一種三相電源的錯(cuò)相檢測(cè)電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明創(chuàng)造屬于三相電源的穩(wěn)壓調(diào)壓技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種三相電源的錯(cuò)相檢測(cè)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]三相電源中有A相、8相、C相之分，假如按照A、B、C的相序電源接入電動(dòng)機(jī)，電動(dòng)機(jī)正轉(zhuǎn);而按照A、C、B相序接入電動(dòng)機(jī)，電動(dòng)機(jī)就是反轉(zhuǎn)。三相交流電的相序?qū)τ秒娫O(shè)備的正常運(yùn)行有著重要的意義，很多情況下不允許出現(xiàn)反相。在正常運(yùn)行中，一旦相序反相，運(yùn)轉(zhuǎn)方向也將會(huì)發(fā)生改變，對(duì)此在傳運(yùn)設(shè)備的控制中必需引入相序的檢測(cè)，否則將會(huì)造成設(shè)備故障，甚至人身傷害。
[0003]現(xiàn)在技術(shù)也存在相序檢測(cè)的電路，但現(xiàn)在的檢測(cè)電路非常復(fù)雜，難以滿(mǎn)足各種現(xiàn)場(chǎng)情況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明創(chuàng)造旨在提出一種三相電源的錯(cuò)相檢測(cè)電路，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、穩(wěn)定性好、抗干擾能力強(qiáng)的特點(diǎn)。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明創(chuàng)造的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
[0006]—種三相電源的錯(cuò)相檢測(cè)電路，包括依次連接的信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一、信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二、信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一為用來(lái)將三相電源轉(zhuǎn)換為低壓直流信號(hào)的光電隔離轉(zhuǎn)換電路;所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二為2輸入4與非門(mén)電路，所述信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路為雙D觸發(fā)器電路。
[0007]優(yōu)選的，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一包括3個(gè)光親，三相電源中的三相輸出信號(hào)分別通過(guò)一電阻連接3個(gè)光親的輸入端，每個(gè)光親的輸出端并聯(lián)一二極管，3個(gè)二極管的陽(yáng)極相連;3個(gè)光耦的輸出端分別通過(guò)一上拉電阻連接電源，同時(shí)連接信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二。
[0008]優(yōu)選的，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二包括2輸入4與非門(mén)電路，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一的3個(gè)輸出信號(hào)分別連接2輸入4與非門(mén)電路的3個(gè)與非門(mén)的輸入端，所述3個(gè)與非門(mén)的輸出端均通過(guò)一上拉電阻連接電源，同時(shí)連接信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路。
[0009]優(yōu)選的，所述信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路包括一S0IC-14封裝的雙D觸發(fā)器。
[0010]優(yōu)選的，所述芯片Dl選擇S0IC-14封裝的MC14011B。
[0011 ] 優(yōu)選的，所述芯片D2選擇S0IC-14封裝的TC4013BP。
[0012]相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明創(chuàng)造具有以下優(yōu)勢(shì):
[0013]有效簡(jiǎn)化了電路結(jié)構(gòu)，同時(shí)保證了結(jié)果的準(zhǔn)確性與時(shí)效性;具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單易實(shí)現(xiàn)，穩(wěn)定性好，抗干擾能力強(qiáng)的特點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0014]構(gòu)成本發(fā)明創(chuàng)造的一部分的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明創(chuàng)造的進(jìn)一步理解，本發(fā)明創(chuàng)造的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明創(chuàng)造，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明創(chuàng)造的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0015]圖1為本發(fā)明創(chuàng)造實(shí)施例所述三相電源的錯(cuò)相檢測(cè)電路的電路圖；
[0016]圖2為圖1中信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一(100)的放大圖；
[0017]圖3為圖1中信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二(200)的放大圖
[0018]圖4為圖1中信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路(300)的放大圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本發(fā)明創(chuàng)造中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
[0020]下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明創(chuàng)造。
[0021]—種三相電源的錯(cuò)相檢測(cè)電路，如圖1所示，包括依次連接的信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一 100、信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二200、信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路300，
[0022]所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一100為用來(lái)將三相電源轉(zhuǎn)換為低壓直流信號(hào)的光電隔離轉(zhuǎn)換電路;所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二 200為2輸入4與非門(mén)電路，所述信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路300為雙D觸發(fā)器電路。
[0023]如圖2所示，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路一 100包括電阻R1、電阻R2、電阻R3、二極管V1、二極管V2、二極管V3、光耦PCl、光耦PC2、光耦PC3、電阻R4、電阻R5、電阻R6，
[0024]所述電阻Rl的一端用來(lái)與三相電源中的B相相連，另一端連接二極管Vl正向引腳，再連接光耦PCl的I腳，光耦PCl的2腳與二極管Vl的負(fù)向引腳相連;光耦PCl的輸出端3腳接電阻R4，電阻R4為12V電壓上拉，光耦PCl的4腳接地(GND);
[0025]所述電阻R2的一端用來(lái)與三相電源中的C相相連，另一端連接二極管V2正向引腳，再連接光耦PC2的I腳，光耦PC2的2腳與二極管V2的負(fù)向引腳相連;光耦PC2的輸出端3腳接電阻R5，電阻R5為12V電壓上拉，光耦PC2的4腳接地(GND);
[0026]所述電阻R3的一端用來(lái)與三相電源中的A相相連，另一端連接二極管V3正向引腳，再連接光耦PC3的I腳，光耦PC3的2腳與二極管V3的負(fù)向引腳相連;光耦PC3的輸出端3腳接一個(gè)上拉電阻R6，電阻R6為12V電壓上拉，光耦PC3的4腳接地(GND)；
[0027]所述光耦PCl、光耦PC2、光耦PC3的輸出端3腳均與信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二 200相連。
[0028]如圖3所示，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換電路二200包括芯片Dl、電阻R7、電阻R8、電阻R9、電容C2，所述芯片Dl為2輸入4與非門(mén)電路，
[0029]所述光耦PCl的輸出端3腳與芯片Dl的8、9引腳相連，所述光耦PC2的輸出端3腳與Dl的5、6引腳相連，所述光耦PC3的輸出端3腳與芯片Dl的1、2引腳相連；
[0030]所述芯片Dl的14腳接12V電源，并通過(guò)電容C2接地，芯片Dl的7腳接地，所述芯片Dl的3引腳通過(guò)電阻R8接12V電源上拉，4引腳接通過(guò)電阻R7接12V電源上拉，10引腳通過(guò)電阻R9接12V電源上拉。
[0031]如圖4所示，所述信號(hào)處理檢測(cè)輸出電路300包括芯片D2、電阻R10、電阻Rll、電阻R12、電阻R13、電容Cl、電容C3、電容C4，芯片D2為雙D觸發(fā)器；
[0032]所述芯片Dl的3引腳通過(guò)電阻R8接芯片D2的3、9引腳，并接電阻R12的一端，所述芯片DI的4引腳通過(guò)電阻R7接芯片D2的11引腳，并接電阻Rl 3的一端，所述芯片DI的1引腳通過(guò)電阻R9接芯片D2的5引腳，并接電阻Rl I的一端；
[0033]所述芯片D2的14腳接電容C4的一端，然后接12V電源，電容C4的另一端接地，所述芯片D2的4腳、7腳、8腳、10腳接地，所述電阻Rll、電阻R12、電阻R13的另外一端連