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      一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置的制造方法

      文檔序號:10192767閱讀:929來源:國知局
      一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及自動化測試領(lǐng)域,尤其涉及一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]目前對數(shù)據(jù)線絕緣測試都是人工或半人工的進(jìn)行測試,容易耗費(fèi)成本,造成浪費(fèi),且在人力上也需要投入很多,而且檢測的對象也大部分是針對電源線,針對數(shù)據(jù)線的基本沒有。操作難度大,晦濕難懂,不利于工廠工人的sop (Standard Operat1n Procedure,標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)程序)操作。因此,提供一種能夠準(zhǔn)確、快捷的對數(shù)據(jù)線進(jìn)行自動測試的測試裝置,成為目前亟待解決的問題。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0003]鑒于上述問題,本申請記載了一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置,所述測試裝置包括:
      [0004]測試治具,與所述數(shù)據(jù)線相連,用以控制所述測試裝置向所述數(shù)據(jù)線提供不同的電壓;
      [0005]測試模塊,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試和/或高壓測試和/或極性導(dǎo)通測試;
      [0006]接觸器單元,分別與所述測試治具以及所述測試模塊相連,用以控制所述測試模塊是否向所述數(shù)據(jù)線供電以及是否進(jìn)行測試;
      [0007]CPU主控單元,與所述測試模塊相連,用以控制對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試和/或高壓測試和/或極性導(dǎo)通測試并對絕緣測試信號和/或高壓測試信號和/或極性導(dǎo)通測試信號進(jìn)行反饋處理;
      [0008]其中,所述測試模塊包括:
      [0009]絕緣單元,分別與所述接觸器單元以及所述CPU主控單元相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試并獲取所述絕緣測試信號;
      [0010]高壓單元,分別與所述接觸器單元以及所述CPU主控單元相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測試并獲取所述高壓測試信號。
      [0011 ] 較佳的,所述絕緣單元包括:
      [0012]絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān),與所述接觸器單元相連;
      [0013]270V供電電壓,與所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)相連,用以向所述數(shù)據(jù)線提供270V絕緣測試電壓;
      [0014]絕緣測試主電路,與所述接觸器單元相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試并獲取所述絕緣測試信號。
      [0015]較佳的,所述接觸器單元包括絕緣測試接觸器,所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)以及所述絕緣測試主電路均與所述絕緣測試接觸器相連。
      [0016]較佳的,所述高壓單元包括:
      [0017]高壓調(diào)節(jié)器,與所述接觸器單元相連;
      [0018]5000V供電電路,與所述高壓調(diào)節(jié)器相連,用以向所述數(shù)據(jù)線提供不高于5000V的尚壓;
      [0019]高壓測試主電路,與所述接觸器單元相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測試并獲取所述高壓測試信號。
      [0020]較佳的,所述接觸器單元包括高壓測試接觸器,所述高壓調(diào)節(jié)器以及所述高壓測試主電路均與所述高壓測試接觸器相連。
      [0021]較佳的,所述測試模塊還包括極性導(dǎo)通單元,與所述接觸器單元相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行極性導(dǎo)通測試并獲取所述極性導(dǎo)通測試信號。
      [0022]較佳的,所述測試裝置還包括電流表,所述電流表分別與所述絕緣測試主電路、所述高壓測試主電路以及所述極性導(dǎo)通測試單元相連,用以動態(tài)顯示所述絕緣測試信號和/或所述高壓測試信號和/或所述極性導(dǎo)通測試信號。
      [0023]較佳的,所述測試裝置還包括與所述CPU主控裝置相連的指示燈和/或按鍵開關(guān)和/或計(jì)數(shù)器和/或觸摸屏。
      [0024]較佳的,所述觸摸屏和所述CPU主控單元通過RS232接口相連。
      [0025]較佳的,所述CPU主控單元和所述數(shù)據(jù)線之間還設(shè)置有相連的電磁閥和氣缸
      [0026]上述技術(shù)方案具有如下優(yōu)點(diǎn)或有益效果:本實(shí)用新型提供的測試裝置,檢測功能得全面、精準(zhǔn)、省時,減少工作量,提高工作效率,節(jié)省成本,實(shí)現(xiàn)了自動一次性檢測。提供了觸摸屏進(jìn)行系統(tǒng)操控和顯示,更利于工廠工人的sop操作,更加自動化和簡易。該檢測裝置可以針對手機(jī)usb數(shù)據(jù)線的檢測,同時也可以搬移到電源線的檢測裝置。最后,該絕緣測試系統(tǒng)具有比較穩(wěn)定、效率更高的優(yōu)點(diǎn),適用于工廠車間生產(chǎn)。
      【附圖說明】
      [0027]參考所附附圖,以更加充分的描述本實(shí)用新型的實(shí)施例。然而,所附附圖僅用于說明和闡述,并不構(gòu)成對本實(shí)用新型范圍的限制。
      [0028]圖1為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖一;
      [0029]圖2為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖二 ;
      [0030]圖3為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖三;
