其在被成像的巖石和懸浮介質(zhì)的預(yù)期灰度級之間。利用光學(xué)儀器，相似的校準(zhǔn)和分段 過程可以用于提供一致的成像結(jié)果。
[0061] 以上討論的過程和方法可以在圖7中顯示的計(jì)算設(shè)備中實(shí)施。硬件、固件、軟件或 者其組合可以用于執(zhí)行本文中描述的各個(gè)步驟和操作。圖7的計(jì)算設(shè)備700是可以與這種 系統(tǒng)關(guān)聯(lián)使用的計(jì)算結(jié)構(gòu)的一個(gè)示例。
[0062] 適合于執(zhí)行在本文中描述的實(shí)施方案中的活動的計(jì)算設(shè)備700可以包括服務(wù)器 701。這樣的服務(wù)器701可以包括中心處理器（CPU) 702,其連接至隨機(jī)存取存儲器（RAM) 704 以及連接至只讀存儲器（R0M)706。ROM706還可以是用于存儲程序的其他類型的存儲介 質(zhì)，比如可編程ROM(PR0M)，可擦寫PROM(EPROM)等等。處理器702可以通過輸入/輸出（1/ 0)電路708和總線710與其他內(nèi)部和外部組件通信，以提供控制信號等等。處理器702執(zhí) 行在本領(lǐng)域中已知的各種功能，如通過軟件和/或固件指令指示的。
[0063] 服務(wù)器701還可以包括一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)存儲設(shè)備，其包括硬盤驅(qū)動器712、⑶DR0M 驅(qū)動器714,以及能夠讀取和/或存儲信息的其他硬件（比如DVD)等等。在一個(gè)實(shí)施方案 中，用于執(zhí)行以上討論的步驟的軟件可以存儲并分布在CDDR0M或DVD716、USB存儲設(shè)備 718或者能夠便攜地存儲信息的其他形式的介質(zhì)上。這些存儲介質(zhì)可以插入至比如⑶DR0M 驅(qū)動器714、磁盤驅(qū)動器712等等的設(shè)備中并且被它們讀取。服務(wù)器701可以連接至顯示器 720,其可以是任意類型的已知顯示器或展示屏，比如IXD顯示器、等離子顯示器、陰極射線 管（CRT)等等。提供了用戶接口 722,其包括一個(gè)或多個(gè)用戶接口機(jī)構(gòu)，比如鼠標(biāo)、鍵盤、麥 克風(fēng)、觸摸板、觸摸屏、聲音識別系統(tǒng)等等。
[0064] 服務(wù)器701可以連接至其他設(shè)備，比如源、檢測器等等。服務(wù)器可以是如在比如因 特網(wǎng)728的全球區(qū)域網(wǎng)絡(luò)（GAN)中的大型網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中的一部分，其允許最終連接至各種陸 上線路和/或移動計(jì)算設(shè)備。
[0065] 概括地說，在本文中提出的方法、裝置和系統(tǒng)相對于現(xiàn)有技術(shù)的方法、裝置和系統(tǒng) 提供了許多不同的優(yōu)點(diǎn)。應(yīng)當(dāng)注意，在本文中描述的許多功能單元（比如與圖像處理相關(guān) 的那些）被識別為模塊。其他的被假設(shè)為模塊。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，在本文中描述 的各種模塊可以包括提供所描述的功能性的多種硬件組件，所述硬件組件包括一個(gè)或多個(gè) 處理器，比如由一個(gè)或多個(gè)軟件組件配置的CPU或微控制器。軟件組件可以包括可執(zhí)行的 指令或代碼以及相應(yīng)的數(shù)據(jù)，它們存儲在比如非易失性存儲器的計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)等等 中。指令或者代碼可以包括配置為由處理器直接執(zhí)行的機(jī)器代碼。可選地，指令或者代碼 可以配置為由解釋器等等執(zhí)行，所述解釋器將指令或者代碼翻譯為由處理器執(zhí)行的機(jī)器代 碼。
[0066] 還應(yīng)當(dāng)理解，該描述并非旨在限制本發(fā)明。相反地，示例性實(shí)施方案旨在覆蓋替代 選擇、修改和等價(jià)形式，它們包括在如通過所附權(quán)利要求所限定的本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)。 此外，在示例性實(shí)施方案的具體描述中，陳列了許多具體細(xì)節(jié)以提供對要求保護(hù)的發(fā)明的 全面理解。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解，各個(gè)實(shí)施方案可以在沒有這樣的具體細(xì)節(jié)的情況 下實(shí)行。
[0067] 盡管本示例性實(shí)施方案的特征和元件在以特定組合的實(shí)施方案中進(jìn)行了描述，但 每個(gè)特征或者元件可以在沒有實(shí)施方案的其他特征和元件的情況下單獨(dú)使用，或者在具有 或者沒有在本文中公開的其他特征和元件的情況下以各種組合使用。
[0068] 本書面描述使用所公開的主題的示例以使得本領(lǐng)域任意技術(shù)人員能夠?qū)嵺`所公 開的主題，包括制造和使用任意設(shè)備或系統(tǒng)并執(zhí)行任意并入的方法。該主題的具有可專利 性的范圍通過權(quán)利要求進(jìn)行限定，并且可以包括本領(lǐng)域技術(shù)人員想到的其他示例。這樣的 其他不例旨在權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于估計(jì)地理位置的可壓裂性指數(shù)的方法，所述方法包括： 確定從地理位置提取的地質(zhì)樣品的構(gòu)造指標(biāo)； 確定所述地質(zhì)樣品的礦物組成指標(biāo)；以及 根據(jù)所述構(gòu)造指標(biāo)和所述礦物組成指標(biāo)來估計(jì)所述地理位置的可壓裂性指數(shù)。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述構(gòu)造指標(biāo)包括孔隙空間指標(biāo)。