一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明提供了一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在鐵路信號(hào)行業(yè)，為使電路能夠安全地切斷、控制，繼電器的應(yīng)用較為普及，繼電器在使用前需要進(jìn)行性能檢測(cè)，需要檢測(cè)勵(lì)磁電壓、觸點(diǎn)壓降或勵(lì)磁延時(shí)性能是否滿足標(biāo)準(zhǔn)，其中密封型繼電器往往難以通過(guò)直觀檢查判斷出性能是否滿足標(biāo)準(zhǔn)。在密封性繼電器無(wú)法進(jìn)行分解拆卸的前提下，如何對(duì)繼電器進(jìn)行檢測(cè)，確保電路正常溝通與切斷是提高檢修效率和質(zhì)量，確保行車安全的重要保障。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]基于以上不足，本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法和裝置，其能對(duì)繼電器的勵(lì)磁性能進(jìn)行檢測(cè)。
[0004]為了解決以上技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用了以下技術(shù)方案:
[0005]—種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0006](I)調(diào)用模數(shù)轉(zhuǎn)換子程序及IIC協(xié)議，讀取觸點(diǎn)輸入電壓；
[0007](2)判斷繼電器輸出命令，選擇數(shù)字量范圍；
[0008](3)判斷數(shù)字量回檢輸入是否正常，若是，測(cè)試次數(shù)減I，繼電器輸出命令取反，并執(zhí)行下一步，若否，調(diào)用報(bào)警子程序；
[0009](4)調(diào)用顯示子程序，控制顯示模塊顯示設(shè)置及測(cè)試次數(shù)，并返回到步驟(I)重新執(zhí)行。
[0010]在所述步驟(I)之前還包括按鍵檢測(cè)步驟，所述按鍵檢測(cè)步驟包括:
[0011](I)檢測(cè)設(shè)置鍵是否按下，若是，延時(shí)抖動(dòng)，若否，執(zhí)行下一步；
[0012](2)再次檢測(cè)設(shè)置鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(I);
[0013](3)檢測(cè)加測(cè)試次數(shù)鍵和減測(cè)試次數(shù)鍵是否按下，若是，延時(shí)抖動(dòng)，若否，執(zhí)行下一步；
[0014](4)再次檢測(cè)加測(cè)試次數(shù)鍵和減測(cè)試次數(shù)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(3);
[0015](5)檢測(cè)確認(rèn)鍵是否按下，若是，延時(shí)抖動(dòng)，若否，執(zhí)行下一步；
[0016](6)再次檢測(cè)確認(rèn)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(5)。
[0017]—種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試裝置，包括單片機(jī)、用于設(shè)置測(cè)試次數(shù)和啟動(dòng)程序的設(shè)置模塊、用于將繼電器的模擬輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、用于接入繼電器的繼電器連接模塊和在判斷出繼電器誤動(dòng)作或不滿足標(biāo)準(zhǔn)時(shí)進(jìn)行報(bào)警的報(bào)警模塊，所述設(shè)置模塊、模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊以及報(bào)警模塊均與所述單片機(jī)連接，所述繼電器連接模塊分別與所述繼電器驅(qū)動(dòng)模塊和所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接。
[0018]所述繼電器驅(qū)動(dòng)模塊包括兩個(gè)三極管以及一個(gè)單刀雙擲開關(guān)，單片機(jī)的繼電器控制命令引腳與單刀雙擲開關(guān)的控制端連接，單刀雙擲開關(guān)一端為其中一三極管的基極，另一端為另一三極管的基極，其中一三極管的集電極和發(fā)射極連接并聯(lián)連接的四個(gè)繼電器，另一三極管的集電極和發(fā)射極連接并聯(lián)連接另外四個(gè)繼電器。
