一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及無損檢測領(lǐng)域，具體涉及一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工
-H-
O
【背景技術(shù)】
[0002]鋁合金薄板供應(yīng)狀態(tài)為冷乳，可能產(chǎn)生成分偏析、裂紋、分層和帶狀組織等缺陷，鋁合金薄板入廠檢測項(xiàng)目中的無損檢測采用手工超聲掃描檢測和超聲表面波檢測，均存裂紋漏檢、無法出材料成分不均勻、工藝實(shí)施穩(wěn)定性差、檢測結(jié)果與操作人員水平相關(guān)、難以實(shí)現(xiàn)質(zhì)量追溯、檢測速度慢、效率低等問題，檢測質(zhì)量難以保證。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本專利在比較其他無損檢測方法基礎(chǔ)上，采用陣列渦流檢測技術(shù)檢測鋁合金薄板，調(diào)整激勵(lì)方法調(diào)節(jié)滲透深度，抑制干擾，提高信噪比關(guān)鍵技術(shù)，采用圖像方式顯示，實(shí)現(xiàn)快速檢測，可有效檢出檢測薄壁鋁板裂紋類和帶氧化膜的分層等典型缺陷，通過信號(hào)幅值分布圖像評(píng)估薄壁鋁板性能均勻性、實(shí)現(xiàn)鋁合金薄板缺陷和材質(zhì)特性的快速無損檢測。
[0004]本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝，其特征在于包括以下步驟:確定陣列渦流檢測儀器，選擇檢測探頭，確定檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊，掃描檢查方式設(shè)置，探頭參數(shù)設(shè)置，探頭驅(qū)動(dòng)電流設(shè)置，探頭增益設(shè)置，探頭信號(hào)相位設(shè)置，探頭信號(hào)垂直增益設(shè)置，探頭平衡調(diào)整，探頭提離調(diào)整，檢測增益，調(diào)整顏色盤，使用濾波器處理提離信號(hào)，提高小缺陷顯示比率，讀取掃描圖像判斷鋁合金薄板缺陷。
[0005]進(jìn)一步的，所述的檢測探頭分為表面缺陷檢測陣列渦流探頭和分層缺陷檢測陣列渦流探頭;所述的探頭參數(shù)設(shè)置為表面缺陷檢測陣列渦流探頭設(shè)置檢測頻率1MHz，分層缺陷檢測陣列渦流探頭設(shè)置檢測頻率500kHz。
[0006]進(jìn)一步的，所述的掃描檢查方式設(shè)置為選擇單線掃描類型，然后輸入頻率值，輸入完成所查所需的時(shí)間值，并且保證控制好掃查速度來保證數(shù)據(jù)同步。
[0007]進(jìn)一步的，所述的探頭驅(qū)動(dòng)電流設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電流;所述的探頭增益設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的探頭增益;所述的探頭信號(hào)相位設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的相位旋轉(zhuǎn)值;所述的探頭信號(hào)垂直增益設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的信號(hào)垂直分量值。
[0008]進(jìn)一步的，所述的探頭平衡調(diào)整為將探頭放置在標(biāo)準(zhǔn)試塊沒有缺陷區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)區(qū)域，在平衡探頭的過程中探頭一定要和標(biāo)準(zhǔn)試塊貼合，并且按壓力度應(yīng)和掃描檢查力度一致，如果平衡失敗，確保探頭頻率符合要求，可降低驅(qū)動(dòng)電流。
[0009]進(jìn)一步的，所述的探頭提離調(diào)整，在標(biāo)準(zhǔn)試塊上無缺陷區(qū)域掃描檢查并產(chǎn)生C2掃描圖像提離信號(hào);在掃描檢查結(jié)束后，設(shè)備屏幕上會(huì)出現(xiàn)一個(gè)阻抗平面圖、一個(gè)條形圖和一個(gè)C3掃描圖像;阻抗平面圖中所顯示的圖像是由C3掃描圖中光標(biāo)的位置決定的，開啟相旋轉(zhuǎn)功能，旋轉(zhuǎn)旋鈕，并觀察阻抗平面圖，最終旋至信號(hào)完全水平，在旋轉(zhuǎn)旋鈕的過程中，C3掃描圖像也是實(shí)時(shí)變化的，當(dāng)提離信號(hào)水平時(shí)，在C3掃描圖像中提離信號(hào)就會(huì)消失，得C4掃描圖像。
