī)器可執(zhí)行指令的處理器。對(duì)所述機(jī)器可執(zhí) 行指令的運(yùn)行令所述處理器接收一組N幅磁共振圖像。N是大于或等于1的正整數(shù)。備選 地，N可以是大于或等于2的正整數(shù)。所述一組N幅磁共振圖像中的每幅對(duì)應(yīng)于磁共振成 像線圈的N個(gè)線圈元件中的一個(gè)。所述磁共振成像線圈可以是表面線圈。所述磁共振成像 線圈可以是多元件磁共振成像線圈。N幅圖像中的每幅然后對(duì)應(yīng)于所述N個(gè)線圈元件中的 一個(gè)。換言之，N幅磁共振圖像中的每幅均是從所述N個(gè)線圈元件中的一個(gè)采集的。所述 一組N幅磁共振圖像中的每幅包括與所述經(jīng)校正的磁共振圖像相同數(shù)量的像素。
[0022] 對(duì)所述機(jī)器可執(zhí)行指令的運(yùn)行還令所述處理器接收針對(duì)所述N個(gè)線圈元件中的 每個(gè)的一組線圈敏感度。所述線圈敏感度可以是復(fù)值或者它們也可以為幅度，在這種情況 中，所述幅度將為正實(shí)值的值。在該特定步驟中，線圈敏感度為已知的先驗(yàn)知識(shí)。它們可以 是先前已經(jīng)被測(cè)量的。例如，所述線圈元件中的一個(gè)可以被選擇為針對(duì)其他線圈元件的參 考，或者不同的磁共振成像線圈可以被用于采集基線測(cè)量結(jié)果。例如可以使用所謂的體線 圈。
[0023] 對(duì)所述機(jī)器可執(zhí)行指令的運(yùn)行還令所述處理器針對(duì)所述N個(gè)線圈元件中的每個(gè)， 確定針對(duì)所述像素中的每個(gè)的線圈敏感度校準(zhǔn)。通常當(dāng)采集線圈敏感度時(shí)，將利用體線圈 采集低分辨掃描，并且然后針對(duì)多元件成像線圈的線圈元件中的每個(gè)的相對(duì)低分辨圖像將 被采集。較晚采集的臨床圖像，諸如所述經(jīng)校正的磁共振圖像，可以具有比在對(duì)所述線圈敏 感度的確定期間使用的更精細(xì)的針對(duì)像素或體素分辨率。在該步驟中，線圈敏感度校準(zhǔn)涉 及對(duì)針對(duì)每個(gè)特定像素的所述線圈敏感度的確定。這可以涉及在以較低分辨率獲取的不同 線圈敏感度之間插值，或者將特定線圈敏感度分配到針對(duì)個(gè)體線圈元件的特定像素。例如， 在圖像中的一幅內(nèi)的像素能夠被劃分為不同區(qū)域，并且這些區(qū)域中的每個(gè)被分配特定的線 圈敏感度。
[0024] 對(duì)所述機(jī)器可執(zhí)行指令的運(yùn)行還令所述處理器通過將第一總和除以第二總和，來 計(jì)算針對(duì)所述像素中的每個(gè)像素的值，其中，所述第一總和包括所述一組N幅磁共振圖像 中的每幅中的所述像素的模值，所述第二總和包括在所述一組線圈敏感度中的每個(gè)中的針 對(duì)所述像素的所述線圈敏感度的模。所述第一總和和所述第二總和為實(shí)值的。該實(shí)施例可 以是有利的，因?yàn)樗龅谝豢偤秃退龅诙偤蜑閷?shí)值的。這意味著線圈敏感度或特定圖 像中的像素的值不需要為復(fù)值的。這提供了使根據(jù)一組N幅磁共振圖像構(gòu)建的磁共振圖像 均等的廣泛手段。這可以對(duì)降低使用具有多個(gè)元件的表面線圈采集的圖像的非均勻性有 用。亦即，在經(jīng)校正的圖像中，像素值針對(duì)由于所述線圈敏感度的空間變化的非均勻性而被 校正。
[0025] 在另一實(shí)施例中，所述第一總和是在所述一組線圈敏感度中的每個(gè)中的針對(duì)所述 像素的所述線圈敏感度的幅度乘以在所述一組N幅磁共振圖像中的每幅中的所述像素的 幅度的總和。所述第二總和是針對(duì)所述像素的所述線圈敏感度的幅度的平方的總和。該實(shí) 施例可以是有利的，因?yàn)槠涮峁┝水?dāng)使用具有局部相位校正的MRI成像技術(shù)時(shí)，降低當(dāng)使 用多個(gè)線圈元件時(shí)的非均勻性的方法。這是因?yàn)橛?jì)算不依賴于為復(fù)值的值。
