一種供電時序的測量方法、示波器和系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種供電時序的測量方法、示波器和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]電子產(chǎn)品如服務(wù)器等的正常運(yùn)行，需要按照一定的供電時序?yàn)橹靼宓母鱾€組件進(jìn)行供電，正確的時序是主板所有功能正常實(shí)現(xiàn)的基礎(chǔ)。由于上電時序的測量所涉及的主板檢測點(diǎn)比較多，目前，只能通過對檢測點(diǎn)分區(qū)域多次開關(guān)機(jī)操作對供電時序進(jìn)行測量，而對于一些不能反復(fù)復(fù)現(xiàn)的故障波形，現(xiàn)有的這種測量方式不能完全捕獲到故障波形，造成故障波形的準(zhǔn)確性較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種供電時序的測量方法、示波器和系統(tǒng)，能夠有效地提高故障波形的準(zhǔn)確性。
[0004]—種供電時序的測量方法，通過至少兩個示波器連接測試主板上所有測試點(diǎn)，還包括:
[0005]當(dāng)所述至少兩個示波器同時接收到同步觸發(fā)信號時，開始監(jiān)測所有測試點(diǎn)；
[0006]所述所有測試點(diǎn)中每一個測試點(diǎn)作為當(dāng)前測試點(diǎn)，執(zhí)行當(dāng)接收到當(dāng)前測試點(diǎn)上電時，與所述當(dāng)前測試點(diǎn)連接的當(dāng)前示波器生成測試時間-電壓波形圖；
[0007]根據(jù)所述各個測試時間-電壓波形圖中各個波形生成的時間，確定供電時序。
[0008]優(yōu)選地，上述方法進(jìn)一步包括:所述至少兩個示波器中每一個示波器連接一個同步信號設(shè)備，為各個同步信號設(shè)備間構(gòu)建級聯(lián)關(guān)系；
[0009]所述至少兩個示波器同時接收到同步觸發(fā)信號，包括:
[0010]所述各個同步信號設(shè)備中目標(biāo)同步信號設(shè)備接收輸入信號，并根據(jù)所述級聯(lián)關(guān)系，將該輸入信號發(fā)送給其他同步信號設(shè)備；
[0011]所述至少兩個示波器接收各個同步信號設(shè)備同時發(fā)送的該輸入信號。
[0012]優(yōu)選地，所述同步信號設(shè)備，包括:LXI設(shè)備；
[0013]所述為各個同步信號設(shè)備間構(gòu)建級聯(lián)關(guān)系，包括:在所述LXI設(shè)備間配置LXI協(xié)議。
[0014]優(yōu)選地，所述當(dāng)前示波器生成測試時間-電壓波形圖，包括:
[0015]以測試時間為橫坐標(biāo)、電壓為縱坐標(biāo)構(gòu)建二維坐標(biāo)系；
[0016]將各個測試時間點(diǎn)對應(yīng)的當(dāng)前測試點(diǎn)電壓輸出到所述二維坐標(biāo)系中，其中，在當(dāng)前測試點(diǎn)未上電時，隨著測試時間的變化，電壓保持為0，當(dāng)當(dāng)前測試點(diǎn)上電時，電壓變?yōu)楫?dāng)前測試點(diǎn)電壓，并在當(dāng)前測試點(diǎn)未上電時，隨著測試時間的變化，電壓保持為當(dāng)前測試點(diǎn)電壓。
[0017]—種示波器，包括:觸發(fā)接口、至少一個通道、生成單元和時序確定單元，其中，
[0018]所述觸發(fā)接口，用于接收外設(shè)的同步觸發(fā)信號，并觸發(fā)所述至少一個通道；
[0019]所述至少一個通道中，每一個通道連接外設(shè)的測試主板的一個測試點(diǎn)，用于在接收到所述觸發(fā)接口的觸發(fā)時，監(jiān)測連接的測試點(diǎn)，將監(jiān)測到的數(shù)據(jù)發(fā)送給所述生成單元；
[0020]所述生成單元，用于接收所述至少一個通道發(fā)送的數(shù)據(jù)信號，并根據(jù)所述數(shù)據(jù)信號生成測試時間-電壓波形圖，并將所述測試時間-電壓波形圖發(fā)送給所述時序確定單元；
[0021]所述時序確定單元，用于接收所述生成單元發(fā)送的所述測試時間-電壓波形圖，并根據(jù)所述測試時間-電壓波形圖，確定供電時序。
[0022]優(yōu)選地，上述示波器連接一個外設(shè)的同步信號設(shè)備；
[0023]所述觸發(fā)接口，用于接收外設(shè)的同步信號設(shè)備發(fā)送的輸入信號。
[0024]優(yōu)選地，所述生成單元，用于:
[0025]以測試時間為橫坐標(biāo)、電壓為縱坐標(biāo)構(gòu)建二維坐標(biāo)系；
[0026]將各個測試時間點(diǎn)對應(yīng)的當(dāng)前測試點(diǎn)電壓輸出到所述二維坐標(biāo)系中，其中，在當(dāng)前測試點(diǎn)未上電時，隨著測試時間的變化，電壓保持為0，當(dāng)當(dāng)前測試點(diǎn)上電時，電壓變?yōu)楫?dāng)前測試點(diǎn)電壓，并在當(dāng)前測試點(diǎn)未上電時，隨著測試時間的變化，電壓保持為當(dāng)前測試點(diǎn)電壓。
[0027]—種供電時序的測量系統(tǒng)，包括:至少兩個上述任一所述的示波器和測試主板上的所有測試點(diǎn)，其中，
[0028]所述測試主板上的所有測試點(diǎn)中，每一個測試點(diǎn)，與一個示波器相連，接收連接的示波器的監(jiān)測，用于當(dāng)上電時，提供數(shù)據(jù)信號給所述連接的示波器。
[0029]優(yōu)選地，上述系統(tǒng)進(jìn)一步包括:至少兩個同步信號設(shè)備，其中，
[0030]所述至少兩個同步信號設(shè)備中，每一個同步信號設(shè)備連接一個示波器，各個同步信號設(shè)備之間構(gòu)成級聯(lián)關(guān)系，該至少兩個同步信號設(shè)備與至少兩個示波器具有一一對應(yīng)關(guān)系;