[0010]進(jìn)一步的，所述的檢測增益，對標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃描檢查，并保證掃查路徑穿過最大缺陷區(qū)域，掃描檢查結(jié)束后，設(shè)備屏幕上會(huì)顯示一個(gè)阻抗平面圖、一個(gè)條形圖、一個(gè)C5掃描圖像;開啟增益功能，旋轉(zhuǎn)旋鈕，直到最小尺寸人工缺陷信號(hào)幅值達(dá)到滿幅值的30%?50%，得C6掃描圖像;開啟垂直增益功能，旋轉(zhuǎn)旋鈕，使檢測信號(hào)朝Y軸方向移動(dòng)，即缺陷信號(hào)的Y軸分量增加，最終使得缺陷信號(hào)更加明顯，得C7掃描圖像。
[0011]進(jìn)一步的，所述的調(diào)整顏色盤，對固定的C7掃描圖像進(jìn)行處理，最終實(shí)現(xiàn)使得缺陷更加容易察覺，得CS掃描圖像;CS掃描圖像背景色是淺黃色或者是淺藍(lán)色，返回實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)狀態(tài)，再次進(jìn)行探頭平衡，重新對標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃描檢查，并保證掃描檢查時(shí)力度是不變的，掃描檢查結(jié)束后，背景色將變成綠色，得C9掃描圖像。
[0012]進(jìn)一步的，所述的使用濾波器處理提離信號(hào)為使用高通濾波器去除信號(hào)中由提離效應(yīng)造成的低頻干擾，特別是采用編碼器掃描檢查方式效果更佳。
[0013]進(jìn)一步的，所述的提高小缺陷顯示比率，為設(shè)備處于接收模式，設(shè)置實(shí)時(shí)顯示的最小范圍，得到ClO掃描圖像，在ClO掃描圖像的底部將顯示掃描檢查所處的位置。
[0014]進(jìn)一步的，所述的讀取掃描圖像判斷鋁合金薄板缺陷為根據(jù)讀取的ClO掃描圖像形狀和掃描檢查所處的位置，判斷鋁合金薄板的缺陷。
[0015]所述C2、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、C10掃描圖像，只表示區(qū)分不同的掃描圖像，不代表具體的含義。
[0016]—種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊，其特征在于:所述試塊為L3M招合金薄板，形狀為矩形倒圓角，長380mm，寬280mm，厚4mm，圓角半徑8mm;有刻槽9個(gè)，刻槽寬度0.2mm，其中槽深度為0.2mm的刻槽3個(gè)，槽深度為0.3mm的刻槽3個(gè)，槽深度為0.4mm的刻槽3個(gè);有平底孔16個(gè)，其中孔深度為3.5mm的平底孔4個(gè)，孔深度為
3.0mm的平底孔4個(gè)，孔深度為2.5mm的平底孔4個(gè)，孔深度為2.0mm的平底孔4個(gè)。
[0017]進(jìn)一步的，所述的一種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊，表面清潔，無油污，無氧化皮，無雜質(zhì)，無劃傷。
[0018]本發(fā)明用于鋁合金薄板入廠無損檢測，和現(xiàn)有技術(shù)相比，檢測速度快，檢測結(jié)果直觀，適于鋁合金薄板的快速無損檢測，提高勞動(dòng)生產(chǎn)效率。
【附圖說明】
[0019]圖1為檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊示意圖。
[0020]圖2為C2掃描圖像。
[0021]圖3為C3掃描圖像。
[0022]圖4為C4掃描圖像。
[0023]圖5為C5掃描圖像。
[0024]圖6為C6掃描圖像。
[0025]圖7為C7掃描圖像。
[0026]圖8為C8掃描圖像。
[0027]圖9為C9掃描圖像。
[0028]圖10為ClO掃描圖像。
[0029]圖11為Cll掃描圖像。
[0030]圖12為C12掃描圖像。
【具體實(shí)施方式】
[0031]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖，對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0032]實(shí)施例一:
