因素。因此，在本模擬中，利用砂紙再現(xiàn)在實際壓力加工現(xiàn)場中產(chǎn)生的摩擦 力。
[0066] 作為經(jīng)壓力加工(press worked)的壓板#63至#65的檢查結(jié)果，從壓板#63和#64檢 測到缺陷，而壓板#65處于正常狀態(tài)。對具有相同的環(huán)境參數(shù)的壓板#63至#65進行比較，其 中環(huán)境參數(shù)例如為施加的壓力W及是否產(chǎn)生摩擦力，。
[0067] 作為比較結(jié)果，如圖5所示，壓板具有不同的周期值，該周期值根據(jù)壓板是否是有 缺陷而被區(qū)分。圖5是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實施方式的操作S230和S240的圖。在圖5中，X軸 指的是壓板的檢查順序，y軸指的是由周期測量器120測量出的壓板的周期。
[0068] 如圖5所示，壓板#63和#64具有比較高的周期值，處于正常狀態(tài)的壓板#65具有相 對較低的周期值。對多個壓板進行模擬，W檢查用于區(qū)分有缺陷的壓板和正常狀態(tài)的壓板 的兩個周期值，將用于確定壓板是有缺陷的周期值用作第一參考值，將用于確定壓板處于 正常狀態(tài)的周期值用作第二參考值。
[0069] 第一參考值和第二參考值之間的周期值指的是不能精確地確定有缺陷的壓板和 處于正常狀態(tài)的壓板的周期值的范圍。缺陷存在確定單元130可W使用由提取器140提取的 參數(shù)確定具有第一參考值和第二參考值之間的周期的壓板是否是有缺陷的。
[0070] 此外，第一參考值和第二參考值可W具有相同的值，缺陷存在確定單元130可W不 使用參數(shù)，并可W使用一個參考值確定壓板是否是有缺陷的。
[0071] 在下文中，參照圖6A和圖6B詳細地描述使用參數(shù)確定具有第一參數(shù)值和第二參數(shù) 值之間的周期的壓板是否有缺陷的方法。圖6A和圖6B是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實施方式的操 作S260的圖。
[0072] 圖6A是用于解釋使用能量參數(shù)確定壓板是否有缺陷的方法的圖。作為模擬結(jié)果， 有缺陷的壓板的能量值相對高，而處于正常狀態(tài)的壓板的能量值相對低。
[0073] 圖6B是用于解釋使用平均頻率參數(shù)確定壓板是否有缺陷的方法的圖。作為模擬結(jié) 果，有缺陷的壓板的平均頻率相對低，處于正常狀態(tài)的壓板的平均頻率相對高。
[0074] 因此，缺陷存在確定單元130可W根據(jù)模擬結(jié)果設(shè)置每個參數(shù)的參考值，并且使用 設(shè)置參數(shù)的參考值確定在作為檢測對象的壓板中是否產(chǎn)生缺陷。
[0075] 首先，提取器140針對多個壓板提取參數(shù)，并且缺陷存在確定單元130設(shè)置用于區(qū) 分處于正常狀態(tài)壓板和有缺陷的壓板的參考值。此外，提取器140提取具有在第一參考值和 第二參考值之間的周期值的、作為檢測對象的壓板的參數(shù)，并且缺陷存在確定單元130比較 提取的參數(shù)與預定參數(shù)參考值，W確定在對應的壓板中是否產(chǎn)生缺陷。
[0076] 在由提取器140提取的參數(shù)中，當脈沖數(shù)或能量超出脈沖數(shù)的參考值或能量的參 考值時，確定對應的壓板是有缺陷的。此外，當平均頻率小于平均頻率的參考值時，確定對 應的壓板是有缺陷的。
[0077] 根據(jù)本發(fā)明的壓板缺陷檢測設(shè)備100可W應用于通過將具有破壞強度或W上的壓 力施加于材料來剪切材料的剪切加工、通過將力施加于材料W產(chǎn)生彎曲應力將材料處理成 不同形狀的彎曲加工、用于在將材料放入模具時模制沒有接頭（joint)的容器的拉延加工 (化awing work)、或者用于在對材料施加高壓縮力使材料變形的同時模制具有模具內(nèi)部形 狀的產(chǎn)品的壓縮加工，W便檢測在不同材料的加工過程中產(chǎn)生的缺陷。運樣，可W使用在此 描述的用于檢測壓板的缺陷的設(shè)備和方法，簡單地檢測在壓力加工期間產(chǎn)生的缺陷，并且 針對其缺陷確定不明確的檢測對象可W使用參數(shù)更精確地確定是否產(chǎn)生缺陷。
[0078] 雖然結(jié)合當前被認為是實際的實施方式描述了本發(fā)明，但是應當理解，本發(fā)明不 限于公開的實施方式，相反，其覆蓋包含在附加的權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)的各種修改和 等同布置。
【主權(quán)項】
