一種光線入射角度檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及光線傳感器，特別涉及一種光線入射角度檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)，如申請公布號為CN101074871A的發(fā)明專利申請所公開采用PSD的光電傾角測量裝置，是一種采用PSD (位置敏感探測器)和半導(dǎo)體激光測量傾角的裝置，將分光折轉(zhuǎn)鏡組作為固體擺，同時(shí)采用PSD作為檢測器件，以半導(dǎo)體激光作為檢測光源，利用PSD的位置探測功能，最終實(shí)現(xiàn)了較大范圍在線精確測量傾角，作為一種光電檢測裝置與計(jì)算機(jī)技術(shù)結(jié)合可用于傾角的動(dòng)態(tài)高精度檢測。
[0003]然而，此種測量裝置，型號少，價(jià)格貴，大多是用于軍用需求，較少考慮民用需求，因此，較難普及。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的是提供一種光線入射角度檢測裝置，能簡單有效的檢測光線入射角度。
[0005]本實(shí)用新型的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的:一種光線入射角度檢測裝置，包括殼體、設(shè)于所述殼體且受光面相互平行的兩個(gè)光敏器件；且其中一個(gè)光敏器件能夠?qū)α硪粋€(gè)光敏器件的受光面形成遮擋。
[0006]作為本實(shí)用新型的優(yōu)選，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，兩個(gè)所述光敏器件存在相互重疊的區(qū)域。
[0007]作為本實(shí)用新型的優(yōu)選，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，兩個(gè)所述光敏器件不存在相互重疊的區(qū)域。
[0008]本實(shí)用新型的另一實(shí)用新型目的在于提供一種光線入射角度檢測裝置，包括殼體、設(shè)于所述殼體且受光面相互垂直的兩個(gè)光敏器件；且其中一個(gè)光敏器件位于另一個(gè)光敏器件的一端。
[0009]本實(shí)用新型的另一實(shí)用新型目的在于提供一種光線入射角度檢測裝置，包括殼體及設(shè)于殼體上的三個(gè)光敏器件；其中兩個(gè)所述光敏器件的受光面處于同一平面，且該兩個(gè)光敏器件之間上方平行有設(shè)置余下的一個(gè)所述光敏器件。
[0010]本實(shí)用新型的另一實(shí)用新型目的在于提供一種光線入射角度檢測裝置，包括殼體、設(shè)于所述殼體的至少一個(gè)光敏器件、設(shè)于所述殼體且用于遮擋所述光敏器件受光面的遮光體。
[0011]本實(shí)用新型的另一實(shí)用新型目的在于提供一種光線入射角度檢測裝置，包括殼體、設(shè)于所述殼體且受光面處于同一平面的兩個(gè)光敏器件、設(shè)于所述殼體且位于所述光敏器件上方用于遮擋光線的遮光體。
[0012]綜上所述，本實(shí)用新型具有以下有益效果:本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，易于普及、推廣、實(shí)施；能有效檢測光線入射角度、光敏器件受光面實(shí)際光照面積等參數(shù)。
【附圖說明】
[0013]圖1是實(shí)施例1示意圖；
[0014]圖2是實(shí)施例2示意圖；
[0015]圖3是實(shí)施例3示意圖；
[0016]圖4是實(shí)施例4示意圖；
[0017]圖5是實(shí)施例5示意圖；
[0018]圖6是實(shí)施例6示意圖；
[0019]圖7是實(shí)施例8示意圖；
[0020]圖中，1、光敏器件，2、殼體，3、遮光體。
【具體實(shí)施方式】
[0021]以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0022]本具體實(shí)施例僅僅是對本實(shí)用新型的解釋，其并不是對本實(shí)用新型的限制，本領(lǐng)域技術(shù)人員在閱讀完本說明書后可以根據(jù)需要對本實(shí)施例做出沒有創(chuàng)造性貢獻(xiàn)的修改，但只要在本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍內(nèi)都受到專利法的保護(hù)。
[0023]實(shí)施例1:一種光線入射角度檢測裝置，如圖1所示，包括兩個(gè)光敏器件I，兩個(gè)光敏器件I的電氣參數(shù)一致，且兩個(gè)光敏器件I的受光面面積及形狀相同；兩個(gè)光敏器件I的受光面相互平行，且存在間距；在垂直于光敏器件I受光面的方向上，兩個(gè)光敏器件I相互重疊。
