汽車(chē)電子元器件的測(cè)試方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及汽車(chē)元器件測(cè)試技術(shù)，尤其涉及一種汽車(chē)電子元器件的測(cè)試方法和裝 置。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著汽車(chē)的應(yīng)用和發(fā)展，汽車(chē)上應(yīng)用了各種汽車(chē)電子元器件，例如車(chē)身控制器、汽 車(chē)儀表、點(diǎn)火控制器、車(chē)鎖控制器等等電子元器件。在將汽車(chē)電子元器件應(yīng)用到汽車(chē)上時(shí)， 需要對(duì)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行測(cè)試，以保證各汽車(chē)電子元器件可以正常工作。
[0003] 現(xiàn)有技術(shù)中，在對(duì)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，對(duì)汽車(chē)電子元器件編寫(xiě)各測(cè) 試用例，各測(cè)試用例包括了該汽車(chē)電子元器件的一個(gè)前置條件以及測(cè)試步驟，分別采用各 測(cè)試用例對(duì)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。
[0004] 然而現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試用例只包含了該測(cè)試用例下 的前置條件和測(cè)試步驟，生成的測(cè)試用例所包含的信息較少，無(wú)法對(duì)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行 更多的測(cè)試，測(cè)試之后發(fā)現(xiàn)的汽車(chē)電子元器件的問(wèn)題較少，無(wú)法及時(shí)發(fā)現(xiàn)汽車(chē)電子元器件 的問(wèn)題，加大了汽車(chē)電子元器件的隱患。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明提供一種汽車(chē)電子元器件的測(cè)試方法和裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法對(duì) 汽車(chē)電子元器件進(jìn)行更多的測(cè)試，測(cè)試之后發(fā)現(xiàn)的汽車(chē)電子元器件的問(wèn)題較少，無(wú)法及時(shí) 發(fā)現(xiàn)汽車(chē)電子元器件的問(wèn)題，加大了汽車(chē)電子元器件的隱患的問(wèn)題。
[0006] 本發(fā)明的一方面是提供一種汽車(chē)電子元器件的測(cè)試方法，包括：
[0007] 獲取至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件的至少一個(gè)測(cè)試用例信息，所述測(cè)試用例信息包括 前置條件信息和各測(cè)試步驟信息；
[0008] 根據(jù)至少一個(gè)測(cè)試用例信息，生成各測(cè)試用例信息組合，所述測(cè)試用例信息組合 包括測(cè)試用例信息、以及與測(cè)試用例信息對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例反信息，其中所述測(cè)試用例反信 息為去除了測(cè)試用例信息中的前置條件信息的信息；
[0009] 從各所述測(cè)試用例信息組合中選出所述測(cè)試用例信息或所述測(cè)試用例反信息，以 生成各測(cè)試用例；
[0010] 根據(jù)所述各測(cè)試用例，對(duì)所述至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。
[0011] 如上所述的方法中，所述根據(jù)所述各測(cè)試用例，對(duì)所述至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件 進(jìn)行測(cè)試，包括：
[0012] 根據(jù)所述各測(cè)試用例，對(duì)所述至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件輸入輸入信號(hào)，以生成各 所述汽車(chē)電子元器件的輸出值；
[0013] 根據(jù)各所述汽車(chē)電子元器件的輸出值，確定各所述汽車(chē)電子元器件是否正常工 作。
[0014] 如上所述的方法中，所述輸出值包括輸出信號(hào)的波形；
[0015] 相應(yīng)的，所述根據(jù)各所述汽車(chē)電子元器件的輸出值，確定各所述汽車(chē)電子元器件 是否正常工作，包括：
[0016] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出信號(hào)的波形，和與各所述輸出信號(hào)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)波 形一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件正常工作；
[0017] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出信號(hào)的波形，和與各所述輸出信號(hào)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)波 形不一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件未正常工作。
[0018] 如上所述的方法中，所述輸出值包括輸出引腳的電壓值；
[0019] 相應(yīng)的，所述根據(jù)各所述汽車(chē)電子元器件的輸出值，確定各所述汽車(chē)電子元器件 是否正常工作，包括：
[0020] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出引腳的電壓值，和與各所述輸出引腳對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè) 電壓值一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件正常工作；
[0021] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出引腳的電壓值，和與各所述輸出引腳對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè) 電壓值不一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件未正常工作。
[0022] 本發(fā)明的另一方面是提供一種汽車(chē)電子元器件的測(cè)試裝置，包括：
[0023] 獲取模塊，用于獲取至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件的至少一個(gè)測(cè)試用例信息，所述測(cè) 試用例信息包括前置條件信息和各測(cè)試步驟信息；
