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      一種按鍵測(cè)試裝置的制造方法

      文檔序號(hào):8753703閱讀:270來(lái)源:國(guó)知局
      一種按鍵測(cè)試裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及制造行業(yè)領(lǐng)域,尤其涉及一種按鍵測(cè)試裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著科技的高速發(fā)展,在制造業(yè)領(lǐng)域,尤其是在按鍵控制的制造中,如物理軟性控制鍵盤(pán),其中,軟性控制鍵盤(pán)最為常用的是硅膠按鍵或橡膠按鍵,其常被運(yùn)用在電子計(jì)算器、遙控系統(tǒng)、電話機(jī)、無(wú)線電話機(jī)、電腦鍵盤(pán)、學(xué)習(xí)機(jī)按鍵、密碼器按鍵、數(shù)碼產(chǎn)品按鍵,如手機(jī)的膠性按鍵當(dāng)中。
      [0003]目前在軟性控制鍵盤(pán)生產(chǎn)過(guò)程中,往往容易產(chǎn)生材料過(guò)軟,或成型尺寸不夠的現(xiàn)象,當(dāng)鍵盤(pán)在組裝進(jìn)入使用后,常常發(fā)生觸發(fā)不靈敏的情況,因此,大大地增加了成本,目前通常均由人力進(jìn)行單一的按壓接觸測(cè)試而檢測(cè)觸發(fā)的情況,然而,正是由于人力的檢測(cè),從而導(dǎo)致了人力資源的浪費(fèi),及效率低下的技術(shù)問(wèn)題。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0004]本實(shí)用新型實(shí)施例公開(kāi)了一種按鍵測(cè)試裝置,解決了目前由人力進(jìn)行單一的按壓接觸測(cè)試而檢測(cè)觸發(fā)的情況,所導(dǎo)致的人力資源的浪費(fèi),及效率低下的技術(shù)問(wèn)題。
      [0005]本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種按鍵測(cè)試裝置,包括:
      [0006]推進(jìn)機(jī)構(gòu)和測(cè)試平臺(tái);
      [0007]所述推進(jìn)機(jī)構(gòu)與所述測(cè)試平臺(tái)對(duì)應(yīng)面上設(shè)置有多個(gè)按壓頭,用于在推動(dòng)作用下將所述按壓頭推進(jìn)至所述測(cè)試平臺(tái)處;
      [0008]所述測(cè)試平臺(tái)上方設(shè)置有電路板,所述電路板與電控元件建立有電性連接關(guān)系;
      [0009]所述電路板上方設(shè)置有多個(gè)非接觸式導(dǎo)電部件,與所述按壓頭的位置一一對(duì)應(yīng),用于通過(guò)下壓方式與所述電路板的導(dǎo)電銅極相連通;
      [0010]其中,當(dāng)待測(cè)按鍵置放在所述非接觸式導(dǎo)電部件之上時(shí),通過(guò)推進(jìn)所述推進(jìn)機(jī)構(gòu),使得所述按壓頭在推動(dòng)作用下按壓所述待測(cè)按鍵,并帶動(dòng)所述非接觸式導(dǎo)電部件下壓與所述電路板的導(dǎo)電銅極相連通。
      [0011]優(yōu)選地,所述推進(jìn)機(jī)構(gòu)包括:
      [0012]主架、氣缸和下壓架;
      [0013]所述氣缸與所述下壓架連接,所述下壓架通過(guò)滑動(dòng)部件與所述主架相連接,使得所述下壓架在所述氣缸的作用下進(jìn)行上下滑動(dòng)。
      [0014]優(yōu)選地,所述主架頂部開(kāi)有用于嵌入所述氣缸的槽;
      [0015]所述下壓架設(shè)置在所述主架內(nèi)部;
      [0016]所述滑動(dòng)部件為在所述下壓架兩側(cè)的滑塊與所述主架兩側(cè)的滑軌組成;
      [0017]所述主架內(nèi)部的背部設(shè)置有用于置放所述電控元件的空心盒體。
      [0018]優(yōu)選地,所述下壓架底部固定有板型部件,在所述板型部件下方設(shè)置有多個(gè)按壓頭。
      [0019]優(yōu)選地,所述測(cè)試平臺(tái)設(shè)置在所述推進(jìn)機(jī)構(gòu)的主架內(nèi)部,與所述推進(jìn)機(jī)構(gòu)的下壓架底面相對(duì)應(yīng)。
      [0020]優(yōu)選地,所述測(cè)試平臺(tái)還包括:
      [0021]提示燈,與所述電路板的每一個(gè)所述導(dǎo)電銅極電性連接,用于當(dāng)所述按壓頭在推動(dòng)作用下按壓所述待測(cè)按鍵,并帶動(dòng)所述非接觸式導(dǎo)電部件下壓與所述電路板的導(dǎo)電銅極相連通時(shí),進(jìn)行亮燈提示。
      [0022]優(yōu)選地,所述提示燈主要包含有用于確定所述非接觸式導(dǎo)電部件和所述導(dǎo)電銅極通路的通路提示燈和斷路的斷路提示燈。
      [0023]優(yōu)選地,所述非接觸式導(dǎo)電部件為導(dǎo)電彈片。
      [0024]優(yōu)選地,多個(gè)所述導(dǎo)電銅極在所述電路板上為串聯(lián)連接。
      [0025]優(yōu)選地,在推動(dòng)作用下將所述按壓頭推進(jìn)至所述測(cè)試平臺(tái)處的按壓行程為0.4mm
      至0.7臟。
      [0026]從以上技術(shù)方案可以看出,本實(shí)用新型實(shí)施例具有以下優(yōu)點(diǎn):