1. 一種用于檢測壓板缺陷的設(shè)備，所述設(shè)備包括： 聲發(fā)射傳感器單元，所述聲發(fā)射傳感器單元配置成檢測在壓力加工期間從作為檢測對 象的所述壓板發(fā)射的至少一個彈性波信號； 周期測量器，所述周期測量器配置成測量作為在至少一個檢測到的信號之中具有大于 閾值電壓的電壓的連續(xù)信號出現(xiàn)的區(qū)段的周期；以及 缺陷存在確定單元，所述缺陷存在確定單元配置成當測量出的周期大于第一參考值時 確定在所述壓板中產(chǎn)生了缺陷，以及當測量出的周期小于第二參考值時確定所述壓板處于 正常狀態(tài)，其中所述第二參考值小于所述第一參考值。2. 如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中： 使用從多個作為比較對象的壓板預先測量的周期值，確定所述第一參考值和所述第二 參考值，并且 所述第一參考值和第二參考值是指所述比較對象中產(chǎn)生缺陷的壓板的周期和所述比 較對象中處于正常狀態(tài)的壓板的周期的分布上的邊界線的值。3. 如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，還包括： 提取器，所述提取器配置成從至少一個檢測信號提?。篿)具有大于閾值電壓的輸出電 壓的脈沖數(shù)、ii)作為具有大于閾值電壓的輸出電壓的脈沖的面積總和的能量、以及iii)在 所述周期期間產(chǎn)生的平均頻率中的至少一個參數(shù)。4. 如權(quán)利要求3所述的設(shè)備，其中： 所述缺陷存在確定單元進一步配置成當測量出的周期具有所述第一參考值和第二參 考值之間的值時，使用所提取的至少一個參數(shù)確定所述壓板是否是有缺陷的。5. 如權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其中： 所述缺陷存在確定單元進一步配置成： 當在所提取的參數(shù)中所述脈沖數(shù)和所述能量大于參考數(shù)時，確定在對應壓板中產(chǎn)生了 缺陷，以及 當在所述周期期間產(chǎn)生的平均頻率低于參考數(shù)時，確定在對應壓板中產(chǎn)生了缺陷。6. -種用于使用壓板缺陷檢測設(shè)備檢測缺陷的方法，所述方法包括以下步驟： 檢測在壓力加工期間從作為檢測對象的壓板發(fā)射的至少一個彈性波信號； 測量作為在至少一個檢測到的信號之中具有大于閾值電壓的電壓的連續(xù)信號出現(xiàn)的 區(qū)段的周期； 當測量出的周期大于第一參考值時確定在所述壓板中產(chǎn)生了缺陷；以及 當測量出的周期小于第二參考值時確定所述壓板處于正常狀態(tài)，所述第二參考值小于 所述第一參考值。7. 如權(quán)利要求6所述的方法，其中： 使用從多個作為比較對象的壓板預先測量的周期值，確定所述第一參考值和所述第二 參考值，并且 所述第一參考值和第二參考值是指所述比較對象中產(chǎn)生缺陷的壓板的周期和所述比 較對象中處于正常狀態(tài)的壓板的周期的分布上的邊界線的值。8. 如權(quán)利要求6所述的方法，還包括以下步驟： 從至少一個檢測信號提取：i)具有大于閾值電壓的輸出電壓的脈沖數(shù)、ii)作為具有大 于閾值電壓的輸出電壓的脈沖的面積總和的能量、以及iii)在所述周期期間產(chǎn)生的平均頻 率中的至少一個參數(shù)。9. 如權(quán)利要求8所述的方法，其中確定產(chǎn)生了缺陷的步驟包括： 當測量出的周期具有所述第一參考值和第二參考值之間的值時，使用所提取的至少一 個參數(shù)確定所述壓板是否是有缺陷的。10. 如權(quán)利要求9所述的方法，其中確定產(chǎn)生了缺陷的步驟還包括： 當在所提取的參數(shù)中所述脈沖數(shù)和所述能量大于參考數(shù)時，確定在對應壓板中產(chǎn)生了 缺陷；以及 當在所述周期期間產(chǎn)生的平均頻率低于參考數(shù)時，確定在對應壓板中產(chǎn)生了缺陷。11. 一種包含用于檢測壓板的缺陷的程序指令的非暫時性計算機可讀介質(zhì)，所述計算 機可讀介質(zhì)包括： 測量作為在至少一個彈性波信號之中具有大于閾值電壓的電壓的連續(xù)信號出現(xiàn)的區(qū) 段的周期的程序指令，所述至少一個彈性波信號在壓力加工期間從作為檢測對象檢測的壓 板發(fā)射； 當測量出的周期大于第一參考值時確定在所述壓板中產(chǎn)生了缺陷的程序指令；以及 當測量出的周期小于第二參考值時確定所述壓板處于正常狀態(tài)的程序指令，所述第二 參考值小于所述第一參考值。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種用于檢測壓板缺陷的設(shè)備，包括：聲發(fā)射傳感器單元，所述聲發(fā)射傳感器單元配置成檢測在壓力加工期間從作為檢測對象的所述壓板發(fā)射的至少一個彈性波信號；周期測量器，所述周期測量器配置成測量作為在至少一個檢測到的信號之中具有大于閾值電壓的電壓的連續(xù)信號出現(xiàn)的區(qū)段的周期；以及缺陷存在確定單元，所述缺陷存在確定單元配置成當測量出的周期大于第一參考值時確定在所述壓板中產(chǎn)生了缺陷，以及當測量出的周期小于第二參考值時確定所述壓板處于正常狀態(tài)，其中所述第二參考值小于所述第一參考值。
【IPC分類】G01N29/14
【公開號】CN105486753
【申請?zhí)枴緾N201510756397
【發(fā)明人】黃宰聯(lián), 金秉勛, 卞瑛宰, 柳賢紀, 鄭燦宇, N·Q·阮, 劉鎮(zhèn)疑, 金智慧
【申請人】現(xiàn)代自動車株式會社, 起亞自動車株式會社, 國立大學法人蔚山科學技術(shù)大學校產(chǎn)學協(xié)力團
【公開日】2016年4月13日
【申請日】2015年10月8日
【公告號】DE102015219134A1, US20160097745