一種場效應(yīng)管的測試電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及器件測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種場效應(yīng)管的測試電路。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，對場效應(yīng)管的測試主要分為直流測試和交流測試兩部分，其中，對場效應(yīng)管的直流測試主要包括對柵源極漏電(IGSS)、漏源極漏電(IDSS)、導(dǎo)通阻抗(RDSON)以及開啟電壓(VTH)等參數(shù)的測試，現(xiàn)有技術(shù)中對場效應(yīng)管的直流參數(shù)測試，主要是采用分立器件的專用測試機(jī)測試，如JUNO、ACCO 8002等機(jī)臺(tái)。使用專用機(jī)臺(tái)的一個(gè)缺陷是其他IC產(chǎn)品無法在此機(jī)臺(tái)進(jìn)行測試，導(dǎo)致機(jī)臺(tái)的通用性不強(qiáng)，此外，對于面臨激烈競爭的測試廠而言，如果沒有場效應(yīng)管的測試而導(dǎo)致機(jī)臺(tái)空閑，將造成很大的成本浪費(fèi)，因此機(jī)器的通用性和利用率至關(guān)重要；此外，專用測試機(jī)的缺點(diǎn)還包括:無法對場效應(yīng)管測試接觸阻抗；場效應(yīng)管的漏電測試精度要求比較高，通常在InA以下，使用專用測試機(jī)不能保證漏電測試的精度。綜上所述，現(xiàn)有技術(shù)中存在專用測試機(jī)不能進(jìn)行場效應(yīng)管接觸阻抗的測試以及漏電測試精度低的問題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種場效應(yīng)管的測試電路，旨在解決針對現(xiàn)有技術(shù)中存在專用測試機(jī)不能進(jìn)行場效應(yīng)管接觸阻抗的測試以及漏電測試精度低的問題。
[0004]本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種場效應(yīng)管的測試電路，所述測試電路包括控制電路、第一測試源、第一開關(guān)器件、第二開關(guān)器件以及第三開關(guān)器件，所述場效應(yīng)管上設(shè)有第一源極測試端、第二源極測試端、第一漏極測試端以及第二漏極測試端，所述第一源極測試端通過所述場效應(yīng)管的源極與第二源極測試端連接，所述第一漏極測試端通過所述場效應(yīng)管的漏極與第二漏極測試端連接；
[0005]所述第一測試源連接所述場效應(yīng)管的柵極，所述場效應(yīng)管的柵極連接所述第一開關(guān)器件的輸入端，所述第一開關(guān)器件的輸出端連接所述第一源極測試端，所述第二開關(guān)器件的輸入端連接所述第二源極測試端，輸出端連接所述第一漏極測試端，所述第三開關(guān)器件的輸入端連接所述第二漏極測試端，輸出端接地，所述控制電路的第一輸出端連接所述第一開關(guān)器件的控制端，所述控制電路的第二輸出端連接所述第二開關(guān)器件的控制端，所述控制電路的第三輸出端連接所述第三開關(guān)器件的控制端；
[0006]所述控制電路控制所述第一開關(guān)器件、所述第二開關(guān)器件以及所述第三開關(guān)器件處于導(dǎo)通狀態(tài)，使所述第一測試源、所述場效應(yīng)管的柵極、所述第一源極測試端、所述第二源極測試端、所述第一漏極測試端、所述第二漏極測試端以及地形成測量回路，并在所述第一測試源輸出電流時(shí)檢測所述測量回路的電壓值，根據(jù)所述電壓值和所述第一測試源的輸出電流值獲取所述場效應(yīng)管的接觸阻抗。
[0007]所述測試電路還包括第二測試源、第四開關(guān)器件第一開關(guān)電路、測試電阻以及運(yùn)算放大芯片；
[0008]所述第四開關(guān)器件的輸入端連接第二測試源，輸出端連接所述場效應(yīng)管的漏極，所述第一開關(guān)電路的輸入端連接所述場效應(yīng)管的柵極，輸出端連接所述運(yùn)算放大芯片的輸入端和測試電阻的第一端，所述測試電阻的第二端連接所述運(yùn)算放大芯片的輸出端，所述控制電路的第四輸出端連接所述第四開關(guān)器件的控制端，所述控制電路的第五輸出端連接所述第一開關(guān)電路的控制端；
[0009]所述控制電路控制所述第二開關(guān)器件、所述第四開關(guān)器件和所述第一開關(guān)電路處于導(dǎo)通狀態(tài)，使所述場效應(yīng)管的源極和漏極連接在一起，使所述場效應(yīng)管的柵極連接所述運(yùn)算放大芯片的輸入端，并在所述第二測試源輸出電流時(shí)檢測所述運(yùn)算放大芯片的輸出電壓值，根據(jù)所述輸出電壓值和所述測試電阻的阻值獲取所述場效應(yīng)管的柵極和漏極之間的漏電電流。
