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      Lcm電路檢測(cè)裝置及對(duì)lcm電路進(jìn)行檢測(cè)的方法_2

      文檔序號(hào):9843026閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
      置對(duì)LCM電路進(jìn)行檢測(cè)。數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊102分別與中央處理器器101和電壓檢測(cè)模塊103相連接,用于對(duì)電壓檢測(cè)模塊103和中央處理器101之間交互的數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)換,例如,數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊102將中央處理器101發(fā)送至電壓檢測(cè)模塊103的指令轉(zhuǎn)換為電信號(hào),從而使得中央處理器101發(fā)送至電壓檢測(cè)模塊103的指令可被電壓檢測(cè)模塊103識(shí)別;又例如,數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊102將電壓檢測(cè)模塊103發(fā)送至中央處理器101的電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào),從而使得電壓檢測(cè)模塊103發(fā)送至中央處理器101的電壓數(shù)據(jù)可被中央處理器101識(shí)別。
      [0049]在本實(shí)施例中,電壓檢測(cè)模塊103內(nèi)設(shè)置有多個(gè)電壓檢測(cè)單元,每個(gè)電壓檢測(cè)單元即為一個(gè)電壓檢測(cè)電路,可對(duì)待檢測(cè)的LCM電路進(jìn)行檢測(cè)。為了防止因誤操作導(dǎo)致待檢測(cè)的LCM電路對(duì)地短路,每個(gè)電壓檢測(cè)單元內(nèi)設(shè)置有一個(gè)電磁繼電器,該電磁繼電器至少包括一個(gè)線圈、銜鐵等。通過(guò)電磁繼電器可實(shí)現(xiàn)對(duì)兩種電壓檔位的選擇,該兩種電壓檔位包括第一電壓檔位和第二電壓檔位,第一電壓檔位對(duì)應(yīng)的電壓可以為IV(伏)、2V、3V等,第二電壓檔位對(duì)應(yīng)的電壓可以為5V、6V、7V等,本實(shí)施例不對(duì)第一電壓檔位對(duì)應(yīng)的電壓和第二電壓檔位對(duì)應(yīng)的電壓進(jìn)行具體的限定,只需保證第一電壓檔位對(duì)應(yīng)的電壓小于第二電壓檔位對(duì)應(yīng)的電壓即可。
      [0050]圖2為電壓檢測(cè)單元的結(jié)構(gòu)示意圖,其中I為三極管的發(fā)射極,2為三極管的基極,3為三極管的集電極,4為電磁繼電器的一個(gè)靜觸點(diǎn),5為電磁繼電器的另一個(gè)靜觸點(diǎn),6為電磁繼電器的線圈。在本實(shí)施例中,電磁繼電器具有多種狀態(tài),當(dāng)STl =0,電磁繼電器通電后線圈中無(wú)電流;當(dāng)STl = I,電磁繼電器通電后線圈中有電流?;陔姶爬^電器的工作狀態(tài),當(dāng)在三極管的基極I中通入較大的電流時(shí),根據(jù)基極電流、集電極電流及發(fā)射極電流之間的關(guān)系:集電極電流IC =發(fā)射極電流IE = β*基極電流IB,發(fā)射極和集電極中的電流也隨之增大,此時(shí)集電極與發(fā)射極之間的電壓降非常低(VCE為0.4V以下),集電極和發(fā)射極之間完全導(dǎo)通。
      [0051 ] 在本實(shí)施例中,當(dāng)電磁繼電器的狀態(tài)STl = 0時(shí),電磁繼電器的線圈中無(wú)電流,電壓檢測(cè)單元通過(guò)銜鐵將待檢測(cè)的LCM連接到第一電壓檔位,由圖2可知,該第一電壓檔位為5V_TEST(1.7V)檔。電壓檢測(cè)單元檢測(cè)待檢測(cè)的LCM,獲取測(cè)試電壓數(shù)據(jù),并將測(cè)試電壓數(shù)據(jù)通過(guò)數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊102轉(zhuǎn)換后發(fā)送至中央處理器101,由中央處理器101判斷該測(cè)試電壓數(shù)據(jù)是否對(duì)地短路,如果判斷出該測(cè)試電壓數(shù)據(jù)對(duì)地短路,則控制電壓檢測(cè)單元與待檢測(cè)的LCM切斷,如果判斷出測(cè)試電壓數(shù)據(jù)未對(duì)地短路,中央處理器器控制電磁繼電器的狀態(tài)變?yōu)镾Tl=I,此時(shí)電磁繼電器的線圈中有電流,電磁繼電器中產(chǎn)生電磁效應(yīng),電壓檢測(cè)單元將待檢測(cè)的LCM連接到第二電壓檔位,該第二電壓檔位為正常電壓檔。
