本發(fā)明屬于飛行控制系統(tǒng)BIT(機(jī)內(nèi)自測試)軟件技術(shù)，涉及一種基于RS觸發(fā)器的BIT故障鎖存方法。
背景技術(shù)：
：傳統(tǒng)飛行控制系統(tǒng)對BIT測試結(jié)果的處理機(jī)制不考慮非易失存儲器中已經(jīng)存儲的BIT測試故障信息，并且在BIT測試產(chǎn)生故障后沒有故障鎖存處理，只是簡單進(jìn)行故障記錄。這種方法使得對于相同的BIT測試項(xiàng)，無法在非易失存儲器中使用固定的地址空間對測試結(jié)果進(jìn)行存儲，只能在每次BIT測試完成并產(chǎn)生故障后在空閑的非易失存儲器空間中重新進(jìn)行故障信息存儲，導(dǎo)致可用的非易失性存儲器故障記錄區(qū)越來越小，從而還需要經(jīng)常清除故障來釋放非易失性存儲器空間，維護(hù)人員操作繁瑣，使用不方便。此外，傳統(tǒng)方法在進(jìn)行非易失存儲器故障清除時(shí)，是通過地面檢測設(shè)備一次性清除飛控計(jì)算機(jī)的全部故障記錄，而不能單獨(dú)對某項(xiàng)BIT測試的故障信息進(jìn)行復(fù)位和清除，降低了系統(tǒng)使用的靈活性，不利于系統(tǒng)維護(hù)。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的是：提出一種實(shí)現(xiàn)方便，兼顧非易失存儲器中已經(jīng)存儲的測試故障信息，并且具有故障鎖存和故障復(fù)位功能，從而能夠?qū)ο嗤珺IT測試項(xiàng)在固定非易失性存儲器地址進(jìn)行故障存儲或清除的方法。本發(fā)明的技術(shù)方案是：將BIT測試的故障結(jié)果作為RS觸發(fā)器輸入的S端，將測試結(jié)果“取反”后和故障復(fù)位信號相“與”作為RS觸發(fā)器輸入的R端，RS觸發(fā)器輸出的Q端作為鎖存在非易失性存儲器的故障信號。所述的對飛行控制系統(tǒng)BIT測試結(jié)果進(jìn)行故障鎖存的方法，其步驟如下：步驟1：模型首次運(yùn)行時(shí)讀取非易失性存儲器中存儲的原故障信息；步驟2：將步驟1生成的故障信息，同BIT測試結(jié)果通過邏輯“與”進(jìn)行綜合；步驟3：使用步驟2綜合后的結(jié)果作為RS觸發(fā)器的S端輸入信號；步驟4：使用2綜合后的結(jié)果取反，并且與BIT測試復(fù)位信號通過邏輯“與”綜合后后作為RS觸發(fā)器的R端輸入信號；步驟5：經(jīng)過RS觸發(fā)器邏輯處理后的信號通過所述RS觸發(fā)器的Q端輸出至非易失性存儲器中該故障對應(yīng)的地址中進(jìn)行存儲。所述的RS觸發(fā)器為通用的RS觸發(fā)器，其真值表如下：RSQn+100Qn01110011無效本發(fā)明具有的優(yōu)點(diǎn)和有益效果：本發(fā)明能夠?qū)IT測試結(jié)果進(jìn)行故障鎖存和復(fù)位，從而消除了在多次BIT測試中對相同測試項(xiàng)目重復(fù)進(jìn)行故障記錄的情況，并且利用通用RS觸發(fā)器簡化了BIT故障鎖存和故障復(fù)位的實(shí)現(xiàn)方式，降低了功能實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜性，大大提高了功能實(shí)現(xiàn)的可靠性和可測試性。此外，由于對每項(xiàng)BIT測試有各自獨(dú)立的BIT測試復(fù)位信號，因此能夠單獨(dú)對某項(xiàng)BIT測試的故障信息進(jìn)行復(fù)位和清除，不需要一次性清除飛控計(jì)算機(jī)的全部故障記錄，從而提高了系統(tǒng)使用的靈活性和可維護(hù)性。附圖說明圖1是本發(fā)明一種基于RS觸發(fā)器的BIT故障鎖存方法的邏輯圖；圖2是本發(fā)明一種基于RS觸發(fā)器的BIT故障鎖存方法的流程圖。具體實(shí)施方式下面以左副翼零位調(diào)零測試為例，對本方法的具體實(shí)施步驟進(jìn)行詳細(xì)說明：若非易失性存儲器中存儲的左副翼零位調(diào)零測試故障信息為無故障(0)，BIT的左副翼零位調(diào)零測試結(jié)果為故障(1)，BIT的左副翼零位調(diào)零測試產(chǎn)生的復(fù)位信號為不復(fù)位(0)，左副翼零位調(diào)零測試故障對應(yīng)的地址為0xff001000。步驟1：將首次運(yùn)行信號init(1表示首次運(yùn)行)與非易失性存儲器中存儲的左副翼零位調(diào)零測試故障信息(0)相與，生成左副翼零位調(diào)零測試初始故障信息ail_l_rig_null_flt_init(0)；步驟2：將ail_l_rig_null_flt_init(0)同BIT的左副翼零位調(diào)零測試結(jié)果ail_l_rig_null_flt(1)通過邏輯“或”進(jìn)行綜合，生成ail_l_rig_null_intgr_flt(1)；步驟3：使用ail_l_rig_null_intgr_flt作為RS觸發(fā)器的S端輸入信號(1)；步驟4：使用ail_l_rig_null_intgr_flt取反，與BIT的左副翼零位調(diào)零測試復(fù)位信號ail_l_rig_flt_maint_rst(0)通過邏輯“與”綜合后作為RS觸發(fā)器的R端輸入信號(0)；步驟5：經(jīng)過RS觸發(fā)器邏輯處理后的信號ail_l_rig_null_fl(值為1)通過所述RS觸發(fā)器的Q端輸出至非易失性存儲器中左副翼零位調(diào)零測試故障對應(yīng)的地址(0xff001000)中進(jìn)行存儲。采用模型化設(shè)計(jì)方法，首次運(yùn)行時(shí)讀取非易失性存儲器中存儲的原故障信息，同BIT測試結(jié)果通過邏輯“與”進(jìn)行綜合，將綜合后的結(jié)果作為RS觸發(fā)器的S端輸入信號，將綜合后的結(jié)果取反后和BIT測試復(fù)位信號通過邏輯“與”進(jìn)行綜合，綜合后的結(jié)果作為RS觸發(fā)器的R端輸入信號，經(jīng)過RS觸發(fā)器邏輯處理后的信號通過RS觸發(fā)器的Q端輸出至非易失性存儲器中該故障對應(yīng)的地址中進(jìn)行存儲。由于RS觸發(fā)器本身具備鎖存和復(fù)位的功能，因此采取此方法能夠十分方便的實(shí)現(xiàn)對BIT測試結(jié)果的故障鎖存和故障復(fù)位功能。本發(fā)明兼顧非易失存儲器中已經(jīng)存儲的測試故障信息，并且具有故障鎖存功能，從而能夠?qū)ο嗤珺IT測試項(xiàng)在固定非易失性存儲器地址進(jìn)行故障存儲，并且利用通用RS觸發(fā)器簡化了BIT故障鎖存的實(shí)現(xiàn)方式，降低了功能實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜性，大大提高了功能實(shí)現(xiàn)的可靠性和可測試性。當(dāng)前第1頁1 2 3