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      一種pptc恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置的制造方法

      文檔序號(hào):8865903閱讀:648來(lái)源:國(guó)知局
      一種pptc恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試
      目.0
      【背景技術(shù)】
      [0002]PPTC是一種正溫度系數(shù)聚合物熱敏電阻,使用時(shí)串聯(lián)在工作電路中,正常工作時(shí)阻值很低,當(dāng)發(fā)生故障產(chǎn)生過(guò)電流時(shí),PPTC迅速動(dòng)作由低阻狀態(tài)變?yōu)楦咦锠顟B(tài),使電流明顯減小,從而保護(hù)電路中的器件。當(dāng)故障排除后,PPTC又會(huì)迅速的由高阻狀態(tài)變?yōu)榈妥锠顟B(tài)。PPTC由高阻狀態(tài)變?yōu)榈妥锠顟B(tài)所需的時(shí)間稱之為恢復(fù)時(shí)間,是PPTC重要的參數(shù)。由于PPTC由高阻狀態(tài)完全恢復(fù)到動(dòng)作前的低阻狀態(tài)需要很長(zhǎng)時(shí)間,因此按標(biāo)準(zhǔn)要求只計(jì)算恢復(fù)到2倍動(dòng)作前阻值的時(shí)間。
      [0003]傳統(tǒng)的恢復(fù)時(shí)間測(cè)試,是通過(guò)應(yīng)用惠斯通電橋的原理完成的。該方法需要多個(gè)測(cè)試步驟,并且需要搭建復(fù)雜的測(cè)試線路,方法復(fù)雜,效率底下,不能夠滿足大規(guī)模生產(chǎn)和檢測(cè)的要求。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0004]本實(shí)用新型主要是解決現(xiàn)有技術(shù)中所存在的技術(shù)問(wèn)題,從而提供一種效率高、適合大規(guī)模生產(chǎn)和檢測(cè)的PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置。
      [0005]本實(shí)用新型的上述技術(shù)問(wèn)題主要是通過(guò)下述技術(shù)方案得以解決的:
      [0006]本實(shí)用新型提供的PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置,包括殼體和測(cè)試板,所述測(cè)試板安裝在所述殼體內(nèi),所述測(cè)試板包括MCU模塊、測(cè)試開關(guān)模塊、測(cè)試模塊組件、顯示模塊和電源模塊,所述測(cè)試開關(guān)模塊用于傳遞測(cè)試信號(hào)給所述MCU模塊,所述MCU模塊用于接收所述測(cè)試信號(hào),并控制所述測(cè)試模塊組件進(jìn)行測(cè)試,所述測(cè)試模塊組件用于發(fā)出PPTC測(cè)試恢復(fù)時(shí)間的計(jì)時(shí)信號(hào)至所述MCU模塊,所述MCU模塊根據(jù)所述測(cè)試模塊組件返回的計(jì)時(shí)信號(hào)進(jìn)行計(jì)時(shí),并控制所述顯示模塊顯示恢復(fù)時(shí)間信息,其中,所述電源模塊用于為所述測(cè)試板提供電源。
      [0007]進(jìn)一步地,所述測(cè)試模塊組件包括第一二極管、第二二極管、發(fā)光二極管,第一繼電器、第二繼電器、第一三極管、第二三極管、運(yùn)算放大器、比較器、PPTC、可變電阻、第一至第五電阻、以及第一至第五端口,所述第一三極管基極與所述第三端口相連接,其集電極與所述第二繼電器線圈的一端、第一二極管的陽(yáng)極相連接,其發(fā)射極依次經(jīng)所述第二繼電器的靜觸點(diǎn)、PPTC與第一繼電器和第四電阻的一端相連接,所述第二繼電器線圈的另一端和第一二極管的陰極還與電源相連接,所述第二繼電器的動(dòng)觸點(diǎn)與所述第一、第二端口相連接,以及所述第四電阻的另一端還與電源相連接,所述第二三極管的基極與第四端口相連接,其集電極與第一繼電器線圈的一端、第二二極管的陽(yáng)極相連接,其發(fā)射極與地相連接,所述第一繼電器線圈的另一端、第二二極管的陰極還與電源相連接,所述運(yùn)算放大器的第I腳與所述第一繼電器的靜觸點(diǎn)相連接,其第2腳與所述第一電阻的一端、第二電阻的一端相連接,其第3腳與所述第二電阻的另一端、所述第一繼電器的動(dòng)觸點(diǎn)、比較器的第I腳相連接,其中,所述第一電阻的另一端還與地相連接,所述比較器的第2腳與第三電阻的一端、可變電阻的一端相連接,所述比較器的第3腳與所述第五端口、發(fā)光二極管的陰極相連接,所述第三電阻的另一端與電源相連接,所述可變電阻的另一端接地,所述發(fā)光二極管的陽(yáng)極經(jīng)第五電阻與電源相連接,其中,所述第三至第五端口還與所述MCU模塊相連接,所述第一、第二端口與一外部的恒壓電源相連接。
      [0008]進(jìn)一步地,還包括一 PPTC基板接插件,所述PPTC基板接插件與所述測(cè)試板相連接,且用于插接所述PPTC。
