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      一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):9784702閱讀:689來(lái)源:國(guó)知局
      一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]單光子探測(cè)技術(shù)是超靈敏光信號(hào)檢測(cè)的諸多技術(shù)之一,在物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等學(xué)科和工程應(yīng)用領(lǐng)域有十分廣泛的應(yīng)用。近年來(lái),隨著量子科學(xué)的興起和超靈敏光譜學(xué)的發(fā)展,單光子探測(cè)器技術(shù)在其中扮演著越來(lái)越重要的作用。
      [0003]目前單光子探測(cè)系統(tǒng)的方法主要有兩種:正弦門(mén)控低通濾波方法和差分方法。正弦門(mén)控低通濾波方法利用正弦門(mén)控信號(hào)頻率單一、便于濾波的特性,利用多級(jí)RC濾波的方法濾去門(mén)控信號(hào),得到單光子信號(hào),方法簡(jiǎn)單。差分方法利用尖峰噪聲的自相關(guān)性,將APD出來(lái)的光電流分成兩路,其中一路延時(shí)一個(gè)周期,兩路響應(yīng)信號(hào)相減,從而抵消尖峰噪聲。
      [0004]但是,正弦門(mén)控低通濾波方法中,在濾除噪聲的同時(shí)不僅破壞了雪崩信號(hào)的完整性,也增加了單光子探測(cè)器的額外電路噪聲。差分方法中,在平衡過(guò)程中雪崩信號(hào)也分成了兩路,降低了雪崩幅度,不利于提高探測(cè)器的信噪比。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明提供一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),解決現(xiàn)有技術(shù)中雪崩信號(hào)完整性遭到破壞、額外增加電路噪聲,雪崩幅度降低導(dǎo)致信噪比低、增益不足、電路復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題。
      [0006]為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),包括:混頻器、雪崩光電二極管APD,跨阻放大器TIA、取樣電阻R以及比較器;
      [0007]所述雪崩光電二極管APD的負(fù)極連接直流偏壓VD,正極通過(guò)所述取樣電阻R接地;所述雪崩光電二極管APD的正極與所述跨阻放大器TIA輸入端相連;所述跨阻放大器TIA信號(hào)輸出端分別與所述雪崩光電二極管Aro的負(fù)極以及所述比較器相連;
      [0008]其中,待檢單光子信號(hào)與本振光信號(hào)經(jīng)由所述混頻器混頻后輸出光信號(hào),所述光信號(hào)發(fā)送給所述雪崩光電二極管Aro的光輸入端;
      [0009]所述跨阻放大器TIA的輸出信號(hào)反饋調(diào)節(jié)雪崩光電二極管Aro兩端電壓;
      [0010]所述比較器計(jì)數(shù)單光子脈沖。
      [0011]進(jìn)一步地,所述本振光信號(hào)經(jīng)衰減后進(jìn)入所述混頻器。
      [0012]進(jìn)一步地,所述自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng)還包括:可調(diào)衰減器;
      [0013]所述可調(diào)衰減器與所述混頻器輸入端相連;
      [0014]其中,所述本振光信號(hào)通過(guò)所述可調(diào)衰減器衰減后進(jìn)入所述混頻器。
      [0015]進(jìn)一步地所述直流偏壓VD大于所述雪崩光電二極管Aro的雪崩閾值電壓;
      [0016]在有光入射的情況下,所述雪崩光電二極管APD發(fā)生雪崩。
      [0017]進(jìn)一步地,所述本振光信號(hào)與所述待檢單光子信號(hào)混頻后進(jìn)入到所述雪崩光電二極管APD;
      [0018]所述雪崩光電二極管APD產(chǎn)生的光電流經(jīng)過(guò)雪崩放大成為正弦電流,經(jīng)過(guò)取樣電阻R產(chǎn)生正弦電壓信號(hào);
      [0019]所述正弦電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)所述跨阻放大器TIA放大,并反饋調(diào)節(jié)所述雪崩光電二極管Aro兩端直流偏壓;
      [0020]所述跨阻放大器TIA的輸出信號(hào)經(jīng)由所述比較器計(jì)數(shù)。
      [0021]本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案,至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn):
      [0022]1、本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),革新傳統(tǒng)的單光子探測(cè)方案中的僅僅探測(cè)單光子信號(hào)的方法,變?yōu)橥瑫r(shí)探測(cè)單光子信號(hào)和激光器提供的本振光信號(hào);系統(tǒng)方案中單光子信號(hào)和本振光信號(hào)混頻后入射到處于蓋革模式的APD,產(chǎn)生的雪崩電流是混頻后的光電流,相比較傳統(tǒng)的光電流超大幅增加;相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)中,要求APD放大增益超過(guò)106,對(duì)AH)要求較高,需要AH)長(zhǎng)期工作在非常高的增益下,需要特殊定制APD的情況;本申請(qǐng)實(shí)施例對(duì)Aro增益需求降低,能夠大大降低Aro的成本。
      [0023]2、本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),對(duì)APD增益需求降低,APD工作電壓降低,能夠有效的降低暗計(jì)數(shù)和誤碼率,提高光子計(jì)數(shù)可靠性。