[0031]所述至少兩個同步信號設(shè)備中，目標(biāo)同步信號設(shè)備，用于接收輸入信號，并根據(jù)所述級聯(lián)關(guān)系，將該輸入信號發(fā)送與其相連的同步信號設(shè)備及連接的示波器；
[0032]除目標(biāo)同步信號設(shè)備之外的其他同步信號設(shè)備中，每一個同步信號設(shè)備，用于接收具有級聯(lián)關(guān)系的上一級同步信號設(shè)備發(fā)送的輸入信號，并將該輸入信號發(fā)送給連接的示波器及具有級聯(lián)關(guān)系的下一級同步信號設(shè)備。
[0033]優(yōu)選地，所述至少兩個同步信號設(shè)備，包括:至少兩個LXI設(shè)備，所述LXI設(shè)備間配置LXI協(xié)議，用于根據(jù)級聯(lián)關(guān)系，傳遞輸入信號。
[0034]優(yōu)選地，上述系統(tǒng)進(jìn)一步包括:信號源，其中，
[0035]所述目標(biāo)同步信號設(shè)備，與信號源相連，用于接收所述信號源發(fā)送的輸入信號。
[0036]優(yōu)選地，所述目標(biāo)同步信號設(shè)備，與測試主板相連，用于接收所述測試主板發(fā)送的power good信號。
[0037]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種供電時序的測量方法、示波器和系統(tǒng)，該方法通過至少兩個示波器連接測試主板上所有測試點(diǎn)，當(dāng)至少兩個示波器同時接收到同步觸發(fā)信號時，開始監(jiān)測所有測試點(diǎn)，通過該過程使得所有測試點(diǎn)的測試時間相同，所有測試點(diǎn)中每一個測試點(diǎn)作為當(dāng)前測試點(diǎn)，執(zhí)行當(dāng)接收到當(dāng)前測試點(diǎn)上電時，與當(dāng)前測試點(diǎn)連接的當(dāng)前示波器生成測試時間-電壓波形圖，測試點(diǎn)上電時間能夠直接通過該測試時間-電壓波形圖反映出來，即開始測試的時間相同，那么，上電時序在前的測試點(diǎn)波形變化距離開始測試時間較近，上電時序越靠后的測試點(diǎn)波形變化距離開始測試時間越遠(yuǎn)，即根據(jù)各個測試時間-電壓波形圖中各個波形生成的時間，確定供電時序，由于本法明提供的方案能夠同時對所有測試點(diǎn)進(jìn)行測試，能夠一次性獲取所有測試點(diǎn)的波形，能夠有效地提高故障波形的準(zhǔn)確性。
【附圖說明】
[0038]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0039]圖1是本發(fā)明一個實(shí)施例提供的一種供電時序的測量方法的流程圖；
[0040]圖2是本發(fā)明一個實(shí)施例提供的一種示波器的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0041]圖3是本發(fā)明一個實(shí)施例提供的一種供電時序的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0042]圖4是本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種供電時序的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0043]圖5是本發(fā)明又一實(shí)施例提供的一種供電時序的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0044]圖6是本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種供電時序的測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0045]圖7是本發(fā)明另一個實(shí)施例提供的一種供電時序的測量方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0046]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例，基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0047]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種供電時序的測量方法，該方法可以包括以下步驟:
[0048]步驟101:通過至少兩個示波器連接測試主板上所有測試點(diǎn)；
[0049]步驟102:當(dāng)至少兩個示波器同時接收到同步觸發(fā)信號時，開始監(jiān)測所有測試點(diǎn)；
[0050]步驟103:所有測試點(diǎn)中每一個測試點(diǎn)作為當(dāng)前測試點(diǎn)，執(zhí)行當(dāng)接收到當(dāng)前測試點(diǎn)上電時，與當(dāng)前測試點(diǎn)連接的當(dāng)前示波器生成測試時間-電壓波形圖；
[0051]步驟104:根據(jù)各個測試時間-電壓波形圖中各個波形生成的時間，確定供電時序。
[0052]在圖1所示的實(shí)施例中，通過至少兩個示波器連接測試主板上所有測試點(diǎn)，當(dāng)至少兩個示波器同時接收到同步觸發(fā)信號時，開始監(jiān)測所有測試點(diǎn)，通過該過程使得所有測試點(diǎn)的測試時間相同，所有測試點(diǎn)中每一個測試點(diǎn)作為當(dāng)前測試點(diǎn)，執(zhí)行當(dāng)接收到當(dāng)前測試點(diǎn)上電時，與當(dāng)前測試點(diǎn)連接的當(dāng)前示波器生成測試時間-電壓波形圖，測試點(diǎn)上電時間能夠直接通過該測試時間-電壓波形圖反映出來，即開始測試的時間相同，那么，上電時序在前的測試點(diǎn)波形變化距離開始測試時間較近，上電時序越靠后的測試點(diǎn)波形變化距離開始測試時間越遠(yuǎn)，即根據(jù)各個測試時間-電壓波形圖中各個波形生成的時間