[0026] 在另一實(shí)施例中，所述第一總和除以所述第二總和代數(shù)地等價(jià)于：
[0034] 在這些方程式中：i是索引變量，mi是在所述一組N幅磁共振圖像的第i個(gè)成員中 的所述像素的值，Si是所述一組線圈敏感度的第i個(gè)成員的針對(duì)像素的所述線圈敏感度校 準(zhǔn)，并且R是規(guī)則化參數(shù)。
[0035] 規(guī)則化參數(shù)R被用于降低針對(duì)與檢查區(qū)中具有僅弱的磁共振信號(hào)或沒有磁共振 信號(hào)的區(qū)域相關(guān)聯(lián)的像素的噪聲的效應(yīng)。規(guī)則化參數(shù)的值被選擇為使得其對(duì)總體值的效應(yīng) 僅針對(duì)這樣的像素是已知的：在所述像素中，因?yàn)閷?duì)象內(nèi)的核磁化分布或質(zhì)子密度而能夠 產(chǎn)生僅小的MR信號(hào)或者甚至沒有MR信號(hào)。例如，R的值可以被選擇為使得當(dāng)檢查所述經(jīng)校 正的磁共振圖像時(shí)，并不明顯存在被使用的R的值。然而，在對(duì)象的外部，在自由空間中可 以有被成像的區(qū)。規(guī)則化參數(shù)也可以被選擇為一小的數(shù)，以防止除以〇的錯(cuò)誤。規(guī)則化參 數(shù)也可以等價(jià)于如在美國(guó)專利US6500244中定義和使用的任一規(guī)則化參數(shù)。針對(duì) h參見US6500244第6欄第40至46行。針對(duì)r2參見US6500244第7欄第5至25行。
[0036] 在另一實(shí)施例中，所述第一總和是所述一組N幅磁共振圖像中的每幅中的所述像 素的值的幅度的平方的總和。所述第二總和是針對(duì)所述像素的復(fù)線圈敏感度的幅度的平方 的總和的平方根。
[0037] 在另一實(shí)施例中，所述第一總和除以所述第二總和備選地被寫為或代數(shù)地等價(jià) 于：
[00：
[00：
[00
[0041] 在這些方程式中：i是索引變量，mi是所述一組N幅磁共振圖像的第i個(gè)成員中的 所述像素的值，Si是所述一組線圈敏感度的第i個(gè)成員的針對(duì)像素的所述線圈敏感度，并且 R是規(guī)則化參數(shù)。規(guī)則化參數(shù)在下面被定義。
[0042] 在另一實(shí)施例中，所述一組N幅磁共振圖像中的每幅中的所述像素為實(shí)值的。該 實(shí)施例可以是有利的，因?yàn)槠鋵?shí)現(xiàn)了當(dāng)所述N幅磁共振圖像中的像素為實(shí)值的時(shí)的表面線 圈的非均勻性的降低。亦即，表面線圈的線圈敏感度的空間變化的效應(yīng)在經(jīng)校正的圖像中 被校正。例如，在美國(guó)專利5600244中公開的方法在所述一組N幅磁共振圖像中的每幅中 的像素為實(shí)值的時(shí)將不工作。該專利中的方法依賴于具有復(fù)值的圖像。
[0043] 在另一實(shí)施例中，所述醫(yī)學(xué)裝置包括磁共振成像系統(tǒng)。所述磁共振成像系統(tǒng)還包 括射頻系統(tǒng)，所述射頻系統(tǒng)能夠操作用于利用所述磁共振成像線圈來采集磁共振數(shù)據(jù)。對(duì) 所述指令的運(yùn)行還令所述處理器使用所述射頻系統(tǒng)和所述磁共振成像線圈來采集成像磁 共振數(shù)據(jù)。對(duì)所述指令的運(yùn)行還令所述處理器將所述成像磁共振數(shù)據(jù)重建為所述一組N幅 磁共振圖像。在這種情況下，所述一組N幅磁共振圖像已經(jīng)通過使用所述磁共振成像系統(tǒng) 來采集它們而被接收。所述磁共振成像系統(tǒng)可以包括多元件或單元件磁共振成像線圈。
