一種面板測(cè)試點(diǎn)定位方法、裝置和測(cè)試面板的方法、系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于產(chǎn)品測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種面板測(cè)試點(diǎn)定位方法、裝置和測(cè)試面板的方法、系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]面板(panel)是很多現(xiàn)代電子信息產(chǎn)品中一種必不可少的元件，包括傳統(tǒng)的液晶面板和近年來(lái)非常流行的、用于智能設(shè)備(例如，智能手機(jī)等)的觸控面板(TouchingPanel)。展示于電子信息產(chǎn)品用戶(hù)面前的面板，不僅僅是一塊普通的玻璃或其他材質(zhì)的板狀物，這些面板的其中一面或者兩面通常布有導(dǎo)電線路，用于傳遞電子信號(hào)。由于各種不可避免的因素，面板生產(chǎn)出來(lái)后，需要對(duì)其上布置的導(dǎo)電線路進(jìn)行測(cè)試，以便確定該面板是否存在不良。實(shí)際的工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中，是選定一些測(cè)試點(diǎn)，通過(guò)對(duì)這些測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試來(lái)達(dá)到對(duì)整個(gè)導(dǎo)電線路測(cè)試的目的。
[0003]現(xiàn)有的一種測(cè)試面板的方法是采用固定的測(cè)試架進(jìn)行測(cè)試，這種測(cè)試方法是一種盲對(duì)位方法測(cè)試，針對(duì)不同的面板需要制作不同的測(cè)試治具，并且測(cè)試的對(duì)象通常是從一大塊成品中切割下來(lái)、不可再分割的單粒面板。在測(cè)試過(guò)程中，主要是依靠測(cè)試人員將測(cè)試產(chǎn)品在測(cè)試架上機(jī)械定位(即靠邊定位)后，再將測(cè)試頭下降至測(cè)試點(diǎn)，測(cè)試頭的測(cè)試探針與測(cè)試點(diǎn)接觸，從而完成測(cè)試。
[0004]上述現(xiàn)有測(cè)試面板的方法至少存在下述問(wèn)題:
[0005]I)誤測(cè)率高。由于在測(cè)試過(guò)程中，產(chǎn)品完全依靠測(cè)試人員手工放置對(duì)位，在測(cè)試人員眼力不好、產(chǎn)品外形尺寸偏差大、產(chǎn)品切割尺寸偏差大、測(cè)試架制作精度不高、測(cè)試架磨損、產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)非常小或者測(cè)試密度較大的產(chǎn)品時(shí)，測(cè)試頭與測(cè)試點(diǎn)通常難以對(duì)準(zhǔn)，如此，容易將實(shí)際上合格的產(chǎn)品誤判為不合格的產(chǎn)品而報(bào)廢面板，浪費(fèi)了資源，減少了企業(yè)的利潤(rùn)。
[0006]2)測(cè)試成本高。一種產(chǎn)品需要一套或多套測(cè)試治具，并且還需要專(zhuān)門(mén)的測(cè)試人員，這使得面板的測(cè)試成本大大提高，同樣也減少了企業(yè)的利潤(rùn)。
[0007]3)問(wèn)題改善困難。由于測(cè)試的對(duì)象是不可再分割的單粒面板，基本上是成品了。當(dāng)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)該批次的面板不良率超過(guò)一定值時(shí)，再向前一制程反映問(wèn)題往往于事無(wú)補(bǔ)，因?yàn)?，這些面板已經(jīng)成為成品，對(duì)于一些制作過(guò)程長(zhǎng)的產(chǎn)品，良率改善非常困難或者成本較高，最后不得不報(bào)廢整個(gè)產(chǎn)品。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的目的在于提供一種面板測(cè)試點(diǎn)定位方法、裝置和測(cè)試面板的方法、系統(tǒng)、系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有的測(cè)試方法誤測(cè)率高、測(cè)試成本高和問(wèn)題改善困難的技術(shù)問(wèn)題。
[0009]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種測(cè)試面板的方法，所述方法包括:
[0010]吸附放置于工作臺(tái)的待測(cè)面板；
[0011]根據(jù)標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值和標(biāo)記點(diǎn)周?chē)鈱W(xué)參數(shù)移動(dòng)測(cè)試頭，使得圖像定位設(shè)備的鏡頭上出現(xiàn)的標(biāo)記與所述待測(cè)面板的標(biāo)記點(diǎn)重合，所述標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值和標(biāo)記點(diǎn)周?chē)鈱W(xué)參數(shù)事先設(shè)置于對(duì)應(yīng)產(chǎn)品測(cè)試程序中保存；