      [0009]進(jìn)一步地,所述測(cè)試板還包括一復(fù)位模塊和一穩(wěn)壓電源模塊,所述電源模塊經(jīng)所述復(fù)位模塊與所述MCU模塊相連接,所述穩(wěn)壓電源模塊與所述測(cè)試模塊組件相連接。
      [0010]本實(shí)用新型的有益效果在于:(I)測(cè)試模塊組件可獲取用于恢復(fù)時(shí)間計(jì)時(shí)的2倍動(dòng)作前阻值,不再需要電阻表測(cè)試PPTC的動(dòng)作前阻值。(2)測(cè)試裝置可直接顯示恢復(fù)時(shí)間的數(shù)值,不再需要讀取示波器的波形。(3)將整個(gè)測(cè)試電路集成在一個(gè)測(cè)試裝置上,降低了測(cè)試時(shí)電路的復(fù)雜度,減小出錯(cuò)的概率。本實(shí)用新型不僅大大提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性,而且操作也十分方便。
      【附圖說(shuō)明】
      [0011]為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
      [0012]圖1是本實(shí)用新型的PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0013]圖2是本實(shí)用新型的PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置的測(cè)試板的框架原理圖;
      [0014]圖3是本實(shí)用新型的PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置的測(cè)試模塊組件的電路圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0015]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述,以使本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解,從而對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
      [0016]參閱圖1-3所示,本實(shí)用新型的PPTC恢復(fù)時(shí)間測(cè)試裝置,包括殼體I和測(cè)試板2,測(cè)試板2安裝在殼體I內(nèi),測(cè)試板2包括MCU模塊3、測(cè)試開關(guān)模塊4、測(cè)試模塊組件5、顯示模塊6和電源模塊7,測(cè)試開關(guān)模塊4用于傳遞測(cè)試信號(hào)給MCU模塊3,MCU模塊3用于接收測(cè)試信號(hào),并控制測(cè)試模塊組件5進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試模塊組件5用于發(fā)出PPTC測(cè)試恢復(fù)時(shí)間的計(jì)時(shí)信號(hào)至MCU模塊3,MCU模塊3根據(jù)測(cè)試模塊組件5返回的計(jì)時(shí)信號(hào)進(jìn)行計(jì)時(shí),并控制顯示模塊6顯示恢復(fù)時(shí)間信息,其中,電源模塊7用于為測(cè)試板2提供電源。
      [0017]測(cè)試模塊組件5包括第一二極管D1、第二二極管D2、發(fā)光二極管DS1,第一繼電器K1、第二繼電器K2、第一三極管Q1、第二三極管Q2、運(yùn)算放大器U1、比較器U2、PPTC(RTl)、可變電阻R6、第一至第五電阻(R1-R5)、以及第一至第五端口(source+、source-、Con-1、Con-2、Sem),第一三極管Ql基極與第三端口 Con-1相連接,其集電極與第二繼電器K2線圈的一端、第一二極管Dl的陽(yáng)極相連接,其發(fā)射極依次經(jīng)第二繼電器K2的靜觸點(diǎn)、PPTC(RTl)與第一繼電器Kl和第四電阻R4的一端相連接,第二繼電器K2線圈的另一端和第一二極管Dl的陰極還與電源相連接,第二繼電器K2的動(dòng)觸點(diǎn)與第一、第二端口
      [0018](source+、source-)相連接,以及第四電阻R4的另一端還與電源相連接,第二三極管Q2的基極與第四端口 Con-2相連接,其集電極與第一繼電器Kl線圈的一端、第二二極管D2的陽(yáng)極相連接,其發(fā)射極與地相連接,第一繼電器Kl線圈的另一端、第二二極管D2的陰極還與電源相連接,運(yùn)算放大器Ul的第I腳與第一繼電器Kl的靜觸點(diǎn)相連接,其第2腳與第一電阻Rl的一端、第二電阻R2的一端相連接,其第3腳與第二電阻R2的另一端、第一繼電器Kl的動(dòng)觸點(diǎn)、比較器U2的第I腳相連接,其中,第一電阻Rl的另一端還與地相連接,比較器U2的第2腳與第三電阻R3的一端、可變電阻R6的一端相連接,比較器U2的第3腳與第五端口 Sem、發(fā)光二極管DSl的陰極相連接,第三電阻R3的另一端與電源相連接,可變電阻R6的另一端接地,發(fā)光二極管DSl的陽(yáng)極經(jīng)第五電阻R5與電源相連接,其中,第三至第五端口(Con-1、Con-2、Sem)
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