      [0031]圖4為本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置進(jìn)行絕緣測試的方法流程圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0032]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本實(shí)用新型一種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置進(jìn)行詳細(xì)說明。
      [0033]實(shí)施例一
      [0034]—種數(shù)據(jù)線的絕緣自動測試裝置,包括:
      [0035]如圖1所示,測試治具,與所述數(shù)據(jù)線相連,用以控制所述測試裝置向數(shù)據(jù)線提供不同的電壓;
      [0036]接觸器單元,與所述測試治具相連,用以控制所述是否向數(shù)據(jù)線供電;
      [0037]絕緣單元,與所述接觸器單元相連,用以對數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試并獲取絕緣測試信號;
      [0038]高壓單元,與所述接觸器單元相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測試并獲取高壓測試信號;
      [0039]極性導(dǎo)通單元,與所述接觸器單元相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行極性導(dǎo)通測試并獲取極性導(dǎo)通測試信號;
      [0040]CPU主控單元,分別與所述絕緣單元、高壓單元以及所述極性導(dǎo)通單元相連,用以控制對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行的測試種類并對所述絕緣測試信號和/或高壓測試信號和/或極性導(dǎo)通測試信號進(jìn)行反饋處理。
      [0041]具體來說,數(shù)據(jù)線的絕緣測試包括絕緣電阻、漏電、線間高壓(內(nèi)高壓)、露銅(外高壓)、相對長度等電器特性進(jìn)行一次性連續(xù)自動檢測。合格品會自動被頂出,不合格產(chǎn)品被該裝置夾住。具有良品與不良品統(tǒng)計(jì)功能,采用觸摸屏控制。
      [0042]在本實(shí)施例中,CPU主控單元作為整個裝置的核心控制器,用來控制對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試的測試種類。具體來說,所述測試種類包括絕緣測試、高壓測試以及極性導(dǎo)通測試。當(dāng)選擇了絕緣測試時,測試治具對所述絕緣單元進(jìn)行調(diào)節(jié)以獲取相應(yīng)電壓,使得所述絕緣單元對數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試并獲取絕緣測試信號;當(dāng)選擇了高壓測試時,測試治具對所述高壓單元進(jìn)行調(diào)節(jié)以獲取相應(yīng)電壓,使得所述高壓單元對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測試并獲取高壓測試信號;當(dāng)選擇了極性導(dǎo)通單元時,測試治具對所述極性導(dǎo)通單元進(jìn)行調(diào)節(jié)以獲取相應(yīng)電壓,使得所述極性導(dǎo)通單元對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行極性導(dǎo)通測試并獲取極性導(dǎo)通測試信號。對于所述絕緣測試信號和/或高壓測試信號和/或極性導(dǎo)通測試信號,CPU主控單元會根據(jù)這些信號進(jìn)行反饋處理。所述接觸器單元包括絕緣測試接觸器、高壓測試接觸器以及極性導(dǎo)通測試接觸器。
      [0043]如圖2所示,更進(jìn)一步來講,所述絕緣單元包括:
      [0044]絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān),與所述絕緣測試接觸器相連,所述測試治具能夠通過所述絕緣測試接觸器對所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)進(jìn)行調(diào)節(jié);
      [0045]270V供電電路,與所述絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān)相連,用以向所述數(shù)據(jù)線提供270V絕緣測試電壓;
      [0046]絕緣測試主電路,與所述絕緣測試接觸器相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試并獲取絕緣測試信號。
      [0047]具體來說,當(dāng)測試種類為絕緣測試時,CPU主控單元控制絕緣測試接觸器導(dǎo)通,并控制所述測試治具調(diào)節(jié)絕緣電阻調(diào)節(jié)開關(guān),從而實(shí)現(xiàn)對絕緣電阻大小進(jìn)行調(diào)節(jié),使得所述270V供電電路向所述數(shù)據(jù)線提供270V絕緣測試電壓。然后,絕緣測試主電路對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行絕緣測試,以獲取絕緣測試信號。
      [0048]所述高壓單元包括:
      [0049]高壓調(diào)節(jié)器,分別與所述高壓測試接觸器以及所述高壓測試接觸器相連,所述測試治具能夠通過所述高壓測試接觸器調(diào)節(jié)5000V供電電路向所述數(shù)據(jù)線提供的電壓大?。?br>[0050]5000V供電電路,與所述高壓調(diào)節(jié)器相連,用以向所述數(shù)據(jù)線提供不高于5000V的尚壓;
      [0051]高壓測試主電路,與所述高壓測試接觸器相連,用以對所述數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測試并獲取高壓測試信號。
      [0052]具體來說,當(dāng)測試種類為高壓測試時,CPU主控單元控制高壓測試接觸器導(dǎo)通,并控制所述測試治具對所述高壓調(diào)節(jié)器進(jìn)行調(diào)節(jié),從而實(shí)現(xiàn)對5000V供電電路所提供的電壓進(jìn)行調(diào)節(jié),使得所述5000V供電電路向所述數(shù)據(jù)線提供低于5000V的高壓。最后,高壓測試主電路對數(shù)據(jù)線進(jìn)行高壓測試,并獲取高壓測試信號。
      [0053]此外,所述極性導(dǎo)通測試單元與所述極性導(dǎo)通測試接
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