[0010]所述第一開關(guān)電路包括第五開關(guān)器件、第六開關(guān)器件以及第七開關(guān)器件，所述第五開關(guān)器件、所述第六開關(guān)器件以及所述第七開關(guān)器件串連在一起，所述第五開關(guān)器件輸入端連接所述場效應(yīng)管的柵極；
[0011]所述第五開關(guān)器件在斷開時(shí)連接所述第一測試源，在閉合時(shí)連接所述第六開關(guān)器件的輸入端；所述第六開關(guān)器件在斷開時(shí)連接所述第七開關(guān)器件的輸入端，在閉合時(shí)連接所述場效應(yīng)管的漏極；所述第七開關(guān)器件在斷開時(shí)接地，在閉合時(shí)連接所述運(yùn)算放大芯片的輸入端。
[0012]所述第一開關(guān)器件、第二開關(guān)器件、第三開關(guān)器件、第四開關(guān)器件、第五開關(guān)器件、第六開關(guān)器件以及第七開關(guān)器件為雙刀雙擲開關(guān)。
[0013]所述測試電路還包括第二開關(guān)電路，所述第二開關(guān)電路的輸入端連接所述場效應(yīng)管的源極，輸出端連接所述運(yùn)算放大芯片的輸入端和所述測試電阻的第一端；
[0014]所述控制電路控制所述第四開關(guān)器件、所述第一開關(guān)電路及所述第二開關(guān)電路處于導(dǎo)通狀態(tài)，使所述場效應(yīng)管的柵極和源極連接所述運(yùn)算放大芯片的輸入端，并在所述第二測試源輸出電流時(shí)檢測所述運(yùn)算放大芯片的輸出電壓值，根據(jù)所述輸出電壓值和所述測試電阻的阻值獲取所述場效應(yīng)管的源極和漏極之間的漏電電流。
[0015]所述第二開關(guān)電路包括第八開關(guān)器件、第九開關(guān)器件以及第十開關(guān)器件，所述第八開關(guān)器件、所述第九開關(guān)器件以及所述第十開關(guān)器件串連在一起，所述第八開關(guān)器件輸入端連接所述場效應(yīng)管的源極，所述第八開關(guān)器件在斷開時(shí)連接所述第九開關(guān)器件的輸入端，在閉合時(shí)接地，所述第九開關(guān)器件在閉合時(shí)連接所述第十開關(guān)器件的輸入端，所述第十開關(guān)器件在斷開時(shí)連接所述場效應(yīng)管的漏極，在閉合時(shí)連接所述運(yùn)算放大芯片的輸入端。
[0016]所述第八開關(guān)器件、所述第九開關(guān)器件以及所述第十開關(guān)器件為雙刀雙擲開關(guān)。
[0017]所述測試電路還包括第一二極管和第二二極管，所述第一二極管的陰極連接所述運(yùn)算放大芯片的輸入端和第二二極管的陽極，所述第一二極管的陽極與所述的第二二極管的陰極共地連接。
[0018]本實(shí)用新型提供一種場效應(yīng)管的測試電路，通過兩個(gè)測試源和多個(gè)開關(guān)器件即可對場效應(yīng)管進(jìn)行測試，不必采用專用機(jī)臺(tái)，只要滿足相應(yīng)場效應(yīng)管相應(yīng)的電流和電壓要求，即可以進(jìn)行測試，提高了測試電路的利用率，對場效應(yīng)管測試的通用性強(qiáng)，同時(shí)降低了運(yùn)營成本。
【附圖說明】
[0019]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0020]圖1是本實(shí)用新型一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖2是本實(shí)用新型另一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖3是本實(shí)用新型另一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖4是本實(shí)用新型一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路中第一開關(guān)器件的電路圖；
[0024]圖5是本實(shí)用新型一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路中第二開關(guān)器件的電路圖；
[0025]圖6是本實(shí)用新型一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路中第三開關(guān)器件的電路圖；
[0026]圖7是本實(shí)用新型一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路中第四開關(guān)器件的電路圖；
[0027]圖8是本實(shí)用新型一種實(shí)施例提供的一種場效應(yīng)管的測試電路中第一開關(guān)電路的電路圖；