      [0024]3、本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),采用負(fù)反饋的方式實(shí)現(xiàn)自淬滅,系統(tǒng)能夠避免門(mén)控信號(hào)帶來(lái)的噪聲和串?dāng)_,并且電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。
      [0025]4、本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),跨阻放大器TIA選用高速器件,能夠快速實(shí)現(xiàn)自淬滅,系統(tǒng)能夠適用于高速單光子探測(cè)系統(tǒng)。
      [0026]5、本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),本振光與單光子信號(hào)混頻后產(chǎn)生正弦振蕩信號(hào),經(jīng)過(guò)APD雪崩放大為正弦電流信號(hào),經(jīng)過(guò)取樣電阻R產(chǎn)生正弦電壓信號(hào);AH)兩端電壓為固定直流偏壓信號(hào)與正弦電壓信號(hào)差值,在蓋革模式下AH)兩端電壓的微弱變化能夠極大地影響APD提供的內(nèi)部光電流增益變化,正弦電壓經(jīng)過(guò)TIA跨阻放大器回到Aro負(fù)極反饋調(diào)節(jié)Aro兩端電壓,從而實(shí)現(xiàn)自淬滅;此系統(tǒng)不需要外接門(mén)控信號(hào),有效的避免了門(mén)控信號(hào)帶來(lái)的噪聲和后續(xù)的濾波電路,大大簡(jiǎn)化了系統(tǒng)電路結(jié)構(gòu)。
      【附圖說(shuō)明】
      [0027]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0028]本申請(qǐng)實(shí)施例通過(guò)提供一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),解決現(xiàn)有技術(shù)中雪崩信號(hào)完整性遭到破壞、額外增加電路噪聲,雪崩幅度降低導(dǎo)致信噪比低、增益不足、電路復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題;達(dá)到了提升增益,簡(jiǎn)化電路的技術(shù)效果。
      [0029]為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本申請(qǐng)實(shí)施例提供技術(shù)方案的總體思路如下:
      [0030]一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),包括:混頻器、雪崩光電二極管APD,跨阻放大器TIA、取樣電阻R以及比較器;
      [0031]所述雪崩光電二極管APD的負(fù)極連接直流偏壓VD,正極通過(guò)所述取樣電阻R接地;所述雪崩光電二極管APD的正極與所述跨阻放大器TIA輸入端相連;所述跨阻放大器TIA信號(hào)輸出端分別與所述雪崩光電二極管Aro的負(fù)極以及所述比較器相連;
      [0032]其中,待檢單光子信號(hào)與本振光信號(hào)經(jīng)由所述混頻器混頻后輸出光信號(hào),所述光信號(hào)發(fā)送給所述雪崩光電二極管Aro的光輸入端;
      [0033]所述跨阻放大器TIA的輸出信號(hào)反饋調(diào)節(jié)雪崩光電二極管AH)兩端電壓;
      [0034]所述比較器計(jì)數(shù)單光子脈沖。
      [0035]通過(guò)上述內(nèi)容可以看出,采用負(fù)反饋的方式實(shí)現(xiàn)自淬滅,系統(tǒng)能夠避免門(mén)控信號(hào)帶來(lái)的噪聲和串?dāng)_,并且電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。本振光與單光子信號(hào)混頻后產(chǎn)生正弦振蕩信號(hào),經(jīng)過(guò)Aro雪崩放大為正弦電流信號(hào),經(jīng)過(guò)取樣電阻R產(chǎn)生正弦電壓信號(hào)。Aro兩端電壓為固定直流偏壓信號(hào)與正弦電壓信號(hào)差值,在蓋革模式下APD兩端電壓的微弱變化能夠極大地影響Aro提供的內(nèi)部光電流增益變化,正弦電壓經(jīng)過(guò)TIA跨阻放大器回到Aro負(fù)極反饋調(diào)節(jié)Aro兩端電壓,從而實(shí)現(xiàn)自淬滅。此系統(tǒng)不需要外接門(mén)控信號(hào),有效的避免了門(mén)控信號(hào)帶來(lái)的噪聲和后續(xù)的濾波電路,大大簡(jiǎn)化了系統(tǒng)電路結(jié)構(gòu)。
      [0036]為了更好的理解上述技術(shù)方案,下面將結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖以及具體的實(shí)施方式對(duì)上述技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明,應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明實(shí)施例以及實(shí)施例中的具體特征是對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案的詳細(xì)的說(shuō)明,而不是對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案的限定,在不沖突的情況下,本申請(qǐng)實(shí)施例以及實(shí)施例中的技術(shù)特征可以相互組合。
      [0037]參見(jiàn)圖1,本發(fā)明實(shí)施例提供的一種自淬滅單光子探測(cè)系統(tǒng),包括:混頻器Mixer、雪崩光電二極管APD,跨阻放大器TIA、取樣電阻R以及比較器;
      [0038]所述雪崩光電二極管APD的負(fù)極連接直流偏壓VD,正極通過(guò)所述取樣電阻R接地;所述雪崩光電二極管APD的正極與所述跨阻放大器TIA輸入端相連;所述跨阻放大器TIA信號(hào)輸出端分別與所述雪崩光電二極管Aro的負(fù)極以及所述比較器相連;
      [0039]其中,待檢單光子信號(hào)與本振光信號(hào)經(jīng)由所述混頻器混頻后輸出光信號(hào),所述光信號(hào)發(fā)送給所述雪崩光電二極管APD的光輸入端;所述跨阻放大
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