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      電容式檢測(cè)裝置、方法與系統(tǒng)的制作方法_4

      文檔序號(hào):9862808閱讀:來源:國(guó)知局
      感應(yīng)點(diǎn)的下限值(另一種應(yīng)用亦可反向定義為當(dāng)?shù)趇電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值落入第i電容感應(yīng)點(diǎn)預(yù)存的上下限值內(nèi)時(shí),又另一種應(yīng)用亦可定義為第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值是否小于預(yù)存的上限值(若先前第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值大于上限值)或大于預(yù)存的下限值(若先前第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值小于下限值)時(shí)),并產(chǎn)生比較結(jié)果給喚醒單元3122。喚醒單元3122會(huì)依據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生喚醒信號(hào)給微控制器32。
      [0065]接著,請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D3A(或圖3B)、圖4,圖4是本發(fā)明另一實(shí)施例的電容式檢測(cè)方法的流程圖。圖4的電容式檢測(cè)方法可以執(zhí)行于圖3A或圖3B的電容式檢測(cè)系統(tǒng)3之中。首先,在步驟S401中,微控制器32控制電容式檢測(cè)系統(tǒng)3進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)電容檢測(cè)模式。接著,在步驟S402中,電容值感應(yīng)模塊311會(huì)讀取與記錄第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK的感應(yīng)計(jì)數(shù)值。然后,在步驟S403中,微控制器32會(huì)通過電容值感應(yīng)模塊311接收第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK的感應(yīng)計(jì)數(shù)值,據(jù)此計(jì)算第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK的上限值與下限值,以及依據(jù)第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK的感應(yīng)計(jì)數(shù)值得知外在環(huán)境的變化情況,以對(duì)應(yīng)產(chǎn)生指示信號(hào)。之后,在步驟S404中,待檢測(cè)事件判斷模塊312會(huì)接收與記錄微控制器32所計(jì)算出之第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK的上限值與下限值。
      [0066]由于微控制器32已經(jīng)對(duì)第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK都進(jìn)行了一次標(biāo)準(zhǔn)電容檢測(cè),故接著在步驟S405中,微控制器32設(shè)定主動(dòng)式控制模式終止門限值與主動(dòng)式控制模塊于主動(dòng)式控制模式下使用的電容感應(yīng)點(diǎn)選取方式。然后,在步驟S406中,微控制器406控制電容式檢測(cè)系統(tǒng)3進(jìn)入主動(dòng)式控制模式。
      [0067]在步驟S407中,電容值感應(yīng)模塊311依據(jù)電容感應(yīng)點(diǎn)選取方式讀取與記錄未選取的第i電容感應(yīng)點(diǎn)的感應(yīng)計(jì)數(shù)值,且待檢測(cè)事件判斷模塊312依據(jù)電容感應(yīng)點(diǎn)選取方式選取第i電容感應(yīng)點(diǎn)的上限值與下限值。然后,在步驟S408中,待檢測(cè)事件判斷模塊312判斷第i電容感應(yīng)點(diǎn)的感應(yīng)計(jì)數(shù)值是否大于第i電容感應(yīng)點(diǎn)的上限值或小于第i電容感應(yīng)點(diǎn)的下限值(另一種應(yīng)用亦可反向定義為當(dāng)?shù)趇電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值落入第i電容感應(yīng)點(diǎn)預(yù)存的上下限值內(nèi)時(shí),又另一種應(yīng)用亦可定義為第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值是否小于預(yù)存的上限值(若先前第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值大于上限值)或大于預(yù)存的下限值(若先前第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值小于下限值)時(shí))。