1.一種測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述一級電源系統(tǒng)包括一級電源、系統(tǒng)級芯片以及所述系統(tǒng)級芯片對應的應用；所述待測試對象為以下至少之一：所述一級電源、所述系統(tǒng)級芯片以及所述應用；所述基于所述待測試對象的測試方案，對所述待測試對象進行測試，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述待測試對象為所述一級電源、所述系統(tǒng)級芯片以及所述應用中的一個，所述目標時間區(qū)間為第一時間區(qū)間、第二時間區(qū)間以及第三時間區(qū)間中與所述待測試對象對應的時間區(qū)間，所述待測試對象與所述目標時間區(qū)間對應，所述基于所述目標時間區(qū)間，對所述待測試對象進行上下電測試，得到所述域控制器的目標測試結果，包括：
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述待測試對象包括所述一級電源、所述系統(tǒng)級芯片以及所述應用中的多個，所述目標時間區(qū)間包括：所述第一時間區(qū)間、所述第二時間區(qū)間以及所述第三時間區(qū)間中與所述待測試對象對應的多個時間區(qū)間，所述基于所述目標時間區(qū)間，對所述待測試對象進行上下電測試，得到所述域控制器的目標測試結果，包括：
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述待測試對象包括第一對象和第二對象，所述第一對象和所述第二對象為所述一級電源、所述系統(tǒng)級芯片以及所述應用中的相鄰的兩個，所述第二對象為所述第一對象的下一級對象，所述目標時間區(qū)間包括所述第一對象對應的時間區(qū)間和所述第二對象對應的時間區(qū)間，所述基于所述目標時間區(qū)間，對所述待測試對象進行上下電測試，得到所述域控制器的目標測試結果，包括：
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試對象為以下至少之一：所述二級電源系統(tǒng)、所述三級電源系統(tǒng)；所述基于所述待測試對象的測試方案，對所述待測試對象進行測試，包括：
7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試對象為以下至少之一：所述一級電源系統(tǒng)下的電源管理集成電路、所述一級電源系統(tǒng)下的系統(tǒng)基控制器，所述一級電源系統(tǒng)下的電源管理集成電路和所述一級電源系統(tǒng)下的系統(tǒng)基控制器均包括多個通道，所述基于所述待測試對象的測試方案，對所述待測試對象進行測試，包括：
8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待測試對象的測試方案，對所述待測試對象進行測試，包括：
9.一種測試裝置，其特征在于，包括獲取模塊、確定模塊以及測試模塊；
10.一種測試裝置，其特征在于，包括：
11.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，當所述計算機可讀存儲介質中存儲的計算機執(zhí)行指令由測試裝置的處理器執(zhí)行時，所述測試裝置能夠執(zhí)行如權利要求1至8中任一項所述的方法。
12.一種計算機程序產品，其特征在于，計算機程序產品包括計算機指令，當計算機指令在測試裝置上運行時，使得所述測試裝置能夠執(zhí)行如權利要求1-8中任一項所述的方法。