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      一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置的制造方法

      文檔序號(hào):9066639閱讀:468來(lái)源:國(guó)知局
      一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及多光路檢測(cè)試劑裝置,具體為一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]現(xiàn)階段,對(duì)試劑的測(cè)試多停留在單臺(tái)機(jī)器完成單一類型測(cè)試的階段,一機(jī)不能多用,例如對(duì)吸光度檢測(cè)、散射比濁檢測(cè)、免疫熒光檢測(cè)等等每一種檢測(cè)需要不同的一種檢測(cè)儀,檢測(cè)人員對(duì)采樣試劑進(jìn)行檢測(cè)時(shí),需要將裝有采樣試劑的一體式定量采樣加試劑裝置放置相應(yīng)的檢測(cè)儀中,在使用和攜帶時(shí)均非常不便,費(fèi)時(shí)費(fèi)力;同時(shí),對(duì)所放入的采樣試劑沒(méi)有核對(duì)機(jī)制,如果一旦發(fā)生檢測(cè)人員放錯(cuò)檢測(cè)儀,不僅會(huì)造成檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確、采樣試劑浪費(fèi),更嚴(yán)重的可能造成重要采樣試劑不可逆的損失。目前市場(chǎng)上,針對(duì)專利名稱為《一種一體化定量采樣加試劑裝置》(其專利號(hào)為:201010539091.8)的專利中所描述的盛有采樣試劑的裝置,沒(méi)有能實(shí)現(xiàn)針對(duì)其內(nèi)部試劑類型進(jìn)行多種不同光路選擇并檢測(cè)的設(shè)備,給使用帶來(lái)極大不便,實(shí)際操作中,每次針對(duì)不同的試劑,都需要更換檢測(cè)儀,大大降低了試驗(yàn)檢測(cè)的效率,現(xiàn)階段,往往需要反復(fù)的多步驟的操作,這也增大了試劑變質(zhì)或污染的概率。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0003]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種使用方便、檢測(cè)精準(zhǔn)、一機(jī)多用的用于一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置。
      [0004]本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
      [0005]—體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置,其包括檢測(cè)接收電路板、用于放置一體式定量采樣加試劑裝置的托架、用于驅(qū)動(dòng)托架繞軸擺動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置、二維碼掃描器、發(fā)射光源、與發(fā)射光源相匹配的透鏡通道和與發(fā)射光源相匹配的光信號(hào)接收檢測(cè)裝置;所述光信號(hào)接收檢測(cè)裝置包括光電轉(zhuǎn)換器Dl和檢測(cè)接收電路板,所述發(fā)射光源和光電轉(zhuǎn)換器Dl之間設(shè)有透鏡通道,所述發(fā)射光源的光線依次經(jīng)一體式定量采樣加試劑裝置中的試劑、透鏡通道傳至光電轉(zhuǎn)換器Dl的輸入端;所述發(fā)射光源和對(duì)應(yīng)的光信號(hào)接收檢測(cè)裝置分別位于所述托架擺動(dòng)平面的兩側(cè);
      [0006]所述驅(qū)動(dòng)裝置包括混勻電機(jī);所述發(fā)射光源的數(shù)量大于或等于2個(gè),所述透鏡通道的數(shù)量和發(fā)射光源的數(shù)量相同;所述發(fā)射光源、驅(qū)動(dòng)裝置和透鏡通道均設(shè)置在機(jī)架上;所述托架位于發(fā)射光源和相對(duì)應(yīng)的光信號(hào)接收檢測(cè)裝置之間;