若第i電容感應(yīng)點(diǎn)的感應(yīng)計(jì)數(shù)值大于第i電容感應(yīng)點(diǎn)的上限值或小于第i電容感應(yīng)點(diǎn)的下限值(另一種應(yīng)用亦可反向定義為當(dāng)?shù)趇電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值落入第i電容感應(yīng)點(diǎn)預(yù)存的上下限值內(nèi)時(shí),又另一種應(yīng)用亦可定義為當(dāng)?shù)趇電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值小于預(yù)存的上限值(若先前第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值大于上限值)或大于預(yù)存的下限值(若先前第i電容感應(yīng)點(diǎn)的計(jì)數(shù)值小于下限值)時(shí)),則步驟S409緊接著被執(zhí)行,否則,步驟S410會(huì)被緊接著被執(zhí)行。于步驟S409中,待檢測(cè)事件判斷模塊312產(chǎn)生喚醒信號(hào)給微控制器32,且接著步驟S401會(huì)被執(zhí)行,以使電容式檢測(cè)系統(tǒng)3再次回到標(biāo)準(zhǔn)電容檢測(cè)模式中。
      [0068]在步驟S410中,主動(dòng)式控制模塊313判斷是否有尚未選取的電容感應(yīng)點(diǎn)。若電容感應(yīng)點(diǎn)選取方式中的所有電容感應(yīng)點(diǎn)都被選取,則執(zhí)行步驟S411,否則,步驟S407再次地被執(zhí)行。在步驟S411中,主動(dòng)式控制模塊313判斷主動(dòng)式控制模式的持續(xù)時(shí)間或電容感應(yīng)點(diǎn)的總感測(cè)次數(shù)是否大于主動(dòng)式控制模式終止門限值。若主動(dòng)式控制模式的持續(xù)時(shí)間或電容感應(yīng)點(diǎn)的總感測(cè)次數(shù)大于主動(dòng)式控制模式終止門限值,則步驟S409會(huì)被執(zhí)行,以使電容式檢測(cè)系統(tǒng)3進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)電容檢測(cè)模式,否則,步驟S412將被執(zhí)行。在步驟S412中,主動(dòng)式控制模塊313將已被選取的第I至第K電容感應(yīng)點(diǎn)的狀態(tài)設(shè)置為未被選取的狀態(tài),且接著步驟S407再次地被執(zhí)行。
      [0069]在此請(qǐng)注意,當(dāng)主動(dòng)式控制模式的持續(xù)時(shí)間或電容感應(yīng)點(diǎn)的總感測(cè)次數(shù)大于主動(dòng)式控制模式終止門限值,主動(dòng)式控制模塊313控制待檢測(cè)事件判斷模塊選擇一個(gè)強(qiáng)制終止的上限值(例如,最小的感應(yīng)計(jì)數(shù)值)或下限值(例如,最大的感應(yīng)計(jì)數(shù)值),以強(qiáng)制待檢測(cè)事件判斷模塊312產(chǎn)生喚醒信號(hào)給微控制器32。
      [0070]由上可以得知,所述電容式檢測(cè)方法通過判斷第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK的感應(yīng)計(jì)數(shù)值的其中之一是否大于其相應(yīng)的上限值或小于其相應(yīng)的下限值(另一種應(yīng)用亦可反向定義為判斷第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK其中之一的感應(yīng)計(jì)數(shù)值是否落入相應(yīng)預(yù)存的上下限值內(nèi)時(shí),又另一種應(yīng)用亦可定義為判斷第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK其中之一的感應(yīng)計(jì)數(shù)值是否小于相應(yīng)預(yù)存的上限值(若先前第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK其中之一的感應(yīng)計(jì)數(shù)值大于相應(yīng)預(yù)存的上限值)或大于預(yù)存的下限值(若先前第一至第K電容感應(yīng)點(diǎn)SI?SK其中之一的感應(yīng)計(jì)數(shù)值小于相應(yīng)預(yù)存的下限值)時(shí))來得知外在環(huán)境是否有變化。僅有在外在環(huán)境有變化時(shí),所述電容式檢測(cè)方法才會(huì)喚醒微控制器32,因此,所述電容式檢測(cè)方法可以有效地節(jié)省微控制器32的耗電量與/或運(yùn)算量。
      [0071]在介紹完本發(fā)明部份實(shí)施方式的電容式檢測(cè)裝置、系統(tǒng)與方法后,接著,進(jìn)一步地說明,電容式檢測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用的各實(shí)施例如下。
      [0072][電容式檢測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用的各實(shí)施例]
