一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]同種型號(hào)的芯片測(cè)試機(jī)可以測(cè)試對(duì)應(yīng)該封裝形式下多個(gè)引腳的芯片，比較常見(jiàn)的為8個(gè)引腳、14個(gè)引腳或者16個(gè)引腳。
[0003]芯片進(jìn)入測(cè)試區(qū)之前，是由芯片分離機(jī)構(gòu)將一個(gè)一個(gè)的芯片逐一傳輸至芯片檢測(cè)站，然而由于芯片分離機(jī)構(gòu)的老化等原因，可能導(dǎo)致芯片分離機(jī)構(gòu)同時(shí)傳輸兩顆芯片至檢測(cè)站，那么排列在后的那顆芯片將出現(xiàn)漏檢測(cè)的情況，它將跟隨前一顆芯片的測(cè)試結(jié)果進(jìn)入良品或者不良品中。
[0004]為解決該異常，保證每個(gè)芯片都能被正常測(cè)試到，在芯片測(cè)試機(jī)設(shè)置有光傳感器，用于檢測(cè)在檢測(cè)站內(nèi)是有一顆芯片還是兩顆芯片的功能，如果在檢測(cè)站出現(xiàn)兩顆芯片，則進(jìn)行報(bào)警。但是，因存在不同類型的芯片，它們由于引腳數(shù)量的不同而導(dǎo)致長(zhǎng)短不一，測(cè)試同型號(hào)不同數(shù)量引腳的芯片時(shí)需要進(jìn)行不同光傳感器之間的檔位切換，以達(dá)到檢測(cè)的目的。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)的檔位一般包括A檔位和B檔位兩個(gè)檔位，A檔位設(shè)置A檔光傳感器，B檔位設(shè)置B檔光傳感器，A檔用于檢測(cè)8個(gè)引腳的芯片(簡(jiǎn)稱短芯片)，B檔用于檢測(cè)14個(gè)引腳或者16個(gè)引腳的芯片(簡(jiǎn)稱長(zhǎng)芯片)，還包括一個(gè)進(jìn)料光傳感器，用于檢測(cè)是否進(jìn)料。
[0006]測(cè)試時(shí)，芯片從進(jìn)料通道自上向下進(jìn)入，先經(jīng)過(guò)A檔光傳感器對(duì)應(yīng)的位置，再經(jīng)過(guò)B檔光傳感器對(duì)應(yīng)的位置，最后到達(dá)進(jìn)料光傳感器對(duì)應(yīng)的位置，如果芯片擋住進(jìn)料光傳感器，則可以判斷有料進(jìn)入，如果芯片僅擋住進(jìn)料傳感器和B檔光傳感器的光線而未擋住A檔光傳感器的光線，則可以判斷有兩個(gè)短芯片進(jìn)入，屬于異常情況(或者一個(gè)長(zhǎng)芯片進(jìn)入，而檔位設(shè)置錯(cuò)誤，這也是異常情況)，如果芯片將三個(gè)傳感器的光線都擋住，那么就可判斷有兩個(gè)長(zhǎng)芯片進(jìn)入，屬于異常情況。
[0007]對(duì)于兩個(gè)檔位的切換為手動(dòng)切換，存在切換不方便，而且容易出現(xiàn)因?yàn)闇y(cè)試人員的粗心，被測(cè)芯片的類型換了，但光傳感器的檔位沒(méi)有切換過(guò)來(lái)，檔位與被測(cè)芯片的數(shù)量引腳不符而出現(xiàn)測(cè)試質(zhì)量異常。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0008]本實(shí)用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置，該在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置供軟件工程師寫入軟件后可實(shí)現(xiàn)測(cè)試檔位的自動(dòng)切換，可及早發(fā)現(xiàn)測(cè)試檔位與被測(cè)芯片的類型不符。
[0009]本實(shí)用新型的目的通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0010]提供一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置，包括固定設(shè)于豎立式進(jìn)料通道的進(jìn)料光傳感器、B檔光傳感器、A檔光傳感器、第一比較器和第二比較器，所述進(jìn)料光傳感器、B檔光傳感器和A檔光傳感器自下向上依次排列，所述進(jìn)料光傳感器的發(fā)光器位于被測(cè)芯片的上方/下方，所述進(jìn)料光傳感器的受光器位于被測(cè)芯片的下方/上方，所述B檔光傳感器的發(fā)光器位于被測(cè)芯片的上方/下方，所述B檔光傳感器的受光器位于被測(cè)芯片的下方/上方，所述A檔光傳感器的發(fā)光器位于被測(cè)芯片的上方/下方，所述A檔光傳感器的受光器位于被測(cè)芯片的下方/上方，
[0011]測(cè)試裝置還包括用于將B檔光傳感器或者A檔光傳感器擇一接至第二比較器的傳感器選擇器件、用于載入被測(cè)芯片檔案并且根據(jù)被測(cè)芯片的檔案來(lái)切換傳感器選擇器件所選通的傳感器的單片機(jī)以及與單片機(jī)電連接的顯示屏，
[0012]進(jìn)料光傳感器發(fā)送電平至第一比較器，第一比較器根據(jù)預(yù)設(shè)的第一電壓基準(zhǔn)值輸出第一比較結(jié)果至單片機(jī)，B檔光傳感器或者A檔光傳感器發(fā)送電平至第二比較器，第二比較器根據(jù)預(yù)設(shè)的第二基準(zhǔn)值輸出第二比較結(jié)果至單片機(jī)，
[0013]被測(cè)芯片檔案載入單片機(jī)，顯示屏顯示被測(cè)芯片檔案，單片機(jī)根據(jù)第一比較結(jié)果和第二比較結(jié)果更新被測(cè)芯片檔案，
[0014]B檔光傳感器與進(jìn)料通道的底部在沿進(jìn)料通道的長(zhǎng)度方向的距離W小于兩款被測(cè)芯片中長(zhǎng)芯片的長(zhǎng)度A，并且大于被測(cè)芯片中短芯片的長(zhǎng)度B。
[0015]所述傳感器選擇器件為雙刀單擲開(kāi)關(guān)。