[0019]所述繼電器連接模塊包括八個(gè)二極管，所述二極管的正極與其中一個(gè)繼電器連接，負(fù)極與模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接。
[0020]所述設(shè)置模塊包括與所述單片機(jī)連接的設(shè)置按鍵、用于加測(cè)試次數(shù)的按鍵、用于減測(cè)試次數(shù)的按鍵以及用于啟動(dòng)的按鍵。
[0021]所述報(bào)警模塊包括三極管和蜂鳴器，所述三極管是基極與所述單片機(jī)連接，發(fā)射極與蜂鳴器連接，集電極與電源連接，所述蜂鳴器接地連接。
[0022]還包括與單片機(jī)連接的晶振電路和復(fù)位電路。
[0023]還包括電源模塊，所述電源模塊為外置可調(diào)電源。
[0024]還包括顯示模塊，所述顯示模塊包括兩個(gè)鎖存器以及數(shù)碼管，所述鎖存器均與所述單片機(jī)連接，所述數(shù)碼管與所述兩個(gè)鎖存器連接，所述單片機(jī)控制鎖存器驅(qū)動(dòng)數(shù)碼管進(jìn)行顯示。
[0025]采用以上技術(shù)方案，本發(fā)明取得了以下技術(shù)效果:
[0026]本發(fā)明提供的基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法和裝置，能夠設(shè)置測(cè)試次數(shù)并通過(guò)程序控制繼電器進(jìn)行反復(fù)勵(lì)磁、能夠?qū)τ|點(diǎn)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)并報(bào)警;能夠檢測(cè)觸點(diǎn)壓降、檢測(cè)繼電器動(dòng)作延時(shí)，能對(duì)繼電器的各項(xiàng)性能進(jìn)行全面檢測(cè)。
【附圖說(shuō)明】
[0027]圖1為本發(fā)明密封性繼電器性能測(cè)試裝置的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0028]圖2為本發(fā)明密封性繼電器性能測(cè)試裝置的繼電器驅(qū)動(dòng)模塊的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0029]圖3為本發(fā)明密封性繼電器性能測(cè)試裝置的繼電器連接模塊的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0030]圖4為本發(fā)明密封性繼電器性能測(cè)試裝置的設(shè)置模塊的電路結(jié)構(gòu)圖；
[0031]圖5為本發(fā)明密封性繼電器性能測(cè)試裝置的顯示模塊的電路結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0032]本發(fā)明提供了一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0033](I)調(diào)用模數(shù)轉(zhuǎn)換子程序及IIC協(xié)議，讀取觸點(diǎn)輸入電壓；
[0034](2)判斷繼電器輸出命令，選擇數(shù)字量范圍；
[0035](3)判斷數(shù)字量回檢輸入是否正常，若是，測(cè)試次數(shù)減I，繼電器輸出命令取反，并執(zhí)行下一步，若否，調(diào)用報(bào)警子程序；
[0036](4)調(diào)用顯示子程序，控制顯示模塊顯示設(shè)置及測(cè)試次數(shù)，并返回到步驟(I)重新執(zhí)行。
[0037]在所述步驟(I)之前還包括按鍵檢測(cè)步驟，所述按鍵檢測(cè)步驟包括:
[0038](I)檢測(cè)設(shè)置鍵是否按下，若是，延時(shí)抖動(dòng)，若否，執(zhí)行下一步；
[0039](2)再次檢測(cè)設(shè)置鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(I);
[0040](3)檢測(cè)加測(cè)試次數(shù)鍵和減測(cè)試次數(shù)鍵是否按下，若是，延時(shí)抖動(dòng)，若否，執(zhí)行下一步；
[0041](4)再次檢測(cè)加測(cè)試次數(shù)鍵和減測(cè)試次數(shù)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(3);
