，就能使測(cè)試人員掌握測(cè)試的操作方法，節(jié)省培訓(xùn)測(cè)試人員所需的人力物力財(cái)力。
[0051]但是，還需要說(shuō)明的是，待測(cè)試芯片的類型并不限于指紋芯片，也可以其他類型的芯片，只需更換并選擇與其相對(duì)應(yīng)的測(cè)試接口連接并更換各個(gè)廠商提供的待測(cè)試芯片即可。
[0052]基于上述，本實(shí)施例提供的測(cè)試板上能夠提供多種不同類型的芯片接口，根據(jù)需要選擇其中一種類型的測(cè)試接口連接待測(cè)試芯片，通過(guò)在這個(gè)測(cè)試接口上更換對(duì)接的其他類型芯片進(jìn)行測(cè)試從而使該測(cè)試板可以對(duì)不同廠商提供的不同類型芯片進(jìn)行測(cè)試。該測(cè)試板可以解決傳統(tǒng)技術(shù)中一個(gè)測(cè)試板上只能對(duì)單一類型的芯片進(jìn)行測(cè)試的技術(shù)問(wèn)題，利用這一測(cè)試板可以實(shí)現(xiàn)對(duì)不同類型芯片的測(cè)試，兼容性更好，相比于傳統(tǒng)技術(shù)中一種類型的芯片只能在一種測(cè)試板上進(jìn)行測(cè)試的方案，可以有效減少測(cè)試板數(shù)量和測(cè)試人員數(shù)量，降低測(cè)試的成本，同時(shí)也給不同類型的芯片的測(cè)試工作帶來(lái)很大的方便性。
[0053]實(shí)施例二
[0054]參見(jiàn)圖2，本實(shí)施例還提供了一種用于多種類型的芯片的測(cè)試系統(tǒng)200，用以針對(duì)不同類型的芯片進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。該測(cè)試模塊200包括驅(qū)動(dòng)單元21、多個(gè)測(cè)試單元22和切換單元23。
[0055]驅(qū)動(dòng)單元21通過(guò)轉(zhuǎn)接接口收發(fā)測(cè)試數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)接接口連接測(cè)試板，待測(cè)試芯片連接于所述測(cè)試板。多個(gè)測(cè)試單元22分別對(duì)應(yīng)不同類型芯片的測(cè)試。切換單元23通過(guò)應(yīng)用程序編程接口調(diào)用多個(gè)測(cè)試單元，為其提供相應(yīng)的測(cè)試程序，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片的性能測(cè)試。
[0056]與傳統(tǒng)技術(shù)中僅能針對(duì)單一類型的芯片進(jìn)行測(cè)試的方案不同，本實(shí)施例中的測(cè)試系統(tǒng)可以針對(duì)不同類型的芯片進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)待測(cè)試芯片的不同類型，提供與這些不同類型的測(cè)試芯片相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)據(jù)庫(kù)，簡(jiǎn)單稱之為測(cè)試項(xiàng)API (Appli cat 1nProgramming Interface，應(yīng)用程序編程接口)庫(kù)，根據(jù)待測(cè)試芯片的類型從中調(diào)用相對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)據(jù)庫(kù)，從而完成測(cè)試。
[0057]本實(shí)施例中的測(cè)試系統(tǒng)200的功能通過(guò)上述實(shí)施例一所說(shuō)的測(cè)試設(shè)備210來(lái)實(shí)現(xiàn)，向測(cè)試板100提供測(cè)試程序。由于本實(shí)施例中的測(cè)試設(shè)備與實(shí)施例一中的測(cè)試板通過(guò)轉(zhuǎn)接接口連接，而實(shí)施例一中的測(cè)試板上的接口類型可以是USB接口，相應(yīng)的，本實(shí)施例中的轉(zhuǎn)接接口的類型可以是USB接口，以實(shí)現(xiàn)測(cè)試板與測(cè)試設(shè)備之間的連接與通信。例如，本實(shí)施例中的測(cè)試設(shè)備可以是一臺(tái)用于測(cè)試芯片的計(jì)算機(jī)，通過(guò)USB接口與實(shí)施例一中的單片機(jī)測(cè)試板連接。