[0012]根據(jù)檢測(cè)位置設(shè)置值將所述測(cè)試頭移動(dòng)至所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)正上方，所述檢測(cè)位置設(shè)置值包括所述測(cè)試頭的測(cè)試探針與所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)的角度偏差、在水平方向的距離差值和垂直方向的距離差值；
[0013]將所述測(cè)試頭上的測(cè)試針下降至所述測(cè)試頭的測(cè)試探針與所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)接觸；
[0014]所述產(chǎn)品測(cè)試程序開(kāi)始測(cè)試所述待測(cè)面板。
[0015]本發(fā)明的另一目的在于提供測(cè)試面板的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括吸附裝置、圖像定位設(shè)備、測(cè)試頭、馬達(dá)伺服子系統(tǒng)和用于存儲(chǔ)、運(yùn)行產(chǎn)品測(cè)試程序的終端；
[0016]所述吸附裝置，用于吸附放置于工作臺(tái)的待測(cè)面板；
[0017]所述馬達(dá)伺服子系統(tǒng)，用于在產(chǎn)品測(cè)試程序開(kāi)啟時(shí)，根據(jù)標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值和標(biāo)記點(diǎn)周?chē)鈱W(xué)參數(shù)移動(dòng)所述測(cè)試頭，使得圖像定位設(shè)備的鏡頭上出現(xiàn)的標(biāo)記與所述待測(cè)面板的標(biāo)記點(diǎn)重合，根據(jù)檢測(cè)位置設(shè)置值將所述測(cè)試頭移動(dòng)至所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)正上方，將所述測(cè)試頭下降至所述測(cè)試頭的測(cè)試探針與所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)接觸，所述檢測(cè)位置設(shè)置值包括所述測(cè)試頭的測(cè)試探針與所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)的角度偏差、在水平方向的距離差值和垂直方向的距離差值；
[0018]所述產(chǎn)品測(cè)試程序用于保存所述標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值、標(biāo)記點(diǎn)周?chē)鈱W(xué)參數(shù)和所述檢測(cè)位置設(shè)置值，在所述測(cè)試頭的測(cè)試探針與所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)接觸后開(kāi)始測(cè)試所述待測(cè)面板。
[0019]本發(fā)明的又一目的在于提供面板測(cè)試點(diǎn)定位方法，所述方法包括:
[0020]獲取標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值；
[0021]獲取檢測(cè)位置設(shè)置值；
[0022]將所述檢測(cè)位置設(shè)置值與所述標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值進(jìn)行綜合運(yùn)算，所得結(jié)果確定為面板測(cè)試點(diǎn)的位置。
[0023]本發(fā)明的又一目的在于提供面板測(cè)試點(diǎn)定位裝置，所述裝置包括:
[0024]第一獲取模塊，用于獲取標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值；
[0025]第二獲取模塊，用于獲取檢測(cè)位置設(shè)置值；
[0026]確定模塊，用于將所述檢測(cè)位置設(shè)置值與所述標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值進(jìn)行綜合運(yùn)算，所得結(jié)果確定為面板測(cè)試點(diǎn)的位置。
[0027]從上述本發(fā)明實(shí)施例可知，一方面，可以根據(jù)標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值和標(biāo)記點(diǎn)周?chē)鈱W(xué)參數(shù)移動(dòng)測(cè)試頭，使得圖像定位設(shè)備的鏡頭上出現(xiàn)的標(biāo)記與待測(cè)面板的標(biāo)記點(diǎn)重合，如此能夠找到測(cè)試點(diǎn)的大致范圍，為確定測(cè)試點(diǎn)提供的初步的保證，另一方面，可以根據(jù)檢測(cè)位置設(shè)置值將測(cè)試頭移動(dòng)至待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)正上方，由于檢測(cè)位置設(shè)置值是事先精確設(shè)置的，因此，能夠?qū)y(cè)試頭精確對(duì)準(zhǔn)測(cè)試點(diǎn)。