      [0052]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中,每個(gè)電壓檢測(cè)單元中均串聯(lián)一個(gè)電阻,該電阻的阻值一般較大,可在LCM電路檢測(cè)過(guò)程中誤操作造成短路時(shí)啟動(dòng)一定的保護(hù)作用。
      [0053]參見(jiàn)圖1,LCM電路檢測(cè)裝置還包括電流檢測(cè)模塊104,該電流檢測(cè)模塊104與數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊102相連接,用于檢測(cè)待檢測(cè)LCM電路中的電流。
      [0054]參見(jiàn)圖1,LCM電路檢測(cè)裝置還包括顯示模塊105,該顯示模塊105與中央處理器101相連接,用于當(dāng)待檢測(cè)的LCM連接到第一電壓檔位時(shí),在中央處理器101判斷出測(cè)試電壓數(shù)據(jù)對(duì)地短路之后,顯示中央處理器發(fā)送的警報(bào)信息,還用于方待檢測(cè)的LCM連接到第二電壓檔位時(shí),在顯示對(duì)LCM電路檢測(cè)裝置的故障檢測(cè)結(jié)果。
      [0055]參見(jiàn)圖1,LCM電路檢測(cè)裝置還包括報(bào)警模塊106,該報(bào)警模塊106與中央處理器101相連接,用于在中央處理器101判斷出測(cè)試電壓數(shù)據(jù)對(duì)地短路之后,播放指定音頻文件,以提示用戶LCM電路對(duì)地短路。
      [0056]參見(jiàn)圖1,LCM電路檢測(cè)裝置還包括按鍵操作模塊107,該按鍵操作模塊107包括各個(gè)具有不同功能的按鍵,例如,開(kāi)關(guān)按鍵等等。該按鍵操作模塊107與中央處理器101相連,可檢測(cè)用戶所觸控按鍵,根據(jù)用戶所觸控按鍵生成相應(yīng)指令,并將所生成的指令發(fā)送至中央處理器101。
      [0057]參見(jiàn)圖1,LCM電路檢測(cè)裝置還包括電源模塊108,該電源模塊108分別與中央處理器101、數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊102、電壓檢測(cè)模塊103、電流檢測(cè)模塊104、顯示模塊105、報(bào)警模塊106以及按鍵操作模塊107相連接,該電源模塊108用于為L(zhǎng)CM電路檢測(cè)裝置的各個(gè)功能模塊供電。
      [0058]本發(fā)明實(shí)施例提供的裝置,采用電壓值較小的第一電壓檔位檢測(cè)LCM是否對(duì)地短路,當(dāng)檢測(cè)出LCM對(duì)地未短路后,將LCM連接到電壓值較大的第二電壓檔位進(jìn)行檢測(cè),從而有效地防止LCM燒毀,節(jié)省了資源。
      [0059]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種對(duì)LCM電路進(jìn)行檢測(cè)的方法流程圖,該方法應(yīng)用上述圖1所示的電源檢測(cè)裝置以及圖2所示的電壓檢測(cè)單元,參見(jiàn)圖3,本實(shí)施例提供的方法流程包括:
      [0060]301、中央處理器接收電壓檢測(cè)單元發(fā)送的測(cè)試電壓數(shù)據(jù)。
      [0061]由于本實(shí)施例提供的對(duì)LCM電路進(jìn)彳丁檢測(cè)的方法,主要是對(duì)LCM電路進(jìn)彳丁短路檢測(cè),以避免因誤操作LCM電路對(duì)地短接,導(dǎo)致LCM燒毀,而對(duì)LCM電路進(jìn)行短路檢測(cè)之前,需要將LCM電路的檢測(cè)點(diǎn)與相應(yīng)地電壓檢測(cè)單元相連接,并通過(guò)電壓檢測(cè)單元對(duì)LCM電路的檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)。因此,采用電壓檢測(cè)單元對(duì)LCM電路的檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)之前,需要為電壓檢測(cè)單元設(shè)置預(yù)設(shè)電壓范圍,并為電磁繼電器設(shè)置預(yù)設(shè)開(kāi)啟電壓。具體設(shè)置時(shí),中央處理器可接收用戶輸入的設(shè)置代碼,并根據(jù)用戶輸入的設(shè)置代碼,為電壓檢測(cè)單元設(shè)置預(yù)設(shè)電壓范圍,為電磁繼電器設(shè)置預(yù)設(shè)開(kāi)啟電壓。其中,為電壓檢測(cè)單元設(shè)置的預(yù)設(shè)電壓范圍可以為IV?2N、2N?汾等,為電磁繼電器設(shè)置的預(yù)設(shè)開(kāi)啟電壓為1.5V、1.6V等。