一種陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝，其特征在于包括以下步驟:確定陣列渦流檢測儀器，選擇檢測探頭，確定檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊，掃描檢查方式設(shè)置，探頭參數(shù)設(shè)置，探頭驅(qū)動(dòng)電流設(shè)置，探頭增益設(shè)置，探頭信號(hào)相位設(shè)置，探頭信號(hào)垂直增益設(shè)置，探頭平衡調(diào)整，探頭提離調(diào)整，檢測增益，調(diào)整顏色盤，使用濾波器處理提離信號(hào)，提高小缺陷顯示比率，讀取掃描圖像判斷鋁合金薄板缺陷。
[0033]如圖1所示，一種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊，其特征在于:所述試塊為L3M招合金薄板，形狀為矩形倒圓角，長380mm，寬280mm，厚4mm，圓角半徑8mm;有刻槽9個(gè)，刻槽寬度0.2mm，其中槽深度為0.2mm的刻槽3個(gè)，槽深度為0.3mm的刻槽3個(gè)，槽深度為0.4mm的刻槽3個(gè);有平底孔16個(gè)，其中孔深度為3.5mm的平底孔4個(gè)，孔深度為3.0mm的平底孔4個(gè)，孔深度為2.5mm的平底孔4個(gè)，孔深度為2.0mm的平底孔4個(gè)。
[0034]所述的一種用于陣列渦流檢測鋁合金薄板缺陷的檢測工藝的檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊，表面清潔，無油污，無氧化皮，無雜質(zhì)，無劃傷。
[0035]待檢測招合金薄板，有深度0.2mm，寬度0.2mm，長度分別為2mm、3mm、4mm的裂紋，沿寬度方向檢測。
[0036]檢測儀器為Omniscan MX EC陣列渦流檢測儀器，檢測探頭為表面缺陷檢測OLMPUSSAB-067-010-064 64陣列渦流探頭，頻率1MHz。激勵(lì)電壓為3V。開機(jī)啟動(dòng)預(yù)熱15分鐘。
[0037]掃描檢查方式設(shè)置，選擇單線掃描類型，然后輸入頻率值，輸入完成所查所需的時(shí)間值，并且保證控制好掃查速度來保證數(shù)據(jù)同步。具體為選擇面板上Scan > Inspect1n >Type= One Line Scan;選擇面板上Scan > Inspect1n > Scan = Time;選擇面板上Scan
>Inspect1n > Acq.Rate,然后輸入頻率值；選擇面板上 Choose Scan > Area > ScanEnd,然后輸入完成所查所需的時(shí)間值，并且保證控制好掃查速度來保證數(shù)據(jù)同步。
[0038]探頭驅(qū)動(dòng)電流設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電流。具體為選擇ECSettings > Settings > Probe Drive，輸入與探頭和材料相對應(yīng)的驅(qū)動(dòng)電流;按下Accept按鍵。
[0039]探頭增益設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的探頭增益。具體為選擇ECSettings
>Settings >Gain，輸入與探頭和材料相對應(yīng)的探頭增益;按下Accept按鍵。
[0040]探頭信號(hào)相位設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的相位旋轉(zhuǎn)值。具體為選擇ECSettings > Settings > Rotat1n，輸入與探頭和材料相對應(yīng)的相位旋轉(zhuǎn)值;按下Accept按鍵。
[0041]探頭信號(hào)垂直增益設(shè)置為輸入與探頭和材料相對應(yīng)的信號(hào)垂直分量值。具體為選擇EC Settings > Settings >Vertical Gain，輸入與探頭和材料相對應(yīng)的信號(hào)垂直分量值;按下Accept按鍵。
[0042]探頭平衡調(diào)整，將探頭放置在標(biāo)準(zhǔn)試塊沒有缺陷區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)區(qū)域;選擇Probe>Settings > Balance;在平衡探頭的過程中探頭一定要和標(biāo)準(zhǔn)試塊貼合，并且按壓力度應(yīng)和掃查力度一致，如果平衡失敗，確保探頭頻率符