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      一種多線光學(xué)掃描測距裝置及其方法

      文檔序號:9786239閱讀:590來源:國知局
      一種多線光學(xué)掃描測距裝置及其方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及光學(xué)測距裝置及其方法,特別是涉及一種能實現(xiàn)多維度測量的光學(xué)測距裝置及其方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]光學(xué)掃描測距裝置是一種使用準直光束,通過飛行時間(T0F)、三角測量等方法測量距離的設(shè)備。目前,通常的光學(xué)掃描測距裝置包括:光發(fā)射模塊、光學(xué)鏡頭、接收并處理信號的芯片、電機及滑環(huán)。光發(fā)射模塊發(fā)出光束,經(jīng)過準直的光束發(fā)射到被測物體表面,反射到接收芯片上,通過測量發(fā)射到接收之間的時間,已知光速,即可求出被測物體到裝置的距離。通過電機旋轉(zhuǎn)可以得到一周360度的環(huán)境距離信號,目前廣泛應(yīng)用于機器人環(huán)境掃描、規(guī)劃路徑、安防檢測等。
      [0003]但是,由于此種光學(xué)掃描測距裝置不能被不透光的材質(zhì)遮擋,因此在智能機器人中就必須留出很大一部分沒有遮擋物的環(huán)形空間,或者將光學(xué)掃描測距裝置固定在智能機器人頂端,這些因素很大的限制了智能機器人的體積和布局。
      [0004]針對以上所述缺點,現(xiàn)有技術(shù)中的一種解決方式是,由于一般機器人大多數(shù)時間向機器人前方移動,只需測量機器人前方及兩側(cè)被測物體的距離即可,因此,僅需要在掃描測距裝置的探頭旋轉(zhuǎn)到機器人前方及兩側(cè)位置時,將機器人中前方及兩側(cè)的裝配測距裝置的相應(yīng)位置設(shè)置成沒有遮擋物的缺口形狀,而可以在機器人中后方的裝配測距裝置的相應(yīng)位置設(shè)置成具有遮擋物,從而有利于機器人在有限體積內(nèi)的布局。但是,當(dāng)掃描測距裝置探頭的出光和接收光開口旋轉(zhuǎn)到遮擋部分時,便不能有效利用掃描測距裝置進行測距,使得掃描測距裝置的掃描利用率低。
      [0005]此外,通常的光學(xué)掃描測距裝置只能得到一個維度的環(huán)境距離信號,在垂直于光學(xué)掃描的方向存在很大的盲區(qū),這對于智能機器人規(guī)劃路徑和智能導(dǎo)航都有極大的限制。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006]為了克服現(xiàn)有的光學(xué)掃描測距裝置限制智能機器人的體積和布局、掃描利用率低、及在垂直于光學(xué)掃描的方向存在很大的盲區(qū)的缺點,本發(fā)明提供一種多線光學(xué)掃描測距裝置及其方法,不僅能提高智能機器人內(nèi)部的空間及掃描測距裝置的掃描利用率,而且能將一維光學(xué)測距雷達轉(zhuǎn)化為多線光學(xué)測距雷達,減小智能機器人的盲區(qū)。
      [0007]本發(fā)明為解決其所要解決的技術(shù)問題采用的技術(shù)方案是:在普通的光學(xué)掃描測距裝置的基礎(chǔ)之上,添加由平面反射鏡、電機、傳動結(jié)構(gòu)組成的裝置。當(dāng)光學(xué)掃描測距裝置的探頭旋轉(zhuǎn)到平面反射鏡一側(cè)時,由于平面反射鏡具有夾角結(jié)構(gòu),發(fā)射光束通過兩次反射達到目標探測方向,使得光學(xué)掃描測距裝置可實現(xiàn)在設(shè)定的目標角度循環(huán)測量。在此基礎(chǔ)之上,還可進一步用電機控制平面反射鏡,調(diào)節(jié)其與水平面的夾角,每當(dāng)光學(xué)掃描測距裝置的探頭旋轉(zhuǎn)到目標方向角度時,改變平面反射鏡與水平面的夾角,直到光學(xué)掃描測距裝置的探頭旋轉(zhuǎn)通過平面反射鏡,然后再通過電機改變平面反射鏡與水平面的夾角,按照設(shè)定的多個角度循環(huán),即可得到多線光學(xué)掃描測距裝置。平面反射鏡掃描裝置的外側(cè)可隨智能機器人的結(jié)構(gòu)布置,不必考慮遮擋光束,并且能夠達到目標探測方向在垂直于光學(xué)掃描測距裝置的水平維度內(nèi)減小盲區(qū),實現(xiàn)多線掃描測距。
      [0008]具體而言,本發(fā)明提供了一種光學(xué)掃描測距裝置,所述光學(xué)掃描測距裝置包括:光學(xué)掃描測距裝置主體、光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭、上平面反射鏡、下平面反射鏡,其中所述上平面反射鏡和下平面反射鏡具有夾角;所述光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭包括光發(fā)射模塊、光學(xué)透鏡、光接收模塊、信號處理模塊;所述光學(xué)掃描測距裝置主體包括電機及滑環(huán)。
      [0009]在其中的一實施例,所述光學(xué)掃描測距裝置主體包括電機、無線供電裝置及無線信號傳輸模塊,不具有滑環(huán)。