[0024] 第一生成模塊，用于根據(jù)至少一個(gè)測(cè)試用例信息，生成各測(cè)試用例信息組合，所述 測(cè)試用例信息組合包括測(cè)試用例信息、以及與測(cè)試用例信息對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例反信息，其中 所述測(cè)試用例反信息為去除了測(cè)試用例信息中的前置條件信息的信息；
[0025] 第二生成模塊，用于從各所述測(cè)試用例信息組合中選出所述測(cè)試用例信息或所述 測(cè)試用例反信息，以生成各測(cè)試用例；
[0026] 測(cè)試模塊，用于根據(jù)所述各測(cè)試用例，對(duì)所述至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。
[0027] 如上所述的裝置中，所述測(cè)試模塊，包括：
[0028] 測(cè)試子模塊，用于根據(jù)所述各測(cè)試用例，對(duì)所述至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件輸入輸 入信號(hào)，以生成各所述汽車(chē)電子元器件的輸出值；
[0029] 分析子模塊，用于根據(jù)各所述汽車(chē)電子元器件的輸出值，確定各所述汽車(chē)電子元 器件是否正常工作。
[0030] 如上所述的裝置中，所述輸出值包括輸出信號(hào)的波形；
[0031]相應(yīng)的，所述分析子模塊，具體用于：
[0032] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出信號(hào)的波形，和與各所述輸出信號(hào)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)波 形一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件正常工作；
[0033] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出信號(hào)的波形，和與各所述輸出信號(hào)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)波 形不一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件未正常工作。
[0034] 如上所述的裝置中，所述輸出值包括輸出引腳的電壓值；
[0035] 相應(yīng)的，所述分析子模塊，具體用于：
[0036] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出引腳的電壓值，和與各所述輸出引腳對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè) 電壓值一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件正常工作；
[0037] 若各所述汽車(chē)電子元器件的輸出引腳的電壓值，和與各所述輸出引腳對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè) 電壓值不一致，則確定各所述汽車(chē)電子元器件未正常工作。
[0038] 本發(fā)明通過(guò)獲取至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件的至少一個(gè)測(cè)試用例信息，測(cè)試用例信 息包括前置條件信息和各測(cè)試步驟信息;根據(jù)至少一個(gè)測(cè)試用例信息，生成各測(cè)試用例信 息組合，測(cè)試用例信息組合包括測(cè)試用例信息、以及與測(cè)試用例信息對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例反信 息，其中測(cè)試用例反信息為去除了測(cè)試用例信息中的前置條件信息的信息;從各測(cè)試用例 信息組合中選出測(cè)試用例信息或測(cè)試用例反信息，以生成各測(cè)試用例;根據(jù)各測(cè)試用例，對(duì) 至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。從而可以根據(jù)測(cè)試用例信息，卻出測(cè)試用例信息中的 前置條件信息，從而生成攜帶了各測(cè)試步驟信息的測(cè)試用例反信息，由測(cè)試用例信息、以及 與測(cè)試用例信息對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例反信息構(gòu)成各個(gè)測(cè)試用例信息組合;可以從各個(gè)測(cè)試用例 信息組合中分別選出測(cè)試用例信息或測(cè)試用例反信息，進(jìn)行自由組合，組成多個(gè)測(cè)試用例； 進(jìn)而生成的測(cè)試用例所包含的信息較多，可以對(duì)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行更多的測(cè)試，可以及 時(shí)的發(fā)現(xiàn)汽車(chē)電子元器件的問(wèn)題，進(jìn)而及時(shí)解決汽車(chē)電子元器件的問(wèn)題，減少了汽車(chē)電子 元器件的隱患。同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試用例的自動(dòng)化的組合，減少了人工的排布測(cè)試用例的時(shí) 間，提高了測(cè)試用例的編寫(xiě)效率。
【附圖說(shuō)明】
[0039] 圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的汽車(chē)電子元器件的測(cè)試方法的流程圖；
[0040] 圖2為本發(fā)明實(shí)施例二提供的汽車(chē)電子元器件的測(cè)試方法的流程圖；
[0041] 圖3為本發(fā)明實(shí)施例三提供的汽車(chē)電子元器件的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0042] 圖4為本發(fā)明實(shí)施例四提供的汽車(chē)電子元器件的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0043] 為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例 中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是 本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員 在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0044] 圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的汽車(chē)電子元器件的測(cè)試方法的流程圖，如圖1所示， 本實(shí)施例的方法包括：
[0045] 步驟101、獲取至少一個(gè)汽車(chē)電子元器件的至少一個(gè)測(cè)試用例信息，測(cè)試用例信息 包括前置條件信息和各測(cè)試步驟信息。
[0046] 在本實(shí)施例中，具體的，用戶(hù)可以輸入汽車(chē)電子元器件的測(cè)試用例信息，對(duì)于一個(gè) 汽車(chē)電子元器件來(lái)說(shuō)具有至少一個(gè)測(cè)