      [0073]請(qǐng)參照?qǐng)D5A與圖5B,圖5A與圖5B是本發(fā)明實(shí)施例的電容式檢測(cè)系統(tǒng)作為液位檢測(cè)器的示意圖。于圖5A中,液體50的液位原本低于電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置,但經(jīng)過一段時(shí)間后,液體50的液位上升到達(dá)電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置,因此,電容式檢測(cè)裝置51所讀取的電容感應(yīng)點(diǎn)SI的感應(yīng)計(jì)數(shù)值會(huì)大于電容感應(yīng)點(diǎn)SI的上限值或小于電容感應(yīng)點(diǎn)SI的下限值,故微控制器52會(huì)被喚醒,以進(jìn)一步地依據(jù)電容感應(yīng)點(diǎn)SI的感應(yīng)計(jì)數(shù)值判斷液體50的液位位于電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置。簡(jiǎn)單地說,通過電容感應(yīng)點(diǎn)SI所獲得感應(yīng)計(jì)數(shù)值可以用來判斷液體是否高于電容感應(yīng)點(diǎn)Si的設(shè)置位置。
      [0074]于圖5B中,液體50的液位原本高于電容感應(yīng)點(diǎn)S2的設(shè)置位置,但經(jīng)過一段時(shí)間后,液體50的液位降至低于電容感應(yīng)點(diǎn)S2的設(shè)置位置,因此,電容式檢測(cè)裝置51所讀取的電容感應(yīng)點(diǎn)S2的感應(yīng)計(jì)數(shù)值會(huì)介于電容感應(yīng)點(diǎn)S2的上限值與下限值之間,亦或者電容感應(yīng)點(diǎn)S2的計(jì)數(shù)值小于上限值(若先前電容感應(yīng)點(diǎn)S2的計(jì)數(shù)值大于上限值)或大于下限值(若電容感應(yīng)點(diǎn)S2的計(jì)數(shù)值小于下限值),故微控制器52會(huì)被喚醒,以進(jìn)一步地依據(jù)電容感應(yīng)點(diǎn)S2的感應(yīng)計(jì)數(shù)值判斷液體50的液位系低于電容感應(yīng)點(diǎn)S2的設(shè)置位置。簡(jiǎn)單地說,通過電容感應(yīng)點(diǎn)S2所獲得感應(yīng)計(jì)數(shù)值可以用來判斷液體是否低于電容感應(yīng)點(diǎn)S2的設(shè)置位置。
      [0075]請(qǐng)參照?qǐng)D6,圖6是本發(fā)明實(shí)施例的電容式檢測(cè)系統(tǒng)作為導(dǎo)體遠(yuǎn)離檢測(cè)器的示意圖。于圖6中,導(dǎo)體60原本近接在電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置,但經(jīng)過一段時(shí)間后,導(dǎo)體60遠(yuǎn)離電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置,因此,電容式檢測(cè)裝置61所讀取的電容感應(yīng)點(diǎn)SI的感應(yīng)計(jì)數(shù)值會(huì)落入于電容感應(yīng)點(diǎn)SI的上下限值內(nèi),亦或者電容感應(yīng)點(diǎn)SI的計(jì)數(shù)值小于上限值(若先前電容感應(yīng)點(diǎn)SI的計(jì)數(shù)值大于上限值)或大于下限值(若電容感應(yīng)點(diǎn)SI的計(jì)數(shù)值小于下限值),故微控制器62會(huì)被喚醒,以進(jìn)一步地依據(jù)電容感應(yīng)點(diǎn)SI的感應(yīng)計(jì)數(shù)值判斷導(dǎo)體60是否遠(yuǎn)離電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置。于此實(shí)施例中,電容式檢測(cè)系統(tǒng)(包括電容感應(yīng)點(diǎn)S1、電容式檢測(cè)裝置61與微控制器62)與導(dǎo)體60可以作為一個(gè)遠(yuǎn)離開關(guān)使用。
      [0076]請(qǐng)參照?qǐng)D7,圖7是本發(fā)明實(shí)施例的電容式檢測(cè)系統(tǒng)作為導(dǎo)體近接檢測(cè)器的示意圖。于圖7中,導(dǎo)體70原本遠(yuǎn)離電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置,但經(jīng)過一段時(shí)間后,導(dǎo)體70近接電容感應(yīng)點(diǎn)SI的設(shè)置位置,因此,電容式檢測(cè)裝置71所讀取的電容感應(yīng)點(diǎn)SI的感應(yīng)計(jì)數(shù)值會(huì)大于電容感應(yīng)點(diǎn)SI預(yù)存的上限值,或小于電容感應(yīng)點(diǎn)SI預(yù)存的下限值,故微控制器72會(huì)被喚醒,以進(jìn)一步地依據(jù)電容感應(yīng)點(diǎn)SI的感應(yīng)計(jì)數(shù)值判斷導(dǎo)體70是否近接電容感應(yīng)點(diǎn)Si的設(shè)置位置。于此實(shí)施例中,電容式檢測(cè)系統(tǒng)(包括電容感應(yīng)點(diǎn)S1、電容式檢測(cè)裝置71與微控制器72)與導(dǎo)體70可以作為一個(gè)近接開關(guān)使用。
      [0077]通過上述實(shí)施例的描述可以得知,所述電容式檢測(cè)裝置、方法與系統(tǒng)可以對(duì)外在環(huán)境進(jìn)行檢測(cè)
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