      [0010]在其中一實施例,所述光學(xué)掃描測距裝置探頭也可以是發(fā)射模塊、光接收模塊、信號處理模塊不旋轉(zhuǎn),而是通過設(shè)計光路,將光路上的光學(xué)元件進行旋轉(zhuǎn),實現(xiàn)360度或者任何可控角度范圍的光學(xué)掃描測距。例如發(fā)射模塊固定不同,發(fā)出光線照到反射鏡,通過反射鏡360度旋轉(zhuǎn),實現(xiàn)對360度范圍內(nèi)的掃描測距。
      [0011]在其中的一實施例,所述上平面反射鏡和下平面反射鏡固定成90度夾角,上平面反射鏡與水平面成45度夾角。
      [0012]在其中的一實施例,所述光學(xué)掃描測距裝置還包括控制平面反射鏡轉(zhuǎn)動的電機,所述電機控制上平面反射鏡轉(zhuǎn)動,用于改變上平面反射鏡和下平面反射鏡的夾角。
      [0013]在其中的一實施例,所述電機的數(shù)量為一個、兩個或多于兩個,所述電機控制上平面反射鏡單獨轉(zhuǎn)動、或者控制下平面反射鏡單獨轉(zhuǎn)動、或者控制上平面反射鏡和下平面反射鏡都轉(zhuǎn)動。
      [0014]在其中的一實施例,反射鏡為多組由上平面反射鏡和下平面反射鏡構(gòu)成的反射鏡組的組合,所述反射鏡組的數(shù)量為兩個或者多于兩個,所述多個反射鏡組之間以垂直于水平面方向為軸具有夾角,所述上平面反射鏡和下平面反射鏡之間具有夾角。
      [0015]在其中的一實施例,所述上平面反射鏡和下平面反射鏡為平面或者為曲面。
      [0016]本發(fā)明涉及一種多線掃描測距的方法,光學(xué)掃描測距裝置包括:光學(xué)掃描測距裝置主體、光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭、上平面反射鏡、下平面反射鏡,所述上平面反射鏡和下平面反射鏡固定成90度夾角,上平面反射鏡與水平面成45度夾角;
      多線掃描測距步驟為:
      步驟一:光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭發(fā)出光束,旋轉(zhuǎn)到被測物體方向,光束直接照射到被測物體,經(jīng)過被測物體的反射,反射光被接收模塊接收,對被測物體第一次掃描測距;步驟二:光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭旋轉(zhuǎn)到反射鏡方向,光學(xué)掃描測距裝置發(fā)出的光束,照射到下平面反射鏡,經(jīng)過反射,照射到上平面反射鏡,光束水平射出,照射到被測物體;
      步驟三:經(jīng)過被測物體反射,反射光依次照射到上平面反射鏡和下平面反射鏡,最后被光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭中的光接收模塊所接收,對掃描過的被測物體在另一水平面掃描,完成被測物體的第二次掃描測距;
      步驟四:光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭不斷旋轉(zhuǎn),重復(fù)以上步驟。
      [0017]本發(fā)明涉及另一種多線掃描測距的方法,光學(xué)掃描測距裝置包括:光學(xué)掃描測距裝置主體、光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭、上平面反射鏡、下平面反射鏡、電機,所述電機用于改變上平面反射鏡和水平面的夾角;
      多線掃描測距步驟為:
      步驟一:光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭發(fā)出光束,旋轉(zhuǎn)到被測物體方向,光束直接照射到被測物體,經(jīng)過被測物體的反射,反射光被接收模塊接收,對被測物體第一次掃描測距;步驟二:光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭旋轉(zhuǎn)到反射鏡方向,光學(xué)掃描測距裝置發(fā)出的光束,照射到下平面反射鏡,經(jīng)過反射,照射到上平面反射鏡,光束水平射出,照射到被測物體;經(jīng)過被測物體反射,反射光依次照射到上平面反射鏡和下平面反射鏡,最后被光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭中的光接收模塊所接收,對掃描過的被測物體在另一水平面掃描,完成被測物體的另一次掃描測距;
      步驟三:控制電機,使得上平面反射鏡與水平面的夾角隨光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭旋轉(zhuǎn)周期改變,對上平面反射鏡與水平面形成的每個夾角的狀態(tài),都重復(fù)步驟二,對掃描過的被測物體在多個不同水平面掃描,完成被測物體的多次掃描測距。
      [0018]本發(fā)明涉及另一種多線掃描測距的方法,光學(xué)掃描測距裝置包括:光學(xué)掃描測距裝置主體、光學(xué)掃描測距裝置旋轉(zhuǎn)探頭、上平面反射鏡、下平面反射鏡、電機,所述電機為一個、兩個或者多于兩個,所述電機控制上平面反射鏡單獨轉(zhuǎn)動、或者控制下平面反射鏡單獨轉(zhuǎn)動、或者控制上平面反射鏡和下平面反射鏡都轉(zhuǎn)動;
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