      [0007]所述混勻電機(jī)的輸出軸固定連接所述托架,所述托架兩側(cè)設(shè)有耳軸,所述耳軸與混勻電機(jī)的輸出軸連接;所述混勻電機(jī)的輸出軸方向與發(fā)射光源的光線方向一致;所述托架位于發(fā)射光源和透鏡通道之間,所述發(fā)射光源的光線經(jīng)透鏡通道傳至光電轉(zhuǎn)換器Dl的輸入端,所述光電轉(zhuǎn)換器Dl的輸出端接對(duì)應(yīng)檢測(cè)接收電路板的輸入端;所述一體式定量采樣加試劑裝置上設(shè)有用于唯一標(biāo)識(shí)被測(cè)試劑的二維碼,所述二維碼掃描器與一體式定量采樣加試劑裝置上二維碼位置相對(duì)應(yīng)。
      [0008]所述二維碼掃描器的掃描鏡頭前設(shè)置有透鏡。所述二維碼掃描器的型號(hào)可以使基恩士二維碼讀取器R-610。
      [0009]所述發(fā)射光源為全波長(zhǎng)光源和/或激光管,所述全波長(zhǎng)光源對(duì)應(yīng)的檢測(cè)接收電路板為光柵接收傳感器,所述激光管對(duì)應(yīng)的檢測(cè)接收電路板為可調(diào)增益光強(qiáng)信號(hào)接收放大電路;
      [0010]所述可調(diào)增益光強(qiáng)信號(hào)接收放大電路包括運(yùn)算放大芯片IC1、數(shù)字電位器芯片IC2、反饋電阻R1~R2、電容C1~C6 ;所述光電轉(zhuǎn)換器Dl接在運(yùn)算放大芯片ICl的2腳和地之間;所述電阻Rl和電容C3并聯(lián)后接在運(yùn)算放大芯片ICl的2腳和數(shù)字電位器芯片IC2的6腳之間;所述電容Cl和電容C2并聯(lián)后接在運(yùn)算放大芯片IC的4腳和地之間;所述運(yùn)算放大芯片ICl的6腳和7腳分別對(duì)應(yīng)接數(shù)字電位器芯片IC2的7腳和電源VDD ;所述電容C4和電容C5并聯(lián)后接在運(yùn)算放大芯片ICl的7腳和地之間;所述電容C6并聯(lián)在數(shù)字電位器芯片IC2的8腳與地之間,所述數(shù)字電位器芯片IC2的8腳接電源VCC ;所述數(shù)字電位器芯片IC2的5腳經(jīng)電阻R2接地;所述數(shù)字電位器芯片IC2的1、2、3腳分別接MCU控制腳;所述運(yùn)算放大芯片ICl的型號(hào)為OTA121,所述數(shù)字電位器芯片IC2的型號(hào)為MCT41050。
      [0011]進(jìn)一步的,所述全波長(zhǎng)光源可以為燈泡。
      [0012]當(dāng)所述透鏡通道為三個(gè),其中一個(gè)需要對(duì)應(yīng)激光管,另外兩個(gè)需要對(duì)應(yīng)全波長(zhǎng)光源時(shí),發(fā)射光源為一個(gè)激光管和一個(gè)全波長(zhǎng)光源,兩個(gè)透鏡通道共用一個(gè)全波長(zhǎng)光源,其中全波長(zhǎng)光源放置在燈罩中,通過(guò)連接在燈罩上的光纖傳導(dǎo)光線至發(fā)光處。
      [0013]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),還包括用于確定托架擺動(dòng)到位的磁體,所述磁體安裝于托架上,用于識(shí)別磁體位置的磁感應(yīng)器安裝在擺動(dòng)到位處,用于識(shí)別磁體位置的各個(gè)磁感應(yīng)器安裝于擺動(dòng)到位處,所述擺動(dòng)到位處為沿托架擺動(dòng)的圓弧軌跡上對(duì)應(yīng)的每個(gè)發(fā)射光源處。
      [0014]所述用于識(shí)別磁體位置的磁感應(yīng)器為霍爾傳感器。
      [0015]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn),所述機(jī)架為高度可調(diào)的支架。
      [0016]所述托架為側(cè)面設(shè)有豎直開口的上、下不封口管狀腔體,所述管狀腔體上設(shè)有貫通腔體的透光孔;所述透光孔的位置與發(fā)射光源和透鏡通道在同一水平線上,且所述透光孔的方向與發(fā)射光源的光線相對(duì)應(yīng)。
      [0017]本實(shí)用新型的有益效果是:
      [0018]本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)合理,使用方便,能夠?qū)崿F(xiàn)一機(jī)多用,通過(guò)電機(jī)驅(qū)動(dòng)托架轉(zhuǎn)動(dòng)到相應(yīng)位置,對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的透鏡通道,由于一體式定量采樣加試劑裝置中不同的采樣試劑需要采用不同光路檢測(cè),本實(shí)用新型可在不更換儀器的情況下,實(shí)現(xiàn)對(duì)不同采樣試劑在同一機(jī)體內(nèi)自動(dòng)檢測(cè)。