[0016]進(jìn)料光傳感器、B檔光傳感器和A檔光傳感器均為光耦傳感器。
[0017]進(jìn)料光傳感器的發(fā)光器的正極接第一電源、進(jìn)料光傳感器的發(fā)光器的負(fù)極接B檔光傳感器的發(fā)光器的正極，B檔光傳感器的發(fā)光器的負(fù)極接A檔光傳感器的發(fā)光器的正極，A檔光傳感器的發(fā)光器的負(fù)極接地，進(jìn)料光傳感器的受光器的集電極、進(jìn)料光傳感器的受光器的集電極以及進(jìn)料光傳感器的受光器的集電極均接第二電源，進(jìn)料光傳感器的受光器的發(fā)射極接第一比較器的一個(gè)輸入端，第一比較器的另一個(gè)輸入端接第一基準(zhǔn)電壓源，第一比較器的輸出端接單片機(jī)，B檔光傳感器的受光器的發(fā)射極接雙刀單擲開(kāi)關(guān)的一個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn)，雙刀單擲開(kāi)關(guān)的常閉觸點(diǎn)接第二比較器的一個(gè)輸入端，第二比較器的另一個(gè)輸入端接第二基準(zhǔn)電壓源，第二比較器的輸出端接單片機(jī)。
[0018]所述第一基準(zhǔn)電壓源包括第一可變電阻器。
[0019]所述第二基準(zhǔn)電壓源包括第二可變電阻器。
[0020]所述第一電源為+4.5V。
[0021]所述第二電源為+24V。
[0022]本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型的測(cè)試裝置，可供軟件工程師在單片機(jī)寫入軟件，進(jìn)而可通過(guò)單片機(jī)來(lái)載入被測(cè)芯片檔案，單片機(jī)一旦識(shí)別到新載入的被測(cè)芯片檔案，就會(huì)通過(guò)雙刀單擲開(kāi)關(guān)將第二比較器自動(dòng)切換至與合適的傳感器電連接，被測(cè)芯片檔案在顯示屏顯示，被測(cè)芯片檔案的數(shù)據(jù)由單片機(jī)根據(jù)第一比較結(jié)果和第二比較結(jié)果進(jìn)行更新，工作人員通過(guò)觀察顯示屏的數(shù)據(jù)，就可迅速知道被測(cè)芯片是否測(cè)試通過(guò)等信息，以及被測(cè)芯片的類型與所載入的被測(cè)芯片檔案是否相符，如果不相符，可盡快重新載入正確的被測(cè)芯片檔案，這樣就可在更改了被測(cè)的芯片類型，但是工作人員忘記載入對(duì)應(yīng)的被測(cè)芯片檔案時(shí)，及早地發(fā)現(xiàn)并改正錯(cuò)誤。
【附圖說(shuō)明】
[0023]利用附圖對(duì)實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明，但附圖中的實(shí)施例不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的任何限制，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。
[0024]圖1是本實(shí)用新型的一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置的電路不意圖。
[0025]圖2是本實(shí)用新型的一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置的第一種測(cè)試情況的正視示意圖。
[0026]圖3是本實(shí)用新型的一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置的第二種測(cè)試情況的正視示意圖。
[0027]圖4是本實(shí)用新型的一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置的第三種測(cè)試情況的正視示意圖。
[0028]圖5是本實(shí)用新型的一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置的第四種測(cè)試情況的正視示意圖。
[0029]圖中包括有:
[0030]進(jìn)料光傳感器I ;
[0031]B檔光傳感器2;
[0032]A檔光傳感器3 ;
[0033]單片機(jī)4 ；
[0034]顯示屏5 ；
[0035]8pin的被測(cè)芯片6 ；
[0036]16pin的被測(cè)芯片7。
【具體實(shí)施方式】
[0037]結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
[0038]本實(shí)施例的一種在芯片測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)切換測(cè)試檔位的測(cè)試裝置，包括固定設(shè)于豎立式進(jìn)料通道的進(jìn)料光傳感器1、B檔光傳感器2和A檔光傳感器3，所述進(jìn)料光傳感器
1、B檔光傳感器2和A檔光傳感器3自下向上依次排列，所述進(jìn)料光傳感器I的發(fā)光器位于被測(cè)芯片的上方/下方，所述進(jìn)料光傳感器I的受光器位于被測(cè)芯片的下方/上方，所述B檔光傳感器2的發(fā)光器位于被測(cè)芯片的上方/下方，所述B檔光傳感器2的受光器位于被測(cè)芯片的下方/上方，所述A檔光傳感器3的發(fā)光器位于被測(cè)芯片的上方/下方，所述A檔光傳感器3的受光器位于被測(cè)芯片的下方/上方。
[0039]測(cè)試裝置還包括用于將B檔光傳感器2或者A檔光傳感器3擇一接至第二比較器的傳感器選擇器件、用于載入被測(cè)芯片檔案并且根據(jù)被測(cè)芯片的檔案來(lái)切換傳感器選擇器件所選通的傳感器的單片機(jī)4以及與單片機(jī)4電連接的顯示屏5。
[0040]如圖2和圖4所示，B檔光傳感器2與進(jìn)料通道的底部在沿進(jìn)料通道的長(zhǎng)度方向的距離W小于兩款被測(cè)芯片中長(zhǎng)芯片的長(zhǎng)度A，并且大于被測(cè)芯片中短芯