[0042](5)檢測(cè)確認(rèn)鍵是否按下，若是，延時(shí)抖動(dòng)，若否，執(zhí)行下一步；
[0043](6)再次檢測(cè)確認(rèn)鍵是否按下，若是，執(zhí)行下一步，若否，返回執(zhí)行步驟(5)。
[0044]在主程序中首先進(jìn)行按鍵檢測(cè)，按鍵由使用者手動(dòng)按下，當(dāng)按下時(shí)單片機(jī)檢測(cè)到一個(gè)低電平。設(shè)置模塊共設(shè)四個(gè)按鍵，分別為設(shè)置鍵、加測(cè)試次數(shù)鍵，減測(cè)試次數(shù)鍵和確認(rèn)鍵。設(shè)置鍵按下后，可以通過(guò)加測(cè)試次數(shù)鍵和減測(cè)試次數(shù)鍵設(shè)置測(cè)試次數(shù)，并按下確認(rèn)鍵開始進(jìn)行測(cè)試。然后進(jìn)行繼電器勵(lì)磁檢測(cè)，首先對(duì)繼電器當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行判斷，若觸點(diǎn)為吸起狀態(tài)，則四個(gè)觸點(diǎn)檢測(cè)到的模擬電壓值標(biāo)準(zhǔn)為4V以上，否則為IV以下。當(dāng)四個(gè)觸點(diǎn)檢測(cè)到的模擬電壓值均在符合標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，此時(shí)執(zhí)行計(jì)數(shù)減I，繼電器勵(lì)磁命令取反;在任何一個(gè)循環(huán)內(nèi)如果四個(gè)觸點(diǎn)檢測(cè)到的模擬電壓值不在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則調(diào)用報(bào)警子程序輸出報(bào)警命令。
[0045]在進(jìn)行繼電器勵(lì)磁檢測(cè)的同時(shí)還可以進(jìn)行觸點(diǎn)壓降檢測(cè)，本發(fā)明采用PCF8591芯片實(shí)現(xiàn)數(shù)模轉(zhuǎn)換，所述芯片與單片機(jī)通過(guò)IIC協(xié)議進(jìn)行通信，單片機(jī)通過(guò)調(diào)用電壓值，并對(duì)電壓值進(jìn)行取整。當(dāng)SlMV時(shí)，a = 4;當(dāng)S1〈1V時(shí)，a = 0。由此可以判斷觸點(diǎn)壓降，同時(shí)也可在程序中對(duì)此參數(shù)進(jìn)行修改。
[0046]還可以進(jìn)行繼電器的動(dòng)作延時(shí)判斷，在主程序中設(shè)置參數(shù)j，在執(zhí)行主循環(huán)時(shí)首先對(duì)j進(jìn)行判斷。當(dāng)j = 200時(shí)執(zhí)行繼電器動(dòng)作并將j置零，當(dāng)j在200時(shí)則僅判斷繼電器狀態(tài)是否符合標(biāo)準(zhǔn)。結(jié)合晶振頻率可通過(guò)對(duì)j的最大值進(jìn)行調(diào)整來(lái)判斷繼電器的動(dòng)作延時(shí)是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0047]如圖1所示，本發(fā)明還提供了一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試裝置，包括:單片機(jī)、用于設(shè)置測(cè)試次數(shù)和啟動(dòng)程序的設(shè)置模塊、用于將繼電器的模擬輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊、用于接入繼電器的繼電器連接模塊和在判斷出繼電器誤動(dòng)作或不滿足標(biāo)準(zhǔn)時(shí)進(jìn)行報(bào)警的報(bào)警模塊，所述設(shè)置模塊、模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、繼電器驅(qū)動(dòng)模塊以及報(bào)警模塊均與所述單片機(jī)連接，所述繼電器連接模塊分別與所述繼電器驅(qū)動(dòng)模塊和所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接。
[0048]如圖2所示，所述繼電器驅(qū)動(dòng)模塊包括三極管Ql和三極管Q2以及一個(gè)單刀雙擲開關(guān)K3，單片機(jī)的繼電器控制命令引腳與單刀雙擲開關(guān)K3的控制端連接，單刀雙擲開關(guān)K3—端為三極管Ql的基極，另一端為三極管Q2的基極，三極管Ql的集電極