      [0027]本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種按鍵測(cè)試裝置,包括:推進(jìn)機(jī)構(gòu)和測(cè)試平臺(tái);推進(jìn)機(jī)構(gòu)與測(cè)試平臺(tái)對(duì)應(yīng)面上設(shè)置有多個(gè)按壓頭,用于在推動(dòng)作用下將按壓頭推進(jìn)至測(cè)試平臺(tái)處;測(cè)試平臺(tái)上方設(shè)置有電路板,電路板與電控元件建立有電性連接關(guān)系;電路板上方設(shè)置有多個(gè)非接觸式導(dǎo)電部件,與按壓頭的位置一一對(duì)應(yīng),用于通過(guò)下壓方式與電路板的導(dǎo)電銅極相連通;其中,當(dāng)待測(cè)按鍵置放在非接觸式導(dǎo)電部件之上時(shí),通過(guò)推進(jìn)推進(jìn)機(jī)構(gòu),使得按壓頭在推動(dòng)作用下按壓待測(cè)按鍵,并帶動(dòng)非接觸式導(dǎo)電部件下壓與電路板的導(dǎo)電銅極相連通。本實(shí)施例中,通過(guò)待測(cè)按鍵置放在非接觸式導(dǎo)電部件之上時(shí),通過(guò)推進(jìn)推進(jìn)機(jī)構(gòu),使得按壓頭在推動(dòng)作用下按壓待測(cè)按鍵,并帶動(dòng)非接觸式導(dǎo)電部件下壓與電路板的導(dǎo)電銅極相連通,便實(shí)現(xiàn)了待測(cè)按鍵的按壓的接觸性能是否良好,進(jìn)一步投入成品生產(chǎn)使用,解決了目前由人力進(jìn)行單一的按壓接觸測(cè)試而檢測(cè)觸發(fā)的情況,所導(dǎo)致的人力資源的浪費(fèi),及效率低下的技術(shù)問(wèn)題。
      【附圖說(shuō)明】
      [0028]為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
      [0029]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種按鍵測(cè)試裝置的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0030]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種按鍵測(cè)試裝置的整體的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0031]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種按鍵測(cè)試裝置的仰視的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0032]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種按鍵測(cè)試裝置的側(cè)視的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0033]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種按鍵測(cè)試裝置的電路板的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0034]圖示說(shuō)明:1、推進(jìn)機(jī)構(gòu);2、測(cè)試平臺(tái);3、待測(cè)按鍵;11、按壓頭;12、氣缸;13、滑塊;14、主架;15、電控元件;16、滑軌;17、下壓架;21、非接觸式導(dǎo)電部件;22、電路板;23、導(dǎo)電銅極;24、指示燈;25、操作部件。
      【具體實(shí)施方式】
      [0035]本實(shí)用新型實(shí)施例公開(kāi)了一種按鍵測(cè)試裝置,解決了目前由人力進(jìn)行單一的按壓接觸測(cè)試而檢測(cè)觸發(fā)的情況,所導(dǎo)致的人力資源的浪費(fèi),及效率低下的技術(shù)問(wèn)題。
      [0036]請(qǐng)參閱圖1至圖5,本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一種按鍵測(cè)試裝置的一個(gè)實(shí)施例包括:
      [0037]如圖1所示,推進(jìn)機(jī)構(gòu)I和測(cè)試平臺(tái)2 ;
      [0038]推進(jìn)機(jī)構(gòu)I與測(cè)試平臺(tái)2對(duì)應(yīng)面上設(shè)置有多個(gè)按壓頭11,用于在推動(dòng)作用下將按壓頭11推進(jìn)至測(cè)試平臺(tái)2處;
      [0039]測(cè)試平臺(tái)2上方設(shè)置有電路板22,電路板22與電控元件15建立有電性連接關(guān)系;
      [0040]電路板22上方設(shè)置有多個(gè)非接觸式導(dǎo)電部件21,與按壓頭11的位置--對(duì)應(yīng),用于通過(guò)下壓方式與電路板22的導(dǎo)電銅極23相連通;
      [0041]其中,當(dāng)待測(cè)按鍵3置放在非接觸式導(dǎo)電部件21之上時(shí),通過(guò)推進(jìn)推進(jìn)機(jī)構(gòu)1,使得按壓頭11在推動(dòng)作用下按壓待測(cè)按鍵3,并帶動(dòng)非接觸式導(dǎo)電部件21下壓與電路板22的導(dǎo)電銅極23相連通。
      [0042]優(yōu)選地,如圖2至圖4所示,前述的推進(jìn)機(jī)構(gòu)I包括:
      [0043]主架14、氣缸12和下壓架17 ;
      [0044]氣缸12與下壓架17連接,下壓架17通過(guò)滑動(dòng)部件與主架14相連接,使得下壓架17在氣缸12的作用下進(jìn)行上下滑動(dòng);
      [0045]進(jìn)一步,下壓架17通過(guò)兩側(cè)的滑塊13與主架14兩側(cè)的滑軌16滑動(dòng)連接,使得下壓架17在氣缸12的作用下進(jìn)行上下滑動(dòng),進(jìn)一步可以說(shuō)明的是,前述的滑動(dòng)部件可以是是由滑塊13和滑軌16組成,還可以是滑輪和滑導(dǎo)軌組成,本實(shí)施例中,還有其它滑動(dòng)部件如滑塊13和滑軌16的形式,如上下滑動(dòng)亦或是橫向滑動(dòng)形式實(shí)現(xiàn)滑動(dòng)功能,
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