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述構(gòu)造指標(biāo)包括紋理指標(biāo)。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，確定所述地質(zhì)樣品的礦物組成指標(biāo)包括在所述 地質(zhì)樣品內(nèi)檢測普遍的至少一個(gè)有機(jī)代用指標(biāo)。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，確定所述地質(zhì)樣品的礦物組成指標(biāo)包括檢測普 遍的娃質(zhì)碎肩、碳酸鹽和粘土。6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述可壓裂性指數(shù)與地質(zhì)力學(xué)特性相關(guān)聯(lián)。7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述構(gòu)造指標(biāo)和所述礦物組成指標(biāo)通過至少一 個(gè)電磁探測工具來確定。8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，確定所述構(gòu)造指標(biāo)包括所述地質(zhì)樣品的圖像的 圖像處理。9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述地質(zhì)樣品的圖像是電子顯微學(xué)圖像。10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述地質(zhì)樣品的圖像是光學(xué)圖像。11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括根據(jù)所述可壓裂性指數(shù)調(diào)整用于所述地 理位置的油氣開采操作。12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中，調(diào)整所述油氣開采包括確定壓裂穿孔的位置。13. -種用于估計(jì)地理位置的可壓裂指數(shù)的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括： 計(jì)算設(shè)備，其配置為接收從地理位置提取的地質(zhì)樣品的構(gòu)造指標(biāo)和礦物組成指標(biāo)，并 且根據(jù)所述構(gòu)造指標(biāo)和所述礦物組成指標(biāo)來估計(jì)所述地理位置的可壓裂性指數(shù)。14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括一個(gè)或多個(gè)測量設(shè)備，其配置為測量地 質(zhì)樣品的所述構(gòu)造指標(biāo)和所述礦物組成指標(biāo)。15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中，所述一個(gè)或多個(gè)測量設(shè)備包括成像設(shè)備。16. -種用于估計(jì)地理位置的可壓裂性指數(shù)的方法，所述方法包括： 確定從地理位置提取的地質(zhì)樣品的孔隙空間指標(biāo)； 確定所述地質(zhì)樣品的礦物組成指標(biāo)； 根據(jù)所述孔隙空間指標(biāo)和所述礦物組成指標(biāo)來估計(jì)所述地理位置的可壓裂性指數(shù)，以 及 其中，確定所述地質(zhì)樣品的礦物組成指標(biāo)包括檢測普遍的硅質(zhì)碎肩、碳酸鹽和粘土。17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，確定所述地質(zhì)樣品的孔隙空間指標(biāo)包括利用 電磁探測工具來捕獲所述地質(zhì)樣品的圖像。18. 根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，所述地質(zhì)樣品的圖像是SEM圖像。19. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，確定所述地質(zhì)樣品的孔隙空間指標(biāo)包括處理 所述地質(zhì)樣品的圖像。20. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，確定所述地質(zhì)樣品的礦物組成指標(biāo)包括在所 述地質(zhì)樣品內(nèi)檢測普遍的至少一個(gè)有機(jī)代用指標(biāo)。
【專利摘要】一種用于估計(jì)地理位置的可壓裂性指數(shù)的方法包括：確定從地理位置提取的地質(zhì)樣品的構(gòu)造指標(biāo)和礦物組成指標(biāo)，以及根據(jù)所述構(gòu)造指標(biāo)和所述礦物組成指標(biāo)來估計(jì)所述地理位置的可壓裂性指數(shù)。所述構(gòu)造指標(biāo)可以是紋理相關(guān)的測量，比如紋理尺寸或者棱角性，或者孔隙空間相關(guān)的測量，比如孔隙面積、直徑、縱橫比以及周長，或者與這些測量相關(guān)聯(lián)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。在某些實(shí)施方案中，確定礦物組成指標(biāo)包括在地質(zhì)樣品內(nèi)檢測普遍的至少一個(gè)有機(jī)代用指標(biāo)，比如釩、鐵、鈾、釷、銅、硫、鋅、鉻、鎳、鈷、鉛以及鉬。確定礦物組成指標(biāo)還可以包括檢測普遍的硅質(zhì)碎屑、碳酸鹽和粘土中的一個(gè)、兩個(gè)或全部。
【IPC分類】E21B49/00, G01V99/00
【公開號】CN105431750
【申請?zhí)枴緾N201480042670
【發(fā)明人】C·V·利, G·斯彭斯
【申請人】地球物理集團(tuán)公司
【公開日】2016年3月23日
【申請日】2014年6月26日
【公告號】CA2916630A1, EP3014315A2, WO2014207137A2, WO2014207137A3