[0058]本實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)單元21可以是針對(duì)單片機(jī)測(cè)試板提供的單片機(jī)板Windows驅(qū)動(dòng)層。切換單元23可以為應(yīng)用程序編程接口，通常可以實(shí)現(xiàn)對(duì)串行外設(shè)接口、集成電路總線接口、USB等多種接口測(cè)試程序進(jìn)行切換。每一測(cè)試單元22中存儲(chǔ)中對(duì)某一種待測(cè)試的芯片進(jìn)行性能測(cè)試的程序，例如芯片的類型分為A、B……Z，相應(yīng)的，提供測(cè)試單元A、B……Z，分別存儲(chǔ)有針對(duì)芯片A、B……Z測(cè)試項(xiàng)API庫(kù)，能夠?qū)?duì)應(yīng)類型的芯片進(jìn)行性能測(cè)試。這樣，用于測(cè)試芯片的計(jì)算機(jī)就能通過(guò)API接口調(diào)用各個(gè)獨(dú)立的測(cè)試程序(分別存儲(chǔ)在各個(gè)測(cè)試項(xiàng)API庫(kù)中)，以對(duì)測(cè)試板上測(cè)試接口對(duì)接的不同類型芯片進(jìn)行性能測(cè)試，其中性能包括電壓、電流等相關(guān)的電力參數(shù)。
[0059]本實(shí)施例提供的測(cè)試系統(tǒng)與上述實(shí)施例一中的測(cè)試板連接并對(duì)待測(cè)試的芯片進(jìn)行性能測(cè)試，可以實(shí)現(xiàn)與實(shí)施例一相同的技術(shù)效果，此處不再贅述。
[0060]實(shí)施例三
[0061]參見(jiàn)圖3，本實(shí)施例還提供了一種多類型芯片測(cè)試機(jī)臺(tái)，包括以上實(shí)施例一提供的多類型芯片測(cè)試板100和具有以上實(shí)施例二提供的測(cè)試系統(tǒng)200的測(cè)試設(shè)備210，多類型芯片測(cè)試板100與測(cè)試設(shè)備210通過(guò)轉(zhuǎn)接接口 11連接，轉(zhuǎn)接接口 11可以是USB接口。
[0062]其中測(cè)試板100的具體組成以及工作原理同上述實(shí)施例一，此處不再贅述，測(cè)試系統(tǒng)200的具體組成以及工作原理同上述實(shí)施例二，此處也不再贅述。
[0063]本實(shí)施例還提供一種具體的實(shí)施方式，參見(jiàn)圖4，其中測(cè)試系統(tǒng)為測(cè)試計(jì)算機(jī)，測(cè)試接口分別為串行外設(shè)接口、集成電路總線接口以及通用輸入輸出接口或稱為輸入/輸出總線擴(kuò)展器等類型，待測(cè)試芯片為指紋芯片。集成電路總線接口用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器，而通用輸入輸出接口用于連接LED及其他測(cè)試過(guò)程中所用到的模塊。
[0064]通過(guò)采用本實(shí)施例提供的可以兼容不同廠商提供的指紋芯片的測(cè)試機(jī)臺(tái)，可以有效減少測(cè)試機(jī)臺(tái)數(shù)量和測(cè)試人員數(shù)量，降低成本，同時(shí)也對(duì)不同類型芯片的測(cè)試工作帶來(lái)很大的方便性。另外，從對(duì)測(cè)試人員的培訓(xùn)成本方面來(lái)講，與傳統(tǒng)技術(shù)中只能對(duì)單一廠商提供的芯片進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試機(jī)臺(tái)，本實(shí)施例提供的測(cè)試機(jī)臺(tái)可以減少對(duì)測(cè)試人員進(jìn)行培訓(xùn)的人力物力。
[0065]實(shí)施例四
[0066]本實(shí)施例還提供了一種多類型芯片測(cè)試方法，步驟流程如圖5所示，包括以下步驟:
[0067]步驟SOl:提供一測(cè)試板和一測(cè)試設(shè)備。
