本技術(shù)涉及控制領(lǐng)域，尤其涉及一種控制圖的構(gòu)建方法、檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、作為最先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(statistical?process?control，spc)圖之一，順序概率比測(cè)試(sequential?probability?ratio?test，sprt)控制圖具有廣泛的過(guò)程偏移和變化檢測(cè)能力?，F(xiàn)有的sprt控制圖在已知工藝參數(shù)(known?parameters)下開(kāi)發(fā)，并未從第一階段(phase-i)數(shù)據(jù)計(jì)算控制限值，直接要求用戶設(shè)置預(yù)定的目標(biāo)均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，若采用不合適的參數(shù)和控制限值將導(dǎo)致大量誤判?，F(xiàn)有的sprt控制圖誤判率非常高，這驅(qū)使sprt控制圖需要進(jìn)行創(chuàng)新、調(diào)整和優(yōu)化。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，提出了一種控制圖的構(gòu)建方法、檢測(cè)方法及裝置。

2、第一方面，本技術(shù)的實(shí)施例提供了一種控制圖的構(gòu)建方法，所述方法包括：獲取第一階段樣本數(shù)據(jù)；根據(jù)所述第一階段樣本數(shù)據(jù)，得到第一工藝參數(shù)；根據(jù)所述第一工藝參數(shù)和優(yōu)化條件，構(gòu)建順序概率比測(cè)試sprt控制圖；其中，所述優(yōu)化條件包括所述sprt控制圖的平均額外二次損失aaeql取得最小值。

3、基于上述技術(shù)方案，通過(guò)根據(jù)第一階段樣本數(shù)據(jù)評(píng)估估計(jì)工藝參數(shù)，根據(jù)估計(jì)工藝參數(shù)和優(yōu)化條件構(gòu)建sprt控制圖，與現(xiàn)有的在已知工藝參數(shù)下開(kāi)發(fā)的sprt控制圖相比，可以降低誤判率，保證構(gòu)建出的sprt控制圖具有最小的平均額外二次損耗，并且適用于實(shí)際生產(chǎn)。

4、根據(jù)第一方面，在所述第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述第一工藝參數(shù)和優(yōu)化條件，構(gòu)建順序概率比測(cè)試sprt控制圖，包括：根據(jù)第一參數(shù)、所述第一階段樣本數(shù)據(jù)、所述第一工藝參數(shù)和約束條件，得到至少一個(gè)第二參數(shù)組；其中，所述第一參數(shù)根據(jù)用戶設(shè)定得到；所述第二參數(shù)組包括受控有條件平均樣本數(shù)的期望值aasn0、參考參數(shù)、采樣間隔、控制上限或控制下限中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；根據(jù)所述至少一個(gè)第二參數(shù)組和所述優(yōu)化條件，確定最優(yōu)第二參數(shù)組；根據(jù)所述最優(yōu)第二參數(shù)組，構(gòu)建所述sprt控制圖。

5、基于上述技術(shù)方案，研究?jī)?yōu)化sprt控制圖的重要參數(shù)以取得最佳圖表表現(xiàn)，可以降低sprt控制圖的誤判率；并且使用aaeql作為sprt控制圖的優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)，可以加速sprt控制圖反饋偏移的表現(xiàn)。

6、根據(jù)第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一參數(shù)包括樣本數(shù)據(jù)量、期望的受控調(diào)整后平均信號(hào)時(shí)間、誤判概率、容差水平、采樣頻率、最小允許采樣間隔、最小允許均值偏移量或最大可容忍均值偏移量中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；所述約束條件包括第一約束條件、第二約束條件、第三約束條件或第四約束條件中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；所述根據(jù)第一參數(shù)、所述第一階段樣本數(shù)據(jù)、所述第一工藝參數(shù)和約束條件，得到至少一個(gè)第二參數(shù)組，包括：根據(jù)所述最小允許采樣間隔、所述第一約束條件和所述第二約束條件，得到至少一個(gè)aasn0，根據(jù)所述至少一個(gè)aasn0，得到至少一個(gè)參考參數(shù)；根據(jù)所述至少一個(gè)aasn0、所述至少一個(gè)參考參數(shù)、所述第三約束條件和所述第四約束條件，得到至少一個(gè)采樣間隔和至少一個(gè)控制上限；根據(jù)所述至少一個(gè)控制上限和所述第三約束條件，得到至少一個(gè)控制下限；根據(jù)所述至少一個(gè)aasn0、所述至少一個(gè)參考參數(shù)、所述至少一個(gè)采樣間隔、所述至少一個(gè)控制上限和所述至少一個(gè)控制下限，得到所述至少一個(gè)第二參數(shù)組。