與現(xiàn)有技術(shù)提供的測(cè)試方法相比，本發(fā)明由于能夠?qū)y(cè)試頭精確對(duì)準(zhǔn)測(cè)試點(diǎn)，因此顯著降低了誤測(cè)率，而且，所有的產(chǎn)品可以使用本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)降低測(cè)試成本(實(shí)際生產(chǎn)的實(shí)踐表明，測(cè)試點(diǎn)數(shù)與測(cè)試點(diǎn)PITCH數(shù)相同的，可以共用測(cè)試頭，不同的測(cè)試點(diǎn)的產(chǎn)品，只需要更換測(cè)試頭即可，一般一個(gè)測(cè)試架需要1000?2000元，而一個(gè)測(cè)試頭只需要100?200元，節(jié)省成本90% )，在發(fā)現(xiàn)問(wèn)題時(shí)可以及時(shí)改善而不會(huì)浪費(fèi)資源，從而有利于增加企業(yè)的利潤(rùn)。
【附圖說(shuō)明】
[0028]圖1是本發(fā)明實(shí)施例一提供的測(cè)試面板的方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖；
[0029]圖2是本發(fā)明實(shí)施例二提供的測(cè)試面板的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖3是本發(fā)明實(shí)施例三提供的測(cè)試面板的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖4是本發(fā)明實(shí)施例四提供的面板測(cè)試點(diǎn)定位方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖；
[0032]圖5是本發(fā)明實(shí)施例五提供的面板測(cè)試點(diǎn)定位裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0033]圖6是本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像定位設(shè)備的鏡頭上出現(xiàn)的標(biāo)記與待測(cè)面板的標(biāo)記點(diǎn)重合時(shí)，測(cè)試頭的測(cè)試探針與待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)的角度偏差、在水平方向的距離差值和垂直方向的距離差值的示意圖；
[0034]圖7是本發(fā)明實(shí)施例提供的圖像定位設(shè)備的鏡頭上出現(xiàn)的標(biāo)記與待測(cè)面板的標(biāo)記點(diǎn)重合時(shí)，測(cè)試頭需要移動(dòng)差值后才能保證測(cè)試頭在待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)正上方的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0035]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0036]本發(fā)明實(shí)施例提供測(cè)試面板的方法，所述方法包括:吸附放置于工作臺(tái)的待測(cè)面板；根據(jù)標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值和標(biāo)記點(diǎn)周?chē)鈱W(xué)參數(shù)移動(dòng)測(cè)試頭，使得圖像定位設(shè)備的鏡頭上出現(xiàn)的標(biāo)記與所述待測(cè)面板的標(biāo)記點(diǎn)重合，所述標(biāo)記點(diǎn)位置設(shè)置值和標(biāo)記點(diǎn)周?chē)鈱W(xué)參數(shù)事先設(shè)置于產(chǎn)品測(cè)試程序中保存；根據(jù)檢測(cè)位置設(shè)置值將所述測(cè)試頭移動(dòng)至所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)正上方，所述檢測(cè)位置設(shè)置值包括所述測(cè)試頭的測(cè)試探針與所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)的角度偏差、在水平方向的距離差值和垂直方向的距離差值；將所述測(cè)試下降至所述測(cè)試頭的測(cè)試探針與所述待測(cè)面板的測(cè)試點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)接觸；所述產(chǎn)品測(cè)試程序開(kāi)始測(cè)試所述待測(cè)面板。本發(fā)明實(shí)施例還提供相應(yīng)的面板測(cè)試點(diǎn)定位裝置和測(cè)試面板的方法、系統(tǒng)。以下分別進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
[0037]請(qǐng)參閱附圖1，是本發(fā)明實(shí)施例一提供的測(cè)試面板的方