      [0062]除了通過(guò)采用電壓檢測(cè)單元檢測(cè)LCM電路的電壓對(duì)LCM電路進(jìn)行短路檢測(cè)外,還可通過(guò)電流檢測(cè)模塊檢測(cè)LCM電路的電流對(duì)LCM電路進(jìn)行短路檢測(cè)。為此,在采用電流檢測(cè)模塊檢測(cè)LCM電路的電流對(duì)LCM電路進(jìn)行短路檢測(cè)之前,還可預(yù)先為電流檢測(cè)模塊設(shè)置一個(gè)預(yù)設(shè)電流范圍。該預(yù)設(shè)電流范圍可以為OmA?40mA、20mA?60mA等等。
      [0063]需要說(shuō)明的是,由于電壓檢測(cè)模塊中包括多個(gè)電壓檢測(cè)單元,而每個(gè)電壓檢測(cè)單元所檢測(cè)的LCM電路的檢測(cè)點(diǎn)是不同的,而不同檢測(cè)點(diǎn)短路時(shí)的電壓是不同的,因此,本實(shí)施例提供的方法為不同的電壓檢測(cè)單元設(shè)置的預(yù)設(shè)電壓范圍是不同的。
      [0064]為了便于后續(xù)應(yīng)用,在為電壓檢測(cè)單元設(shè)置了預(yù)設(shè)電壓范圍,為電磁繼電器設(shè)置了預(yù)設(shè)開(kāi)啟電壓之后,還將執(zhí)行存儲(chǔ)預(yù)設(shè)電壓范圍和預(yù)設(shè)開(kāi)啟電壓的步驟,具體存儲(chǔ)時(shí)可將預(yù)設(shè)低電壓范圍和預(yù)設(shè)開(kāi)啟電壓存儲(chǔ)在對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元中。
      [0065]在本實(shí)施例中,電壓檢測(cè)單元具有多種狀態(tài),包括離開(kāi)檢測(cè)狀態(tài)、正常狀態(tài)和初始化狀態(tài),不同狀態(tài)對(duì)應(yīng)的寄存值不同。在本實(shí)施例中,電壓檢測(cè)單元的狀態(tài)可用H72_SMP表示,當(dāng)H72_SMP = 0時(shí),表示電壓檢測(cè)單元處于離開(kāi)檢測(cè)狀態(tài),當(dāng)H72_SMP= I時(shí),表示電壓檢測(cè)單元處于正常狀態(tài),當(dāng)H72_SMP = 2時(shí),表示電壓檢測(cè)單元處于初始化狀態(tài)。中央處理器通過(guò)調(diào)用SH0RT_TEST子程序可觸發(fā)電壓檢測(cè)單元處于不同的狀態(tài)。
      [0066]當(dāng)用戶觸控按鍵模塊中的開(kāi)關(guān)按鍵時(shí),LCM電路檢測(cè)裝置開(kāi)啟,中央處理器調(diào)用SH0RT_TEST子程序生成第三控制指令,并將第三控制指令發(fā)送至數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊,由數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后發(fā)送至電壓檢測(cè)單元。當(dāng)接收到中央處理器發(fā)送的第三控制指令,電壓檢測(cè)單元采用預(yù)設(shè)開(kāi)啟電壓為電磁繼電器供電,并處于初始化狀態(tài),在初始化狀態(tài)下,電磁繼電器的線圈中無(wú)電流,未產(chǎn)生電磁感應(yīng)效應(yīng),此時(shí)電壓檢測(cè)單元通過(guò)銜鐵將待檢測(cè)的LCM連接到第一電壓檔位。當(dāng)待檢測(cè)的LCM連接到第一電壓檔位時(shí),電壓檢測(cè)單元檢測(cè)待檢測(cè)的LCM的電壓,得到測(cè)試電壓數(shù)據(jù),并將測(cè)試電壓數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊,由數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后電壓檢測(cè)單元。
      [0067]302、中央處理器判斷測(cè)試電壓數(shù)據(jù)是否位于預(yù)設(shè)電壓范圍內(nèi),如果是,則執(zhí)行步驟303,如果否,則執(zhí)行步驟304。
      [0068]當(dāng)接收到電壓檢測(cè)單元發(fā)送的測(cè)試電壓數(shù)據(jù),中央處理器通過(guò)判斷該測(cè)試電壓范圍是否位于預(yù)設(shè)電壓范圍內(nèi),以確定待檢測(cè)的LCM的電壓是否對(duì)地短路。具體判斷是,中央處理器可將接收到的測(cè)試電壓數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)電壓范圍
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