7、基于上述技術(shù)方案，通過(guò)使用保證控制性能的方法獲取構(gòu)建sprt控制圖的最優(yōu)參數(shù)，可以降低sprt控制圖的誤判率。

8、根據(jù)第一方面的第一種或第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述至少一個(gè)第二參數(shù)組和所述優(yōu)化條件，確定最優(yōu)第二參數(shù)組，包括：將所述至少一個(gè)第二參數(shù)組中，使得所述平均額外二次損失aaeql取得最小值的第二參數(shù)組確定為所述最優(yōu)第二參數(shù)組。

9、根據(jù)第一方面的第二種或第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第二參數(shù)組還包括有條件平均樣本數(shù)casn、有條件平均信號(hào)時(shí)間cats、有條件平均樣本數(shù)的期望值aasn、有條件平均信號(hào)時(shí)間的期望值aats、平均信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)差sdats或平均有條件信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)偏差asdts中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；所述有條件平均樣本數(shù)casn根據(jù)所述第一工藝參數(shù)、所述參考參數(shù)、所述控制下限和均值偏移量計(jì)算得到；所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats根據(jù)所述第一工藝參數(shù)、所述參考參數(shù)、所述采樣間隔、所述控制下限和所述均值偏移量計(jì)算得到；所述aasn根據(jù)所述有條件平均樣本數(shù)casn計(jì)算得到；所述aats根據(jù)所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats計(jì)算得到；所述平均信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)差sdats根據(jù)所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats和所述aats計(jì)算得到；所述平均有條件信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)偏差asdts根據(jù)所述aats計(jì)算得到。

10、基于上述技術(shù)方案，建立了sprt控制圖的新理論方程式，通過(guò)使用新理論方程式評(píng)估sprt控制圖的casn、cats、aasn、aats、sdats、asdts，可以使用戶更容易理解sprt控制圖的表現(xiàn)。

11、根據(jù)第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第一方面的第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述平均額外二次損失aaeql根據(jù)所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats、所述最小允許均值偏移量、所述最大可容忍均值偏移量計(jì)算得到。

12、基于上述技術(shù)方案，在計(jì)算aaeql考慮最小允許均值偏移量和最大可容忍均值偏移量，預(yù)先考量和優(yōu)化平均偏移的范圍而不是特定偏移點(diǎn)，可以加速sprt控制圖反饋偏移的表現(xiàn)，從而可以快速檢測(cè)過(guò)程偏移。

13、根據(jù)第一方面或第一方面上述各種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第一方面的第六種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一工藝參數(shù)包括估計(jì)平均值和估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)偏差；所述根據(jù)所述第一階段樣本數(shù)據(jù)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，得到第一工藝參數(shù)，包括：根據(jù)所述第一階段樣本數(shù)據(jù)的平均值，得到所述估計(jì)平均值；根據(jù)所述第一階段樣本數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差，得到所述估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。

14、基于上述技術(shù)方案，根據(jù)第一階段樣本數(shù)據(jù)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差進(jìn)行評(píng)估，得到估計(jì)平均值和估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)偏差，使用估計(jì)平均值和估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)偏差開(kāi)發(fā)sprt控制圖，可以降低sprt控制圖的誤判率，并使sprt控制圖更適用于實(shí)際生產(chǎn)。

15、第二方面，本技術(shù)的實(shí)施例提供了一種檢測(cè)方法，所述方法包括：獲取第二階段的樣本數(shù)據(jù)；根據(jù)順序概率比測(cè)試sprt控制圖，對(duì)所述第二階段的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)；其中，所述sprt控制圖根據(jù)第一方面或第一方面的一種或幾種的控制圖的構(gòu)建方法進(jìn)行構(gòu)建得到。

16、基于上述技術(shù)方案，通過(guò)使用上述控制圖的構(gòu)建方法構(gòu)建sprt控制圖，利用構(gòu)建好的sprt控制圖進(jìn)行檢測(cè)，可以降低誤判率，快速檢測(cè)過(guò)程偏移，并減少發(fā)現(xiàn)問(wèn)題點(diǎn)的總抽樣數(shù)。

17、根據(jù)第二方面，在所述第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第二階段的樣本數(shù)據(jù)包括至少一個(gè)樣本集；所述根據(jù)順序概率比測(cè)試sprt控制圖，對(duì)所述第二階段的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，包括：根據(jù)第一樣本集的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差及所述sprt控制圖的參考參數(shù)，計(jì)算所述第一樣本集的控制統(tǒng)計(jì)量；所述第一樣本集為所述至少一個(gè)樣本集中的任一樣本集；根據(jù)所述控制統(tǒng)計(jì)量、所述sprt控制圖的控制上限和控制下限，對(duì)所述第二階段的控制狀態(tài)進(jìn)行判斷。