[0024]應(yīng)用本實(shí)施例的光線入射角度檢測方法，接受光照后，入射光線上任意一點(diǎn)相對于兩個(gè)所述光敏器件受光面的位置變化所形成的軌跡處于同一平面，位于較上方的光敏器件I受光面始終處于完全光照狀態(tài)，即該受光面的每一個(gè)位置都接收到入射光。
[0025]首先，檢測兩個(gè)光敏器件的電流值^及I 2;其次，應(yīng)用公式
[0026]S1 實(shí)際 /S2=WK25IjI2=L1 實(shí)際 /L2;
[0027]K1=K2;
[0028]Tana=x/[L重疊-(L1-L1 實(shí)際)]；
[0029]為其中一個(gè)光敏器件的當(dāng)前實(shí)際受光面積，S2為另一個(gè)光敏器件的受光面積，該光敏器件的受光面始終處于完全受光照狀態(tài)；
[0030]K1為其中一個(gè)光敏器件的感光系數(shù)；K 2為另一個(gè)光敏器件的感光系數(shù)，兩個(gè)光敏器件的感光系數(shù)相同；
[0031]1^_#為入射光線在其中一個(gè)光敏器件受光面的實(shí)際照射長度，L1S該光敏器件受光面上的理論照射長度；
[0032]L2為入射光線在另一個(gè)光敏器件受光面的照射長度，該光敏器件的受光面積始終處于完全受光照狀態(tài)；
[0033]Ls4為兩個(gè)光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重疊長度，且該重疊長度重合或平行于入射光線上任意一點(diǎn)相對于兩個(gè)所述光敏器件受光面的位置變化所形成的軌跡所在平面；
[0034]X為兩個(gè)光敏器件受光面之間的垂直距離；
[0035]α為入射光線的入射角度。
[0036]從而得出入射角度α。
[0037]實(shí)施例2:與實(shí)施例1的不同之處在于，如圖2所示，兩個(gè)光敏器件I在垂直于受光面的方面上不相互重疊。
[0038]應(yīng)用本實(shí)施例的光線入射角度檢測方法，接受光照后，入射光線上任意一點(diǎn)相對于兩個(gè)所述光敏器件受光面的位置變化所形成的軌跡處于同一平面，位于較上方的光敏器件I受光面始終處于完全光照狀態(tài)，即該受光面的每一個(gè)位置都接收到入射光。
[0039]首先，檢測兩個(gè)光敏器件的電流值^及I 2;其次，應(yīng)用公式
[0040]S1 實(shí)際 /S2=WK25IjI2=L1 實(shí)際 /L2;
[0041]K1=K2;
[0042]Tana=x/ (L2+ L1 實(shí)際)；
[0043]為其中一個(gè)光敏器件的當(dāng)前實(shí)際受光面積，S2為另一個(gè)光敏器件的受光面積，該光敏器件的受光面始終處于完全受光照狀態(tài)；
[0044]K1為其中一個(gè)光敏器件的感光系數(shù)；K 2為另一個(gè)光敏器件的感光系數(shù)，兩個(gè)光敏器件的感光系數(shù)相同；
[0045]為入射光線在其中一個(gè)光敏器件受光面的實(shí)際照射長度，L2S入射光線在另一個(gè)光敏器件受光面的照射長度，該光敏器件的受光面積始終處于完全受光照狀態(tài)；
[0046]X為兩個(gè)光敏器件受光面之間的垂直距離；
[0047]α為入射光線的入射角度；
[0048]從而得出入射角度α。
[0049]實(shí)施例3:—種光線入射角度檢測裝置，如圖3所示，包括三個(gè)光敏器件I ;其中兩個(gè)所述光敏器件I的受光面處于同一平面，且該兩個(gè)光敏器件之間上方平行有設(shè)置余下的一個(gè)所述光敏器件I。
[0050]應(yīng)用本實(shí)施例的光線入射角度檢測方法，接受光照后，入射光線上任意一點(diǎn)相對于兩個(gè)所述光敏器件受光面的位置變化所形成的軌跡處于同一平面，位于較上方的光敏器件I受光面始終處于完全光照狀態(tài)，即該受光面的每一個(gè)位置都接收到入射光，本實(shí)施例可以檢測0-180度范圍內(nèi)的入射光角度。
[0051]首先檢測三個(gè)光敏器件的電流值，I1, 12及I 3;其次，應(yīng)用公式，
[0052]參照圖3，入射光從左邊射入時(shí)，
[0053]S1 實(shí)際 /S2=WK25IjI2=L1 實(shí)際 /L2;
[0054]K1=K2;
[0055]Tana=x/[L重疊-(L1-L1 實(shí)際)]；
[0056]為其中一個(gè)光敏器件的當(dāng)前實(shí)際受光面積，S2為另一個(gè)光敏器件的受光面積，該光敏器件的受光面始終處于完全受光照狀態(tài)；
[0057]K1為其中一個(gè)光敏器件的感光系數(shù)；K 2為另一個(gè)光敏器件的感光系數(shù)，兩個(gè)光敏器件的感光系數(shù)相同；
[0058]1^_#為入射光線在其中一個(gè)光敏器件受光面的實(shí)際照射長度，L1S該光敏器件受光面上的理論照射長度；
[0059]L2為入射光線在另一個(gè)光敏器件受光面的照射長度，該光敏器件的受光面