抗干擾階梯平面反射激光干涉儀的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種精密測試技術及儀器領域，特別涉及一種抗干擾階梯平面反射激光干涉儀。
【背景技術】
[0002]激光器的出現(xiàn)，使古老的干涉技術得到迅速發(fā)展，激光具有亮度高、方向性好、單色性及相干性好等特點，激光干涉測量技術已經(jīng)比較成熟。激光干涉測量系統(tǒng)應用非常廣泛:精密長度、角度的測量如線紋尺、光柵、量塊、精密絲杠的檢測；精密儀器中的定位檢測系統(tǒng)如精密機械的控制、校正；大規(guī)模集成電路專用設備和檢測儀器中的定位檢測系統(tǒng)；微小尺寸的測量等。在大多數(shù)激光干涉測長系統(tǒng)中，都采用了邁克爾遜干涉儀或類似的光路結構。
[0003]單頻激光干涉儀從激光器發(fā)出的光束，經(jīng)擴束準直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化由接受器中的光電轉(zhuǎn)換元件和電子線路等轉(zhuǎn)換為電脈沖信號，經(jīng)整形、放大后輸入可逆計數(shù)器計算出總脈沖數(shù)，再由電子計算機按計算式L = NX λ /2，式中λ為激光波長(N為電脈沖總數(shù))，算出可動反射鏡的位移量L。使用單頻激光干涉儀時，要求周圍大氣處于穩(wěn)定狀態(tài)，各種空氣湍流都會引起直流電平變化而影響測量結果。
[0004]單頻激光干涉儀的弱點之一就是受環(huán)境影響嚴重，在測試環(huán)境惡劣，測量距離較長時，這一缺點十分突出。其原因在于它是一種直流測量系統(tǒng)，必然具有直流光平和電平零漂的弊端。激光干涉儀可動反光鏡移動時，光電接收器會輸出信號，如果信號超過了計數(shù)器的觸發(fā)電平則就會被記錄下來，而如果激光束強度發(fā)生變化，就有可能使光電信號低于計數(shù)器的觸發(fā)電平而使計數(shù)器停止計數(shù)，使激光器強度或干涉信號強度變化的主要原因是空氣湍流，機床油霧，切削肩對光束的影響，結果光束發(fā)生偏移或波面扭曲。
[0005]單頻激光干涉儀由于測量結構的問題，其測量精度受限于激光的波長，其精度一般只能為其波長的整數(shù)倍，很難再進行提升，同時測量環(huán)境的變化對測量結果有較大影響。隨著工業(yè)生產(chǎn)對精密測量的要求越來越高，對測量儀器的測量精度提出了更高的要求。
【實用新型內(nèi)容】
[0006]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有激光干涉儀測量精度受限于激光波長，測量精度難以提升的不足，提供一種抗干擾階梯平面反射激光干涉儀，該激光干涉儀在現(xiàn)有邁克爾遜激光干涉儀的基礎上，采用多光源多階梯平面反射鏡，對于η階梯平面反射鏡可以檢測λ/2η的精度，提高了激光干涉儀的測量精度。同時由于多光路干涉狀態(tài)交替變換，對測量光路的環(huán)境變化有更高的抗干擾能力。
[0007]為了實現(xiàn)上述實用新型目的，本實用新型提供了以下技術方案:
[0008]一種抗干擾階梯平面反射激光干涉儀，包括激光源、分光鏡、固定反射鏡、移動反射鏡、光電探測器組，其特征在于，所述激光源包括η個平行激光束，其中η多2，所述光電探測器組包括η個光電探測器件，所述固定反射鏡的反射面為η個成階梯型的反射平面，相鄰兩個反射平面的間距等于λ/2η+1?λ/2，其中k為任意自然數(shù)、λ為激光源發(fā)出的激光波長；每個所述激光源發(fā)出的每束激光經(jīng)過所述分光鏡反射后，分別垂直射入對應一個反射平面，每個所述反射平面將對應激光反射到所述光電探測器組的對應各個光電探測器件；所述激光源發(fā)出的每束激光束經(jīng)過所述分光鏡透射后，分別垂直入射到所述移動反射鏡后反射到光電探測器組的對應的各個光電探測器件。