      [0019]根據(jù)二維碼掃描器掃描位于一體式定量采樣加試劑裝置上的二維碼標(biāo)簽上的信息,可判斷所需的檢測(cè)類型,自動(dòng)旋轉(zhuǎn)匹配至相應(yīng)透鏡通道完成檢測(cè),并且根據(jù)二維碼內(nèi)的信息對(duì)通過(guò)檢測(cè)接收電路板的信號(hào)采取不同的判斷方法,將多光路試劑檢測(cè)集成一體,降低了成本,提高了效率,節(jié)約了檢測(cè)人員和患者的時(shí)間,同時(shí)避免了人為誤差,還可根據(jù)二維碼信息將患者的檢測(cè)結(jié)果分類處理,為后續(xù)工作提供方便。
      [0020]另外,在所述二維碼掃描器的掃描鏡頭前設(shè)置有透鏡,根據(jù)需要調(diào)節(jié)二維碼掃描器的焦距,使用方便,且縮短二維碼掃描器與采樣器之間距離,有利于縮小整體設(shè)備的體積,提高整體集成度。
      [0021]托架上設(shè)有用于識(shí)別擺動(dòng)位置的磁體,有利于準(zhǔn)確定位,提高托架轉(zhuǎn)動(dòng)的準(zhǔn)確度。
      [0022]托架設(shè)計(jì)為側(cè)面設(shè)有豎直開口的上、下不封口管狀腔體,有助于后續(xù)設(shè)計(jì)的裝置沿該條形豎直開口上下移動(dòng),將托架內(nèi)的采樣器托送到指定位置,實(shí)用性強(qiáng),使用方便。
      [0023]本裝置中設(shè)有用于固定發(fā)射光源、驅(qū)動(dòng)裝置和透鏡通道的機(jī)架,對(duì)其上安裝的設(shè)備具有減震效果,且上述機(jī)架高度可調(diào),方便校準(zhǔn)各部件高度水平。
      【附圖說(shuō)明】
      [0024]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0025]圖2為本實(shí)用新型除去驅(qū)動(dòng)裝置后的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0026]圖3為本實(shí)用新型發(fā)射光源和透鏡通道的位置關(guān)系示意圖。
      [0027]圖4為本實(shí)用新型中托架的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0028]圖5為本實(shí)用新型中檢測(cè)接收電路板實(shí)施例的電路原理圖。
      [0029]圖6為一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀整體結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0030]圖7為本實(shí)用新型混勻結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0031]圖8為本實(shí)用新型固定板的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0032]圖9本實(shí)用新型固定板定位組件的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0033]圖10為本實(shí)用新型的槽口和凸起的連動(dòng)關(guān)系示意圖。
      [0034]圖11為本實(shí)用新型的下壓齒條與水平滑架的連接關(guān)系示意圖。
      [0035]圖12為本實(shí)用新型的艙門板的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0036]圖13為本實(shí)用新型中托架擺動(dòng)到某一工位處的狀態(tài)示意圖。
      [0037]其中,I透鏡、2混勻電機(jī)、3輸出軸、4發(fā)射光源、5透鏡通道、6檢測(cè)接收電路板、7二維碼掃描器、8透光孔、9機(jī)架、10耳軸、11豎直開口、12 一體式定量采樣加試劑裝置、13磁體、14送風(fēng)管、15加熱片、16檢測(cè)儀殼體、17驅(qū)動(dòng)電機(jī),18驅(qū)動(dòng)齒輪、19光纖、20全波長(zhǎng)光源、21燈罩、22光柵接收傳感器、23觸發(fā)開關(guān)、1-3顯示器、1-5固定孔、1-6防濺槽、2_1下壓齒條、2-4導(dǎo)桿、2-6備用導(dǎo)軌、2-7水平滑架、2-8導(dǎo)軌、2_9下壓連動(dòng)齒輪
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