[0068]具體的，其中測(cè)試板用于連接各種不同類型的待測(cè)試芯片，測(cè)試設(shè)備上配置有實(shí)施例二所述的測(cè)試系統(tǒng)，能夠提供與待測(cè)試芯片相對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序。
[0069]步驟S02:通過(guò)轉(zhuǎn)接接口將測(cè)試板與測(cè)試設(shè)備連接起來(lái)。
[0070]具體的，轉(zhuǎn)接接口可以是USB接口。
[0071 ]步驟S03:將待測(cè)試的芯片連接到測(cè)試板上。
[0072]具體的，待測(cè)試的芯片可以是指紋芯片。
[0073]步驟S04:根據(jù)待測(cè)試芯片的類型選擇與待測(cè)試芯片相對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序進(jìn)行性能測(cè)試。
[0074]完成對(duì)一種類型的指紋芯片的性能測(cè)試后，通過(guò)測(cè)試接口更換其他類型的指紋芯片，測(cè)試計(jì)算機(jī)通過(guò)API接口調(diào)用與該類型指紋芯片對(duì)應(yīng)的獨(dú)立測(cè)試程序，完成對(duì)該類型指紋芯片各性能的測(cè)試。
[0075]本實(shí)施例所提供的測(cè)試方法能夠測(cè)試的芯片類型不限于指紋芯片，也可以測(cè)試其他類型芯片，只需更換其測(cè)試接口即可。
[0076]采用本實(shí)施例提提供的測(cè)試方法，通過(guò)建立多個(gè)相互兼容的獨(dú)立測(cè)試程序供測(cè)試計(jì)算機(jī)調(diào)用，利用不同測(cè)試程序在同一測(cè)試機(jī)臺(tái)上對(duì)不同測(cè)試接口對(duì)接不同類型的指紋芯片進(jìn)行測(cè)試，從而可以有效減少測(cè)試機(jī)臺(tái)數(shù)量和測(cè)試人員數(shù)量，降低成本，同時(shí)也對(duì)不同類型芯片的測(cè)試工作帶來(lái)很大的方便性。
[0077]應(yīng)可理解的是，本發(fā)明不將其應(yīng)用限制到本文提出的部件的詳細(xì)結(jié)構(gòu)和布置方式。本發(fā)明能夠具有其他實(shí)施例，并且能夠以多種方式實(shí)現(xiàn)并且執(zhí)行。前述變形形式和修改形式落在本發(fā)明的范圍內(nèi)。應(yīng)可理解的是，本文公開(kāi)和限定的本發(fā)明延伸到文中和/或附圖中提到或明顯的兩個(gè)或兩個(gè)以上單獨(dú)特征的所有可替代組合。所有這些不同的組合構(gòu)成本發(fā)明的多個(gè)可替代方面。本文所述的實(shí)施例說(shuō)明了已知用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的最佳方式，并且將使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠利用本發(fā)明。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種多類型芯片測(cè)試板，其特征在于，包括: 轉(zhuǎn)接接口，與測(cè)試設(shè)備連接； 轉(zhuǎn)接板，具有一個(gè)第一端口和多個(gè)第二端口，通過(guò)所述第一端口與所述轉(zhuǎn)接接口連接； 多個(gè)測(cè)試接口，分別通過(guò)所述多個(gè)第二端口與所述轉(zhuǎn)接板連接，其中一個(gè)測(cè)試接口用于連接相應(yīng)類型的待測(cè)試芯片，其余測(cè)試接口用于連接測(cè)試所需芯片。2.如權(quán)利要求1所述的多類型芯片測(cè)試板，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接接口為USB接口。3.如權(quán)利要求1所述的多類型芯片測(cè)試板，其特征在于，所述多個(gè)測(cè)試接口分別具有不同類型的接口。4.如權(quán)利要求3所述的多類型芯片測(cè)試板，其特征在于，所述不同類型的接口包括串行外設(shè)接口、集成電路總線接口以及通用輸入輸出接口。5.