[0009]該激光干涉儀的激光源產(chǎn)生的平行激光束數(shù)量、階梯型反射平面數(shù)量和光電探測器件的數(shù)量均為η (η ^ 2)，且為一一對應，即激光源發(fā)射的每束激光均分為兩路，一路激光通過分光鏡反射到固定反射鏡的階梯面的其中一個平面后，垂直反射到光電探測器組上的其中一個光電探測器件，另一路激光直接在分光鏡內(nèi)透射后入射到移動反射鏡后再垂直反射到同一個光電探測器件，該光電探測器件即能探測到這兩路光程差在移動反射鏡發(fā)生位移過程中是否產(chǎn)生最強干涉狀態(tài)或最弱干涉狀態(tài)。由于固定反射鏡上為階梯型反射面，所以激光源發(fā)射的各束激光通過固定反射鏡的階梯面反射后的光路的光程是不相同的，同時激光源發(fā)射的每束激光分成兩路后到達對應的光電探測器件后的光程差值均不相同，能夠發(fā)生干涉現(xiàn)象不僅和激光的波長有關，還和階梯反射平面的平面高度差值有關系，由于該階梯面(即階梯型反射平面)的相鄰兩個平面高度差值等于λ/2η+1?λ/2，即相鄰階梯面的高度差值可以相同也可以不同，由于每束激光在每個反射平面反射后，光程有所差異，不管相鄰兩個反射平面的高度差值多少，其光程差均為A/n+kA。
[0010]由于上述光程差公式中kA并不會影響該光束激光的干涉狀態(tài)，只有差值λ/n才會對該光束激光的干涉狀態(tài)產(chǎn)生影響，因此，只要移動反射鏡進行移動λ/2η的距離或整數(shù)倍于λ/2η的距離，該光電探測器組上的光電探測器件的其中一個能夠檢測出其激光干涉狀態(tài)達到最強干涉狀態(tài)，故該激光干涉儀的檢測精度則變?yōu)棣?2η，相對于現(xiàn)有的激光干涉儀只能檢測精度為激光波長λ而言，該測量精度得到了顯著提高，該測量精度即由固定反射鏡的階梯面的每兩個階梯平面的間距(也可稱為高度或厚度)以及激光源的激光波長決定。
[0011]由于采用多光路干涉測量，測量過程中，各光電探測器探測到的直流電平應該交替變化，如果某一光路的測量環(huán)境的變化造成光電探測器測量的直流電平發(fā)生偏移，而其它測量光路的光電探測器探測到的直流電平?jīng)]有發(fā)生交替變化，此時認為該測量光路是受到測量環(huán)境的影響，忽略其電平變化。如果多條光路的測量環(huán)境的變化造成多個光電探測器測量的直流電平發(fā)生偏移，則認為測量環(huán)境發(fā)生變化，忽略其電平變化。僅僅對于測量過程中嚴格滿足多光路干涉狀態(tài)交替變化的情況才對其進行計數(shù)，即多光路干涉測量中引入交流信號，將傳統(tǒng)的激光干涉測量中直流電平的測量轉(zhuǎn)換為交流信號的測量。
[0012]需要說明的是，相鄰兩個平面高度差值等于λ /2n+k λ /2，真正決定激光是否處于最強干涉狀態(tài)的只是差值λ/2η，增加的差值kA/2是為了增加階梯面相鄰兩個反射面的高度差值。
[0013]優(yōu)選地，所述固定反射鏡包括平面反射鏡本體以及η-l個反射薄片組合而成，每個所述反射薄片的厚度為λ/2η+1?λ/2，其中k為自然數(shù)。
[0014]該階梯面通過η-l個反射薄片疊加在平面反射鏡本體上而成，平面反射鏡本體表面為激光干涉儀用普通反射鏡，其中每個反射薄片的厚度為λ/2η+1?λ/2，k為自然數(shù)，即每個反射薄片的厚度可以相同也可以不同。
[0015]優(yōu)選地，每個所述反射薄片厚度均為λ/2η。