18、基于上述技術(shù)方案，利用構(gòu)建好的sprt控制圖進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)第二階段的控制狀態(tài)進(jìn)行判斷，可以及時(shí)、準(zhǔn)確地判斷控制狀態(tài)。

19、根據(jù)第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第二方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)所述控制統(tǒng)計(jì)量、所述sprt控制圖的控制上限和控制下限，對(duì)所述第二階段的控制狀態(tài)進(jìn)行判斷，包括：若所述控制統(tǒng)計(jì)量高于所述控制上限，判斷所述控制狀態(tài)為失控；若所述控制統(tǒng)計(jì)量低于所述控制下限，判斷所述控制狀態(tài)為受控；若所述控制統(tǒng)計(jì)量在所述控制上限和所述控制下限之間，計(jì)算第二樣本集的控制統(tǒng)計(jì)量，根據(jù)所述第二樣本集的控制統(tǒng)計(jì)量、所述sprt控制圖的控制上限和控制下限，判斷所述控制狀態(tài)；其中，所述第二樣本集為所述至少一個(gè)樣本集中除所述第一樣本集外的任一樣本集。

20、基于上述技術(shù)方案，根據(jù)構(gòu)建好的sprt控制圖對(duì)第二階段的控制狀態(tài)進(jìn)行判斷，可以及時(shí)、準(zhǔn)確地判斷生產(chǎn)過(guò)程處于受控狀態(tài)還是失控狀態(tài)，從而可以根據(jù)控制狀態(tài)及時(shí)做出反應(yīng)。

21、第三方面，本技術(shù)的實(shí)施例提供了一種控制圖的構(gòu)建裝置，所述裝置包括：獲取模塊，用于獲取第一階段樣本數(shù)據(jù)；參數(shù)模塊，用于根據(jù)所述第一階段樣本數(shù)據(jù)，得到第一工藝參數(shù)；構(gòu)建模塊，用于根據(jù)所述第一工藝參數(shù)和優(yōu)化條件，構(gòu)建順序概率比測(cè)試sprt控制圖；其中，所述優(yōu)化條件包括所述sprt控制圖的平均額外二次損失aaeql取得最小值。

22、根據(jù)第三方面，在所述第三方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述構(gòu)建模塊，還用于：根據(jù)第一參數(shù)、所述第一階段樣本數(shù)據(jù)、所述第一工藝參數(shù)和約束條件，得到至少一個(gè)第二參數(shù)組；其中，所述第一參數(shù)根據(jù)用戶設(shè)定得到；所述第二參數(shù)組包括受控有條件平均樣本數(shù)的期望值aasn0、參考參數(shù)、采樣間隔、控制上限或控制下限中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；根據(jù)所述至少一個(gè)第二參數(shù)組和所述優(yōu)化條件，確定最優(yōu)第二參數(shù)組；根據(jù)所述最優(yōu)第二參數(shù)組，構(gòu)建所述sprt控制圖。

23、根據(jù)第三方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第三方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一參數(shù)包括樣本數(shù)據(jù)量、期望的受控調(diào)整后平均信號(hào)時(shí)間、誤判概率、容差水平、采樣頻率、最小允許采樣間隔、最小允許均值偏移量或最大可容忍均值偏移量中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；所述約束條件包括第一約束條件、第二約束條件、第三約束條件或第四約束條件中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；所述構(gòu)建模塊，還用于：根據(jù)所述最小允許采樣間隔、所述第一約束條件和所述第二約束條件，得到至少一個(gè)aasn0，根據(jù)所述至少一個(gè)aasn0，得到至少一個(gè)參考參數(shù)；根據(jù)所述至少一個(gè)aasn0、所述至少一個(gè)參考參數(shù)、所述第三約束條件和所述第四約束條件，得到至少一個(gè)采樣間隔和至少一個(gè)控制上限；根據(jù)所述至少一個(gè)控制上限和所述第三約束條件，得到至少一個(gè)控制下限；根據(jù)所述至少一個(gè)aasn0、所述至少一個(gè)參考參數(shù)、所述至少一個(gè)采樣間隔、所述至少一個(gè)控制上限和所述至少一個(gè)控制下限，得到所述至少一個(gè)第二參數(shù)組。

24、根據(jù)第三方面的第一種或第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第三方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述構(gòu)建模塊還用于：將所述至少一個(gè)第二參數(shù)組中，使得所述平均額外二次損失aaeql取得最小值的第二參數(shù)組確定為所述最優(yōu)第二參數(shù)組。