如權(quán)利要求4所述的多類型芯片測(cè)試板，其特征在于，所述串行外設(shè)接口用于連接所述待測(cè)試芯片，當(dāng)所述待測(cè)試芯片對(duì)接到所述串行外設(shè)接口時(shí)，通過(guò)所述轉(zhuǎn)接接口從所述測(cè)試設(shè)備調(diào)用與所述待測(cè)試芯片相對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序。6.—種用于多種類型的芯片的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括: 驅(qū)動(dòng)單元，通過(guò)轉(zhuǎn)接接口收發(fā)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述轉(zhuǎn)接接口連接測(cè)試板，待測(cè)試芯片連接于所述測(cè)試板； 多個(gè)測(cè)試單元，分別用于不同類型芯片的測(cè)試； 切換單元，用于從所述多個(gè)測(cè)試單元中調(diào)用與所述待測(cè)試芯片相對(duì)應(yīng)的測(cè)試單元，通過(guò)所述驅(qū)動(dòng)單元收發(fā)測(cè)試數(shù)據(jù)以進(jìn)行芯片測(cè)試。7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述切換單元通過(guò)應(yīng)用程序編程接口調(diào)用所述多個(gè)測(cè)試單元。8.—種多類型芯片測(cè)試機(jī)臺(tái)，包括權(quán)利要求1-5所述的多類型芯片測(cè)試板和權(quán)利要求6-7所述的用于多種類型的芯片的測(cè)試系統(tǒng)。9.如權(quán)利要求8所述的多類型芯片測(cè)試機(jī)臺(tái)，其特征在于，所述多類型芯片測(cè)試板與所述測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)轉(zhuǎn)接接口連接。10.如權(quán)利要求9所述的多類型芯片測(cè)試機(jī)臺(tái)，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接接口為USB接口。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種多類型芯片測(cè)試板、測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試機(jī)臺(tái)，多類型芯片測(cè)試板包括轉(zhuǎn)接接口、轉(zhuǎn)接板和多個(gè)測(cè)試接口，轉(zhuǎn)接接口與測(cè)試設(shè)備連接；轉(zhuǎn)接板具有一個(gè)第一端口和多個(gè)第二端口，通過(guò)所述第一端口與所述轉(zhuǎn)接接口連接；多個(gè)測(cè)試接口分別通過(guò)所述多個(gè)第二端口與所述轉(zhuǎn)接板連接，其中一個(gè)測(cè)試接口用于連接相應(yīng)類型的待測(cè)試芯片，其余測(cè)試接口用于連接測(cè)試所需芯片。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)利用一個(gè)測(cè)試板對(duì)不同類型芯片進(jìn)行測(cè)試，兼容性更好，相比于傳統(tǒng)技術(shù)中一個(gè)測(cè)試板僅能對(duì)單一類型芯片進(jìn)行測(cè)試，可以有效減少測(cè)試板的數(shù)量和測(cè)試人員的數(shù)量，降低測(cè)試的成本，同時(shí)也給不同類型芯片的測(cè)試工作帶來(lái)很大的方便性。
【IPC分類】G01R31/28
【公開(kāi)號(hào)】CN105445644
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510796872
【發(fā)明人】黃少輝, 白安鵬, 徐露
【申請(qǐng)人】南昌歐菲生物識(shí)別技術(shù)有限公司, 南昌歐菲光科技有限公司, 深圳歐菲光科技股份有限公司, 蘇州歐菲光科技有限公司
【公開(kāi)日】2016年3月30日
【申請(qǐng)日】2015年11月18日