[0016]優(yōu)選地，所述平面反射鏡本體以及η-l個厚度相同的反射薄片為一體成型體，避免分塊的反射薄片連接在一起產(chǎn)生的相鄰兩個反射薄片形成的兩個階梯平面的高度誤差。
[0017]與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果:該抗干擾階梯平面反射激光干涉儀的激光源發(fā)射的激光束數(shù)量、階梯型反射平面數(shù)量和光電探測器件的數(shù)量均為n(n ^ 2)，且一一對應，由于激光源發(fā)射的各束激光通過固定反射鏡的階梯面上不同平面反射后的光路的光程不同，同時激光源發(fā)射的每束激光分成兩路后到達對應的光電探測器件后的光程差值均不相同，各個光電探測器件能夠探測到對應的兩路激光是否能夠發(fā)生干涉現(xiàn)象，該干涉現(xiàn)象的產(chǎn)生不僅和激光的波長有關，還和階梯面的平面高度差值有關系，由于該階梯面的相鄰兩個平面高度差值等于λ/2n+k λ/2，因此，只要移動反射鏡進行移動λ/2η的距離或整數(shù)倍于λ/2η的距離，該光電探測器組上的光電探測器件只能其中一個能夠檢測出其處于激光最強干涉狀態(tài)，故該激光干涉儀的檢測精度為λ/2η ;相對于現(xiàn)有的激光干涉儀只能檢測精度為激光波長λ而言，其測量精度得到了顯著的提高。同時由于采用多光路干涉測量，測量過程中，各光電探測器探測到的直流電平應該交替變化，如果某一光路的測量環(huán)境的變化造成光電探測器測量的直流電平發(fā)生偏移，而其它測量光路的光電探測器探測到的直流電平?jīng)]有發(fā)生交替變化，此時認為該測量光路是受到測量環(huán)境的影響，忽略其電平變化。如果多條光路的測量環(huán)境的變化造成多個光電探測器測量的直流電平發(fā)生偏移，則認為測量環(huán)境發(fā)生變化，忽略其電平變化。僅僅對于測量過程中嚴格滿足多光路干涉狀態(tài)交替變化的情況才對其進行計數(shù)，即多光路干涉測量中引入交流信號，將傳統(tǒng)的激光干涉測量中直流電平的測量轉(zhuǎn)換為交流信號的測量，提高了干涉儀的抗干擾能力。
【附圖說明】
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[0018]圖1為本實用新型所述抗干擾階梯平面反射激光干涉儀使用時的激光光路示意圖；
[0019]圖2為圖1中激光源的結構示意圖；
[0020]圖3為圖1中固定反射鏡的階梯形反射平面的結構示意圖。
[0021]圖中標記:
[0022]1、激光源，11、激光束一，12、激光束二，13、激光束三，14、激光束四，2、分光鏡，3、固定反射鏡，31、反射平面一，32、反射平面二，33、反射平面三，34、反射平面四，35、反射鏡本體，36、反射薄片，4、移動反射鏡，5、光電探測器組，51、光電探測器件一，52、光電探測器件二，53、光電探測器件三，54、光電探測器件四。
【具體實施方式】
[0023]下面結合試驗例及【具體實施方式】對本實用新型作進一步的詳細描述。但不應將此理解為本實用新型上述主題的范圍僅限于以下的實施例，凡基于本【實用新型內(nèi)容】所實現(xiàn)的技術均屬于本實用新型的范圍。
[0024]如圖1所示，一種多光束階梯平面反射鏡激光干涉儀及使用方法，包括激光源1、分光鏡2、固定反射鏡3、移動反射鏡4、光電探測器組5，其中激光源I包括η個平行激光束，η ^ 2，光電探測器組5也包括η個光電探測器件，固定反射鏡3的反射面為η個階梯型反射平面，相鄰兩個階梯反射平面的間距h等于λ/2η+1?λ/2，其中k為自然數(shù)、λ為激光源I發(fā)出的激光波長；激光源I發(fā)出的每束激光束經(jīng)過分光鏡2反射后，