[0044] 在另一實(shí)施例中，所述磁共振成像系統(tǒng)還包括均勻體線圈。所述射頻系統(tǒng)能夠操 作用于使用所述均勻體線圈來采集參考磁共振數(shù)據(jù)。如本文中所使用的均勻體線圈涵蓋能 夠操作用于從相對(duì)大的區(qū)采集所述磁共振數(shù)據(jù)的磁共振成像天線或線圈。例如，這相比于 表面線圈。所述磁共振成像線圈可以是表面線圈。所述磁共振成像線圈的個(gè)體元件能夠采 集在它們的緊鄰區(qū)域內(nèi)的磁共振數(shù)據(jù)。所述均勻體線圈不能夠采集數(shù)據(jù)的細(xì)節(jié)，但其能夠 均勻地采集圖像數(shù)據(jù)。所述均勻體線圈因此可以被用作參考，以與所述磁共振線圈的個(gè)體 元件比較。
[0045] 所述機(jī)器可讀指令的運(yùn)行還令所述處理器使用所述射頻系統(tǒng)和所述均勻體線圈 來采集所述參考磁共振數(shù)據(jù)。對(duì)所述指令的運(yùn)行還令所述處理器使用所述射頻系統(tǒng)和所述 磁共振成像線圈來采集校準(zhǔn)磁共振數(shù)據(jù)。對(duì)所述指令的運(yùn)行還令所述處理器使用所述參考 磁共振數(shù)據(jù)來重建參考磁共振圖像。對(duì)所述指令的運(yùn)行還令所述處理器使用所述校準(zhǔn)磁共 振數(shù)據(jù)來重建一組N幅校準(zhǔn)磁共振圖像。對(duì)所述指令的運(yùn)行還令所述處理器使用一組m幅 校準(zhǔn)磁共振圖像和所述參考磁共振圖像來計(jì)算所述一組線圈敏感度。
[0046] 所述線圈敏感度的所述計(jì)算是本領(lǐng)域公知的。在該實(shí)施例中，指定通過利用所述 磁共振成像系統(tǒng)測(cè)量所述參考磁共振數(shù)據(jù)和所述校準(zhǔn)磁共振數(shù)據(jù)，來執(zhí)行對(duì)所述一組線圈 敏感度的接收。
[0047] 在另一實(shí)施例中，所述機(jī)器可讀指令的運(yùn)行還令所述處理器使用RP0PELLER技術(shù) 來采集所述成像磁共振數(shù)據(jù)。使用所述PROPELLER技術(shù)，來將所述磁共振數(shù)據(jù)重建為所述 一組N幅磁共振圖像。該實(shí)施例可以是有利的，因?yàn)橛伤鲠t(yī)學(xué)裝置的所述處理器執(zhí)行的 步驟提供了令使用PROPELLER技術(shù)重建的所述磁共振圖像更加均勻的手段。
[0048] 在另一實(shí)施例中，所述PROPELLER技術(shù)使用相位校正來移除圖像空間中的低頻空 間變化相位誤差。該實(shí)施例可以是有利的，因?yàn)樵赑ROPELLER技術(shù)中使用的相位校正從一 組N幅圖像移除了相位數(shù)據(jù)。這樣一來，美國(guó)專利5600244中公開的方法針對(duì)使用相位校 正移除圖像空間中的低頻空間變化相位誤差的PROPELLER技術(shù)將不工作。
[0049] 在另一實(shí)施例中，磁共振數(shù)據(jù)是使用非笛卡爾磁共振成像技術(shù)采集的。非笛卡爾 磁共振成像技術(shù)涉及對(duì)k空間中的樣本點(diǎn)的選擇。例如，這可以是k空間徑向地或以非直 線的方式被采樣的事實(shí)。
[0050] 在另一實(shí)施例中，對(duì)所述指令的運(yùn)行令所述處理器接收當(dāng)所述線圈敏感度是在部 分k空間