25、根據(jù)第三方面的第二種或第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第三方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第二參數(shù)組還包括有條件平均樣本數(shù)casn、有條件平均信號(hào)時(shí)間cats、有條件平均樣本數(shù)的期望值aasn、有條件平均信號(hào)時(shí)間的期望值aats、平均信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)差sdats或平均有條件信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)偏差asdts中的一項(xiàng)或多項(xiàng)；所述有條件平均樣本數(shù)casn根據(jù)所述第一工藝參數(shù)、所述參考參數(shù)、所述控制下限和均值偏移量計(jì)算得到；所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats根據(jù)所述第一工藝參數(shù)、所述參考參數(shù)、所述采樣間隔、所述控制下限和所述均值偏移量計(jì)算得到；所述aasn根據(jù)所述有條件平均樣本數(shù)casn計(jì)算得到；所述aats根據(jù)所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats計(jì)算得到；所述平均信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)差sdats根據(jù)所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats和所述aats計(jì)算得到；所述平均有條件信號(hào)時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)偏差asdts根據(jù)所述aats計(jì)算得到。

26、根據(jù)第三方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第三方面的第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述平均額外二次損失aaeql根據(jù)所述有條件平均信號(hào)時(shí)間cats、所述最小允許均值偏移量、所述最大可容忍均值偏移量計(jì)算得到。

27、根據(jù)第三方面或第三方面上述各種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第三方面的第六種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一工藝參數(shù)包括估計(jì)平均值和估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)偏差；所述參數(shù)模塊，還用于：根據(jù)所述第一階段樣本數(shù)據(jù)的平均值，得到所述估計(jì)平均值；根據(jù)所述第一階段樣本數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差，得到所述估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。

28、第四方面，本技術(shù)的實(shí)施例提供了一種檢測(cè)裝置，所述裝置包括：獲取模塊，用于獲取第二階段的樣本數(shù)據(jù)；檢測(cè)模塊，用于根據(jù)順序概率比測(cè)試sprt控制圖，對(duì)所述第二階段的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)；其中，所述sprt控制圖根據(jù)第一方面或第一方面的一種或幾種的控制圖的構(gòu)建方法進(jìn)行構(gòu)建得到。

29、根據(jù)第四方面，在所述第四方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第二階段的樣本數(shù)據(jù)包括至少一個(gè)樣本集；所述檢測(cè)模塊，還用于：根據(jù)第一樣本集的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差及所述sprt控制圖的參考參數(shù)，計(jì)算所述第一樣本集的控制統(tǒng)計(jì)量；所述第一樣本集為所述至少一個(gè)樣本集中的任一樣本集；根據(jù)所述控制統(tǒng)計(jì)量、所述sprt控制圖的控制上限和控制下限，對(duì)所述第二階段的控制狀態(tài)進(jìn)行判斷。

30、根據(jù)第四方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在所述第四方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述檢測(cè)模塊，還用于：若所述控制統(tǒng)計(jì)量高于所述控制上限，判斷所述控制狀態(tài)為失控；若所述控制統(tǒng)計(jì)量低于所述控制下限，判斷所述控制狀態(tài)為受控；若所述控制統(tǒng)計(jì)量在所述控制上限和所述控制下限之間，計(jì)算第二樣本集的控制統(tǒng)計(jì)量，根據(jù)所述第二樣本集的控制統(tǒng)計(jì)量、所述sprt控制圖的控制上限和控制下限，判斷所述控制狀態(tài)；其中，所述第二樣本集為所述至少一個(gè)樣本集中除所述第一樣本集外的任一樣本集。

31、第五方面，本技術(shù)的實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備，包括：處理器；用于存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器；其中，所述處理器被配置為執(zhí)行所述指令時(shí)實(shí)現(xiàn)第一方面或第一方面的一種或幾種的控制圖的構(gòu)建方法，或者實(shí)現(xiàn)第二方面或第二方面的一種或幾種的檢測(cè)方法。

32、第六方面，本技術(shù)的實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令，所述計(jì)算機(jī)程序指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)第一方面或第一方面的一種或幾種的控制圖的構(gòu)建方法，或者實(shí)現(xiàn)第二方面或第二方面的一種或幾種的檢測(cè)方法。

33、第七方面，本技術(shù)的實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí)，使得所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述第一方面或第一方面的一種或幾種的控制圖的構(gòu)建方法，或者執(zhí)行上述第二方面或第二方面的一種或幾種的檢測(cè)方法。

34、上述第三方面至第七方面的技術(shù)效果，可參見(jiàn)上述第一方面或第二方面。

35、根據(jù)下面參考附圖對(duì)示例性實(shí)施例的詳細(xì)說(shuō)明，本技術(shù)的其它特征及方面將變得清楚。